DE10151080C1 - Einrichtung und Verfahren zum Erzeugen von extrem ultravioletter (EUV-)Strahlung auf Basis einer Gasentladung - Google Patents
Einrichtung und Verfahren zum Erzeugen von extrem ultravioletter (EUV-)Strahlung auf Basis einer GasentladungInfo
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Abstract
Description
Claims (35)
im Innern des ersten Elektrodengehäuses (1) eine koaxial angeordnete Vorionisationseinheit (5) vorhanden ist, die zwei parallele, im Wesentlichen ebene Flächenelektroden (52) mit einem axialen Abstand zueinander aufweist, wobei die Flächenelektroden (52) im Wesentlichen kreisringförmig sind und zwischen diesen ein zylindrischer Isolator (51), in den mindestens eine elektrische Zuleitung eingebracht ist, angeordnet ist, so dass bei Anlegen einer hinreichend hohen Spannung an die Flächenelektroden (52) eine Gleitentladung (61) entlang der Mantelfläche des zylindrischen Isolators (51) erzeugt wird,
das erste Elektrodengehäuse (1) in Richtung des zweiten Elektrodengehäuses (2) einen verengten Ausgang (12) aufweist und
die Zylindermantelfläche (21) des zweiten Elektrodengehäuses (2) mindestens in unmittelbarer Nähe des verengten Ausgangs (12) des ersten Elektrodengehäuses (1) mit einem rohrförmigen Isolator (22) bedeckt ist.
vor der Hauptentladung eine Vorionisationsentladung zwischen zwei parallelen kreisringförmigen Flächenelektroden (52) mittels einer Oberflächenentladung entlang der Mantelfläche eines zylindrischen Isolators (51) gezündet wird, die neben einer Strahlungsemission im Wellenlängenbereich von ultravioletter bis Röntgenstrahlung schnelle geladene Teilchen erzeugt, die eine Ionisation des Arbeitsgases in der Entladungskammer bewirken,
die Vorionisationsentladung innerhalb eines ersten Elektrodengehäuses (1) abläuft und
die Hauptentladung zwischen einem verengten Ausgang (12) des ersten Elektrodengehäuses (1) und einem der Austrittsöffnung (32) der Entladungskammer (3) nahen Teil eines zweiten Elektrodengehäuses (2) stattfindet, wobei sich in einem rohrförmigen Isolator (22), der wesentliche Teile des zweiten Elektrodengehäuses (2) gegenüber dem ersten Elektrodengehäuse (1) abschirmt, das Plasma herausbildet und infolge des strominduzierten Magnetfeldes zu einer dichten, heißen Plasmasäule (71) kontrahiert, die mit einem Säulenende in der Nähe der Austrittsöffnung (32) der Entladungskammer (3) liegt.
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| US10/267,373 US6894298B2 (en) | 2001-10-10 | 2002-10-09 | Arrangement for generating extreme ultraviolet (EUV) radiation based on a gas discharge |
| JP2002297520A JP3978385B2 (ja) | 2001-10-10 | 2002-10-10 | ガス放電に基づいて極紫外線を発生するための装置及び方法 |
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|---|---|---|---|
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|---|---|
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Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10260458B3 (de) * | 2002-12-19 | 2004-07-22 | Xtreme Technologies Gmbh | Strahlungsquelle mit hoher durchschnittlicher EUV-Strahlungsleistung |
| WO2005060321A2 (en) | 2003-12-17 | 2005-06-30 | Philips Intellectual Property & Standards Gmbh | Method and device for generating in particular euv radiation and/or soft x-ray radiation |
| DE10361908A1 (de) * | 2003-12-23 | 2005-07-28 | Xtreme Technologies Gmbh | Anordnung zur Erzeugung impulsförmiger Ströme hoher Repetitionsrate und hoher Stromstärke für gasentladungsgepumpte Strahlungsquellen |
| DE102005025624A1 (de) * | 2005-06-01 | 2006-12-07 | Xtreme Technologies Gmbh | Anordnung zur Erzeugung von intensiver kurzwelliger Strahlung auf Basis eines Gasentladungsplasmas |
| RU2459393C1 (ru) * | 2010-12-27 | 2012-08-20 | Учреждение Российской Академии Наук Институт Сильноточной Электроники Сибирского Отделения Ран (Исэ Со Ран) | Способ и устройство для генерации мягкого рентгеновского излучения из плазмы газового разряда лайнерного типа |
| CN114286485A (zh) * | 2021-12-27 | 2022-04-05 | 中国科学院国家空间科学中心 | 用于空间x射线探测器标定的微型无阴极x射线发生器 |
Families Citing this family (86)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6815700B2 (en) * | 1997-05-12 | 2004-11-09 | Cymer, Inc. | Plasma focus light source with improved pulse power system |
| US6972421B2 (en) * | 2000-06-09 | 2005-12-06 | Cymer, Inc. | Extreme ultraviolet light source |
| US7180081B2 (en) * | 2000-06-09 | 2007-02-20 | Cymer, Inc. | Discharge produced plasma EUV light source |
| US7346093B2 (en) | 2000-11-17 | 2008-03-18 | Cymer, Inc. | DUV light source optical element improvements |
| US7378673B2 (en) * | 2005-02-25 | 2008-05-27 | Cymer, Inc. | Source material dispenser for EUV light source |
| US7598509B2 (en) * | 2004-11-01 | 2009-10-06 | Cymer, Inc. | Laser produced plasma EUV light source |
| US7372056B2 (en) * | 2005-06-29 | 2008-05-13 | Cymer, Inc. | LPP EUV plasma source material target delivery system |
| US7439530B2 (en) * | 2005-06-29 | 2008-10-21 | Cymer, Inc. | LPP EUV light source drive laser system |
| US7405416B2 (en) * | 2005-02-25 | 2008-07-29 | Cymer, Inc. | Method and apparatus for EUV plasma source target delivery |
| US7465946B2 (en) * | 2004-03-10 | 2008-12-16 | Cymer, Inc. | Alternative fuels for EUV light source |
| US7088758B2 (en) | 2001-07-27 | 2006-08-08 | Cymer, Inc. | Relax gas discharge laser lithography light source |
| FR2841684B1 (fr) * | 2002-06-28 | 2004-09-24 | Centre Nat Rech Scient | Source de rayonnement, notamment ultraviolet a decharges |
| DE10238096B3 (de) * | 2002-08-21 | 2004-02-19 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Gasentladungslampe |
| DE10310623B8 (de) * | 2003-03-10 | 2005-12-01 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Verfahren und Vorrichtung zum Erzeugen eines Plasmas durch elektrische Entladung in einem Entladungsraum |
| US7217941B2 (en) * | 2003-04-08 | 2007-05-15 | Cymer, Inc. | Systems and methods for deflecting plasma-generated ions to prevent the ions from reaching an internal component of an EUV light source |
| US7217940B2 (en) * | 2003-04-08 | 2007-05-15 | Cymer, Inc. | Collector for EUV light source |
| DE10336273A1 (de) * | 2003-08-07 | 2005-03-10 | Fraunhofer Ges Forschung | Vorrichtung zur Erzeugung von EUV- und weicher Röntgenstrahlung |
| GB0324883D0 (en) * | 2003-10-24 | 2003-11-26 | Boc Group Plc | Extreme ultra violet lithography |
| AU2003280823A1 (en) * | 2003-11-17 | 2005-06-06 | Tetsu Miyamoto | Method for generating high-temperature high-density plasma by cusp cross-section pinch |
| US20060146906A1 (en) * | 2004-02-18 | 2006-07-06 | Cymer, Inc. | LLP EUV drive laser |
| US7193228B2 (en) | 2004-03-10 | 2007-03-20 | Cymer, Inc. | EUV light source optical elements |
| US7087914B2 (en) | 2004-03-17 | 2006-08-08 | Cymer, Inc | High repetition rate laser produced plasma EUV light source |
| US7196342B2 (en) * | 2004-03-10 | 2007-03-27 | Cymer, Inc. | Systems and methods for reducing the influence of plasma-generated debris on the internal components of an EUV light source |
| US7164144B2 (en) * | 2004-03-10 | 2007-01-16 | Cymer Inc. | EUV light source |
| US8075732B2 (en) * | 2004-11-01 | 2011-12-13 | Cymer, Inc. | EUV collector debris management |
| US7307375B2 (en) * | 2004-07-09 | 2007-12-11 | Energetiq Technology Inc. | Inductively-driven plasma light source |
| US7183717B2 (en) * | 2004-07-09 | 2007-02-27 | Energetiq Technology Inc. | Inductively-driven light source for microscopy |
| US7948185B2 (en) | 2004-07-09 | 2011-05-24 | Energetiq Technology Inc. | Inductively-driven plasma light source |
| US20060017387A1 (en) * | 2004-07-09 | 2006-01-26 | Energetiq Technology Inc. | Inductively-driven plasma light source |
| US7199384B2 (en) * | 2004-07-09 | 2007-04-03 | Energetiq Technology Inc. | Inductively-driven light source for lithography |
| US7605385B2 (en) * | 2004-07-28 | 2009-10-20 | Board of Regents of the University and Community College System of Nevada, on behlaf of the University of Nevada | Electro-less discharge extreme ultraviolet light source |
| US7355191B2 (en) * | 2004-11-01 | 2008-04-08 | Cymer, Inc. | Systems and methods for cleaning a chamber window of an EUV light source |
| US7109503B1 (en) * | 2005-02-25 | 2006-09-19 | Cymer, Inc. | Systems for protecting internal components of an EUV light source from plasma-generated debris |
| JP2006202671A (ja) | 2005-01-24 | 2006-08-03 | Ushio Inc | 極端紫外光光源装置及び極端紫外光光源装置で発生するデブリの除去方法 |
| DE102005007884A1 (de) * | 2005-02-15 | 2006-08-24 | Xtreme Technologies Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Erzeugung von extrem ultravioletter (EUV-) Strahlung |
| US7449703B2 (en) * | 2005-02-25 | 2008-11-11 | Cymer, Inc. | Method and apparatus for EUV plasma source target delivery target material handling |
| US7482609B2 (en) * | 2005-02-28 | 2009-01-27 | Cymer, Inc. | LPP EUV light source drive laser system |
| JP2006324173A (ja) * | 2005-05-20 | 2006-11-30 | Ushio Inc | 極端紫外光発生装置の電極部 |
| US7180083B2 (en) * | 2005-06-27 | 2007-02-20 | Cymer, Inc. | EUV light source collector erosion mitigation |
| US7365349B2 (en) * | 2005-06-27 | 2008-04-29 | Cymer, Inc. | EUV light source collector lifetime improvements |
| US7141806B1 (en) | 2005-06-27 | 2006-11-28 | Cymer, Inc. | EUV light source collector erosion mitigation |
| US7402825B2 (en) | 2005-06-28 | 2008-07-22 | Cymer, Inc. | LPP EUV drive laser input system |
| US7394083B2 (en) | 2005-07-08 | 2008-07-01 | Cymer, Inc. | Systems and methods for EUV light source metrology |
| DE102005041567B4 (de) * | 2005-08-30 | 2009-03-05 | Xtreme Technologies Gmbh | EUV-Strahlungsquelle mit hoher Strahlungsleistung auf Basis einer Gasentladung |
| WO2007041192A2 (en) * | 2005-09-30 | 2007-04-12 | Energetiq Technology, Inc. | Inductively-driven plasma light source |
| US7372059B2 (en) * | 2005-10-17 | 2008-05-13 | The University Of Washington | Plasma-based EUV light source |
| US7825391B2 (en) * | 2005-10-17 | 2010-11-02 | The University Of Washington | Plasma-based EUV light source |
| US7502446B2 (en) * | 2005-10-18 | 2009-03-10 | Alft Inc. | Soft x-ray generator |
| US7453077B2 (en) * | 2005-11-05 | 2008-11-18 | Cymer, Inc. | EUV light source |
| DE102005055686B3 (de) * | 2005-11-18 | 2007-05-31 | Xtreme Technologies Gmbh | Anordnung zur Erzeugung kurzwelliger Strahlung auf Basis eines Gasentladungsplasmas sowie Verfahren zur Herstellung von kühlmitteldurchströmten Elektrodengehäusen |
| US7504643B2 (en) * | 2005-12-22 | 2009-03-17 | Asml Netherlands B.V. | Method for cleaning a lithographic apparatus module, a cleaning arrangement and a lithographic apparatus comprising the cleaning arrangement |
| US7495239B2 (en) * | 2005-12-22 | 2009-02-24 | Asml Netherlands B.V. | Method for cleaning a lithographic apparatus module, a cleaning arrangement and a lithographic apparatus comprising the cleaning arrangement |
| US7307237B2 (en) * | 2005-12-29 | 2007-12-11 | Honeywell International, Inc. | Hand-held laser welding wand nozzle assembly including laser and feeder extension tips |
| JP2007214253A (ja) * | 2006-02-08 | 2007-08-23 | Ushio Inc | 極端紫外光光源装置および極端紫外光光源装置における集光光学手段の保護方法 |
| JP5076349B2 (ja) * | 2006-04-18 | 2012-11-21 | ウシオ電機株式会社 | 極端紫外光集光鏡および極端紫外光光源装置 |
| US20080239262A1 (en) * | 2007-03-29 | 2008-10-02 | Asml Netherlands B.V. | Radiation source for generating electromagnetic radiation and method for generating electromagnetic radiation |
| FR2920539B1 (fr) * | 2007-08-27 | 2010-05-28 | Alcatel Lucent | Systeme d'analyse de gaz a basse pression par spectroscopie d'emission optique |
| KR20100102682A (ko) * | 2007-12-27 | 2010-09-24 | 에이에스엠엘 네델란즈 비.브이. | 극자외 방사선 소스 및 극자외 방사선을 생성하는 방법 |
| JP2013519211A (ja) * | 2010-02-09 | 2013-05-23 | エナジェティック・テクノロジー・インコーポレーテッド | レーザー駆動の光源 |
| DE102011016058B4 (de) | 2011-04-01 | 2012-11-29 | Xtreme Technologies Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Einstellung von Eigenschaften eines Strahlenbündels aus einem Plasma emittierter hochenergetischer Strahlung |
| JP6270310B2 (ja) | 2011-12-12 | 2018-01-31 | ギガフォトン株式会社 | 冷却水温度制御装置 |
| JP5982137B2 (ja) * | 2012-03-05 | 2016-08-31 | ギガフォトン株式会社 | ターゲット供給装置 |
| EP2859410B1 (de) * | 2012-06-12 | 2019-11-20 | ASML Netherlands B.V. | Photonenquelle, messgerät, lithographisches system und verfahren zur herstellung einer vorrichtung |
| US9390892B2 (en) | 2012-06-26 | 2016-07-12 | Kla-Tencor Corporation | Laser sustained plasma light source with electrically induced gas flow |
| IL234729B (en) | 2013-09-20 | 2021-02-28 | Asml Netherlands Bv | A light source operated by a laser and a method using a mode mixer |
| IL234727B (en) | 2013-09-20 | 2020-09-30 | Asml Netherlands Bv | A light source operated by a laser in an optical system corrected for deviations and the method of manufacturing the system as mentioned |
| WO2015086258A1 (en) | 2013-12-13 | 2015-06-18 | Asml Netherlands B.V. | Radiation source, metrology apparatus, lithographic system and device manufacturing method |
| US10186416B2 (en) | 2014-05-15 | 2019-01-22 | Excelitas Technologies Corp. | Apparatus and a method for operating a variable pressure sealed beam lamp |
| US9741553B2 (en) | 2014-05-15 | 2017-08-22 | Excelitas Technologies Corp. | Elliptical and dual parabolic laser driven sealed beam lamps |
| US9748086B2 (en) | 2014-05-15 | 2017-08-29 | Excelitas Technologies Corp. | Laser driven sealed beam lamp |
| US10008378B2 (en) | 2015-05-14 | 2018-06-26 | Excelitas Technologies Corp. | Laser driven sealed beam lamp with improved stability |
| US10057973B2 (en) | 2015-05-14 | 2018-08-21 | Excelitas Technologies Corp. | Electrodeless single low power CW laser driven plasma lamp |
| US9576785B2 (en) | 2015-05-14 | 2017-02-21 | Excelitas Technologies Corp. | Electrodeless single CW laser driven xenon lamp |
| US10109473B1 (en) | 2018-01-26 | 2018-10-23 | Excelitas Technologies Corp. | Mechanically sealed tube for laser sustained plasma lamp and production method for same |
| CN109587921A (zh) * | 2018-11-16 | 2019-04-05 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 一种耦合高能电子的等离子体射流发生装置 |
| TWI702032B (zh) * | 2019-06-06 | 2020-08-21 | 瀧儀生醫科技股份有限公司 | 導管處理裝置及其方法 |
| CN112188716B (zh) * | 2019-07-01 | 2023-02-03 | 上海宏澎能源科技有限公司 | 等离子束发生装置及产生等离子束的方法 |
| CN112696328B (zh) * | 2020-12-11 | 2021-10-22 | 中国电子科技集团公司第十二研究所 | 一种高可靠性电推进用空心阴极结构 |
| US11587781B2 (en) | 2021-05-24 | 2023-02-21 | Hamamatsu Photonics K.K. | Laser-driven light source with electrodeless ignition |
| CN113301703A (zh) * | 2021-06-18 | 2021-08-24 | 江苏天楹等离子体科技有限公司 | 一种中间段结构等离子体发生器 |
| US12165856B2 (en) * | 2022-02-21 | 2024-12-10 | Hamamatsu Photonics K.K. | Inductively coupled plasma light source |
| US12144072B2 (en) | 2022-03-29 | 2024-11-12 | Hamamatsu Photonics K.K. | All-optical laser-driven light source with electrodeless ignition |
| US12156322B2 (en) * | 2022-12-08 | 2024-11-26 | Hamamatsu Photonics K.K. | Inductively coupled plasma light source with switched power supply |
| US20240194454A1 (en) * | 2022-12-08 | 2024-06-13 | Hamamatsu Photonics K.K. | Inductively Coupled Plasma Light Source with Direct Gas Injection |
| CN115866863A (zh) * | 2023-01-06 | 2023-03-28 | 遨天科技(北京)有限公司 | 一种磁控等离子体射流装置 |
| CN119320938B (zh) * | 2024-10-15 | 2025-11-04 | 乐金显示光电科技(中国)有限公司 | Cvd沉积装置 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4635282A (en) * | 1984-02-14 | 1987-01-06 | Nippon Telegraph & Telephone Public Corp. | X-ray source and X-ray lithography method |
| US5499282A (en) * | 1994-05-02 | 1996-03-12 | University Of Central Florida | Efficient narrow spectral width soft-X-ray discharge sources |
| US5504795A (en) * | 1995-02-06 | 1996-04-02 | Plex Corporation | Plasma X-ray source |
| US5763930A (en) * | 1997-05-12 | 1998-06-09 | Cymer, Inc. | Plasma focus high energy photon source |
Family Cites Families (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6020723A (en) * | 1997-02-14 | 2000-02-01 | Lambada Physik Gmbh | Magnetic switch controlled power supply isolator and thyristor commutating circuit |
| US6586757B2 (en) * | 1997-05-12 | 2003-07-01 | Cymer, Inc. | Plasma focus light source with active and buffer gas control |
| US6566667B1 (en) * | 1997-05-12 | 2003-05-20 | Cymer, Inc. | Plasma focus light source with improved pulse power system |
| US6541786B1 (en) * | 1997-05-12 | 2003-04-01 | Cymer, Inc. | Plasma pinch high energy with debris collector |
| US6650679B1 (en) * | 1999-02-10 | 2003-11-18 | Lambda Physik Ag | Preionization arrangement for gas laser |
| US6466599B1 (en) * | 1999-04-07 | 2002-10-15 | Lambda Physik Ag | Discharge unit for a high repetition rate excimer or molecular fluorine laser |
| TWI246872B (en) * | 1999-12-17 | 2006-01-01 | Asml Netherlands Bv | Radiation source for use in lithographic projection apparatus |
| US6408052B1 (en) * | 2000-04-06 | 2002-06-18 | Mcgeoch Malcolm W. | Z-pinch plasma X-ray source using surface discharge preionization |
| US6421421B1 (en) * | 2000-05-22 | 2002-07-16 | Plex, Llc | Extreme ultraviolet based on colliding neutral beams |
| RU2206186C2 (ru) * | 2000-07-04 | 2003-06-10 | Государственный научный центр Российской Федерации Троицкий институт инновационных и термоядерных исследований | Способ получения коротковолнового излучения из газоразрядной плазмы и устройство для его реализации |
| US6771683B2 (en) * | 2000-10-26 | 2004-08-03 | Coherent, Inc. | Intra-cavity beam homogenizer resonator |
| US6804327B2 (en) * | 2001-04-03 | 2004-10-12 | Lambda Physik Ag | Method and apparatus for generating high output power gas discharge based source of extreme ultraviolet radiation and/or soft x-rays |
-
2001
- 2001-10-10 DE DE10151080A patent/DE10151080C1/de not_active Expired - Lifetime
-
2002
- 2002-10-09 US US10/267,373 patent/US6894298B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2002-10-10 JP JP2002297520A patent/JP3978385B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4635282A (en) * | 1984-02-14 | 1987-01-06 | Nippon Telegraph & Telephone Public Corp. | X-ray source and X-ray lithography method |
| US5499282A (en) * | 1994-05-02 | 1996-03-12 | University Of Central Florida | Efficient narrow spectral width soft-X-ray discharge sources |
| US5504795A (en) * | 1995-02-06 | 1996-04-02 | Plex Corporation | Plasma X-ray source |
| US5763930A (en) * | 1997-05-12 | 1998-06-09 | Cymer, Inc. | Plasma focus high energy photon source |
| US6051841A (en) * | 1997-05-12 | 2000-04-18 | Cymer, Inc. | Plasma focus high energy photon source |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10260458B3 (de) * | 2002-12-19 | 2004-07-22 | Xtreme Technologies Gmbh | Strahlungsquelle mit hoher durchschnittlicher EUV-Strahlungsleistung |
| WO2005060321A2 (en) | 2003-12-17 | 2005-06-30 | Philips Intellectual Property & Standards Gmbh | Method and device for generating in particular euv radiation and/or soft x-ray radiation |
| DE10361908A1 (de) * | 2003-12-23 | 2005-07-28 | Xtreme Technologies Gmbh | Anordnung zur Erzeugung impulsförmiger Ströme hoher Repetitionsrate und hoher Stromstärke für gasentladungsgepumpte Strahlungsquellen |
| DE10361908B4 (de) * | 2003-12-23 | 2013-04-11 | Xtreme Technologies Gmbh | Anordnung zur Erzeugung impulsförmiger Ströme hoher Repetitionsrate und hoher Stromstärke für gasentladungsgepumpte Strahlungsquellen |
| DE102005025624A1 (de) * | 2005-06-01 | 2006-12-07 | Xtreme Technologies Gmbh | Anordnung zur Erzeugung von intensiver kurzwelliger Strahlung auf Basis eines Gasentladungsplasmas |
| US7488962B2 (en) | 2005-06-01 | 2009-02-10 | Xtreme Technologies Gmbh | Arrangement for the generation of intensive short-wavelength radiation based on a gas discharge plasma |
| DE102005025624B4 (de) * | 2005-06-01 | 2010-03-18 | Xtreme Technologies Gmbh | Anordnung zur Erzeugung von intensiver kurzwelliger Strahlung auf Basis eines Gasentladungsplasmas |
| RU2459393C1 (ru) * | 2010-12-27 | 2012-08-20 | Учреждение Российской Академии Наук Институт Сильноточной Электроники Сибирского Отделения Ран (Исэ Со Ран) | Способ и устройство для генерации мягкого рентгеновского излучения из плазмы газового разряда лайнерного типа |
| CN114286485A (zh) * | 2021-12-27 | 2022-04-05 | 中国科学院国家空间科学中心 | 用于空间x射线探测器标定的微型无阴极x射线发生器 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
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| US20030068012A1 (en) | 2003-04-10 |
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