DE10142641A1 - Oberflächenwellenfilter - Google Patents
OberflächenwellenfilterInfo
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Abstract
Ein Oberflächenwellenfilter umfaßt ein Oberflächenwellenfilter vom Typ eines longitudinal gekoppelten Resonators, das zumindest zwei Interdigitalwandler, die an einem dielektrischen Substrat entlang der Ausbreitungsrichtung einer Oberflächenwelle angeordnet sind, und zumindest einen Oberflächenwellenresonator aufweist, der zwischen einen Eingangsanschluß und/oder einen Ausgangsanschluß und das Oberflächenwellenfilter vom Typ eines longitudinal gekoppelten Resonators geschaltet ist. Bei diesem Oberflächenwellenfilter wird ein Durchlaßband gebildet, indem zumindest einer der Resonanzmodi des Oberflächenwellenfilters vom Typ eines longitudinal gekoppelten Resonators und die Induktivität des Oberflächenwellenfilters verwendet werden.
Description
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein Oberflächen
wellenfilter, das vorzugsweise als ein Bandpaßfilter z. B.
in einem Kommunikationssystem verwendet wird, und insbeson
dere auf ein Oberflächenwellenfilter, das einen Oberflä
chenwellenresonator aufweist, der mit einem Oberflächenwel
lenfilter vom Typ eines longitudinal gekoppelten Resonators
verbunden ist.
In den letzten Jahren haben in tragbaren Telefonsystemen
mit einer zunehmenden Zahl von Teilnehmern und der Verbrei
terung der Dienstleistungen Systeme, bei denen das Sende
seitenfrequenzband und das Empfangsseitenfrequenzband des
selben nahe beieinander liegen, zahlenmäßig stark zugenom
men. Abhängig von dem System kann es unter Umständen not
wendig sein, den Dämpfungswert in der unmittelbaren Umge
bung des Durchlaßbandes desselben zu erhöhen, um eine ge
genseitige Interferenz mit anderen Kommunikationssystemen
zu vermeiden. So ist es bei dem Oberflächenwellenfilter,
das weit verbreitet als ein Bandpaßfilter bei der HF-Stufe
von tragbaren Telefonen verwendet wird, sehr wünschenswert,
einen Dämpfungsbereich in der unmittelbaren Umgebung des
Durchlaßbandes zu schaffen.
Andererseits gibt es in der letzten Zeit, um die Zahl von
Komponenten zu reduzieren, verstärkt den Wunsch, daß zwei
Oberflächenwellenfilterelemente in ein Paket kombiniert
werden können, und daß die Eingangsanschlüsse und/oder die
Ausgangsanschlüsse derselben gemeinsam sind, oder daß das
Oberflächenwellenfilter mit einer Symmetrisch-zu-
Unsymmetrisch-Umwandlungsfunktion, der sogenannten Balun-
Funktion, ausgestattet ist. In jüngster Zeit werden deshalb
Oberflächenwellenfilter vom Typ eines longitudinal gekop
pelten Resonators, die leicht anpaßbar sind, um eine Symme
trisch-zu-Unsymmetrisch-Umwandlung zu erzielen, weit ver
breitet als Bandpaßfilter bei der HF-Stufe von tragbaren
Telefonen verwendet.
Die ungeprüfte japanische Patentanmeldung Nr. 05-267990 of
fenbart ein longitudinal verbundenes Doppelmodus-SAW-Filter
als ein Beispiel eines derartigen Oberflächenwellenfilters
vom Typ eines longitudinal gekoppelten Resonators.
Die ungeprüfte japanische Patentanmeldung Nr. 10-126212 of
fenbart ein Filter, das eine Leiterschaltungskonfiguration
aufweist, die ein Oberflächenwellenfilter vom Typ eines
longitudinal gekoppelten Resonators umfaßt.
Das Oberflächenwellenfilter vom Typ eines longitudinal ge
koppelten Resonators jedoch, das in der ungeprüften japani
schen Patentanmeldung Nr. 05-267990 offenbart ist, weist
dahingehend einen Nachteil auf, daß die Steilheit der Dämp
fung-Frequenz-Charakteristik in der unmittelbaren Umgebung
des Durchlaßbandes zur höheren Frequenz hin nicht ausrei
chend ist. Dies führt zu einem Problem, daß der Dämpfungs
wert auf der Seite der höheren Frequenz des Durchlaßbandes,
wobei der Dämpfungswert in einem PCS-System oder einem ähn
lichen System benötigt wird, insbesondere in der unmittel
baren Umgebung des Durchlaßbandes nicht gesichert werden
kann.
Im Gegensatz dazu ist das Oberflächenwellenfilter, das in
der ungeprüften japanischen Patentanmeldung Nr. 10-126212
offenbart ist, in der Lage, die Steilheit der Dämpfung-
Frequenz-Charakteristik in der unmittelbaren Umgebung der
Seite der höheren Frequenz des Durchlaßbandes zu erhöhen.
Das Leiter-Typ-Oberflächenwellenfilter in der ungeprüften
japanischen Patentanmeldung Nr. 10-126212 ist jedoch nicht
in der Lage, eine Symmetrisch-zu-Unsymmetrisch-
Umwandlungsfunktion durchzuführen.
Dies bedeutet, daß, obwohl der Bedarf nach einem Oberflä
chenwellenfilter, das bezüglich der Steilheit der Dämpfung-
Frequenz-Charakteristik in der unmittelbaren Umgebung der
Seite der höheren Frequenz eines Durchlaßbandes überlegen
ist, und das eine Symmetrisch-zu-Unsymmetrisch-
Umwandlungsfunktion aufweist, erkannt wurde, ein derartiges
Oberflächenwellenfilter bisher nicht existiert.
Es ist die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Oberflä
chenwellenfilter und eine Kommunikationsvorrichtung zu
schaffen, bei denen die Steilheit der Dämpfung-Frequenz-
Charakteristik im Vergleich zu den Vorrichtungen des Stands
der Technik verbessert ist.
Diese Aufgabe wird durch ein Oberflächenwellenfilter gemäß
Anspruch 1 oder 2 sowie eine Kommunikationsvorrichtung ge
mäß Anspruch 12 gelöst.
Um die Probleme beim Stand der Technik zu überwinden und um
schließlich dem lang bestehenden Bedarf nach einem Oberflä
chenwellenfilter zu genügen, das in der Steilheit der Dämp
fung-Frequenz-Charakteristik in der unmittelbaren Umgebung
der Seite der höheren Frequenz eines Durchlaßbandes überle
gen ist, und das eine Symmetrisch-zu-Unsymmetrisch-
Umwandlungsfunktion aufweist, schaffen bevorzugte Ausfüh
rungsbeispiele der vorliegenden Erfindung ein Oberflächen
wellenfilter, das eine überlegene Steilheit der Dämpfung-
Frequenz-Charakteristik in der unmittelbaren Umgebung der
Seite der höheren Frequenz eines Durchlaßbandes aufweist,
und das in der Lage ist, ohne weiteres eines Symmetrisch-
zu-Unsymmetrisch-Umwandlungsfunktion durchzuführen.
Ein Oberflächenwellenfilter gemäß einem bevorzugten Ausfüh
rungsbeispiel der vorliegenden Erfindung umfaßt ein Ober
flächenwellenfilter vom Typ eines longitudinal gekoppelten
Resonators, das zumindest zwei Interdigitalwandler, die auf
einem dielektrischen Substrat entlang der Ausbreitungsrich
tung einer Oberflächenwelle angeordnet sind, und zumindest
einen Oberflächenwellenresonator aufweist, der zwischen ei
nen Eingangsanschluß und/oder einen Ausgangsanschluß und
das Oberflächenwellenfilter vom Typ eines longitudinal ge
koppelten Resonators geschaltet ist. Bei diesem Oberflä
chenwellenfilter ist ein Durchlaßband gebildet, indem zu
mindest einer der Resonanzmodi des Oberflächenwellenfilters
vom Typ eines longitudinal gekoppelten Resonators und die
Induktivität des Oberflächenwellenresonators verwendet wer
den.
Bei einem Aspekt des Oberflächenwellenfilters gemäß ver
schiedenen bevorzugten Ausführungsbeispielen der vorliegen
den Erfindung wird die Antiresonanzfrequenz des Oberflä
chenwellenresonators vorzugsweise bei einer Frequenz posi
tioniert, die niedriger als die bei dem Resonanzmodus, der
an der Seite der höchsten Frequenz positioniert ist, unter
den Resonanzmodi des Oberflächenwellenfilters vom Typ eines
longitudinal gekoppelten Resonators ist.
Bei einem weiteren Aspekt des Oberflächenwellenfilters ge
mäß verschiedenen bevorzugten Ausführungsbeispielen der
vorliegenden Erfindung ist die Resonanzfrequenz des Ober
flächenwellenresonators vorzugsweise eine Frequenz, die hö
her als die bei dem Resonanzmodus, der an der Seite der
höchsten Frequenz positioniert ist, unter den Resonanzmodi
ist, die das Durchlaßband des Oberflächenwellenfilters vom
Typ eines longitudinal gekoppelten Resonators bilden.
Bei einem weiteren Aspekt des Oberflächenwellenfilters ge
mäß verschiedenen bevorzugten Ausführungsbeispielen der
vorliegenden Erfindung wird die resultierende Impedanz des
Oberflächenwellenresonators und des Oberflächenwellenfil
ters vom Typ eines longitudinal gekoppelten Resonators im
wesentlichen an die Impedanz bei dem Resonanzmodus des
Oberflächenwellenfilters vom Typ eines longitudinal gekop
pelten Resonators angepaßt.
Bei einem weiteren Aspekt des Oberflächenwellenfilters ge
mäß verschiedenen bevorzugten Ausführungsbeispielen der
vorliegenden Erfindung beträgt das Stehwellenverhältnis ( =
VSWR; VSWR = voltage standing wave ratio) bei der Frequenz
an dem Dämpfungspol, der durch die resultierende Impedanz
des Oberflächenwellenresonators und des Oberflächenwellen
filters vom Typ eines longitudinal gekoppelten Resonators
erzeugt wird, vorzugsweise zumindest ca. 3,5.
Bei einem weiteren Aspekt des Oberflächenwellenfilters ge
mäß verschiedenen bevorzugten Ausführungsbeispielen der
vorliegenden Erfindung wird der Oberflächenwellenresonator
einer Wichtung durch eine Elektrodenfingerentnahme unterzo
gen.
Bei einem weiteren Aspekt verschiedener bevorzugter Ausfüh
rungsbeispiele der vorliegenden Erfindung weist der Ober
flächenwellenresonator vorzugsweise einen kleineren elek
tromechanischen Kopplungskoeffizienten auf als ein Oberflä
chenwellenfilter vom Typ eines longitudinal gekoppelten Re
sonators.
Bei einem weiteren Aspekt des Oberflächenwellenfilters ge
mäß verschiedenen bevorzugten Ausführungsbeispielen der
vorliegenden Erfindung umfaßt der Oberflächenwellenresona
tor vorzugsweise ein piezoelektrisches Substrat, das einen
kleineren elektromechanischen Kopplungskoeffizienten als
das Oberflächenwellenfilter vom Typ eines longitudinal ge
koppelten Resonators aufweist.
Bei einem weiteren Aspekt des Oberflächenwellenfilters ge
mäß verschiedenen bevorzugten Ausführungsbeispielen der
vorliegenden Erfindung ist zumindest ein Induktivitätsele
ment vorzugsweise parallel zu dem Eingangs- und/oder Aus
gangsanschluß geschaltet, mit dem der Oberflächenwellenre
sonator in Serie geschaltet ist.
Bei einem weiteren Aspekt des Oberflächenwellenfilters ge
mäß verschiedenen bevorzugten Ausführungsbeispielen der
vorliegenden Erfindung werden zumindest zwei Oberflächen
wellenfilterelemente geschaffen. Zumindest entweder die
Eingangsanschlußseite oder die Ausgangsanschlußseite der
zumindest zwei Oberflächenwellenfilterelemente ist gemein
sam, wobei zumindest eines der beiden Oberflächenwellenfil
terelemente aus einem Oberflächenwellenfilter gemäß anderen
bevorzugten Ausführungsbeispielen der oben beschriebenen
vorliegenden Erfindung gebildet ist.
Bei einem weiteren Aspekt des Oberflächenwellenfilters ge
mäß verschiedenen bevorzugten Ausführungsbeispielen der
vorliegenden Erfindung wird eine Symmetrisch-zu-
Unsymmetrisch-Umwandlungsfunktion geschaffen.
Eine Kommunikationsvorrichtung gemäß einem weiteren bevor
zugten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung um
faßt ein Oberflächenwellenfilter gemäß anderen bevorzugten
Ausführungsbeispielen der vorliegenden Erfindung, die oben
beschrieben sind.
Die obigen und weitere Elemente, Merkmale, Charakteristika
und Vorteile der vorliegenden Erfindung werden aus der fol
genden detaillierten Beschreibung von bevorzugten Ausfüh
rungsbeispielen der Erfindung gemeinsam mit den beigefügten
Zeichnungen deutlich. Es zeigen:
Fig. 1 eine schematische Draufsicht, die die Elektroden
struktur eines. Oberflächenwellenfilters gemäß ei
nem ersten bevorzugten Ausführungsbeispiel der
vorliegenden Erfindung zeigt;
Fig. 2 ein Diagramm, das die Dämpfung-Frequenz-
Charakteristik des Oberflächenwellenfilters gemäß
dem ersten bevorzugten Ausführungsbeispiel und
eines herkömmlichen Beispiels zeigt;
Fig. 3 eine schematische Draufsicht, die die Elektroden
struktur eines herkömmlichen Oberflächenwellen
filters zeigt, das zum Vergleich mit bevorzugten
Ausführungsbeispielen der vorliegenden Erfindung
vorbereitet wurde;
Fig. 4 ein Diagramm, das die Dämpfung-Frequenz-
Charakteristik des Oberflächenwellenfilters vom
Typ eines longitudinal gekoppelten Resonators
zeigt, das in dem ersten bevorzugten Ausführungs
beispiel enthalten ist;
Fig. 5 ein Diagramm, das die Dämpfung-Frequenz-
Charakteristik des Oberflächenwellenresonators
zeigt, der in dem ersten bevorzugten Ausführungs
beispiel enthalten ist;
Fig. 6 ein Diagramm, das die Dämpfung-Frequenz-
Charakteristik des Oberflächenwellenfilters vom
Typ eines longitudinal gekoppelten Resonators
zeigt, das in dem Oberflächenwellenfilter gemäß
dem herkömmlichen Beispiel enthalten ist;
Fig. 7 ein Diagramm, das die Dämpfung-Frequenz-
Charakteristik des Oberflächenwellenresonators
zeigt, der in dem Oberflächenwellenfilter gemäß
dem herkömmlichen Beispiel enthalten ist;
Fig. 8A und 8B Ansichten, die Resonanzmodi des Oberflächenwel-
len-filters vom Typ eines longitudinal gekoppel
ten Resonators erklären, das drei IDT aufweist,
wobei Fig. 8A ein Diagramm zum Darstellen der
Dämpfung-Frequenz-Charakteristik des Filters ist,
und wobei Fig. 8B eine schematische Ansicht ist,
die die drei Resonanzmodi desselben zeigt;
Fig. 9A bis 9D jeweils Diagramme, die das Prinzip von bevorzug
ten Ausführungsbeispielen der vorliegenden Erfin
dung unter Verwendung der Reflexionscharakteri
stik S22 erklären;
Fig. 10 ein Diagramm, das das Verhältnis zwischen dem
Dämpfungswert (in Fig. 2 gezeigt) an dem Dämp
fungspol P und dem VSWR zeigt;
Fig. 11 eine schematische Draufsicht, die ein Oberflä
chenwellenfilter gemäß einer Modifizierung des
ersten bevorzugten Ausführungsbeispiels der vor
liegenden Erfindung erklärt;
Fig. 12 ein Diagramm, das die Dämpfung-Frequenz-
Charakteristik der Modifizierung, die in Fig. 11
gezeigt ist, zeigt;
Fig. 13 eine schematische Draufsicht, die die Elektroden
struktur eines Oberflächenwellenfilters gemäß ei
nem zweiten bevorzugten Ausführungsbeispiel der
vorliegenden Erfindung zeigt;
Fig. 14 eine schematische Draufsicht, die ein Oberflä
chenwellenfilter gemäß einer Modifizierung des
zweiten bevorzugten Ausführungsbeispiels erklärt;
Fig. 15 ein schematisches Blockdiagramm, das ein Oberflä
chenwellenfilter zeigt, das zwei Oberflächenwel
lenfilterelemente aufweist;
Fig. 16 ein schematisches Blockdiagramm, das ein Oberflä
chenwellenfilter zeigt, das zwei Oberflächenwel
lenfilterelemente aufweist;
Fig. 17 eine schematische Draufsicht, die die Elektroden
struktur eines Oberflächenwellenfilters vom Typ
eines longitudinal gekoppelten Resonators gemäß
einem dritten bevorzugten Ausführungsbeispiel der
vorliegenden Erfindung zeigt;
Fig. 18 ein Diagramm, das die Dämpfung-Frequenz-
Charakteristik des Oberflächenwellenfilters gemäß
dem dritten bevorzugten Ausführungsbeispiel der
vorliegenden Erfindung zeigt;
Fig. 19 eine schematische Draufsicht, die die Elektroden
struktur eines Oberflächenwellenfilters gemäß ei
ner Modifizierung des dritten bevorzugten Ausfüh
rungsbeispiels der vorliegenden Erfindung zeigt;
Fig. 20 ein schematisches Blockdiagramm, das eine Kommu
nikationsvorrichtung erklärt, die ein Oberflä
chenwellenfilter gemäß anderen bevorzugten Aus
führungsbeispielen der vorliegenden Erfindung um
faßt; und
Fig. 21 ein schematisches Blockdiagramm, das ein weiteres
Beispiel einer Kommunikationsvorrichtung erklärt,
die ein Oberflächenwellenfilter gemäß anderen be
vorzugten Ausführungsbeispielen der vorliegenden
Erfindung umfaßt.
Fig. 1 ist eine schematische Draufsicht, die die Elektro
denstruktur eines Oberflächenwellenfilters gemäß einem er
sten bevorzugten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Er
findung zeigt. Das Oberflächenwellenfilter gemäß diesem be
vorzugten Ausführungsbeispiel und nachfolgende bevorzugte
Ausführungsbeispiele sind Beispiele, die auf Sendefilter
zur Verwendung bei PCS-Systemen angewendet werden.
Bei diesem bevorzugten Ausführungsbeispiel ist eine darge
stellte Elektrodenstruktur, die aus Al gebildet ist, vor
zugsweise auf einem Substrat mit 40 ± 5°, Y-Schnitt, X-
Ausbreitung und aus LiTaO3 gebildet. Hierin sind ein Ober
flächenwellenfilter vom Typ eines longitudinal gekoppelten
Resonators 101 und ein Oberflächenwellenresonator 102, der
mit demselben verbunden ist, mit dieser Elektrodenstruktur
aufgebaut.
Bei dem Oberflächenwellenfilter vom Typ eines longitudinal
gekoppelten Resonators 101 sind ein erster bis dritter IDT
103 bis 105 entlang der Ausbreitungsrichtung der akusti
schen Oberflächenwelle angeordnet. Reflektoren 106 und 107
sind vorzugsweise außerhalb der IDT 103 bzw. 105 ange
bracht. Ein Ende jedes IDT 103 und 105 ist mit einem Ein
gangsanschluß 119 verbunden. Ein Ende des IDT 104 ist mit
einem Ende des Oberflächenwellenresonators 102 verbunden.
Das andere Ende jedes IDT 103 und 105 ist mit dem Massepo
tential verbunden.
In Fig. 1 sind auch Gittertypreflektoren 117a und 117b, die
schematisch dargestellt sind, an gegenüberliegenden Enden
des IDT 116 in dem Oberflächenwellenresonator 102 ange
bracht.
Der Endabschnitt des Oberflächenwellenresonators 102 gegen
über der Seite, die mit dem IDT 104 verbunden ist, ist mit
einem Ausgangsanschluß 120 verbunden. Ein Induktivitätsele
ment 118 ist zwischen dem Verbindungspunkt 121, der sich
zwischen dem Endabschnitt des Oberflächenwellenresonators
102 und dem Ausgangsanschluß 120 befindet, und dem Massepo
tential eingefügt.
Dieses Induktivitätselement 118 ist vorzugsweise derart
aufgebaut, daß es bei diesem bevorzugten Ausführungsbei
spiel einen Wert von ca. 8,2 nH aufweist.
Die IDT 103 bis 105 sind mit Schmale-Teilung-
Elektrodenfingerabschnitten ausgestattet, wobei jeder der
selben eine schmalere Elektrodenfingerteilung als der ver
bleibende Abschnitt aufweist. Wie aus Fig. 1 ersichtlich
ist, befinden sich bei den IDT 103 bis 105 Schmale-Teilung-
Fingerabschnitte 103a, 104a, 104b und 105a jeweils an den
Seiten, die zueinander angrenzend an die benachbarten IDT
sind. Anders ausgedrückt, sind zwischen zueinander angren
zenden IDT Schmale-Teilung-Elektrodenfingerabschnitte an
den zueinander angrenzenden IDT-Seite-Endabschnitten vorge
sehen.
Insbesondere ist, unter Annahme des IDT 103 als ein Bei
spiel, die Teilung der Elektrodenfinger, die den Schmale-
Teilung-Elektrodenfingerabschnitt 103a bilden, schmaler als
die des verbleibenden Elektrodenfingerabschnitts.
In Fig. 1 sind weniger Elektrodenfinger gezeigt als tat
sächlich vorhanden sind, um die Zeichnung zu vereinfachen.
Im folgenden werden spezifische Entwürfe des Oberflächen
wellenfilters gemäß diesem bevorzugten Ausführungsbeispiel
beschrieben. Bei diesem bevorzugten Ausführungsbeispiel
sind die Schmale-Teilung-Elektrodenfingerabschnitte 103a
bis 105a der jeweiligen IDT 103 bis 105 vorzugsweise im we
sentlichen alle identisch. Wenn die Wellenlänge der akusti
schen Oberflächenwelle, die durch die Teilung dieser Schma
le-Teilung-Elektrodenfingerabschnitte bestimmt ist, λI2
ist, und die Wellenlänge der akustischen Oberflächenwelle,
die durch die Teilung der anderen Elektrodenfingerabschnit
te bestimmt ist, λI1 ist, ist der Entwurf des Oberflächen
wellenfilters vom Typ eines longitudinal gekoppelten Reso
nators 101 vorzugsweise wie folgt:
Kreuzungsbreite W = 70,4 λI1;
Zahl von Elektrodenfingern jedes IDT 103 und 105: Zahl von Elektrodenfingern in einem Schmale-Teilung- Elektrodenfingerabschnitt = 4 und die in dem verbleibenden Abschnitt = 35;
Zahl von Elektrodenfingern des IDT 104: Zahl von Elektro denfingern in dem Schmale-Teilung-Elektrodenfingerabschnitt 104a = 4, Zahl von Elektrodenfingern in dem Schmale- Teilung-Elektrodenfingerabschnitt 104b = 4 und Zahl von Elektrodenfingern in dem verbleibenden Elektrodenfingerab schnitt = 55;
λI1 = 2,13 µm, λI2 = 1,82 µm;
Wellenlänge jedes Reflektors 106 und 107, λR = 2,14 µm;
Zahl von Elektrodenfingern in jedem Reflektor = 70;
Abstand zwischen den Mitten von Elektrodenfingern zwischen einem Schmale-Teilung-Elektrodenfingerabschnitt und dem verbleibenden Elektrodenfingerabschnitt (z. B. die Abstände zwischen den Mitten der Abschnitte, die in Fig. 1 durch die Bezugszeichen 110, 112, 113 und 115 angezeigt sind) = 0,25 λI1 + 0,25 λI2;
Abstand zwischen den Mitten von Elektrodenfingern zwischen zwei angrenzenden IDT (z. B. die Abstände zwischen den Mit ten der Abschnitte, die in Fig. 1 durch die Bezugszeichen 111 und 114 bezeichnet sind) = 0,50 λI2;
IDT-zu-Reflektor-Abstand = 0,54 λR;
Nutzverhältnis jedes IDT 103 bis 105 = 0,60;
Nutzverhältnis jedes Reflektors = 0,60.
Hier bezieht sich "Nutzverhältnis" ( = duty) auf das Ver hältnis der Breite von Elektrodenfingern bezüglich (Breite von Elektrodenfingern + Breite von Spalten zwischen Elek trodenfingern).
Filmdicke der Elektrode = 0,08 λI1.
Kreuzungsbreite W = 70,4 λI1;
Zahl von Elektrodenfingern jedes IDT 103 und 105: Zahl von Elektrodenfingern in einem Schmale-Teilung- Elektrodenfingerabschnitt = 4 und die in dem verbleibenden Abschnitt = 35;
Zahl von Elektrodenfingern des IDT 104: Zahl von Elektro denfingern in dem Schmale-Teilung-Elektrodenfingerabschnitt 104a = 4, Zahl von Elektrodenfingern in dem Schmale- Teilung-Elektrodenfingerabschnitt 104b = 4 und Zahl von Elektrodenfingern in dem verbleibenden Elektrodenfingerab schnitt = 55;
λI1 = 2,13 µm, λI2 = 1,82 µm;
Wellenlänge jedes Reflektors 106 und 107, λR = 2,14 µm;
Zahl von Elektrodenfingern in jedem Reflektor = 70;
Abstand zwischen den Mitten von Elektrodenfingern zwischen einem Schmale-Teilung-Elektrodenfingerabschnitt und dem verbleibenden Elektrodenfingerabschnitt (z. B. die Abstände zwischen den Mitten der Abschnitte, die in Fig. 1 durch die Bezugszeichen 110, 112, 113 und 115 angezeigt sind) = 0,25 λI1 + 0,25 λI2;
Abstand zwischen den Mitten von Elektrodenfingern zwischen zwei angrenzenden IDT (z. B. die Abstände zwischen den Mit ten der Abschnitte, die in Fig. 1 durch die Bezugszeichen 111 und 114 bezeichnet sind) = 0,50 λI2;
IDT-zu-Reflektor-Abstand = 0,54 λR;
Nutzverhältnis jedes IDT 103 bis 105 = 0,60;
Nutzverhältnis jedes Reflektors = 0,60.
Hier bezieht sich "Nutzverhältnis" ( = duty) auf das Ver hältnis der Breite von Elektrodenfingern bezüglich (Breite von Elektrodenfingern + Breite von Spalten zwischen Elek trodenfingern).
Filmdicke der Elektrode = 0,08 λI1.
Als nächstes ist der Entwurf des Oberflächenwellenresona
tors 102 vorzugsweise wie folgt:
Kreuzungsbreite W = 34,1 λ.
Kreuzungsbreite W = 34,1 λ.
Hier bezeichnet λ die Wellenlänge der akustischen Oberflä
chenwelle, die durch die Elektrodenfingerteilung des Ober
flächenwellenresonators bestimmt ist.
Zahl von Elektrodenfingern in dem IDT 116 = 301;
A = 2,05 µm;
Zahl von Elektrodenfingern in jedem Reflektor = 30;
IDT-zu-Reflektor-Abstand = 0,50 λ;
Nutzverhältnis des IDT und jedes Reflektors = 0,60;
Filmdicke der Elektrode = 0,083 λ.
A = 2,05 µm;
Zahl von Elektrodenfingern in jedem Reflektor = 30;
IDT-zu-Reflektor-Abstand = 0,50 λ;
Nutzverhältnis des IDT und jedes Reflektors = 0,60;
Filmdicke der Elektrode = 0,083 λ.
Bei dem Oberflächenwellenresonator 102 ist der IDT 116
durch eine Elektrodenfingerentnahme gewichtet, um den Ab
stand zwischen der Resonanzfrequenz und der Antiresonanz
frequenz zu reduzieren.
Der IDT 116 weist Kammelektroden 116a und 116b auf. Indem
das Vorzeichen eines Elektrodenfingers auf der Seite der
Kammelektrode 116a als "+" ausgedrückt wird, und indem aus
gedrückt wird, daß das Vorzeichen eines Elektrodenfingers
an der Kammelektrode 116b "-" ist, wird ein Zustand der
Wichtung durch eine Elektrodenfingerentnahme ausgedrückt.
Hier soll die Anordnung von benachbarten zwei Elektroden
fingern, bei der ein "+"-Elektrodenfinger und ein "-"-
Elektrodenfinger aufeinanderfolgend entlang der Richtung
von der linken Seite zu der rechten Seite in Fig. 1 ange
ordnet sind, als "+1" ausgedrückt sein, wobei die Anord
nung, bei der ein "-"-Elektrodenfinger und ein "+"-
Elektrodenfinger nacheinander angeordnet sind, als "-1" an
geordnet sein soll, und wobei die Anordnung, bei der ein
"+"-Elektrodenfinger an dem nächstfolgenden Platz eines
"+"-Elektrodenfingers angeordnet ist, oder bei der ein "-"-
Elektrodenfinger an dem nächstfolgenden Platz eines "-"-
Elektrodenfingers angeordnet ist, als "0" ausgedrückt sein
soll. Dann wird der IDT 116 einer Wichtung durch eine Elek
trodenfingerentnahme unterzogen, derart, daß die Anordnung
der Elektrodenfinger als "1, 0, 0, -1, 0, 0, 1, 0, 0, -1,
. . . -1, 0, 0, 1, 0, 0, -1, 0, 0, 1" ausgedrückt wird. Un
terdessen ist in Fig. 1 der IDT 116 derart dargestellt, daß
er eine kleinere Zahl von Elektrodenfingern aufweist, als
dies tatsächlich der Fall ist, um die Zeichnung zu verein
fachen.
Die Dämpfung-Frequenz-Charakteristik des Oberflächenwellen
filters 100 gemäß diesem bevorzugten Ausführungsbeispiel
ist in Fig. 2 durch eine durchgezogene Linie dargestellt.
Zum Vergleich ist die Dämpfung-Frequenz-Charakteristik des
herkömmlichen Oberflächenwellenfilters, das in Fig. 3 ge
zeigt ist, in Fig. 2 durch eine unterbrochene Linie darge
stellt. In Fig. 2 ist der wesentliche Abschnitt der Dämp
fung-Frequenz-Charakteristik zusätzlich durch eine vergrö
ßerte Skala auf der rechten Seite der vertikalen Achse dar
gestellt.
Wie in dem Fall des Oberflächenwellenfilters 100 gemäß dem
ersten bevorzugten Ausführungsbeispiel weist das Oberflä
chenwellenfilter 200 eine Konfiguration auf, bei der ein
Oberflächenwellenfilter vom Typ eines longitudinal gekop
pelten Resonators 201 und ein Oberflächenwellenresonator
202 vorzugsweise an einem Substrat mit 40 ± 5°, Y-Schnitt,
X-Ausbreitung und aus LiTaO3 durch eine Al-
Elektrodenstruktur angeordnet. Außerdem sind bei dem Ober
flächenwellenfilter vom Typ eines longitudinal gekoppelten
Resonators 201, wie bei dem Oberflächenwellenfilter 100,
IDT 203 bis 205 aufeinanderfolgend entlang der Ausbrei
tungsrichtung der akustischen Oberflächenwelle angeordnet,
wobei Schmale-Teilung-Elektrodenfingerabschnitte 203a,
204a, 204b und 205a jeweils in den IDT 203 bis 205 an den
angrenzenden IDT-Seite-Endabschnitten vorgesehen sind. Der
detaillierte Entwurf dieses Oberflächenwellenfilters vom
Typ eines longitudinal gekoppelten Resonators 201 wird im
folgenden beschrieben. Außerdem ist die Wellenlänge, die
durch die Teilung der Schmale-Teilung-
Elektrodenfingerabschnitte bestimmt wird, λI2, wobei die,
die durch die Teilung der anderen Elektrodenfingerabschnit
te bestimmt wird, λI1 ist.
Kreuzungsbreite W = 66,0 λI1;
Zahl von Elektrodenfingern jedes IDT 203 und 205: Zahl von Elektrodenfingern in jedem Schmale-Teilung- Elektrodenfingerabschnitt 203a und 205a = 4 und die in je dem verbleibenden Abschnitt desselben = 27;
Zahl von Elektrodenfingern des IDT 204: Zahl von Elektro denfingern in dem Schmale-Teilung-Elektrodenfingerabschnitt 204a = 4, Zahl von Elektrodenfingern in dem Schmale- Teilung-Elektrodenfingerabschnitt 204b = 4 und Zahl von Elektrodenfingern in dem verbleibenden Elektrodenfingerab schnitt desselben = 33;
λI1 = 2,12 µm, λI2 = 1,94 µm;
Wellenlänge jedes Reflektors 206 und 207, λR = 2,14 µm;
Zahl von Elektrodenfingern in jedem Reflektor 206 und 207 = 60;
Abstand zwischen den Mitten von Elektrodenfingern an dem Abschnitt, der sandwichartig durch den Elektrodenfinger, der eine Wellenlänge von λI1 aufweist, sowie den Elektro denfinger umgeben ist, der eine Wellenlänge von λI2 auf weist (z. B. die Abstände zwischen den Mitten der Abschnit te, die in Fig. 3 durch die Bezugszeichen 210, 212, 213 und 215 angezeigt sind) = 0,25 λI1 ± 0,25 λI2;
IDT-zu-IDT-Abstand (die Abstände zwischen den Mitten der Abschnitte, die in Fig. 3 durch die Bezugszeichen 211 und 214 bezeichnet sind) = 0,50 λI2;
IDT-zu-Reflektor-Abstand = 0,50 λR;
Nutzverhältnis jedes IDT und jedes Reflektors = 0,60;
Filmdicke des Elektrodenfingers = 0,080 λI1.
Kreuzungsbreite W = 66,0 λI1;
Zahl von Elektrodenfingern jedes IDT 203 und 205: Zahl von Elektrodenfingern in jedem Schmale-Teilung- Elektrodenfingerabschnitt 203a und 205a = 4 und die in je dem verbleibenden Abschnitt desselben = 27;
Zahl von Elektrodenfingern des IDT 204: Zahl von Elektro denfingern in dem Schmale-Teilung-Elektrodenfingerabschnitt 204a = 4, Zahl von Elektrodenfingern in dem Schmale- Teilung-Elektrodenfingerabschnitt 204b = 4 und Zahl von Elektrodenfingern in dem verbleibenden Elektrodenfingerab schnitt desselben = 33;
λI1 = 2,12 µm, λI2 = 1,94 µm;
Wellenlänge jedes Reflektors 206 und 207, λR = 2,14 µm;
Zahl von Elektrodenfingern in jedem Reflektor 206 und 207 = 60;
Abstand zwischen den Mitten von Elektrodenfingern an dem Abschnitt, der sandwichartig durch den Elektrodenfinger, der eine Wellenlänge von λI1 aufweist, sowie den Elektro denfinger umgeben ist, der eine Wellenlänge von λI2 auf weist (z. B. die Abstände zwischen den Mitten der Abschnit te, die in Fig. 3 durch die Bezugszeichen 210, 212, 213 und 215 angezeigt sind) = 0,25 λI1 ± 0,25 λI2;
IDT-zu-IDT-Abstand (die Abstände zwischen den Mitten der Abschnitte, die in Fig. 3 durch die Bezugszeichen 211 und 214 bezeichnet sind) = 0,50 λI2;
IDT-zu-Reflektor-Abstand = 0,50 λR;
Nutzverhältnis jedes IDT und jedes Reflektors = 0,60;
Filmdicke des Elektrodenfingers = 0,080 λI1.
Als nächstes ist der bevorzugte Entwurf des Oberflächenwel
lenresonators 202 vorzugsweise wie folgt:
Kreuzungsbreite W = 33,2 λ;
Zahl von Elektrodenfingern in IDT = 341;
Wellenlänge von IDT und jedes Reflektors, λ = 2,11 µm;
Zahl von Elektrodenfingern in jedem Reflektor = 30;
IDT-zu-Reflektor-Abstand = 0,50 λ;
Nutzverhältnis jedes IDT und jedes Reflektors = 0,60;
Filmdicke des Elektrodenfingers = 0,080 λ.
Kreuzungsbreite W = 33,2 λ;
Zahl von Elektrodenfingern in IDT = 341;
Wellenlänge von IDT und jedes Reflektors, λ = 2,11 µm;
Zahl von Elektrodenfingern in jedem Reflektor = 30;
IDT-zu-Reflektor-Abstand = 0,50 λ;
Nutzverhältnis jedes IDT und jedes Reflektors = 0,60;
Filmdicke des Elektrodenfingers = 0,080 λ.
Das Oberflächenwellenfilter 200, das in Fig. 3 dargestellt
ist, ist z. B. gemäß der ungeprüften japanischen Patentan
meldung Nr. 07-66679 aufgebaut.
Wie aus Fig. 2 ersichtlich ist, weist das Oberflächenwel
lenfilter 100 gemäß dem ersten bevorzugten Ausführungsbei
spiel eine größere Steilheit der Dämpfung-Frequenz-
Charakteristik in der unmittelbaren Umgebung der Seite der
höheren Frequenz des Durchlaßbandes auf als das oben be
schriebene herkömmliche Oberflächenwellenfilter 200. Wenn
z. B. die Frequenzbreiten, die für die Einfügungsverluste
benötigt werden, um sich von der Position von ca. 4,5 dB zu
der Position von ca. 10 dB auszubreiten, und zwar jeweils
von dem Durchgangspegel, zwischen dem ersten bevorzugten
Ausführungsbeispiel und dem herkömmlichen Beispiel vergli
chen werden, beträgt die Frequenzbreite für das erste be
vorzugte Ausführungsbeispiel ca. 3,4 MHz im Gegensatz zu
5,6 MHz für das herkömmliche Beispiel. Dies bedeutet, daß
das erste bevorzugte Ausführungsbeispiel eine Frequenzbrei
te aufweist, die um ca. 2,2 MHz niedriger als die des her
kömmlichen Beispiels ist.
Im folgenden werden die Prinzipien der vorliegenden Erfin
dung auf der Basis dieses bevorzugten Ausführungsbeispiels
der vorliegenden Erfindung beschrieben. Fig. 4 zeigt die
Dämpfung-Frequenz-Charakteristik des Oberflächenwellenfil
ters vom Typ eines longitudinal gekoppelten Resonators 101,
das bei dem ersten bevorzugten Ausführungsbeispiel verwen
det wird, wobei Fig. 5 die des Oberflächenwellenresonators
102 zeigt. Andererseits zeigt Fig. 6 die Dämpfung-Frequenz-
Charakteristik des Oberflächenwellenfilters vom Typ eines
longitudinal gekoppelten Resonators 201, das bei dem oben
beschriebenen herkömmlichen Beispiel verwendet wird, wobei
Fig. 7 die des Oberflächenwellenresonators 202 darstellt.
Die Markierungen "x" in den Fig. 4 und 5 zeigen jeweils die
Positionen der Resonanzfrequenz und der Antiresonanzfre
quenz des Oberflächenwellenresonators 102. Hier zeigt die
Markierung "x" an der Seite der niedrigeren Frequenz die
Position der Resonanzfrequenz an, während die an der Seite
der höheren Frequenz die Position der Antiresonanzfrequenz
anzeigt. Andererseits zeigen die Markierungen "x" in den
Fig. 6 und 7 jeweils die Positionen der Resonanzfrequenz
und der Antiresonanzfrequenz des Oberflächenwellenresona
tors 202 an. Außerdem zeigt die Markierung "x" an der Seite
der niedrigeren Frequenz die Position der Resonanzfrequenz
an, die an der Seite der höheren Frequenz jedoch die Posi
tion der Antiresonanzfrequenz.
Wie in den Fig. 8A und 8B gezeigt ist, ist bei einem Ober
flächenwellenfilter vom Typ eines longitudinal gekoppelten
Resonators, das drei IDT aufweist, ein Durchlaßband vor
zugsweise unter Verwendung von drei Modi gebildet: einem
Modus nullter Ordnung (der Resonanzmodus, der durch den
Pfeil B angezeigt ist), einem Modus zweiter Ordnung (der
Resonanzmodus, der durch den Pfeil A angezeigt ist) und ei
nem Modus, der die Intensitätsspitzenverteilung einer aku
stischen Oberflächenwelle an einem IDT-zu-IDT-Abstand-
Abschnitt (der Resonanzmodus, der durch den Pfeil C ange
zeigt ist) aufweist.
Die Steilheit der Dämpfung-Frequenz-Charakteristik in der
unmittelbaren Umgebung der Seite der höheren Frequenz des
Durchlaßbandes ist durch den Resonanzmodus, der durch den
Pfeil C angezeigt ist, unter den oben beschriebenen drei
Resonanzmodi bestimmt. Eine ausreichende Steilheit der
Dämpfung-Frequenz-Charakteristik kann jedoch in der unmit
telbaren Umgebung der Seite der höheren Frequenz des Durch
laßbandes nicht lediglich durch die Steilheit der Dämpfung-
Frequenz-Charakteristik basierend auf dem oben beschriebe
nen Resonanzmodus erzielt werden, der durch den Pfeil C an
gezeigt wird, erzielt werden.
Folglich wurde die Steilheit der Dämpfung-Frequenz-
Charakteristik in der unmittelbaren Umgebung der Seite der
höheren Frequenz des Durchlaßbandes bisher realisiert, in
dem die Durchlaßbandbreite des Oberflächenwellenfilters vom
Typ eines longitudinal gekoppelten Resonators entworfen
wurde, um größer zu sein als die einer benötigten Bandbrei
te, indem die Antiresonanzfrequenz des Oberflächenwellenre
sonators, der mit dem Oberflächenwellenfilter vom Typ eines
longitudinal gekoppelten Resonators verbunden ist, an die
Frequenz an der Seite der höheren Frequenz des Durchlaßban
des angepaßt wurde und indem die Steilheit der Dämpfung-
Frequenz-Charakteristik verwendet wurde.
Im Gegensatz dazu ist bei dem ersten bevorzugten Ausfüh
rungsbeispiel, wie aus Fig. 4 ersichtlich ist, die Durch
laßbandbreite des Oberflächenwellenfilters vom Typ eines
longitudinal gekoppelten Resonators 101 schmaler als die
Durchlaßbandbreite (in Fig. 2 gezeigt) in dem Fall, in dem
der Oberflächenwellenresonator in Serie geschaltet ist.
Dies bedeutet, daß im Gegensatz zu dem oben beschriebenen
herkömmlichen Beispiel das Oberflächenwellenfilter vom Typ
eines longitudinal gekoppelten Resonators 101 durch die Se
rienschaltung des Oberflächenwellenresonators 102 mit dem
Oberflächenwellenfilter vom Typ eines longitudinal gekop
pelten Resonators 101 die Durchlaßbandbreite breiter wird.
Dies wird unter Verwendung der Reflexionscharakteristik be
schrieben, d. h. unter Verwendung der Reflexionscharakteri
stik auf der S22-Seite, mit der der Oberflächenwellenreso
nator in Serie geschaltet ist.
Fig. 9A zeigt die Reflexionscharakteristik des Oberflächen
wellenfilters vom Typ eines longitudinal gekoppelten Reso
nators 101, wobei Fig. 9B die Reflexionscharakteristik des
Oberflächenwellenresonators 102 zeigt. Die Reflexionscha
rakteristik des Oberflächenwellenfilters gemäß dem ersten
bevorzugten Ausführungsbeispiel ist die zusammengesetzte
Charakteristik dieser beiden Reflexionscharakteristika, wie
dies in Fig. 9C gezeigt ist.
In Fig. 9 bezeichnet die Markierung, die durch den Pfeil X
gezeigt ist, die Resonanzfrequenz ( = 1.909,5 MHz) des Ober
flächenwellenresonators 102, wobei die Markierung, die
durch den Pfeil Y gezeigt ist, die Antiresonanzfrequenz ( =
1.925 MHz) desselben anzeigt.
In dem Frequenzbereich zwischen der Resonanzfrequenz und
der Antiresonanzfrequenz des Oberflächenwellenfilters vom
Typ eines longitudinal gekoppelten Resonators 101 ist die
Impedanz kapazitiv (d. h. der Bereich in der unteren Hälfte
in dem Smith-Diagramm). Im Gegensatz dazu ist in dem Fre
quenzbereich zwischen der Resonanzfrequenz und der Antire
sonanzfrequenz des Oberflächenwellenresonators 102 die Im
pedanz induktiv (d. h. der Bereich in der oberen Hälfte in
dem Smith-Diagramm). Deshalb wird dieser Frequenzbereich
des Oberflächenwellenfilters vom Typ eines longitudinal ge
koppelten Resonators 101 durch den induktiven Bereich gezo
gen. Als ein Ergebnis tritt, wie dies in Fig. 9C gezeigt
ist, ein Resonanzmodus Z unter dem Einfluß der Induktivität
des Oberflächenwellenresonators auf. Durch ein wesentliches
Anpassen der Impedanz des Resonanzmodus Z an die Impedanzen
der anderen Resonanzmodi des Oberflächenwellenfilters vom
Typ eines longitudinal gekoppelten Resonators 101 wird, wie
dies dargestellt ist, die Durchlaßbandbreite stark verbrei
tert. Es wird dennoch beachtet, daß der Resonanzmodus Z
sich von dem Resonanzmodus unterscheidet, der durch die In
tensitätsverteilung der akustischen Oberflächenwelle er
zeugt wird, und daß dieser aufgrund einer LC-Resonanz auf
tritt. Der Resonanzmodus Z wird erzeugt, indem die Reso
nanzfrequenz des Oberflächenwellenresonators 102 höher als
die Frequenz des Resonanzmodus gemacht wird (der Modus, der
in Fig. 9C durch den Pfeil W angezeigt ist, der sich an
der Seite der höchsten Frequenz der Resonanzmodi befindet,
die die Durchlaßbänder des Oberflächenwellenfilters vom Typ
eines longitudinal gekoppelten Resonators 101 bilden.
Dies bedeutet, daß das Oberflächenwellenfilter vom Typ ei
nes longitudinal gekoppelten Resonators 101 eine kapazitive
Impedanz bei einem Freguenzbereich aufweist, und daß das
Oberflächenwellenelement eine induktive Impedanz an dem
Frequenzbereich aufweist, derart, daß eine neue Resonanz
durch eine LC-Resonanz erzeugt wird.
Durch Bilden eines Durchlaßbandes durch das oben beschrie
bene Verfahren wird die Steilheit der Frequenzcharakteri
stik des Oberflächenwellenresonators als eine Steilheit der
Frequenzcharakteristik des Filters, wie diese im wesentli
chen ist, verwendet. Auch bei dem oben beschriebenen her
kömmlichen Beispiel wird die Steilheit der Frequenzcharak
teristik in dem Gesamtfilter verbessert, wobei die Steil
heit der Frequenzcharakteristik des Oberflächenwellenfil
ters verwendet wird, wobei die Steilheit der Frequenzcha
rakteristik des Oberflächenwellenresonators jedoch nicht
so, wie diese ist, verwendet werden konnte, da die Steil
heit der Frequenzcharakteristik des Resonanzmodus bei der
Seite der höchsten Frequenz auch ihren Einfluß ausübt.
Im Gegensatz dazu ist, wie dies in dem beschriebenen ersten
bevorzugten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung
der Fall ist, der unnötige Resonanzmodus an der Seite der
höchsten Frequenz außerhalb des Durchlaßbandes angebracht,
wie dies in Fig. 4C durch den Pfeil C angezeigt ist. So ist
der Einfluß des Resonanzmodus C, der bei dem herkömmlichen
Beispiel einen Faktor dargestellt hat, der die Steilheit
der Filtercharakteristik in der unmittelbaren Umgebung der
Seite der höheren Frequenz des Durchlaßbandes verschlech
tert, bei dem bevorzugten Ausführungsbeispiel nicht vorhan
den, derart, daß die Steilheit der Filtercharakteristik des
Oberflächenwellenresonators so verwendet werden kann, wie
sie ist, um die Steilheit der Filtercharakteristik des Fil
ters zu erhöhen. Dies ermöglicht es, daß die Steilheit der
Filtercharakteristik in der unmittelbaren Umgebung der Sei
te der höheren Frequenz des Durchlaßbandes des Filters so
gar noch weiter verbessert wird.
Notwendige Bedingungen zum Erzielen eines ausreichenden Pe
gels des Dämpfungswerts in der unmittelbaren Umgebung der
Seite der höheren Frequenz des Durchlaßbandes bei verschie
denen bevorzugten Ausführungsbeispielen der vorliegenden
Erfindung wurden untersucht. Bei bevorzugten Ausführungs
beispielen der vorliegenden Erfindung wird der Dämpfungs
wert in der unmittelbaren Umgebung der Seite der höheren
Frequenz des Durchlaßbandes durch den Dämpfungswert an dem
Dämpfungspol bestimmt (d. h. der Dämpfungspol, der in Fig. 2
durch den Pfeil P angezeigt wird), der durch die resultie
rende Impedanz des Oberflächenwellenfilters vom Typ eines
longitudinal gekoppelten Resonators und den Oberflächenwel
lenresonator erzeugt wird. Der Dämpfungswert an diesem
Dämpfungspol P wird durch die Impedanz an dem Dämpfungspol
P bestimmt. Anders ausgedrückt wird der Dämpfungswert an
diesem Dämpfungspol P durch die Menge bestimmt, um die die
Impedanz an dem Dämpfungspol von der Anpassungsbedingung
abweicht, oder er wird durch den Wert des VSWR bestimmt.
Folglich wurde der VSWR-Wert an dem Dämpfungspol P bezüg
lich des Dämpfungswerts an dem Dämpfungspol P untersucht,
indem die Kapazität des Oberflächenwellenresonators 102 des
Oberflächenwellenfilters gemäß dem ersten bevorzugten Aus
führungsbeispiel der vorliegenden Erfindung variiert wurde.
Fig. 10 zeigt die Ergebnisse.
Das Oberflächenwellenfilter 100 benötigt zur Verwendung
z. B. beim PCS-Empfang, der in dem ersten bevorzugten Aus
führungsbeispiel enthalten ist, zumindest ca. 8 dB als ei
nen Dämpfungswert in der unmittelbaren Umgebung der Seite
der höheren Frequenz des Durchlaßbandes, wobei andere Sy
steme auch im wesentlichen den gleichen Dämpfungspegel be
nötigen. Wie aus Fig. 10 ersichtlich ist, beträgt das VSWR
an dem Dämpfungspol, wenn der Dämpfungswert an dem Dämp
fungspol zumindest ca. 8 dB beträgt, ca. 3,5. Dies zeigt,
daß der VSWR-Wert von ca. 3,5 oder mehr es ermöglicht, daß
eine ausreichende Dämpfung geschaffen wird.
Wie in den Fig. 8A und 8B gezeigt ist, wird bei dem vorlie
genden bevorzugten Ausführungsbeispiel die Steilheit der
Filtercharakteristik durch ein Anordnen einer Mehrzahl von
Resonanzmodi erhöht. Um so eine Mehrzahl von Resonanzmodi
anzuordnen, können verschiedene Verfahren verwendet werden.
Bei dem ersten bevorzugten Ausführungsbeispiel wird ein
Verfahren, bei dem die Teilung des Schmale-Teilung-
Fingerabschnitts angepaßt ist, verwendet. Wie dies aus dem
Vergleich mit dem herkömmlichen Beispiel offensichtlich
ist, ist bei dem Oberflächenwellenfilter gemäß dem ersten
bevorzugten Ausführungsbeispiel das Verhältnis der Elektro
denfingerteilung in dem Schmale-Teilung-
Elektrodenfingerabschnitt bezüglich der Elektrodenfinger
teilung in dem Elektrodenfingerabschnitt, der nicht der
Schmale-Teilung-Elektrodenfingerabschnitt ist, in dem Ober
flächenwellenfilter vom Typ eines longitudinal gekoppelten
Resonators 101 vorzugsweise klein. Insbesondere beträgt
dieses Verhältnis für das erste bevorzugte Ausführungsbei
spiel ca. 0,854 im Gegensatz zu ca. 0,915 für das herkömm
liche Beispiel. Ein Einstellen dieses Verhältnisses auf ca.
0,90 oder weniger ermöglicht eine Resonanzmodusanordnung,
die wirksam ist, um die Steilheit in der Filtercharakteri
stik erhöhen zu können.
Ferner kann eine wirksame Resonanzmodusanordnung auch durch
das Verfahren implementiert werden, bei dem die Mitte-zu-
Mitte-Abstände der Elektrodenfinger 110 bis 115, die in
Fig. 1 gezeigt sind, eingestellt werden. Ferner kann bei
einem Oberflächenwellenfilter ohne Schmale-Teilung-
Elektrodenfinger, z. B. bei dem Oberflächenwellenfilter, das
in der ungeprüften japanischen Patentanmeldung
Nr. 05-267990 offenbart ist, wenn die Wellenlänge einer akusti
schen Oberflächenwelle λI ist, die oben beschriebene wirk
same Resonanzmodusanordnung realisiert werden, indem der
IDT-zu-IDT-Abstand auf (0,28 + 0,5 n) λI bis (0,40 + 0,5 n)
λI eingestellt wird ("n" ist hier Null oder eine Ganzzahl),
obwohl der IDT-zu-IDT-Abstand üblicherweise auf ca. (0,25 +
0,5 n) λI eingestellt wird.
Bei bevorzugten Ausführungsbeispielen der vorliegenden Er
findung ist es wünschenswert, daß der Abstand zwischen der
Resonanzfrequenz und der Antiresonanzfrequenz des Oberflä
chenwellenresonators, der in Serie mit dem Oberflächenwel
lenfilter vom Typ eines longitudinal gekoppelten Resonators
geschaltet ist, schmal ist. Die Steilheit der Filtercharak
teristik des Oberflächenwellenresonators wird durch den Ab
stand zwischen diesen Frequenzen bestimmt. Deshalb hängt
die Steilheit der Frequenzcharakteristik in der unmittelba
ren Umgebung der Seite der höheren Frequenz des Durchlaß
bandes des gesamten Oberflächenwellenfilters auch von dem
oben beschriebenen Frequenzabstand ab. Bei dem ersten be
vorzugten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung
wird der Frequenzabstand reduziert, indem eine Wichtung
durch eine Elektrodenfingerentnahme für den Oberflächenwel
lenresonator 102 durchgeführt wird. Da die Impedanz des
Oberflächenwellenresonators 102 durch die Wichtung durch
die Elektrodenfingerentnahme erhöht wird, wird die Impedanz
bei dem Durchlaßband, wie dies in Fig. 9C gezeigt ist, ka
pazitiv. Um dies zu korrigieren, ist bei dem ersten bevor
zugten Ausführungsbeispiel ein Induktivitätselement 118
parallel geschaltet, wodurch eine Impedanzanpassung erzielt
wird (dies ermöglicht die Realisierung der Reflexionscha
rakteristik, die in Fig. 9D gezeigt ist).
Das Verfahren zum Erzielen einer Impedanzanpassung ist
nicht auf das Verfahren beschränkt, bei dem das oben be
schriebene Induktivitätselement 118 eingesetzt wird, wobei
eine Impedanzanpassung z. B. unter Verwendung einer anderen
Induktivität oder einer Kombination einer Induktivität und
einer Kapazität erzielt werden kann.
Bei dem ersten bevorzugten Ausführungsbeispiel wird die
Steilheit der Dämpfung-Frequenz-Charakteristik in der un
mittelbaren Umgebung der Seite der höheren Frequenz des
Durchlaßbandes verbessert, wobei der Dämpfungswert in dem
Frequenzbereich leicht neben der oben beschriebenen Fre
quenz in Richtung der Seite der höheren Frequenz jedoch we
niger ausreichend ist als der des herkömmlichen Beispiels.
Um dies zu verbessern, ist es deshalb vorzuziehen, daß
Oberflächenwellenresonatoren 301 und 302 in Serie zwischen
den Eingangsanschluß 119 und das Oberflächenwellenfilter
vom Typ eines longitudinal gekoppelten Resonators 101, wie
dies in Fig. 11 dargestellt ist, geschaltet sind. Fig. 12
zeigt die Frequenzcharakteristik der Modifizierung, die in
Fig. 11 dargestellt ist. Die detaillierten Entwürfe der
Oberflächenwellenresonatoren 301 und 302 sind unten in Ta
belle 1 gezeigt.
Außerdem kann ohne ein Hinzufügen der Oberflächenwellenre
sonatoren 301 und 302 der Dämpfungswert in dem Frequenzbe
reich leicht neben der Seite der höheren Frequenz des
Durchlaßbandes in Richtung der Seite der höheren Frequenz
erhöht werden, indem eine Wichtung durch eine Elektroden
fingerentnahme für die IDT 103 bis 105 des Oberflächenwel
lenfilters vom Typ eines longitudinal gekoppelten Resona
tors 101 durchgeführt wird.
Bei dem ersten bevorzugten Ausführungsbeispiel der vorlie
genden Erfindung wurde der Frequenzabstand zwischen der Re
sonanzfrequenz und der Antiresonanzfrequenz des Oberflä
chenwellenresonators 102, der in Serie mit dem Oberflächen
wellenfilter vom Typ eines longitudinal gekoppelten Resona
tors geschaltet ist, durch die Wichtung durch eine Elektro
denfingerentnahme reduziert. Andererseits wird bei einem
zweiten bevorzugten Ausführungsbeispiel der vorliegenden
Erfindung der oben beschriebene Frequenzabstand durch ein
Vermindern des elektromechanischen Kopplungskoeffizienten
des Oberflächenwellenresonators anstelle einer Wichtung
durch eine Elektrodenfingerentnahme reduziert. Fig. 13 ist
eine schematische Draufsicht, die die Elektrodenstruktur
eines Oberflächenwellenfilters gemäß dem zweiten bevorzug
ten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung zeigt.
Bei dem Oberflächenwellenfilter gemäß dem zweiten bevorzug
ten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung ist ein
Oberflächenwellenresonator 401 in Serie mit einem Oberflä
chenwellenfilter vom Typ eines longitudinal gekoppelten Re
sonators 101 geschaltet. Das Oberflächenwellenfilter vom
Typ eines longitudinal gekoppelten Resonators 101 ist vor
zugsweise auf eine ähnliche Weise wie bei dem ersten bevor
zugten Ausführungsbeispiel aufgebaut. Über den Oberflächen
wellenresonator 401 sind SiO2-Filme laminiert, wie durch
die Schraffierung angezeigt ist. Bei dem zweiten bevorzug
ten Ausführungsbeispiel sind auf dem piezoelektrischen Sub
strat die SiO2-Filme 401a vorzugsweise nur an dem Abschnitt
laminiert, an dem sich der Oberflächenwellenresonator 401
befindet. Durch diese SiO2-Filme 401a wird der elektrome
chanische Kopplungskoeffizient des Oberflächenwellenresona
tors 401 reduziert, wodurch der Frequenzabstand zwischen
der Resonanzfrequenz und der Antiresonanzfrequenz reduziert
wird.
Bei dem zweiten bevorzugten Ausführungsbeispiel der vorlie
genden Erfindung wird der elektromechanische Kopplungs
koeffizient des Oberflächenwellenresonators 401 reduziert,
indem die SiO2-Filme 401a über den Oberflächenwellenresona
tor 401 laminiert werden. Anstelle der SiO2-Filme können
jedoch dielektrische Filme oder isolierende Filme, die aus
Aluminiumoxid, Magnesiumoxid, Tantaloxid, Titanoxid, Nio
boxid, Siliziumnitrid, Siliziumoxidnitrid oder einem ande
ren geeigneten Material bestehen, als laminierte Filme ver
wendet werden.
Ferner kann, um nur den elektromechanischen Kopplungs
koeffizienten des Oberflächenwellenresonators zu reduzie
ren, ein Verfahren zum Reduzieren der Filmdicke der Elek
troden, die in dem Oberflächenwellenresonator den IDT und
die Reflektoren bilden, verwendet werden.
Außerdem kann, wie in der illustrierten Modifizierung in
Fig. 14, ein Oberflächenwellenresonator 501 an einem piezo
elektrischen Substrat 500a, das nicht das piezoelektrische
Substrat 100 ist, vorgesehen sein, auf dem das Oberflächen
wellenfilter vom Typ eines longitudinal gekoppelten Resona
tors 101 angebracht ist. In diesem Fall kann, wie bei dem
piezoelektrischen Substrat 500a, z. B. ein piezoelektrisches
Substrat verwendet werden, das einen kleineren elektrome
chanischen Kopplungskoeffizienten aufweist als das Substrat
mit 40 ± 5°, Y-Schnitt, X-Ausbreitung und aus LiTaO3, wie
z. B. ein Quarzsubstrat, ein Substrat mit 45°, X-Schnitt, Z-
Ausbreitung und aus Li2B4C7, ein Substrat mit X-Schnitt,
112°, -Ausbreitung und aus LiTaO3 oder ein Langasitsub
strat.
Fig. 15 ist ein Schaltungsdiagramm, das ein drittes bevor
zugtes Ausführungsbeispiel gemäß der vorliegenden Erfindung
darstellt.
Das Oberflächenwellenfilter gemäß bevorzugten Ausführungs
beispielen der vorliegenden Erfindung erfordert oft ein Im
pedanzanpassungselement, wie z. B. ein Induktivitätselement.
Wenn ein Anpassungselement außerhalb eines Pakets angeord
net ist, wird der Befestigungsbereich groß. Außerdem ist,
wie bei dem in Fig. 15 illustrierten Schaltungsaufbau, in
der Konfiguration, bei der entweder die Eingangsanschluß
seite oder die Ausgangsanschlußseite des Oberflächenwellen
filters 601 und 602 gemeinsam ist, ein externes Induktivi
tätselement 603 oft geschaltet, um eine Impedanzanpassung
an der Seite zu erzielen, die gemeinsam verbunden ist. Ähn
lich werden, wie in dem in Fig. 16 illustrierten Beispiel,
in der Konfiguration, bei der sowohl die Eingangsanschluß
seite als auch die Ausgangsanschlußseite der Oberflächen
wellenfilter 601 und 602 gemeinsam sind, Induktivitätsele
mente 603 und 604 oft eingefügt, um Impedanzanpassungen auf
sowohl der Eingangsanschlußseite als auch der Ausgangsan
schlußseite zu erzielen.
So wurde früher beim gemeinsamen Verbinden der Anschlüsse
einer Seite von zwei Oberflächenwellenfiltern eine externe
Induktivität zur Impedanzanpassung eingesetzt. Bei den
Oberflächenwellenfiltern, die in den Fig. 15 und 16 gezeigt
sind, können durch die Verwendung des Oberflächenwellenfil
ters gemäß bevorzugten Ausführungsbeispielen der vorliegen
den Erfindung als ein Oberflächenwellenfilter 601 oder 602
die vorteilhaften Effekte der vorliegenden Erfindung ohne
die Hinzufügung eines Impedanzanpassungselements erzielt
werden.
Fig. 17 ist eine schematische Draufsicht zur Erklärung ei
nes Oberflächenwellenfilters gemäß einem dritten bevorzug
ten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung. Bei dem
dritten bevorzugten Ausführungsbeispiel sind ein erster
Oberflächenwellenfilterabschnitt, der ein Oberflächenwel
lenfilter vom Typ eines longitudinal gekoppelten Resonators
701 und Oberflächenwellenresonatoren 703, 705 und 707 um
faßt, und ein zweiter Oberflächenwellenfilterabschnitt, der
ein Oberflächenwellenfilter vom Typ eines longitudinal ge
koppelten Resonators 702 und Oberflächenwellenresonatoren
704, 706 und 708 umfaßt, parallel zueinander geschaltet.
Wie in dem Fall des ersten bevorzugten Ausführungsbeispiels
sind der erste und der zweite Oberflächenwellenfilterab
schnitt die Oberflächenwellenfilter vom Typ eines longitu
dinal gekoppelten Resonators 701 und 702 und die Oberflä
chenwellenresonatoren 707 und 708 jeweils in Serie mit den
selben geschaltet. Außerdem sind wie in dem Fall der Modi
fizierung, die in Fig. 11 gezeigt ist, die Oberflächenwel
lenresonatoren 703 und 705 sowie 704 und 706 zwischen einen
Eingangsanschluß 710 und die Oberflächenwellenfilter vom
Typ eines longitudinal gekoppelten Resonators 701 bzw. 702
geschaltet. Das dritte bevorzugte Ausführungsbeispiel der
vorliegenden Erfindung weist deshalb eine Konfiguration
auf, so daß zwei der Oberflächenwellenfilter gemäß der Mo
difizierung, die in Fig. 11 gezeigt ist, parallel zueinan
der geschaltet sind.
Hierin ist eine Induktivität 713 zwischen Ausgangsanschlüs
se 711 und 712 geschaltet.
So wird bei diesem bevorzugten Ausführungsbeispiel der vor
liegenden Erfindung durch das Schalten von zwei der Ober
flächenwellenfilter gemäß bevorzugten Ausführungsbeispielen
der vorliegenden Erfindung parallel zueinander ein Oberflä
chenwellenfilter, dessen Eingangsimpedanz ca. 50 Ω beträgt
und dessen Ausgangsimpedanz ca. 200 Ω beträgt, und das eine
Symmetrisch-zu-Unsymmetrisch-Umwandlungsfunktion aufweist,
geschaffen.
Die Oberflächenwellenfilter vom Typ eines longitudinal ge
koppelten Resonators 701 und 702 und die Oberflächenwellen
resonatoren 703 bis 708 sind alle ähnlich wie die Oberflä
chenwellenfiltern entworfen, die in den Fig. 1 und 11 ge
zeigt sind, mit der Ausnahme, daß die Kreuzungsbreite der
Elektrodenfinger in allen oben beschriebenen Oberflächen
wellenfiltern vom Typ eines longitudinal gekoppelten Reso
nators 701 und 702 und den Oberflächenwellenresonatoren 703
bis 708 die Hälfte von der bei den Oberflächenwellenfiltern
beträgt, die in Fig. 1 und Fig. 11 gezeigt sind, und daß
der IDT 709 des Oberflächenwellenfilters vom Typ eines lon
gitudinal gekoppelten Resonators 702 bezüglich der IDT der
Oberflächenwellenfilter, die in den Fig. 1 und 11 gezeigt
sind, invertiert ist. Der Zweck der Invertierung der Pola
rität des mittleren IDT 709 des Oberflächenwellenfilters
vom Typ eines longitudinal gekoppelten Resonators 702 be
steht darin, die Phase der Ausgangssignale des Oberflächen
wellenfilters vom Typ eines longitudinal gekoppelten Reso
nators 702 um 180° bezüglich der Phase von Ausgangssignalen
des Oberflächenwellenfilters vom Typ eines longitudinal ge
koppelten Resonators 701 zu verändern.
Das Verfahren zum Verschieben der Phase um 180° ist nicht
auf dieses Verfahren beschränkt.
Bei diesem Entwurfsbeispiel ist das Induktivitätselement
713, das zwischen die Ausgangsanschlüsse 711 und 712 ge
schaltet ist, die symmetrische Ausgangsanschlüsse sind,
vorzugsweise auf einen Wert von ca. 15 nH eingestellt.
Fig. 18 zeigt die Frequenzcharakteristik des Oberflächen
wellenfilters gemäß dem dritten bevorzugten Ausführungsbei
spiel der vorliegenden Erfindung. Wie aus Fig. 18 ersicht
lich ist, kann eine Steilheit der Dämpfung-Frequenz-
Charakteristik in der unmittelbaren Umgebung der Seite der
höheren Frequenz des Durchlaßbandes, die im wesentlichen
gleich der ist, die bei dem ersten bevorzugten Ausführungs
beispiel erzielt wird, realisiert werden. Dies zeigt, daß
gemäß dem dritten bevorzugten Ausführungsbeispiel der vor
liegenden Erfindung ein Oberflächenwellenfilter geschaffen
wird, das es ermöglicht, daß die Steilheit der Dämpfung-
Frequenz-Charakteristik in der unmittelbaren Umgebung der
Seite der höheren Frequenz des Durchlaßbandes verbessert
wird, und das eine Symmetrisch-zu-Unsymmetrisch-
Umwandlungsfunktion aufweist.
Bei dem dritten bevorzugten Ausführungsbeispiel wurde eine
Beschreibung eines Oberflächenwellenfilters gegeben, dessen
Eingangsimpedanz und dessen Ausgangsimpedanz unterschied
lich sind, und das eine Symmetrisch-zu-Unsymmetrisch-
Umwandlungsfunktion aufweist. Alternativ kann jedoch ein
Oberflächenwellenfilter erzielt werden, dessen Eingangsim
pedanz und dessen Ausgangsimpedanz im wesentlichen gleich
sind, und das eine Symmetrisch-zu-Unsymmetrisch-
Umwandlungsfunktion aufweist. Bei einer Modifizierung, die
in Fig. 19 gezeigt ist, wird z. B. ein Oberflächenwellenre
sonator 802 in Serie mit einem Oberflächenwellenfilter vom
Typ eines longitudinal gekoppelten Resonators 801 geschal
tet. Hierin sind beide Enden des mittleren IDT 804 des
Oberflächenwellenfilters vom Typ eines longitudinal gekop
pelten Resonators 801 zum Entnehmen von symmetrischen Aus
gangssignalen mit symmetrischen Anschlüssen 811 und 812
verbunden. Ein Ende jedes IDT 803 und 805 ist mit dem Ober
flächenwellenresonator 802 verbunden. Der Endabschnitt des
Oberflächenwellenresonators 802 gegenüber der Seite, mit
der die IDT 803 und 805 verbunden sind, ist mit einem un
symmetrischen Eingangsanschluß 813 verbunden. Ein Indukti
vitätselement 815 ist zwischen dem Verbindungspunkt 814,
der sich zwischen dem unsymmetrischen Eingangsanschluß 813
und dem Oberflächenwellenresonator 802 befindet, und dem
Massepotential eingesetzt. Hierin bezeichnen die Bezugszei
chen 806 und 807 jeweils Reflektoren.
Durch ein derartiges Verbinden beider Enden des IDT 804 mit
den symmetrischen Ausgangsanschlüssen 811 und 812 wird ein
Oberflächenwellenfilter geschaffen, dessen Eingangsimpedanz
und dessen Ausgangsimpedanz im wesentlichen gleich sind,
und das eine Symmetrisch-zu-Unsymmetrisch-
Umwandlungsfunktion aufweist. In diesem Fall wird außerdem
durch ein Entwerfen des Oberflächenwellenfilters vom Typ
eines longitudinal gekoppelten Resonators 801, des Oberflä
chenwellenresonators 802 und des Induktivitätselements 815
gemäß den oben beschriebenen bevorzugten Ausführungsbei
spielen die Steilheit der Dämpfung-Frequenz-Charakteristik
in der unmittelbaren Umgebung der Seite der höheren Fre
quenz des Durchlaßbandes wirksam verbessert.
Bei den oben beschriebenen bevorzugten Ausführungsbeispie
len wurde ein Substrat mit 40 ± 5°, Y-Schnitt, X-
Ausbreitung und aus LiTaO3 als ein piezoelektrisches Sub
strat verwendet, wobei bei der vorliegenden Erfindung das
piezoelektrische Substrat nicht auf das oben beschriebene
LiTaO3-Substrat beschränkt ist. Alternativ können bei der
vorliegenden Erfindung verschiedene Substrate, die eine
Piezoelektrizität aufweisen, verwendet werden, wie z. B. ein
Substrat mit 64 bis 72°, Y-Schnitt, X-Ausbreitung und aus
LiNbO3, ein Substrat mit Y-Schnitt, X-Ausbreitung und aus
LiNbO3 sowie weitere geeignete Substrate.
Bei dem ersten bevorzugten Ausführungsbeispiel wurde ein
Durchlaßband unter Verwendung der Resonanzmodi A und B, die
in den Fig. 8A und 8B gezeigt sind, und des Resonanzmodus
durch die Induktivität des Oberflächenwellenresonators 102
gebildet. Wenn jedoch ein schmales Durchlaßband ausreichend
ist, kann ein Durchlaßband aus zwei Resonanzmodi gebildet
sein: dem Resonanzmodus B und dem Resonanzmodus, der durch
die Induktivität des Oberflächenwellenresonators 102 er
zeugt wird, und zwar durch ein Anpassen der Entwurfsparame
ter und außerdem durch ein Anbringen des Resonanzmodus A
außerhalb des Durchlaßbandes.
Ferner kann, wenn ein breiteres Durchlaßband als das des
herkömmlichen Oberflächenwellenfilters vom Typ eines longi
tudinal gekoppelten Resonators benötigt wird, ein Durchlaß
band aus vier Resonanzmodi gebildet sein: den drei Reso
nanzmodi A bis C, die in den Fig. 8A und 8B gezeigt sind,
und dem Resonanzmodus, der durch die Induktivität des Ober
flächenwellenresonators 102 erzeugt wird.
Bei den oben beschriebenen bevorzugten Ausführungsbeispie
len wurden Beispiele gezeigt, die jeweils ein Oberflächen
wellenfilter vom Typ eines longitudinal gekoppelten Resona
tors verwenden, das drei IDT aufweist, wobei statt dessen
bei der vorliegenden Erfindung ein Oberflächenwellenfilter
vom Typ eines longitudinal gekoppelten Resonators verwendet
werden kann, das zwei oder zumindest vier IDT aufweist.
Die Fig. 20 und 21 sind jeweils schematische Blockdiagram
me, die eine Kommunikationsvorrichtung 160 darstellen, die
ein Oberflächenwellenfilter gemäß bevorzugten Ausführungs
beispielen der vorliegenden Erfindung verwendet.
In Fig. 20 ist ein Duplexer 162 mit einer Antenne 161 ver
bunden. Ein Oberflächenwellenfilter 164 und ein Verstärker
165 sind zwischen den Duplexer 162 und einen Empfangssei
tenmischer 163 geschaltet. Außerdem sind ein Verstärker 167
und ein Oberflächenwellenfilter 168 zwischen den Duplexer
162 und einen Sendeseitenmischer 166 geschaltet. Wenn der
Verstärker 165 auf symmetrische Signale einstellbar ist,
kann ein Oberflächenwellenfilter, das gemäß bevorzugten
Ausführungsbeispielen der vorliegenden Erfindung aufgebaut
ist, geeigneterweise als das oben erwähnte Oberflächenwel
lenfilter 164 verwendet werden.
Außerdem kann, wie in Fig. 21 gezeigt ist, wenn der Ver
stärker 165A, der an der Empfangsseite verwendet wird, auf
unsymmetrische Signale einstellbar ist, ein Oberflächenwel
lenfilter, das gemäß bevorzugten Ausführungsbeispielen der
vorliegenden Erfindung aufgebaut ist, geeigneterweise auch
als ein Oberflächenwellenfilter 164A verwendet werden.
Wie aus der vorhergehenden Beschreibung ersichtlich ist,
wird bei dem Oberflächenwellenfilter gemäß bevorzugten Aus
führungsbeispielen der vorliegenden Erfindung bei der Kon
figuration, die ein Oberflächenwellenfilter vom Typ eines
longitudinal gekoppelten Resonators und einen Oberflächen
wellenresonator umfaßt, der in Serie mit demselben geschal
tet ist, ein Durchlaßband gebildet, indem zumindest einer
der Resonanzmodi des Oberflächenwellenfilters vom Typ eines
longitudinal gekoppelten Resonators und die Induktivität
des Oberflächenwellenresonators verwendet werden. Deshalb
kann die Steilheit der Filtercharakteristik des Oberflä
chenwellenresonators als eine Steilheit der Filtercharakte
ristik des Oberflächenwellenresonators, wie diese ist, ver
wendet werden. So wird durch die Verwendung eines Oberflä
chenwellenresonators, der zwischen der Resonanzfrequenz und
der Antiresonanzfrequenz einen schmaleren Frequenzabstand
aufweist, die Steilheit der Filtercharakteristik in der un
mittelbaren Umgebung der Seite der höheren Frequenz des
Durchlaßbandes wirksam erhöht.
Wenn die Antiresonanzfrequenz des Oberflächenwellenresona
tors bei einer niedrigeren Frequenz positioniert wird als
die Frequenz bei dem Resonanzmodus, der sich auf der Seite
der höchsten Frequenz befindet, der Resonanzmodi des Ober
flächenwellenfilters vom Typ eines longitudinal gekoppelten
Resonators, wird die Steilheit der Dämpfung-Frequenz-
Charakteristik in der unmittelbaren Umgebung der Seite der
höheren Frequenz des Durchlaßbandes sogar noch wirksamer
verbessert.
Wenn die Resonanzfrequenz des Oberflächenwellenresonators
bei einer höheren Frequenz positioniert wird als die Fre
quenz bei dem Resonanzmodus, der sich an der Seite der
höchsten Frequenz befindet, der Resonanzmodi, die das
Durchlaßband des Oberflächenwellenfilters vom Typ eines
longitudinal gekoppelten Resonators bilden, tritt der Reso
nanzmodus auf, der durch den Einfluß der Induktivität des
Oberflächenwellenresonators erzeugt wird. Durch ein wesent
liches Anpassen der Impedanz des oben beschriebenen Reso
nanzmodus an die des anderen Resonanzmodus des Oberflächen
wellenfilters vom Typ eines longitudinal gekoppelten Reso
nators kann das Durchlaßband verbreitert werden.
Wenn die resultierende Impedanz des Oberflächenwellenreso
nators und des Oberflächenwellenfilters vom Typ eines lon
gitudinal gekoppelten Resonators im wesentlichen an die Im
pedanz bei dem Resonanzmodus des Oberflächenwellenfilters
vom Typ eines longitudinal gekoppelten Resonators angepaßt
ist, wird die Verbreiterung des Durchlaßbandes erzielt.
Wenn der VSWR-Wert bei der Frequenz an dem Dämpfungspol,
der durch die resultierende Impedanz des Oberflächenwellen
resonators und des Oberflächenwellenfilters vom Typ eines
longitudinal gekoppelten Resonators erzeugt wird, nicht
kleiner als ca. 3,5 ist, kann der Dämpfungswert in der un
mittelbaren Umgebung der Seite der höheren Frequenz des
Durchlaßbandes ausreichend werden. Bei der Konfiguration,
bei der der Oberflächenwellenresonator einer Wichtung durch
eine Elektrodenfingerentnahme unterzogen werden soll, kann
die Steilheit der Dämpfung-Frequenz-Charakteristik in der
unmittelbaren Umgebung der Seite der höheren Frequenz des
Durchlaßbandes zuverlässig verbessert werden, indem die
Wichtung durch eine Elektrodenfingerentnahme durchgeführt
wird, um so den Frequenzabstand zwischen der Resonanzfre
quenz und der Antiresonanzfrequenz des Oberflächenwellenre
sonators zu reduzieren.
Wenn der Oberflächenwellenresonator einen kleineren elek
tromechanischen Kopplungskoeffizienten als das Oberflächen
wellenfilter vom Typ eines longitudinal gekoppelten Resona
tors aufweist, kann der Frequenzabstand zwischen der Reso
nanzfrequenz und der Antiresonanzfrequenz des Oberflächen
wellenresonators reduziert werden, wodurch die Steilheit
der Dämpfung-Frequenz-Charakteristik in der unmittelbaren
Umgebung der Seite der höheren Frequenz des Durchlaßbandes
wirksam erhöht wird. In diesem Fall kann der Oberflächen
wellenresonator unter Verwendung eines piezoelektrischen
Substrats, das einen kleineren elektromechanischen Kopp
lungskoeffizienten als das Oberflächenwellenfilter vom Typ
eines longitudinal gekoppelten Resonators aufweist, gebil
det werden.
Wenn zumindest ein Induktivitätselement geschaffen wird,
das parallel zu dem Eingangs- und/oder Ausgangsanschluß ge
schaltet ist, mit dem der Oberflächenwellenresonator in Se
rie geschaltet ist, kann die Filtercharakteristik in dem
Durchlaßband verbessert werden.
Wenn das Oberflächenwellenfilter zumindest zwei Oberflä
chenwellenfilterelemente aufweist, wenn zumindest entweder
die Eingangsanschlußseite oder die Ausgangsanschlußseite
der zwei Oberflächenwellenfilterelemente gemeinsam ist, und
wenn zumindest eines der beiden Oberflächenwellenfilterele
mente aus einem Oberflächenwellenfilter gemäß bevorzugten
Ausführungsbeispielen der vorliegenden Erfindung besteht,
verdoppelt sich dieser Oberflächenwellenresonator als das
oben beschriebene Induktivitätselement, so daß die Verein
fachung der Struktur des Oberflächenwellenfilters erzielt
werden kann.
Das Oberflächenwellenfilter gemäß bevorzugten Ausführungs
beispielen der vorliegenden Erfindung kann konfiguriert
sein, um eine Symmetrisch-zu-Unsymmetrisch-
Umwandlungsfunktion aufzuweisen. In diesem Fall kann ein
Oberflächenwellenfilter, das eine Symmetrisch-zu-
Unsymmetrisch-Umwandlungsfunktion aufweist, und bei dem die
Steilheit der Filtercharakteristik in der unmittelbaren Um
gebung der Seite der höheren Frequenz des Durchlaßbandes
gemäß bevorzugten Ausführungsbeispielen der vorliegenden
Erfindung verbessert wird, geschaffen werden.
Da die Kommunikationsvorrichtung gemäß bevorzugten Ausfüh
rungsbeispielen der vorliegenden Erfindung unter Verwendung
eines Oberflächenwellenfilters gemäß anderen bevorzugten
Ausführungsbeispielen der vorliegenden Erfindung konfigu
riert ist, wird die Steilheit der Filtercharakteristik in
der unmittelbaren Umgebung der Seite der höheren Frequenz
des Durchlaßbandes bei dem Oberflächenwellenfilter erhöht,
wodurch eine Kommunikationsvorrichtung mit einer überlege
nen Selektivität geschaffen werden kann.
Claims (12)
1. Oberflächenwellenfilter mit folgenden Merkmalen:
einem Oberflächenwellenfilter vom Typ eines longitudi nal gekoppelten Resonators (101; 701, 703; 801), das ein dielektrisches Substrat und zumindest zwei Inter digitalwandler (103-105; 803-805) aufweist; die an dem dielektrischen Substrat entlang der Ausbreitungs richtung einer akustischen Oberflächenwelle angeordnet sind, die in demselben erzeugt wird; und
zumindest einem Oberflächenwellenresonator (102; 401; 802), der zwischen zumindest entweder einen Eingangs anschluß (119; 318) oder einen Ausgangsanschluß (120; 811, 812) des Oberflächenwellenfilters und das Ober flächenwellenfilter vom Typ eines longitudinal gekop pelten Resonators (101; 701, 703; 801) geschaltet ist;
wobei ein Durchlaßband erzeugt wird, indem zumindest einer der Resonanzmodi des Oberflächenwellenfilters vom Typ eines longitudinal gekoppelten Resonators (101; 701, 703; 801) und die Induktivität des zumin dest einen Oberflächenwellenresonators (102; 401; 802) verwendet werden.
einem Oberflächenwellenfilter vom Typ eines longitudi nal gekoppelten Resonators (101; 701, 703; 801), das ein dielektrisches Substrat und zumindest zwei Inter digitalwandler (103-105; 803-805) aufweist; die an dem dielektrischen Substrat entlang der Ausbreitungs richtung einer akustischen Oberflächenwelle angeordnet sind, die in demselben erzeugt wird; und
zumindest einem Oberflächenwellenresonator (102; 401; 802), der zwischen zumindest entweder einen Eingangs anschluß (119; 318) oder einen Ausgangsanschluß (120; 811, 812) des Oberflächenwellenfilters und das Ober flächenwellenfilter vom Typ eines longitudinal gekop pelten Resonators (101; 701, 703; 801) geschaltet ist;
wobei ein Durchlaßband erzeugt wird, indem zumindest einer der Resonanzmodi des Oberflächenwellenfilters vom Typ eines longitudinal gekoppelten Resonators (101; 701, 703; 801) und die Induktivität des zumin dest einen Oberflächenwellenresonators (102; 401; 802) verwendet werden.
2. Oberflächenwellenfilter mit folgenden Merkmalen:
zumindest zwei Oberflächenwellenfilterelementen (601, 602; 701, 702);
wobei zumindest entweder die Eingangsanschlußseite oder die Ausgangsanschlußseite der zumindest zwei Oberflächenwellenfilterelemente (601, 602; 701, 702) ein gemeinsamer Anschluß für jedes der zumindest zwei Oberflächenwellenfilterelemente (601, 602; 701, 702) ist; und
wobei zumindest eines der zwei Oberflächenwellenfil terelemente (601, 602; 701, 702) ein Oberflächenwel lenfilter mit folgenden Merkmalen aufweist:
einem Oberflächenwellenfilter vom Typ eines longitudi nal gekoppelten Resonators (101; 701, 703; 801), das ein dielektrisches Substrat und zumindest zwei Inter digitalwandler (103-105; 803-805) aufweist, die an dem dielektrischen Substrat entlang der Ausbreitungs richtung einer akustischen Oberflächenwelle angeordnet sind, die in demselben erzeugt wird; und
zumindest einem Oberflächenwellenresonator (102; 401; 802), der zwischen zumindest entweder einen Eingangs anschluß (119; 813) oder einen Ausgangsanschluß (120; 811, 812) des Oberflächenwellenfilters und das Ober flächenwellenfilter vom Typ eines longitudinal gekop pelten Resonators (101; 701, 703; 801) geschaltet ist;
wobei ein Durchlaßband erzeugt wird, indem zumindest einer der Resonanzmodi des Oberflächenwellenfilters vom Typ eines longitudinal gekoppelten Resonators (101; 701, 703; 801) und die Induktivität des zumin dest einen Oberflächenwellenresonators (102; 401; 802) verwendet werden.
zumindest zwei Oberflächenwellenfilterelementen (601, 602; 701, 702);
wobei zumindest entweder die Eingangsanschlußseite oder die Ausgangsanschlußseite der zumindest zwei Oberflächenwellenfilterelemente (601, 602; 701, 702) ein gemeinsamer Anschluß für jedes der zumindest zwei Oberflächenwellenfilterelemente (601, 602; 701, 702) ist; und
wobei zumindest eines der zwei Oberflächenwellenfil terelemente (601, 602; 701, 702) ein Oberflächenwel lenfilter mit folgenden Merkmalen aufweist:
einem Oberflächenwellenfilter vom Typ eines longitudi nal gekoppelten Resonators (101; 701, 703; 801), das ein dielektrisches Substrat und zumindest zwei Inter digitalwandler (103-105; 803-805) aufweist, die an dem dielektrischen Substrat entlang der Ausbreitungs richtung einer akustischen Oberflächenwelle angeordnet sind, die in demselben erzeugt wird; und
zumindest einem Oberflächenwellenresonator (102; 401; 802), der zwischen zumindest entweder einen Eingangs anschluß (119; 813) oder einen Ausgangsanschluß (120; 811, 812) des Oberflächenwellenfilters und das Ober flächenwellenfilter vom Typ eines longitudinal gekop pelten Resonators (101; 701, 703; 801) geschaltet ist;
wobei ein Durchlaßband erzeugt wird, indem zumindest einer der Resonanzmodi des Oberflächenwellenfilters vom Typ eines longitudinal gekoppelten Resonators (101; 701, 703; 801) und die Induktivität des zumin dest einen Oberflächenwellenresonators (102; 401; 802) verwendet werden.
3. Oberflächenwellenfilter gemäß Anspruch 1 oder 2, bei
dem die Antiresonanzfrequenz des zumindest einen Ober
flächenwellenresonators (102; 401; 802) auf eine Fre
quenz eingestellt ist, die niedriger als die des Reso
nanzmodus, der an der Seite der höchsten Frequenz po
sitioniert ist, unter den Resonanzmodi des Oberflä
chenwellenfilters vom Typ eines longitudinal gekoppel
ten Resonators (101; 701, 703; 801) ist.
4. Oberflächenwellenfilter gemäß Anspruch 1 oder 2, bei
dem die Resonanzfrequenz des zumindest einen Oberflä
chenwellenresonators (102; 401; 802) auf eine Frequenz
eingestellt ist, die höher als die des Resonanzmodus,
der an der Seite der höchsten Frequenz positioniert
ist, unter den Resonanzmodi ist, die das Durchlaßband
des Oberflächenwellenfilters vom Typ eines longitudi
nal gekoppelten Resonators (101; 701, 703; 801) bil
den.
5. Oberflächenwellenfilter gemäß Anspruch 1 oder 2, bei
dem die resultierende Impedanz des zumindest einen
Oberflächenwellenresonators (102; 401; 802) und des
Oberflächenwellenfilters vom Typ eines longitudinal
gekoppelten Resonators (101; 701, 703; 801) im wesent
lichen an die Impedanz bei dem Resonanzmodus des Ober
flächenwellenfilters vom Typ eines longitudinal gekop
pelten Resonators (101; 701, 703; 801) angepaßt ist.
6. Oberflächenwellenfilter gemäß einem der Ansprüche 1
bis 5, bei dem der VSWR-Wert bei der Frequenz an dem
Dämpfungspol, der durch die resultierende Impedanz des
zumindest einen Oberflächenwellenresonators (102; 401;
802) und des Oberflächenwellenfilters vom Typ eines
longitudinal gekoppelten Resonators (101; 701, 703;
801) erzeugt wird, größer oder gleich etwa 3,5 ist.
7. Oberflächenwellenfilter gemäß einem der Ansprüche 1
bis 6, bei dem der zumindest eine Oberflächenwellenre
sonator (102; 401; 802) einer Wichtung durch eine
Elektrodenfingerentnahme unterzogen wird.
8. Oberflächenwellenfilter gemäß einem der Ansprüche 1
bis 7, bei dem der zumindest eine Oberflächenwellenre
sonator (102; 401; 802) einen kleineren elektromecha
nischen Kopplungskoeffizienten als das Oberflächenwel
lenfilter vom Typ eines longitudinal gekoppelten Reso
nators (101; 701, 703; 801) aufweist.
9. Oberflächenwellenfilter gemäß Anspruch 8, bei dem der
zumindest eine Oberflächenwellenresonator (102; 401;
802) ein piezoelektrisches Substrat umfaßt, das einen
kleineren elektromechanischen Kopplungskoeffizienten
als das Oberflächenwellenfilter vom Typ eines longitu
dinal gekoppelten Resonators (101; 701, 703; 801) auf
weist.
10. Oberflächenwellenfilter gemäß einem der Ansprüche 1
bis 9, das ferner folgendes Merkmal aufweist:
zumindest ein Induktivitätselement (118; 815), das
parallel zu zumindest entweder dem Eingangsanschluß
(119; 813) oder dem Ausgangsanschluß (120; 811, 812)
geschaltet ist, mit dem der Oberflächenwellenresonator
(102; 401; 802) in Serie geschaltet ist.
11. Oberflächenwellenfilter gemäß einem der Ansprüche 1
bis 10, das ferner eine Einrichtung zum Durchführen
einer Symmetrisch-zu-Unsymmetrisch-Umwandlungsfunktion
aufweist.
12. Kommunikationsvorrichtung (160), die ein Oberflächen
wellenfilter (164, 168; 164A) gemäß einem der vorher
gehenden Ansprüche aufweist.
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| JP2000262975A JP3454239B2 (ja) | 2000-08-31 | 2000-08-31 | 弾性表面波フィルタ |
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| DE10142641A1 true DE10142641A1 (de) | 2002-05-02 |
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ID=18750575
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE10142641A Expired - Lifetime DE10142641B4 (de) | 2000-08-31 | 2001-08-31 | Oberflächenwellenfilter |
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| JP2002076838A (ja) | 2002-03-15 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
| R020 | Patent grant now final |
Effective date: 20110702 |
|
| R071 | Expiry of right |