DE10062637A1 - Differenzdrucksensor - Google Patents
DifferenzdrucksensorInfo
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Abstract
Der erfindungsgemäße Differenzdrucksensor besitzt den Vorteil, daß insbesondere bei großen Druckbereichen bzw. hohen Absolutdrücken auch kleine Differenzdrücke DELTAp = p¶2¶ - p¶1¶ hinreichend genau bestimmt werden können. Die hohe erzielbare Genauigkeit wird durch die Bildung des Differenzdrucks direkt an der beweglichen Membran gewährleistet. Da sowohl der Hohlraum als auch der Kanal an der Oberfläche des Substrats angeordnet sind, können gängige Verfahren der Oberflächenmikromechanik eingesetzt werden, um den erfindungsgemäßen Differenzdrucksensor. Insbesondere können solche Verfahren der Oberflächenmikromechanik eingesetzt werden, die mit Standard CMOS- bzw. Bipolar-Prozessen kompatibel sind. Demtentsprechend kann auf die bisher eingesetzten Verfahren der Volumen-Mikromechanik mit ihren Prozeß- bzw. Montage-Schwierigkeiten verzichtet werden.
Description
Die vorliegende Erfindung betrifft einen mikromechani
sche Differenzdrucksensor zur Messung einer Druckdifferenz in
zwei voneinander getrennten Räumen oder Medien.
Für Drucksensoren gibt es ein weites Anwendungsspektrum
im Bereich der Industrie, Medizin, Haushalt und Verkehrswe
sen. Der Bedarf wird durch die zunehmende Automatisierung in
der Industrie sowie durch die Implementierung neuer Funktio
nen in Kraftfahrzeugen stark zunehmen. Dieser Bedarf kann je
doch nur mit kostengünstigen Sensoren gedeckt werden. Die je
weiligen technischen Anwendungen erfordern hohe Genauigkeiten
und eine hohe Flexibilität der Produkte.
Für viele Anwendungen von Drucksensoren ist dabei die
Messung von Differenzdrücken, d. h. eines Unterschiedes zwi
schen den herrschenden Drücken in zwei voneinander getrennten
Räumen oder Medien, von großer Bedeutung. Dabei ist es im
allgemeinen nicht ausreichend, zwei Drücke p1 und p2 mit zwei
separaten Drucksensoren absolut zu messen und die gewonnenen
Meßwerte danach voneinander zu subtrahieren. Der Grund hier
für liegt in der zu geringen Meßgenauigkeit der allgemein zur
Verfügung stehenden Absolutdruckmessvorrichtungen, die insbe
sondere bei großen Druckbereichen bzw. hohen Absolutdrücken
aber kleinen Differenzdrücken nicht genügt, die Druckdiffe
renz Δp = p2 - p1 hinreichend genau zu liefern.
Die Messung eines Differenzdruckes Δp = p2 - p1 durch
die Verwendung zweier unabhängiger Absolutdrucksensoren führt
bei kleinen Differenzdrücken (bezogen auf den Messbereich des
Absolutdrucksensoren) zu erheblichen Meßfehlern. Bei einem
Meßfehler der Absolutdrucksensoren von z. B. 1% ergibt sich
bei einem Differenzdruck Δp von z. B. 5% des Meßbereiches be
reits ein Fehler von 28%.
Zur Lösung dieses Problems wurden Halbleiter-
Differenzdrucksensoren vorgeschlagen, bei denen eine einzige
druckempfindliche Membran von der einen Seite mit dem ersten
Druck pl und von der anderen Seite mit dem zweiten Druck p2
beaufschlagt wird. Folglich wird bei einer derartigen Anord
nung die Membran entsprechend der Druckdifferenz Δp = p2 - p1
ausgelenkt und ermöglicht damit eine entsprechende Messung
dieses Wertes. Die Meßgenauigkeit eines derartigen Differenz
drucksensors ist abhängig von der Auslegung des Sensors, d. h.
der Membran, der Abtastung der Membranauslenkung und der
elektrischen bzw. elektronischen Auswertung etc..
Bisher wurden derartige Halbleiter-
Differenzdrucksensoren in einer sogenannten "Volumen-
Mikromechanik-Technologie" (bulk micromachining) hergestellt,
bei der das Substratmaterial unterhalb der Membran vollstän
dig entfernt (z. B. durch Ätzen) werden muß. Die entsprechen
den Produktionsprozesse sind jedoch im allgemeinen nicht kom
patibel mit modernen CMOS- oder Bipolar-Halbleiterprozessen.
Demzufolge ist es schwierig, zusätzlich zu der Drucksensor
vorrichtung eine komplexe Auswerteschaltung direkt auf dem
selben Halbleiterchip zu integrieren.
Ein weiterer prinzipieller Nachteil der mit einer Volu
men-Mikromechanik-Technologie hergestellten Differenzdruck
sensoren besteht darin, daß diese Differenzdrucksensoren aus
gesprochen empfindlich auf die Montage- bzw. Gehäusebedingun
gen reagieren. Gewöhnlich wird dieses Problem durch einen Wa
fer-Bond-Prozess, d. h. durch das Verbinden zweier Wafer ge
löst, bei dem der Systemwafer, welcher die eigentliche Druck
sensorvorrichtung trägt, mit einem Trägerwafer verbunden
wird. Solche Trägerwafer können ihrerseits aus einem Halblei
termaterial oder aber auch aus thermisch angepaßten Gläsern
oder Keramiken bestehen. Jeder Trägerwafer muß entweder vor
oder nach dem Verbindungsprozeß mit dem Systemwafer struktu
riert werden, damit eine Druckankopplung an die Membranunterseite
erfolgen kann. Diese Strukturierung führt jedoch auch
zu Justierproblemen, wenn sie vor dem Wafer-Bonden erfolgt.
Erfolgt die Strukturierung dagegen nach dem Wafer-Bonden, so
muß sie mit größter Vorsicht vorgenommen werden, da die emp
findlichen Membranen sehr leicht beschädigt werden können,
was entweder die Produktionsausbeute drastisch reduziert oder
aber möglicherweise die Zuverlässigkeit und/oder Langzeitsta
bilität der Drucksensoren beeinträchtigen kann.
Es ist daher die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ei
nen Differenzdrucksensor bereitzustellen, der die genannten
Nachteile des Standes der Technik vermeidet oder mindert.
Insbesondere ist es eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung,
einen Differenzdrucksensor bereitzustellen, der mit modernen
CMOS- oder Bipolar-Halbleiterprozessen herstellbar ist.
Diese Aufgabe wird von dem Differenzdrucksensor gemäß
Patentanspruch 1 gelöst. Weitere vorteilhafte Ausführungsfor
men, Ausgestaltungen und Aspekte der vorliegenden Erfindung
ergeben sich aus den Unteransprüchen der Beschreibung und den
beiliegenden Zeichnungen.
Erfindungsgemäß wird ein Differenzdrucksensor zur Mes
sung einer Druckdifferenz in zwei voneinander getrennten Räu
men oder Medien bereitgestellt. Der erfindungsgemäße Diffe
renzdrucksensor umfaßt die Merkmale:
- - ein Substrat mit zumindest einem an einer Hauptoberflä che des Substrats angeordneten Hohlraum, der auf einer Seite von einer beweglichen Membran begrenzt wird; wo bei die beweglichen Membran ausgehend von der Haupto berfläche des Substrats mit einem ersten Druck beauf schlagt werden kann;
- - zumindest eine Öffnung in der Hauptoberfläche des Sub strats, die mit einem zweiten Druck beaufschlagt werden kann;
- - zumindest ein an der Hauptoberfläche des Substrats an geordneten Kanal, der den Hohlraum mit der Öffnung ver bindet.
Der erfindungsgemäße Differenzdrucksensor besitzt den
Vorteil, daß insbesondere bei großen Druckbereichen bzw. ho
hen Absolutdrücken auch kleine Differenzdrücke Δp = p2 - p1
hinreichend genau bestimmt werden können. Die hohe erzielbare
Genauigkeit wird durch die Bildung des Differenzdrucks direkt
an der beweglichen Membran gewährleistet. Daher kann der er
findungsgemäße Differenzdrucksensor auf die Höhe des maxima
len Differenzdrucks (z. B. 104 Pa) ausgelegt werden während bei
der Bestimmmung eines Differenzdrucks mit Hilfe von zwei Ab
solutdrucksensoren die beiden Absolutdrucksensoren jeweils
auf den maximalen Absolutdruck (z. B. 106 Pa) ausgelegt werden
müssen.
Da sowohl der Hohlraum als auch der Kanal an der Ober
fläche des Substrats angeordnet sind, können gängige Verfah
ren der Oberflächenmikromechanik eingesetzt werden, um den
erfindungsgemäßen Differenzdrucksensor herzustellen. Insbe
sondere können solche Verfahren der Oberflächenmikromechanik
eingesetzt werden, die mit Standard CMOS- bzw. Bipolar-
Prozessen kompatibel sind. Dementsprechend kann auf die bis
her eingesetzten Verfahren der Volumen-Mikromechanik mit ih
ren Prozeß- bzw. Montage-Schwierigkeiten verzichtet werden.
Der erfindungsgemäße Differenzdrucksensor besitzt dar
über hinaus den Vorteil, daß er mit weiteren Komponenten auf
einem einzigen Substrat (Chip) integriert werden kann. Dabei
weist der erfindungsgemäße Differenzdrucksensor einen sehr
geringen Flächenbedarf auf, da zur Bildung des Differenz
drucks nur eine einzige Membran benötigt wird. Daraus ergeben
sich Vorteile hinsichtlich des Preises bzw. hinsichtlich der
zur Verfügung stehenden Fläche.
Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform bilden die be
wegliche Membran und die der Membran gegenüber liegende Seite
des Hohlraums einen Kondensator. Die durch eine Druckdiffe
renz ausgelösten Kapazitätsänderungen werden somit als Maß
für die Druckdifferenz ausgewertet.
Gemäß einer weiteren bevorzugten Ausführungsform ist ei
ne an der Hauptoberfläche des Substrats angeordnete Auswerte
schaltung vorgesehen. Dabei ist es insbesondere bevorzugt,
wenn die Auswerteschaltung einen Sigma/Delta-Signalwandler
umfaßt. Weiterhin ist es bevorzugt, wenn eine an der Haupt
oberfläche des Substrats angeordnete Strom/Spannungs
versorgung vorgesehen ist.
Gemäß einer weiteren bevorzugten Ausführungsform ist auf
der beweglichen Membran ein Stempel angeordnet. Durch einen
Stempel wird der Bereich, über den sich der erfindungsgemäße
Differenzdrucksensor linear verhält, deutlich erweitert. Wei
terhin ist es bevorzugt, wenn die bewegliche Membran aus Po
lysilizium aufgebaut ist.
Gemäß einer weiteren bevorzugten Ausführungsform ist zu
mindest eine Druckanschlußeinheit vorgesehen, über die die
bewegliche Membran und/oder die Öffnung mit dem ersten bzw.
zweiten Druck beaufschlagt wird. Dabei ist es insbesondere
bevorzugt, wenn die Druckanschlußeinheit eine zylinderförmige
Leitung aufweist, die auf die Hauptoberfläche des Substrats
geklebt ist.
Weiterhin ist es bevorzugt, wenn der Hohlraum und der
Kanal gleichzeitig mit Hilfe einer Opferschicht gebildet wer
den.
Die Erfindung wird nachfolgend anhand der Figuren der
Zeichnungen näher dargestellt. Es zeigen:
Fig. 1 eine schematischen Querschnitt durch eine Ausfüh
rungsform des erfindungsgemäßen Differenzdrucksen
sors,
Fig. 2 eine schematische Aufsicht auf den Kanal und den
Hohlraum aus Fig. 1,
Fig. 3 eine schematische Aufsicht auf einen erfindungsge
mäßen Differenzdrucksensor, und
Fig. 4 eine schematischen Querschnitt durch eine weitere
Ausführungsform des erfindungsgemäßen Differenz
drucksensors.
Fig. 1 zeigt eine schematischen Querschnitt durch eine
Ausführungsform des erfindungsgemäßen Differenzdrucksensors.
Dabei zeigt Fig. 1 den Ausschnitt eines größeren Halbleiter
chips 1 (Substrat), in dem die eigentliche Diffrenzdruckmes
sung vorgenommen wird. Dazu ist an der Hauptoberfläche 2 des
Halbleiterchips 1 ein Hohlraum 3 angeordnet, der mit einer
beweglichen Membran 4, einer isolierenden Schicht 5 und einer
Siliziumschicht 6 gebildet wird. Dabei ist die isolierenden
Schicht 5 der übrig gebliebene Teil einer Opferschicht, die
zur Herstellung des Hohlraums eingesetzt wird. Die Silizium
schicht 6 ist z. B. ein Siliziumsubstrat oder eine auf einem
Siliziumsubstrat aufgebrachte Silizium-Epitaxieschicht.
In dieser Siliziumschicht 6 gegenüber der beweglichen
Membran 4 ist ein dotiertes Gebiet, ein sogenannte "doped
well", ausgebildet. Das Dotiergebiet ist beispielsweise mit
tels Implantation und/oder Diffusion hergestellt. Das Dotier
gebiet bildet somit eine Elektrode des Kondensators, der
durch den Hohlraum 3 gebildet ist. Die andere Elektrode des
Kondensators wird durch die bewegliche Membran 4 gebildet,
die in dem vorliegenden Beispiel aus dotiertem Polysilizium
aufgebaut ist.
Über der beweglichen Membran 4 ist eine Isolationschicht
8 angeordnet, die im vorliegenden Beispiel aus Siliziumoxid
aufgebaut ist. Je nach Herstellungsprozeß kann die Isolation
schicht 8 auch aus mehreren Isolationsschichten bestehen.
Weiterhin ist über der Isolationschicht 8 eine Passivierungs
schicht 9 angeordnet, die im vorliegenden Beispiel aus Sili
ziumnitrid aufgebaut ist. Die Isolationschicht 8 sowie die
Passivierungsschicht 9 wurden strukturiert, so daß über dem
Randbereich der beweglichen Membran ein Graben 10, ein soge
nannter "Kragen", und über dem zentralen Bereich der bewegli
chen Membran 4 ein Stempel 11 entsteht. Durch den Stempel 11
wird der Bereich, über den sich der erfindungsgemäße Diffe
renzdrucksensor linear verhält, deutlich erweitert. Gleich
zeitig kann durch die Breite des Grabens 10 die Beweglichkeit
der Membran 4 eingestellt werden. Ausgehend von der Haupto
berfläche des Halbleiterchips 1 (Substrat) kann die bewegli
chen Membran 4 somit mit einem ersten Druck beaufschlagt wer
den.
In der Hauptoberfläche 2 des Halbleiterchips 1 (Sub
strat) ist weiterhin eine Öffnung 12 vorgesehen, die mit ei
nem zweiten Druck beaufschlagt werden kann. Die Öffnung 12
reicht von Hauptoberfläche 2 des Halbleiterchips 1 (Substrat)
durch die Passivierungsschicht 9 sowie die Isolationschichten
8a bis 8c bis zum einem Kanal 13. Der Kanal 13 verbindet die
Öffnung 12 mit dem Hohlraum 3, so daß die Unterseite der be
weglichen Membran mit dem zweiten Druck beaufschlagt werden
kann. Der Kanal 13 wurde dabei in der gleichen Opferschicht 5
erzeugt, die auch bei der Herstellung des Hohlraums einge
setzt wurde. Eine schematische Aufsicht auf den Kanal 13 und
den Hohlraum 3 ist in Fig. 2 gezeigt.
Die bewegliche Membran 4 wird nun in Abhängigkeit des
Differenzdrucks Δp = p2 - p1 entweder nach oben oder unten
ausgelenkt, was sich in einer Kapazitätsänderung des durch
die bewegliche Membran 4 und den dotierten Bereich 7 gebildeten
Kondensator widerspiegelt. Der erfindungsgemäße Diffe
renzdrucksensor besitzt den Vorteil, daß insbesondere bei
großen Druckbereichen bzw. hohen Absolutdrücken auch kleine
Differenzdrücke Δp = p2 - p1 hinreichend genau bestimmt wer
den können. Die hohe erzielbare Genauigkeit wird durch die
Bildung des Differenzdrucks direkt an der beweglichen Membran
gewährleistet. Daher kann der erfindungsgemäße Differenz
drucksensor auf die Höhe des maximalen Differenzdrucks (z. B.
104 Pa) ausgelegt werden während bei der Bestimmmung eines
Differenzdrucks mit Hilfe von zwei Absolutdrucksensoren die
beiden Absolutdrucksensoren jeweils auf den maximalen Abso
lutdruck (z. B. 106 Pa) ausgelegt werden müssen.
Fig. 3 zeigt eine schematische Aufsicht auf einen erfin
dungsgemäßen Differenzdrucksensor. Neben dem eigentlichen
Druckmessbereich 14 sind auf dem erfindungsgemäßen Differenz
drucksensor weiteren Komponenten, insbesondere eine Auswerte
schaltung 15, eine Strom/Spannungsversorgung 16, eine Schal
tung zur Erzeugung eines Zeitsignals 17, eine Kalibrations
schaltung 18 und eine Schnittstelle 19 vorgesehen. All diese
weiteren Komponenten sind auf einem einzigen Substrat (Chip)
integriert.
Da zur Erzeugung des erfindungsgemäßen Differenzdruck
sensor solche Verfahren der Oberflächenmikromechanik einge
setzt werden können, die mit Standard CMOS- bzw. Bipolar-
Prozessen kompatibel sind, können diese weiteren Komponenten
aus Standardkomponenten ausgewählt werden, wie sie in soge
nannten "Librarys" gespeichert sind. Darüber hinaus weist der
erfindungsgemäße Differenzdrucksensor einen sehr geringen
Flächenbedarf auf, da zur Bildung des Differenzdrucks nur ei
ne einzige Membran benötigt wird. Dementsprechend kann mehr
Chipfläche für die übrigen Komponenten, z. B. eine Auswerte
schaltung und/oder eine Strom/Spannungsversorgung, verwendet
werden.
Fig. 4 zeigt eine schematischen Querschnitt durch eine
weitere Ausführungsform des erfindungsgemäßen Differenzdruck
sensors. Dabei ist über der beweglichen Membran 4 und über
der Öffnung 12 jeweils eine Druckanschlußeinheit 20, z. B.
ein Kunststoffkamin oder ein Kunststoff-Schlauchanschluß als
eine zylinderförmige Leitung, gasdicht auf Passivierungs
schicht 9 geklebt. Mittels dieser Druckanschlußeinheiten 20
können auf einfache Weise die zu messenden Drücke getrennt
voneinander der Membran 4 bzw. der Öffnung 12 zugeführt wer
den.
Claims (10)
1. Mikromechanischer Differenzdrucksensor zur Messung einer
Druckdifferenz in zwei voneinander getrennten Räumen oder
Medien mit:
einem Substrat (1) mit zumindest einem an einer Haupto berfläche (2) des Substrats (1) angeordneten Hohlraum (3), der auf einer Seite von einer beweglichen Membran (4) begrenzt wird; wobei die beweglichen Membran (4) ausgehend von der Hauptoberfläche (2) des Substrats (1) mit einem ersten Druck beaufschlagt werden kann;
zumindest einer Öffnung (12) in der Hauptoberfläche (2) des Substrats (1), die mit einem zweiten Druck beauf schlagt werden kann;
zumindest einem an der Hauptoberfläche (2) des Sub strats (1) angeordneten Kanal (13), der den Hohlraum (3) mit der Öffnung (12) verbindet.
einem Substrat (1) mit zumindest einem an einer Haupto berfläche (2) des Substrats (1) angeordneten Hohlraum (3), der auf einer Seite von einer beweglichen Membran (4) begrenzt wird; wobei die beweglichen Membran (4) ausgehend von der Hauptoberfläche (2) des Substrats (1) mit einem ersten Druck beaufschlagt werden kann;
zumindest einer Öffnung (12) in der Hauptoberfläche (2) des Substrats (1), die mit einem zweiten Druck beauf schlagt werden kann;
zumindest einem an der Hauptoberfläche (2) des Sub strats (1) angeordneten Kanal (13), der den Hohlraum (3) mit der Öffnung (12) verbindet.
2. Sensor nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, dass
die bewegliche Membran (4) und die der Membran (4) gegen
über liegende Seite des Hohlraums (3) einen Kondensator
bilden.
3. Sensor nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet, dass
eine an der Hauptoberfläche (2) des Substrats (1) angeord
nete Auswerteschaltung (15) vorgesehen ist.
4. Sensor nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, dass
die Auswerteschaltung (15) einen Sigma/Delta-Signalwandler
umfaßt.
5. Sensor nach einem der vorstehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, dass
eine an der Hauptoberfläche (2) des Substrats (1) angeord
nete Strom/Spannungsversorgung (16) vorgesehen ist.
6. Sensor nach einem der vorstehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, dass
auf der beweglichen Membran (4) ein Stempel (11) angeord
net ist.
7. Sensor nach einem der vorstehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, dass
die bewegliche Membran (4) aus Polysilizium aufgebaut ist.
8. Sensor nach einem der vorstehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, dass
zumindest eine Druckanschlußeinheit (20) vorgesehen ist,
über die die bewegliche Membran (4) und/oder die Öffnung
(12) mit dem ersten bzw. zweiten Druck beaufschlagt wird.
9. Sensor nach Anspruch 8,
dadurch gekennzeichnet, dass
die Druckanschlußeinheit (20) eine zylinderförmige Leitung
aufweist, die auf die Hauptoberfläche (2) des Substrats
(1) geklebt ist.
10. Sensor nach einem der vorstehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, dass
der Hohlraum (3) und der Kanal (13) gleichzeitig mit Hilfe
einer Opferschicht (5) gebildet werden.
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| DE10062637A DE10062637B4 (de) | 2000-12-15 | 2000-12-15 | Differenzdrucksensor |
Applications Claiming Priority (1)
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|---|---|---|---|
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Publications (2)
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| DE10062637B4 DE10062637B4 (de) | 2009-05-28 |
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ID=7667338
Family Applications (1)
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| Country | Link |
|---|---|
| DE (1) | DE10062637B4 (de) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1719993A1 (de) * | 2005-05-06 | 2006-11-08 | STMicroelectronics S.r.l. | Integrierter Differenzdrucksensor und Verfahren zu dessen Herstellung |
| DE102005031603A1 (de) * | 2005-07-06 | 2007-01-11 | Robert Bosch Gmbh | Mikromechanischer Drucksensor |
| EP2112487A1 (de) * | 2008-04-23 | 2009-10-28 | Sensirion AG | Verfahren zum Herstellen eines Drucksensors durch Aufbringen einer Deckschicht |
| EP2806258A1 (de) * | 2013-05-20 | 2014-11-26 | Nxp B.V. | Differenzdrucksensor |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102010017191B4 (de) | 2010-06-01 | 2014-07-24 | CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik und Photovoltaik GmbH | Differenzdrucksensor mit Absolutdruckermittlung |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5375473A (en) * | 1993-08-17 | 1994-12-27 | Yokogawa Electric Corporation | Semiconductor type differential pressure measurement apparatus and method for manufacturing the same |
| DE19750131A1 (de) * | 1997-11-13 | 1999-06-10 | Siemens Ag | Mikromechanische Differenzdrucksensorvorrichtung |
| US5969591A (en) * | 1991-03-28 | 1999-10-19 | The Foxboro Company | Single-sided differential pressure sensor |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6388279B1 (en) * | 1997-06-11 | 2002-05-14 | Denso Corporation | Semiconductor substrate manufacturing method, semiconductor pressure sensor and manufacturing method thereof |
-
2000
- 2000-12-15 DE DE10062637A patent/DE10062637B4/de not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5969591A (en) * | 1991-03-28 | 1999-10-19 | The Foxboro Company | Single-sided differential pressure sensor |
| US5375473A (en) * | 1993-08-17 | 1994-12-27 | Yokogawa Electric Corporation | Semiconductor type differential pressure measurement apparatus and method for manufacturing the same |
| DE19750131A1 (de) * | 1997-11-13 | 1999-06-10 | Siemens Ag | Mikromechanische Differenzdrucksensorvorrichtung |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1719993A1 (de) * | 2005-05-06 | 2006-11-08 | STMicroelectronics S.r.l. | Integrierter Differenzdrucksensor und Verfahren zu dessen Herstellung |
| DE102005031603A1 (de) * | 2005-07-06 | 2007-01-11 | Robert Bosch Gmbh | Mikromechanischer Drucksensor |
| EP2112487A1 (de) * | 2008-04-23 | 2009-10-28 | Sensirion AG | Verfahren zum Herstellen eines Drucksensors durch Aufbringen einer Deckschicht |
| EP2806258A1 (de) * | 2013-05-20 | 2014-11-26 | Nxp B.V. | Differenzdrucksensor |
| US9726561B2 (en) | 2013-05-20 | 2017-08-08 | Ams International Ag | Differential pressure sensor with a capacitive read out system |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE10062637B4 (de) | 2009-05-28 |
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