DE10058326C1 - Induktiv gekoppelte Hochfrequenz-Elektronenquelle mit reduziertem Leistungsbedarf durch elektrostatischen Einschluss von Elektronen - Google Patents
Induktiv gekoppelte Hochfrequenz-Elektronenquelle mit reduziertem Leistungsbedarf durch elektrostatischen Einschluss von ElektronenInfo
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Abstract
Beschrieben wird eine induktiv gekoppelte Hochfrequenz-Elektronenquelle mit einer zumindest an einem ersten Ende offenen Plasmakammer (1), wobei die Gesamtfläche der offenen Bereiche (5) der Plasmakammer (1) einen Flächenbetrag A¶0¶ beträgt, sowie mit einem Gaseinlass (2) für ein zu ionisierendes Gas und einer Hochfrequenzspule (3). Die Innenwand der Plasmakammer (1) wird zumindest teilweise durch leitfähige Bereiche (4) gebildet, die mit einer Stromquelle (6) verbunden sind, wobei die Gesamtfläche der leitfähigen Bereiche (4) einen Flächenbetrag A¶c¶ beträgt und das Verhältnis der Flächenbeträge A¶0¶ zu A¶c¶ einen definierten Maximalwert nicht übersteigt.
Description
Die vorliegende Erfindung betrifft eine induktiv gekoppelte Hochfrequenz-
Elektronenquelle mit einer zumindest an einem ersten Ende offenen Plasma
kammer sowie mit einem Gaseinlass für ein zu ionisierendes Gas und einer
Hochfrequenzspule.
Eine induktiv gekoppelte Hochfrequenz-Elektronenquelle extrahiert freie E
lektronen aus einem Plasma, das durch ein elektrisches Wechselfeld aufrecht
erhalten wird. Dieses Feld wird durch eine Induktionsspule erzeugt, durch die
ein hochfrequenter Strom fließt. Die im Plasma vorhandenen Elektronen wer
den durch das elektrische Wechselfeld auf Geschwindigkeiten beschleunigt,
die im Fälle eines Stoßes mit einem Neutralatom im Plasma die Ionisation des
letzteren bewirken können. Bei der Ionisation werden ein oder mehrere weite
re Elektronen vom Neutralatom freigeschlagen, woraus sich ein kontinuierli
cher Nachschub von Elektronen ergibt. Die entstandenen Ionen treffen nach
einiger Zeit auf die Wand des Gefäßes, in dem das Plasma gehalten wird oder
auf Gegenstände, die im Plasma eingetaucht sind. Ist die Oberfläche der Wand
oder des Gegenstandes am Punkt des Auftreffens elektrisch mit einer Strom
quelle verbunden, so kann das Ion die verlorengegangene negative Ladung
dort wieder aufnehmen, wodurch der Ladungsausgleich gewährleistet ist. Die
freien Elektronen im Plasma können dadurch diesem teilweise entzogen wer
den, zum Beispiel durch eine Öffnung im Plasmagefäß.
Eine solche Elektronenquelle ist beispielsweise in US 5,198,718 in Form eines
Neutralisators für eine Ionenquelle beschrieben, der durch eine Plasmakammer
mit Wänden aus einem dielektrischen Material gebildet wird, welche von einer
Hochfrequenzspule umgeben ist.
Ein großer Teil der zur Aufrechterhaltung des Plasmas im Gefäß einer induktiv
gekoppelten Hochfrequenz-Elektronenquelle benötigten Leistung geht da
durch verloren, daß hochenergetische Elektronen aus dem Plasma auf die Ge
fäßwand treffen und dabei wieder an Atome gebunden werden. Bei diesem
Prozeß geben sie auch einen Großteil ihrer Energie ab, die sie durch das elekt
rische Wechselfeld gewonnen haben.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es daher, eine Elektronenquelle be
reitzustellen, die einen verringerten Leistungsbedarf aufweist. Diese Aufgabe
wird durch die Merkmale des Anspruchs 1 gelöst.
Gemäß der Erfindung ist nun vorgesehen, dass die Innenwand der Plasma
kammer leitfähig gestaltet und elektrisch mit einer Stromquelle verbunden
wird. Dies kann entweder die ganze Oberfläche der Innenwand betreffen oder
nur einen Teil davon. Zudem wird der Querschnitt von Öffnungen im Plasma
gefäß zur Extraktion der Elektronen geeignet dimensioniert. Dadurch wird ein
wirksamer elektrostatischer Einschluß der Elektronen im Plasma erreicht.
Es ist somit erfindungsgemäß eine induktiv gekoppelte Hochfrequenz-
Elektronenquelle mit einer zumindest an einem ersten Ende offenen Plasma
kammer vorgesehen, wobei die Gesamtfläche der offenen Bereiche der Plas
makammer einen Flächenbetrag A0 einnimmt, sowie mit einem Gaseinlass für
ein zu ionisierendes Gas und einer Hochfrequenzspule. Diese Hochfrequenz
spule kann in unterschiedlicher Art angeordnet und ausgebildet sein, sie muss
lediglich dazu geeignet sein, das Plasma ausreichend anzuregen. Die Hochfre
quenzspule kann beispielsweise koaxial zur Längserstreckung der Plasma
kammer angeordnet sein oder auch in Form einer Spirale an eine Wand der
Plasmakammer angrenzen oder sie kann als Zylinderspule an die Plasmakam
mer angrenzend angeordnet sein. Dabei kann die Hochfrequenzspule entwe
der innerhalb oder ausserhalb der Plasmakammer angeordnet sein. Die Innen
wand der Plasmakammer wird zumindest teilweise durch leitfähige Bereiche
gebildet, die mit einer Stromquelle verbunden sind. Die leitfähigen Bereiche
könne auf verschiedene Weise gebildet werden, z. B. durch eine leitfähige Be
schichtung eines Plasmakammer-Grundkörpers, durch Einfügen leitender Körper
wie Bleche oder eine Büchse oder ähnliches oder es kann auch die Plasma
kammer selbst - zumindest teilweise - aus einem leitenden Material bestehen.
Die Gesamtfläche der leitfähigen Bereiche beträgt Ac und das Verhältnis der
Flächenbeträge A0 und Ac beträgt maximal
mit
m0 Masse eines Ions des zu ionisierenden Gases,
me Masse eines Elektrons, und
e Eulersche Zahl.
m0 Masse eines Ions des zu ionisierenden Gases,
me Masse eines Elektrons, und
e Eulersche Zahl.
In einer bevorzugten Ausführungsform wird vorgesehen, dass die leitfähigen
Bereiche mindestens einmal derart unterbrochen sind, dass Ströme in den
leitfähigen Bereichen senkrecht zur Richtung des Magnetfeldes der Hochfre
quenzspule, welches die Plasmakammer durchdringt, verhindert werden. Da
durch kann verhindert werden, dass das Hochfrequenzfeld Ströme in den leit
fähigen Bereichen induziert, die letztlich der Anregungswirkung des Hochfre
quenzfeldes entgegen wirken könnten.
Es kann insbesondere vorgesehen werden, dass die leitfähigen Bereiche in
Umfangsrichtung der Plasmakammer mindestens einmal unterbrochen sind.
Eine solche Maßnahme ist speziell dann anwendbar, wenn das Hochfre
quenzfeld die Plasmakammer im wesentlichen senkrecht zur Umfangsrichtung
durchdringt. Dies bedeutet, dass, egal an welcher Stelle der leitfähigen Berei
che man diese betrachtet, man immer in Umfangsrichtung der Plasmakammer
mindestens eine Unterbrechung findet. Diese kann z. B. durch einen einge
fügten Nichtleiter gebildet werden oder es kann eine leitende Beschichtung so
ausgebildet sein, dass sie nicht die gesamte Innenwand der Plasmakammer
auskleidet, sondern in Umfangsrichtung unterbrochen ist. Diese Vorsehung
einer Unterbrechung in Umfangsrichtung bietet insbesondere dann einen
Vorteil, wenn die Hochfrequenzspule außerhalb der leitfähigen Bereiche an
geordnet wird. Dann verhindert die Unterbrechung, dass Ströme in Umfangsrichtung
in den leitfähigen Bereichen induziert werden, die das Hochfre
quenzfeld am Eindringen in die Plasmakammer hindern würden. Die geometri
sche Form der Unterbrechung kann relativ frei gewählt werden, sofern sie die
vorgenannten Anforderungen erfüllt. Sie kann insbesondere auch so gewählt
werden, beispielsweise durch eine geeignet große Breite der Unterbrechung,
dass ein von der Hochfrequenzspule erzeugtes kapazitives elektrisches Feld
nicht von den leitfähigen Bereichen abgeschirmt wird. Ein solches kapazitives
elektrisches Feld kann beispielsweise zur Zündung des Plasmas in der Plasma
kammer genutzt werden.
Speziell kann vorgesehen werden, dass die leitfähigen Bereiche der Plasma
kammer eine leitenden Büchse bilden, welche in Umfangsrichtung der Plasma
kammer mindestens eine Unterbrechung aufweist, die sich im wesentlichen in
Längsrichtung der Plasmakammer erstreckt. Die Büchse kann also beispiels
weilse im wesentlichen in Längsrichtung der Plasmakammer geschlitzt sein,
wobei die Richtung des Schlitzes durchaus um beispielsweise bis zu 45° von
der Längsrichtung abweichen kann.
Als Weiterbildung der Erfindung können die leitfähigen Bereiche zumindest im
Bereich eines der Enden der Plasmakammer in Längsrichtung der Plasmakam
mer eine geringere Ausdehnung aufweisen als die Hochfrequenzspule. Somit
überlappt die Hochfrequenzspule in diesen Gebieten die leitfähigen Bereiche,
reicht damit näher an zumindest eines der Enden der Plasmakammer heran als
die leitfähigen Bereiche. Durch eine solche Maßnahme kann, alternativ oder
zusätzlich zur vorstehenden Maßnahme einer genügend breiten Unterbre
chung, ebenfalls erreicht werden, dass das kapazitive elektrische Feld der
Hochfrequenzspule ausreichend in die Plasmakammer eindringen kann, des
sen Abschirmung also verhindert wird.
Für die leitfähigen Bereiche kann grundsätzlich jedes geeignete Material ge
wählt werden, das den Anforderungen an eine solche Elektronenquelle und
ihrem speziellen Einsatzgebiet gerecht wird. Insbesondere können die leitfähi
gen Bereiche aus einem der metallischen Werkstoffe Titan, Stahl, speziell rostfreiem
Stahl, beispielsweise austenitisch, oder auch aus Aluminium oder Tantal
bestehen. Die leitfähigen Bereiche können alternativ aber auch aus einem
Halbleiter, insbesondere aus Silizium oder Germanium, bestehen.
Nachfolgend wird ein spezielles Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfin
dung anhand der Fig. 1 und 2 erläutert.
Es zeigen:
Fig. 1: Querschnitt durch eine Plasmakammer mit außenliegender Hoch
frequenzspule
Fig. 2: Querschnitt durch eine Plasmakammer mit innenliegender Hochfre
quenzspule
Fig. 1 und 2 zeigen jeweils eine Plasmakammer 1 mit einer Öffnung 5 (Extrakti
onsöffnung zur Extraktion von Elektronen) an einem ersten Ende der Plasma
kammer 1, mit einem Gaseinlass 2 an einem zweiten Ende der Plamakammer 1
und mit einer Hochfrequenzspule 3, die in diesem speziellen Beispiel koaxial
zur Längserstreckung der Plasmakammer angeordnet ist und im Fall der Fig. 1
ausserhalb der Plasmakammer 1, im Fall der Fig. 2 innerhalb der Plasmakam
mer 1 angeordnet ist. Wie bereits eingangs erwähnt können aber auch andere
geeignete Ausbildungen der Hochfrequenzspule 3 vorgesehen werden. Ein
Teil der Innenwand der Plasmakammer wird durch leitfähige Bereiche 4 gebil
det, die mit einer Stromquelle 6 verbunden sind. Eine solche Plasmakammer 1
kann als Elektronenquelle eingesetzt werden, beispielsweise als Neutralisator
einer Ionenquelle. Ein Anwendungsgebiet hierfür sind insbesondere Ionen
triebwerke in der Raumfahrttechnik, es sind natürlich aber auch terrestrische
Anwendungen der Elektronenquelle möglich.
Das Plasma in der Plasmakammer 1 befindet sich nicht im thermischen Gleich
gewicht, da fast die ganze Hochfrequenzleistung der Hochfrequenzspule 3
von den Elektronen des Plasmas absorbiert wird und diese auf Grund ihrer ge
ringen Masse im Vergleich zu den Ionen kaum Leistung an die Ionen abgeben
können. Dies hat zur Folge, daß die Elektronentemperatur um mehr als einen
Faktor hundert über der Ionen- und Neutralteilchentemperatur liegt.
Da die Elektronen sehr leicht und heiß sind im Vergleich zu den Ionen, treffen
im Moment der Plasmazündung deutlich mehr Elektronen auf der Wand der
Plasmakammer 1 auf als Ionen, was zu einem Überschuß an negativer Ladung
an der Wand der Plasmakammer 1 führt. Diese lädt sich negativ auf und es be
steht ein Potentialgefälle zwischen Wand und Plasma. Werden Teilchenstöße
nahe der Wand vernachlässigt, so kann man die elektrische Strombilanz an der
Wand wie folgt beschreiben:
wobei
[m/s]: Bohm'sche Geschwindigkeit,
[m/s]: mittlere thermische Geschwindigkeit der Elektronen,
J[A/m2]: Stromdichte auf Gefäßwand,
k[J/K]: Boltzmannkonstante,
m0[kg]: Masse eines Ions,
me[kg]: Masse eines Elektrons,
ne[1/m3]: Elektronendichte,
qe[C]: Elementarladung,
Te[K]: Elektronentemperatur,
U[V]: Potentialdifferenz zwischen Plasma und Wand der Plasmakammer.
J[A/m2]: Stromdichte auf Gefäßwand,
k[J/K]: Boltzmannkonstante,
m0[kg]: Masse eines Ions,
me[kg]: Masse eines Elektrons,
ne[1/m3]: Elektronendichte,
qe[C]: Elementarladung,
Te[K]: Elektronentemperatur,
U[V]: Potentialdifferenz zwischen Plasma und Wand der Plasmakammer.
Der erste Term auf der linken Seite von (1) stellt die Elektronenstromdichte auf
die Wand dar, während der zweite Term für die Ionenstromdichte steht. J ist
die elektrische Stromdichte, die von der Wand abgeführt wird. Bei isolierender
Wand gilt J = 0. Gleichung (1) läßt sich wie folgt nach U auflösen:
Aus dem ersten Term der Gleichung (1) läßt sich erkennen, daß die Elektro
nenstromdichte bei gegebener Elektronentemperatur mit dem Plasmapotential
U exponentiell abnimmt. Dies läßt sich für den Einschluß der Elektronen nut
zen, indem man für eine hohe Stromdichte J an der Wand der Plasmakammer
1 sorgt, da U mit J monoton zunimmt (vgl. Gl. 2). Die Stromdichte J wird
durch das Flächenverhältnis von Extraktionsöffnung 5 zu den leitfähigen In
nenwandbereichen 4 der Plasmakammer 1 bestimmt. Hierzu schätzt man den
extrahierten Elektronenstrom Iex unter Vernachlässigung der Diffusion von
Ionen wie folgt ab:
wobei A0 für den Querschnitt der Extraktionsöffnung 5 steht (siehe Fig. 1). Be
zeichnet man die Fläche der leitfähigen Innenwandbereiche 4, welche als Ka
thode wirken, mit Ac (siehe Fig. 1), so kann man J als
darstellen. Fügt man (3) und (4) in (2) ein, so erhält man
Das Plasmapotential läßt sich also durch A0/Ac weitgehend beeinflussen, um
einen verbesserten Elektroneneinschluß zu gewährleisten. Je größer A0/Ac
gewählt wird, desto höher fällt U aus, was wiederum einen stärkeren
Einschluß der Elektronen mit sich zieht (siehe erster Term in (1)). Eine obere
Grenze für A0/Ac wird durch die Beziehung
gesetzt. Bei dieser Grenze ist das Argument des Logarithmus in (5) Null, was
zu einer Singularität führt. Physikalisch entspricht dies dem Punkt an dem Iex
dem Ionensättigungsstrom auf die Kathode 4 entspricht (2. Term in (1)). Steigt
Iex infolge einer größeren Extraktionsöffnung 5 weiter an, so ist ein Ladungs
ausgleich nicht mehr möglich, da nicht genügend Ionen pro Zeiteinheit auf die
Kathode 4 treffen.
Folglich kann durch die vorliegende Erfindung dem stärksten Verlustprozess
im Plasma, nämlich dem Verlust von hochenergetischen Elektronen an der
Wand der Plasmakammer 1, begegnet werden. Zwischen Plasma und Wand
bildet sich dabei ein Potentialgefälle, das einen Großteil der Elektronen ab
schirmt. Bildet die Wand der Plasmakammer 1 wie im vorliegenden Fall gleich
zeitig die Kathode in Form entsprechender leitfähiger Bereiche 4, so kann man
durch eine geeignete Wahl des Querschnittes der Extraktionsöffnung 5 dieses
Potentialgefälle vergrößern, was die Abschirmung (bzw. den Einschluß) der
Elektronen verstärkt.
Der Querschnitt der Extraktionsöffnung 5 wird möglichst groß gewählt, jedoch
so, daß das Verhältnis von Öffnungsquerschnitt zu Kathodenfläche den Wert
nicht überschreitet.
Die Kathode, also die leitfähigen Bereiche 4, müssen neben ihrer primären
Funktion zur Gewährleistung des elektrostatischen Einschlusses der Elektronen
zwei weitere Bedingungen erfüllen:
- 1. Sie muß gegenüber dem Plasma resistent sein und die geforderte Be triebszeit mit vertretbarem Qualitätsverlust überdauern.
- 2. Im Falle einer aussenliegenden Hochfrequenzspule 3 darf die Kathode 4 das Hochfrequenzfeld nicht vom Plasma abschirmen.
Bei Anwendungen in der Raumfahrttechnik bestehen relativ strenge Anforde
rungen an eine solche Elektronenquelle. Für die Anwendung der Elektronen
quelle als Neutralisator für Ionentriebwerke in der Raumfahrt sind derzeit 8.000
bis 15.000 Stunden Betriebszeit zu garantieren. Bei terrestrischen Anwendun
gen kann diese Anforderung deutlich entschärft werden, da die Möglichkeit
der Wartung besteht. Für das Plasma können als Gase beispielsweise Edelgase
wie Xenon verwendet werden.
Es sind folgende Punkte bei der Werkstoffwahl für die leitfähigen Bereiche 4,
also für die Kathode bei einer Anwendung in der Raumfahrttechnik zu berück
sichtigen:
- - Während des Betriebs treffen laufen Ionen mit der Energie qeU auf die Kathode. Dies kann zu Erosion führen.
- - Die Temperatur der Elektrtonenquelle kann maximal 300 bis 400°C er reichen.
- - Da die Quelle im Hochvakuum betrieben wird, sollte der Werkstoff einen genügend niedrigen Dampfdruck aufweisen und nicht ausgasen.
- - Die Kathode soll sich leicht und kostengünstig in einer Plasmakammer anordnen lassen.
- - Die Kathode muß die Startlasten beim Transport der Einrichtung, die eine solche Elektronenquelle aufweist, in den Weltraum überstehen.
Es gibt insbesondere einige metallische Werkstoffe, die diesen Anforderungen
gerecht werden:
- - Titan
- - Stahl, insbesondere rostfrei (austenitisch)
- - Aluminium
- - Tantal
Daneben wäre es auch denkbar, die Kathode aus einem Halbleiter, z. B. Silizi
um oder Germanium zu fertigen.
Die Kathode 4 kann beispielsweise in Form einer leitfähigen Büchse realisiert
werden, die innerhalb eines Plasmakammer-Grundkörpers angeordnet wird
und zumindest einen Teil der Innenwand der Plasmakammer 1 bildet. Würde
man eine vollständig geschlossene gut leitfähige Büchse innerhalb der Plasma
kammer 1 bei einer außenliegenden Hochfrequenzspule 3 einbauen, so wür
den in der Büchse Ströme induziert, die das elektrische Hochfrequenzfeld am
eindringen hindern. Es ist deshalb nötig, die Kathode 4 in Umfangsrichtung
der Plasmakammer 1, beispielsweise entlang der Spulenachse, mindestens
einmal zu unterbrechen, beispielsweise zu schlitzen, um Ströme in Umfangs
richtung zu vermeiden.
Des weiteren sollte der Zündvorgang berücksichtigt werden: über der Spule 3
liegt beim Leerlaufbetrieb - also wenn Strom in der Spule 3 fließt, aber kein
Plasma brennt - eine Wechselspannung von einigen hundert Volt an. Zur Zün
dung des Plasmas reichen die wenigen freien Elektronen aus, die im Arbeitsgas
bei thermischem Gleichgewicht vorhanden sind. Diese können durch die
Wechselspannung an der Spule 3 auf ausreichende Energie beschleunigt wer
den, um das Gas zu ionisieren. Dies erzeugt wiederum Sekundärelektronen,
die am Prozeß teilnehmen. Es entsteht eine Elekronenlawine, die letztlich zum
Plasma führt. Dieser Vorgang wird als kapazitive Zündung bezeichnet, da das
entscheidende elektrische Feld zwischen den Spulenenden anliegt und den
Charakter eines Kondensatorfeldes hat. Das induzierte Hochfrequenzfeld, von
dem bisher immer die Rede war, reicht unter Umständen nicht aus, um das
Plasma zu zünden. Für solche Fälle kann die Zündung des Plasmas mit Hilfe der
beschriebenen kapazitiven Zündung erfolgen. Das induzierte Hochfrequenz
feld kann dann für die Plasmaheizung nach erfolgter Zündung des Plamas ver
wendet werden.
Für den Fall einer kapazitiven Zündung darf die Kathode 4 das kapazitive e
lektrische Feld nicht abschirmen. Dazu sollte entweder die Unterbrechung in
Umfangsrichtung, beispielsweise ein axialer Spalt, in der Kathode 4 breit ge
nug sein, um ein teilweises Eindringen des elektrischen Feldes zu erlauben o
der die Kathode 4 muß zumindest an einem Ende der Plasmakammer 1 etwas
kürzer als die Spule 3 gestaltet werden, wie aus den Fig. 1 und 2 entnehm
bar.
Claims (7)
1. Induktiv gekoppelte Hochfrequenz-Elektronenquelle mit einer zumin
dest an einem ersten Ende offenen Plasmakammer (1), wobei die Gesamtflä
che der offenen Bereiche (5) der Plasmakammer (1) einen Flächenbetrag A0
einnimmt, sowie mit einem Gaseinlass (2) für ein zu ionisierendes Gas und ei
ner Hochfrequenzspule (3),
dadurch gekennzeichnet,
dass die Innenwand der Plasmakammer (1) zumindest teilweise durch leitfähi
ge Bereiche (4) gebildet wird, die mit einer Stromquelle (6) verbunden sind,
wobei die Gesamtfläche der leitfähigen Bereiche (4) einen Flächenbetrag Ac
einnimmt und das Verhältnis der Flächenbeträge A0 und Ac maximal
beträgt mit
m0 Masse eines Ions des zu ionisierenden Gases,
me Masse eines Elektrons, und
e Eulersche Zahl.
beträgt mit
m0 Masse eines Ions des zu ionisierenden Gases,
me Masse eines Elektrons, und
e Eulersche Zahl.
2. Elektronenquelle nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass
die leitfähigen Bereiche (4) mindestens einmal derart unterbrochen sind, dass
Ströme in den leitfähigen Bereichen (4) senkrecht zur Richtung des Magnet
feldes der Hochfrequenzspule (3), welches die Plasmakammer (1) durchdringt,
verhindert werden.
3. Elektronenquelle nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass
die leitfähigen Bereiche (4) in Umfangsrichtung der Plasmakammer (1) min
destens einmal unterbrochen sind.
4. Elektronenquelle nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass
die leitfähigen Bereiche (4) der Plasmakammer (1) eine leitende Büchse bilden,
welche in Umfangsrichtung der Plasmakammer (1) mindestens eine Unterbre
chung aufweist, die sich im wesentlichen in Längsrichtung der Plasmakammer
(1) erstreckt.
5. Elektronenquelle nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch ge
kennzeichnet, dass die leitfähigen Bereiche (4) zumindest im Bereich eines
der Enden der Plasmakammer (1) in Längsrichtung der Plasmakammer (1) eine
geringere Ausdehnung aufweisen als die Hochfrequenzspule (3).
6. Elektronenquelle nach einem Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekenn
zeichnet, dass die leitfähigen Bereiche aus einem der metallischen Werk
stoffe der Gruppe Titan, Stahl, Aluminium, Tantal bestehen.
7. Elektronenquelle nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch ge
kennzeichnet, dass die leitfähigen Bereiche aus einem Halbleiter, insbeson
dere aus Silizium oder Germanium, bestehen.
Priority Applications (6)
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|---|---|---|---|
| DE10058326A DE10058326C1 (de) | 2000-11-24 | 2000-11-24 | Induktiv gekoppelte Hochfrequenz-Elektronenquelle mit reduziertem Leistungsbedarf durch elektrostatischen Einschluss von Elektronen |
| US09/988,818 US6661165B2 (en) | 2000-11-24 | 2001-11-20 | Inductively coupled high-frequency electron source with a reduced power requirement as a result of an electrostatic inclusion of electrons |
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