[go: up one dir, main page]

DE10029240A1 - Halbleiterspeicher mit Redundanzbeurteilungsschaltung - Google Patents

Halbleiterspeicher mit Redundanzbeurteilungsschaltung

Info

Publication number
DE10029240A1
DE10029240A1 DE10029240A DE10029240A DE10029240A1 DE 10029240 A1 DE10029240 A1 DE 10029240A1 DE 10029240 A DE10029240 A DE 10029240A DE 10029240 A DE10029240 A DE 10029240A DE 10029240 A1 DE10029240 A1 DE 10029240A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
redundancy
address
normal
signal
decoder
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE10029240A
Other languages
English (en)
Inventor
Masahiro Shibuya
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Micron Memory Japan Ltd
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Publication of DE10029240A1 publication Critical patent/DE10029240A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/70Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring
    • G11C29/78Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices
    • G11C29/84Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices with improved access time or stability
    • G11C29/842Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices with improved access time or stability by introducing a delay in a signal path
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/70Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring
    • G11C29/78Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices
    • G11C29/84Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices with improved access time or stability
    • G11C29/844Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices with improved access time or stability by splitting the decoders in stages

Landscapes

  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
  • Dram (AREA)

Abstract

In einem Halbleiterspeicher, der eine Redundanzschaltung hat, wird, wenn eine defekte Zelle durch eine Redundanzzelle ersetzt wird, die Aktivierung einer Normalwortleitung solange verzögert, bis entschieden ist, ob eine Redundanzwortleitung oder eine Normalwortleitung zu aktivieren ist. Der Halbleiterspeicher hat Adressvordekodierer, die eine Wahl und ein Treiben einer Normalwortleitung freigeben, und eine Redundanzsteuerschaltung zum Entscheiden, ob eine Redundanzwortleitung aktiviert werden sollte. Die Adressvordekodierer und die Redundanzsteuerschaltung werden unabhängig voneinander gesteuert. Ungeachtet dessen, ob eine Redundanzwortleitung verwendet wird, kann eine Normalwortleitung früher gesteuert werden. Daraus folgt, dass die Aktion des gesamten Halbleiterspeichers beschleunigt werden kann.

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft einen Halbleiterspeicher und insbesondere einen Halbleiterspeicher mit einer Redun­ danzschaltung.
Eine Redundanzschaltung wird dazu verwendet, eine defekte Zelle zu ersetzen, die in einem Speicher enthalten ist, oder insbesondere bei einem dynamischen RAM mit einer Re­ dundanzzelle.
Um die Errichtung eines Multiwort-Zustandes zu verhindern, bei welchem sowohl eine normale Wortleitung als auch eine Redundanzwortleitung während einer derartigen Ersetzung ei­ ner defekten Zelle aktiviert sind, wird die Aktivierung ei­ ner normalen Wortleitung solange verzögert bis entschieden ist, welche Redundanzwortleitung und normale Wortleitung aktiviert werden sollten. In den zurückliegenden Jahren wurde gefordert, ein Zeitintervall vom Zeitpunkt des Zufüh­ rens einer Adresse bis zu dem Zeitpunkt, da in der Spei­ cherzelle gespeicherte Daten basierend auf der Adresse aus­ gelesen werden, zu verkürzen.
Fig. 8 ist ein Schaltbild, das ein Beispiel des zugehörigen Standes der Technik zeigt. Fig. 9 ist ein Zeitplan, der die Signalformen der in dem Schaltkreis erzeugten Signale zeigt.
Als Erstes werden die externen Adresssignale A0 bis Aj in den Zeilenadresspuffern 110 gespeichert. Die Zeilenadress­ puffer 110 erfassen die externen Adresssignale A0 bis Aj an der ansteigenden Kante eines externen Adresshaltesignals ECLK. Zeilenadresssignale XA0 bis XAj, die an den Zeilen­ adresspuffern 110 ausgegeben werden, werden an eine Adress­ beurteilungsschaltung 130 und an Adressvordekodierer 120 angelegt. Die Adressbeurteilungsschaltung 130 vergleicht die Zeilenadresssignale XA0 bis XAj mit einer vorab einge­ stellten Adresse in Antwort auf ein Redundanzhaltesignal. Wenn die Zeilenadresssignale XA0 bis XAj mit den vorab ein­ gestellten Adressen übereinstimmen, bleibt ein Redundanzbe­ urteilungssignal AC aktiv (in der Fig. 9 die durchgezogene Linie bei AC). Wenn die Zeilenadresssignale XA0 bis XAj nicht mit der vorab eingestellten Adresse übereinstimmen, wird das Redundanzbeurteilungssignal AC inaktiv (in der Fig. 9 die gestrichelte Linie bei AC). Eine Redundanzsteu­ erschaltung 140 liest das Redundanzbeurteilungssignal AC an der ansteigenden Kante eines Zeilenadresshaltesignals RCLK', nachdem die Adressbeurteilung beendet worden ist, und beurteilt dann, ob eine Redundanzwortleitung aktiviert werden sollte. Zu diesem Zeitpunkt erfasst ein Adressvorde­ kodierer 120 Signale, die aus der Vordekodierung der Zei­ lenadresssignale XA0 bis XAj resultieren und gibt die vor­ dekodierten Adresssignale PXA0 bis PXAk an einen normalen Wortdekodierer 160. Basierend auf einem redundanten Wort­ freigabesignal RDC und einem normalen Wortfreigabesignal XDES, die Ausgangssignale der Redundanzsteuerschaltung 140 sind, wird entweder eine normale Wortleitung oder eine re­ dundante Wortleitung aktiviert.
Gemäß dem in der Fig. 8 und 9 gezeigten Stand der Technik werden sowohl der Normalwortdekodierer 160 als auch der Redundanzwortdekodierer 150 ungewählt gehalten bis zu dem Zeitpunkt, zu welchem ermittelt worden ist, welche der Nor­ malwortleitungen und Redundanzwortleitungen aktiviert wer­ den sollte, um das Errichten eines Multiwort-Zustandes zu verhindern. Nachdem die Beurteilung durchgeführt worden ist, wird das Zeilenadresshaltesignal RCLK', das ein verzö­ gertes Zeilenadresshaltesignal ist, hochgetrieben und es wird entweder der Normalwortdekodierer 160 oder der Redun­ danzwortdekodierer 150 gewählt. Beispielsweise erzeugt die Redundanzsteuerschaltung als Erstes das Signal XDES auf ei­ nem niedrigen logischen Pegel. Dann ändert die Redundanz­ steuerschaltung den Pegel des Signals XDES vom niederen lo­ gischen Pegel auf einen hohen logischen Pegel, wenn die Redundanzsteuerschaltung die ansteigende Flanke des Signals RCLK' empfängt und das Signal AC anzeigt, dass eine adres­ sierte Speicherzelle keine defekte Zelle ist. Andererseits wählt der Normalwortleitungsdekodierer überhaupt keine nor­ male Wortleitung, wenn der Normalwortleitungsdekodierer das Signal XDES mit niederem logischen Pegel empfängt. Der Nor­ malwortleitungsdekodierer wählt eine der Normalwortleitun­ gen in Antwort auf die Adresse PXA0~PXAk, nachdem der Pegel des Signals XDES von dem niederen logischen Pegel auf den hohen logischen Pegel umgeschaltet hat. Die Zeit, die für das Aktivieren einer Normalwortleitung erforderlich ist, ist daher abhängig von dem Normalwortfreigabesignal XDES, das das Ergebnis der Beurteilung anzeigt. Die Anzahl der Normalwortleitungen ist jedoch größer als die Anzahl der Redundanzwortleitungen. Die Anzahl der Stufen der Logik­ schaltung, die in dem Normalwortdekodierer 160 enthalten sind, ist sehr viel größer als diejenige, die in dem Redun­ danzwortdekodierer 150 enthalten sind. Wie in der Fig. 9 gezeigt, wird für das Aktivieren einer Normalwortleitung viel Zeit benötigt. Ein schneller Zugriff auf eine Spei­ cherzelle ist daher in der Vergangenheit unmöglich gewesen.
Eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, einen Halb­ leiterspeicher mit einer Redundanzschaltung zu schaffen, bei dem sowohl eine Normalwortleitung früher aktiviert wer­ den kann als auch eine Multiwort-Bewegung verhindert werden kann.
Eine weitere Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, ei­ nen Halbleiterspeicher zu schaffen, bei dem die Zugriffsge­ schwindigkeit verbessert ist.
Gemäß der vorliegenden Erfindung ist ein Halbleiterspeicher vorgesehen, bestehend aus Normalspeicherzellen, Redundanz­ speicherzellen, Normalwortleitungen, Redundanzwortleitun­ gen, einer Normalwortleitungs-Wähl-/Treibvorrichtung, einer Adressbeurteilungsvorrichtung und einer Steuerungsvorrich­ tung. Die Redundanzspeicherzellen sind dazu bestimmt, einem Defekt abzuhelfen, der in einer Normalspeicherzelle auf­ tritt. Die Normalspeicherzellen werden über die Normalwort­ leitungen gewählt. Die Redundanzspeicherzellen werden über die Redundanzwortleitungen gewählt. Die Normalwortleitungs- Wähl-/Treibvorrichtung wählt und treibt eine Normalwortlei­ tung in Antwort auf extern zugeleitete Adresssignale an. Die Adressbeurteilungsvorrichtung beurteilt, ob die Adress­ signale die Adresse einer defekten Normalspeicherzelle re­ präsentieren. Basierend auf den Ergebnissen des Beurtei­ lungsausgangs an der Adressbeurteilungsvorrichtung akti­ viert die Steuerungsvorrichtung eine Normalwortleitung oder eine Redundanzwortleitung und inaktiviert die jeweils ande­ re Wortleitung. In einem Anfangsstatus ist, ungeachtet der Ergebnisse des Beurteilungsausgangs der Adressbeurteilungs­ vorrichtung, eine Normalwortleitung aktiviert und eine Re­ dundanzwortleitung inaktiviert. Wenn die Beurteilungsvor­ richtung entscheidet, dass die Adresssignale die defekte Adresse repräsentieren, inaktiviert die Steuerungsvorrich­ tung die Normalwortleitung und aktiviert die Redundanzwort­ leitung.
Gemäß der vorliegenden Erfindung ist ein Halbleiterspeicher geschaffen mit Normalspeicherzellen, Redundanzspeicherzel­ len, einem Normalwortdekodierer und einem Redundanzwortde­ kodierer. Die Redundanzspeicherzellen sind dazu bestimmt, einem Defekt abzuhelfen, der in einer Normalspeicherzelle auftritt. Der Normalwortdekodierer wählt und treibt eine Normalspeicherzelle. Der Redundanzwortdekodierer wählt und treibt eine Redundanzspeicherzelle. Der Halbleiterspeicher hat weiterhin Adressvordekodierer, eine Adressbeurteilungs­ schaltung und eine Redundanzsteuerschaltung. Die Adressvor­ dekodierer erfassen Zeilenadresssignale, die synchron mit einem ersten Taktsignal von außen zugeführt werden, deko­ diert die Signale und überträgt die resultierenden vordeko­ dierten Signale auf den Normalwortdekodierer. Die Adressbe­ urteilungsschaltung entscheidet, ob die Zeilenadresssignale die Adresse einer defekten Normalspeicherzelle repräsentie­ ren. Die Redundanzsteuerschaltung erfasst die Ergebnisse des Beurteilungsausgangs von der Adressbeurteilungsschal­ tung synchron mit einem zweiten Taktsignal und überträgt die Ergebnisse der Beurteilung auf den Redundanzwortdeko­ dierer. Wenn die Ergebnisse der Beurteilung zeigen, dass die Adresssignale die defekte Adresse repräsentieren, gibt die Redundanzsteuerschaltung ein Steuersignal aus, das dazu verwendet wird, den Normalwortdekodierer zu inaktivieren. Wenn die Ergebnisse der Beurteilung zeigen, dass die Adresssignale nicht die defekte Adresse repräsentieren, gibt die Redundanzsteuerschaltung ein Steuersignal aus, das dazu verwendet wird, den Normalwortdekodierer zu aktivie­ ren.
In diesem Fall macht das erste Taktsignal einen Übergang, bevor die Ergebnisse der Beurteilung an der Adressbeurtei­ lungsschaltung ausgegeben werden. Das zweite Taktsignal macht einen Übergang, bevor die vordekodierten Signale auf den Normalwortdekodierer übertragen werden.
Das zweite Taktsignal wird durch Verzögern des ersten Takt­ signals um ein vorbestimmtes Zeitintervall erzeugt.
Darüber hinaus ist gemäß der vorliegenden Erfindung ein Halbleiterspeicher geschaffen, bestehend aus Normalspei­ cherzellen, Redundanzspeicherzellen, einem Normalwortdeko­ dierer, einem Redundanzwortdekodierer, einer Adressbeurtei­ lungsschaltung, einer Redundanzsteuerschaltung und einer Wählvorrichtung. Die Redundanzspeicherzellen sind dazu be­ stimmt, einem Defekt abzuhelfen, der in einer Normalspei­ cherzelle auftritt. Der Normalwortdekodierer treibt eine Normalwortleitung, über welche eine Normalspeicherzelle ge­ wählt wird. Der Redundanzwortdekodierer treibt eine Redun­ danzwortleitung, über welche eine Redundanzspeicherzelle gewählt wird. Die Adressbeurteilungsschaltung entscheidet, ob die eingegebenen Adresssignale die Adresse einer defek­ ten Normalspeicherzelle repräsentieren. Die Redundanzsteu­ erschaltung aktiviert eine Normalspeicherzelle oder eine Redundanzspeicherzelle und inaktiviert die jeweils andere Speicherzelle gemäß den Beurteilungsergebnissen, die von der Adressbeurteilungsschaltung ausgegeben werden. Die Re­ dundanzsteuerschaltung gibt ein erstes Steuersignal aus, das dazu verwendet wird, die Normalspeicherzelle zu steu­ ern, und gibt ein zweites Steuersignal aus, das dazu ver­ wendet wird, die Redundanzspeicherzelle zu steuern. Die Wählvorrichtung wählt, basierend auf dem ersten Steuersig­ nal, ob ein Leseverstärker zum Verstärken der Daten, die aus der Normalspeicherzelle ausgelesen worden sind, akti­ viert werden sollte.
Es zeigt:
Fig. 1 den Schaltungsaufbau gemäß einer ersten Ausführungs­ form der vorliegenden Erfindung;
Fig. 2 eine Adressbeurteilungsschaltung, die bei der ersten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung verwendet wird;
Fig. 3 eine Redundanzsteuerschaltung, die bei der ersten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung verwendet wird;
Fig. 4 einen Zeitplan mit den Signalformen, um Aktionen an­ zugeben, die gemäß der ersten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung durchgeführt werden;
Fig. 5 einen Schaltungsaufbau gemäß der zweiten Ausfüh­ rungsform der vorliegenden Erfindung;
Fig. 6 einen Schaltungsaufbau gemäß der dritten Ausfüh­ rungsform der vorliegenden Erfindung;
Fig. 7 einen Zeitplan der Signalformen, um die Aktionen an­ zuzeigen, die bei der dritten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung durchgeführt werden;
Fig. 8 den Schaltungsaufbau gemäß dem Stand der Technik zur vorliegenden Erfindung; und
Fig. 9 einen Zeitplan der Signalformen, um die Aktionen an­ zuzeigen, die bei dem Stand der Technik durchgeführt werden.
Die bevorzugten Ausführungsformen der vorliegenden Erfin­ dung werden im Einzelnen im Folgenden unter Bezugnahme auf die begleitenden Figuren beschrieben:
Fig. 1 zeigt den Schaltungsaufbau gemäß der ersten Ausfüh­ rungsform der vorliegenden Erfindung. Ein Halbleiterspei­ cher gemäß der vorliegenden Erfindung besteht aus Zeilen­ adresspuffern 10, Adressvordekodierern 20, einer Adressbe­ urteilungsschaltung 30, einer Redundanzsteuerschaltung 40, einem Redundanzwortdekodierer 50 und einem Normalwortdeko­ dierer 60.
Die Anzahl der Zeilenadresspuffer 10 ist die gleiche wie die Anzahl der externen Adresssignale, die von außen zuge­ führt werden. Die Zeilenadresspuffer 10 erfassen externe Adresssignale A0 bis Aj an der Anstiegsflanke eines exter­ nen Adresshaltesignals ECLK. Die Zeilenadresssignale XA0 bis XAj, die an den Zeilenadresspuffern ausgegeben werden, werden auf die Adressbeurteilungsschaltung 30 und die Adressvordekodierer 20 übertragen.
Die Adressvordekodierer 20 dekodieren die Anzahl von Zei­ lenadresssignalen XA0 bis XAj jeweils vor und erfassen die resultierenden vordekodierten Signale an der Anstiegsflanke eines Zeilenadresshaltesignals RCLK. Die vordekodierten Adresssignale PXA0 bis PXAk, die an den Adressvordekodie­ rern 20 ausgegeben sind, werden auf den Normalwortdekodie­ rer 60 übertragen.
Die Adressbeurteilungsschaltung 30 hat irgendeine Anzahl von Stufen. Beispielsweise, und wie in der Fig. 2 gezeigt, können die Adressen von defekten Normalspeicherzellen in der Adressbeurteilungsschaltung 30 unter Verwendung von Si­ cherungen oder dergleichen vorab eingestellt sein. Eine Adresse, die durch die Zeilenadresssignale XA0 bis XAj re­ präsentiert ist, wird mit den vorab eingestellten Adressen synchron mit einem Redundanz-Adresshaltesignal PXR vergli­ chen. Die Ergebnisse des Vergleichs werden als Redundanzbe­ urteilungssignale AC0 bis AC3 auf die Redundanzsteuerschal­ tung 40 übertragen. Wenn beispielsweise die Ergebnisse der Redundanzbeurteilung zeigen, dass die Adresse mit irgendei­ ner der vorab eingestellten Adressen übereinstimmt, wird ein Redundanzbeurteilungssignal hochgetrieben und auf die Redundanzsteuerschaltung übertragen. Wenn die Adresse mit den vorab eingestellten Adressen nicht übereinstimmt, wird das Redundanzbeurteilungssignal nach unten getrieben.
Die Redundanzsteuerschaltung 40 erfasst die Redundanzbeur­ teilungssignale AC0 bis AC3 an der Anstiegskante eines Re­ dundanzbeurteilungshaltesignals CCLK. Die Redundanzsteuer­ schaltung 40 entscheidet, ob eine Redundanzwortleitung ak­ tiviert werden sollte. Die Redundanzwortfreigabesignale RDC0 und RDC1 werden bezogen auf die Redundanzbeurteilungs­ signale AC0 bis AC3 ausgegeben und auf den Redundanzwortde­ kodierer 50 übertragen. Ein Normalwortsperrsignal XDES, das ein weiterer Ausgang der Redundanzsteuerschaltung ist, wird auf den Normalwortdekodierer 60 übertragen. Fig. 3 zeigt den Schaltungsaufbau der Redundanzsteuerschaltung 40, wobei Signale Red.Word0 und Red.Word1 Subwörter repräsentieren, die nicht gezeigt sind. Die Redundanzbeurteilungssignale AC0 bis AC3 werden durch eine NOR-Schaltung 41 an der An­ stiegskante des Redundanzbeurteilungshaltesignals erfasst. Die Redundanzwortfreigabesignale RDC0 und RDC1 werden aus­ gegeben. Die anderen Wortleitungen werden gemäß den übrigen Redundanzbeurteilungssignalen AC0 bis AC3 gewählt und ge­ trieben.
Der Normalwortdekodierer 60 wird mit den vordekodierten Adresssignalen PXA0 bis PXAk und dem Normalwortsperrsignal XDES gesteuert. Der Normalwortdekodierer 60 treibt eine Normalwortleitung, die einer eingegebenen externen Adresse zugeordnet ist. Der Normalwortdekodierer 60 ist beispiels­ weise realisiert mit einer UND-Schaltung 61, die mehrere Eingangsanschlüsse hat. Wenn das Normalwortsperrsignal XDES hoch ist, wenn die vordekodierten Adresssignale PXA0 bis PXAk eine vorbestimmte Kombination von 1en und 0en reprä­ sentieren, aktiviert der Normalwortdekodierer 60 eine vor­ bestimmte Normalwortleitung. Fig. 1 zeigt der Kürze halber nur eine Normalwortleitung. Im Einzelnen sind am Normal­ wortdekodierer 60 viele vordekodierte Adresssignale PXA0 bis PXAk eingegeben und er wählt eine von vielen Normal­ wortleitungen. Der Normalwortdekodierer 60 hat daher eine Vielzahl von Logik-Gate-Stufen, um das eingegebene vordeko­ dierte Adresssignal (nicht dargestellt) zu dekodieren. Bei­ spielsweise wird das Signal XDES der Endstufe der Logik- Gate-Stufen eingegeben. Der Ausgang der Endstufe wird durch das Signal XDES auf hohem Logikpegel zugelassen. Die End­ stufe wählt solange keine der Wortleitungen, bis die End­ stufe das Signal XDES auf hohem Logikpegel empfängt. Ande­ rerseits führen die Logik-Gate-Stufen mit Ausnahme der End­ stufen ihre Dekodierung ungeachtet des Signals XDES durch. Daher kann der Normalwortdekodierer 60 eine der Normalwort­ leitungen wählen, sobald das Signal XDES mit hohem Logikpe­ gel empfangen wird.
Der Redundanzwortdekodierer 50 wird mit den Steuersignalen RDC0 und RDC1 gesteuert, die an der Redundanzsteuerschal­ tung 40 ausgegeben werden. Der Redundanzwortdekodierer wählt und treibt die Redundanzwortleitungen, die mit den Adressen angegeben sind, welche in der Adressbeurteilungs­ schaltung 30 unter Verwendung der Redundanzwortsignale Red.Word0 und Red.Word1 gesetzt sind. Für die Verwendung einer Redundanzspeicherzelle wird das Normalwortsperrsignal XDES niedrig getrieben und die Normalwortdekodierer 60 ist inaktiviert.
Aktionen, die gemäß der vorliegenden Ausführungsform durch­ zuführen sind, werden anhand der Fig. 1, die den Schal­ tungsaufbau zeigt, und der Fig. 4, die ein Zeitplan ist, beschrieben.
Die Zeilenadresspuffer 10 erfassen die externen Adresssig­ nale A0 bis Aj an der Anstiegsflanke des externen Adress­ haltesignals ECLK und geben diese als Zeilenadresssignale XA0 bis XAj an die Adressbeurteilungsschaltung 30 und die Adressvordekodierer 20 aus.
Die Adressvordekodierer 20 dekodieren die Signale XA0 bis XAj vor, erfassen die resultierenden Signale an der An­ stiegsflanke des Zeilenadresshaltesignals RCLK und geben die vordekodierten Adresssignale PXA0 bis PXAk aus. Anzu­ merken ist, dass das Adresshaltesignal RCLK vor dem später beschriebenen Redundanzbeurteilungshaltesignal CCLK bestä­ tigt wird.
Die Adressbeurteilungsschaltung 30 vergleicht die Adresse, die durch die Zeilenadresssignale XA0 bis XAj repräsentiert ist, mit den Adressen der defekten Normalspeicherzellen, die beispielsweise mit Sicherungen vorab eingestellt sind, synchron mit dem Redundanzhaltesignal PXR. Wenn die reprä­ sentierte Adresse mit irgendeiner der vorab eingestellten Adressen übereinstimmt, bleibt ein Redundanzbeurteilungs­ signal AC hoch (in der Fig. 4 die gestrichelte Linie von AC). Wenn die repräsentierte Adresse nicht mit den vorab eingestellten Adressen übereinstimmt, wird das Redundanzbe­ urteilungssignal AC nach unten getrieben (die durchgezogene Linie für AC in Fig. 4).
Die Redundanzsteuerschaltung 40 gibt das Redundanzwortfrei­ gabesignal RDC aus, das anfänglich niedrig ist, und das Normalwortsperrsignal XDES aus, das anfänglich hoch ist. Die Redundanzsteuerschaltung 40 liest das Redundanzbeurtei­ lungssignal AC an der Führungskante des Redundanzbeurtei­ lungshaltesignals CCLK und entscheidet, ob eine Redundanz­ speicherzelle verwendet werden sollte. Beispielsweise wird für die Verwendung einer Redundanzspeicherzelle das Redun­ danzwortfreigabesignal RDC hochgetrieben (gestrichelte Li­ nie für RDC in Fig. 4) und das Normalwortsperrsignal XDES wird niedrig getrieben (gestrichelte Linie für XDES in Fig. 4). Zu diesem Zeitpunkt ist das Adresshaltesignal RCLK be­ reits bestätigt worden. Die Adressvordekodierer 20 haben daher bereits die vordekodierten Adresssignale PXA0 bis PXAk an den Normalwortdekodierer angelegt.
Da das Normalwortsperrsignal XDES anfänglich hoch ist (durchgezogene Linie für XDES in Fig. 4), wählt und treibt der Normalwortdekodierer 60 eine Normalwortleitung gemäß der vordekodierten Adresssignale PXA0 bis PXAk, ohne dass er auf das Normalwortsperrsignal XDES (durchgezogene Linie für Normalwort in Fig. 4) wartet. Wenn eine Redundanzwort­ zelle verwendet wird, wird das Normalwortsperrsignal XDES niedrig getrieben (gestrichelte Linie für XDES in Fig. 4). Ungeachtet der vordekodierten Adresssignale PXA0 bis PXAk wird keine Normalwortleitung gewählt und getrieben und ein Normalwortsignal bleibt niedrig (gestrichelte Linie unter Normalwort in Fig. 4).
Wenn das Redundanzwortfreigabesignal RDC, das an der Redun­ danzbeurteilungsschaltung 40 ausgegeben worden ist, hoch ist (gestrichelte Linie für RDC in Fig. 4), wählt und treibt der Redundanzwortdekodierer 50 eine Redundanzwort­ leitung (gestrichelte Linie unter Red.Word in Fig. 4). Wenn das Redundanzwortfreigabesignal RDC niedrig ist (durchgezo­ gene Linie für RDC in Fig. 4), wird keine Redundanzwortlei­ tung getrieben und ein Redundanzwortsignal bleibt niedrig (durchgezogene Linie für Red.Word in Fig. 4).
Wie vorstehend angegeben, ist die Anzahl der Normalwortlei­ tungen größer als die Anzahl der Redundanzwortleitungen. Die Anzahl der Stufen der Logikschaltungen, die in dem Nor­ malwortdekodierer 60 enthalten sind, ist sehr viel größer als diejenige, die in dem Redundanzwortdekodierer 50 ent­ halten sind. Es besteht eine Zeitdifferenz Δt0 zwischen der Zeitspanne vom Zeitpunkt, zu dem das Redundanzwortfreigabe­ signal RDC bestätigt worden ist, bis zu dem Zeitpunkt, da eine Redundanzwortleitung aktiviert worden ist, und der Zeitspanne vom Zeitpunkt, zu dem das Normalwortsperrsignal XDES bestätigt worden ist und die vorkodierten Adresssigna­ le PXA0 bis PXAk eine vorbestimmte Kombination von 1en und 0en repräsentieren, und dem Zeitpunkt, zu dem eine normale Wortleitung aktiviert ist. Wenn die Zeitdifferenz im We­ sentlichen mit einer Zeitverzögerung Δt übereinstimmt, um welche das Redundanzbeurteilungshaltesignal CCLK zum Zei­ lenadresshaltesignal RCLK nachläuft, wird eine Verzögerung bei der Wahl, die durch den Normalwortdekodierer 60 verur­ sacht wird, ausgeglichen.
Gemäß der vorliegenden Erfindung werden die Adressvordeko­ dierer 20 und die Redundanzsteuerschaltung 40 voneinander unabhängig gesteuert. Das Zeilenadresshaltesignal RCLK wird früher hochgetrieben, und zwar ungeachtet dessen, ob das Redundanzbeurteilungssignal AC hoch oder niedrig getrieben ist. Nur wenn eine Redundanzspeicherzelle verwendet wird, wird es gehalten, um das Normalwortsignal auf einen hohen Pegel zu bringen. Eine Normalwortleitung kann schneller ak­ tiviert werden, als dies herkömmlicherweise der Fall ist. Eine Normalwortleitung, die unter Verwendung von vielen Lo­ gikschaltungen, die in dem Normalwortdekodierer enthalten sind, aktiviert werden soll, wird nämlich früher gesteuert. Schließlich kann die Arbeit des Halbleiterspeichers be­ schleunigt werden.
Gemäß der vorliegenden Erfindung kann der Halbleiterspei­ cher von einer Bauart mit aufgeteilten Dekodierern sein. In diesem Fall werden, nachdem eine Normalwortleitung in Über­ einstimmung mit den vordekodierten Adresssignalen PXA0 bis PXAk gewählt worden ist, Wählsignale entsprechend der Bits an der niedrigsten Stelle der Adresssignale (beispielsweise XA0 und XA1) gewählt und getrieben. Eine Subwortleitung, die an eine Speicherzelle angeschlossen ist, wird gemäß der Normalwortleitung und der Wählsignale getrieben. Wenn die­ ses aufgeteilte Dekodierverfahren angewendet wird, ist eine gewisse Zeit Δt1 für das tatsächliche Treiben einer Sub­ wortleitung nach Aktivieren einer Normalwortleitung oder Redundanzwortleitung erforderlich. Wenn die Zeitverzögerung ΔT, um welche das Redundanzbeurteilungshaltesignal CCLK hinter dem Zeilenadresshaltesignal RCLK nachläuft, im We­ sentlichen mit der Summe von Δt0 und Δt1 übereinstimmt, ist eine Zugriffsgeschwindigkeit weiter erhöht.
Fig. 5 zeigt einen Schaltungsaufbau gemäß der zweiten Aus­ führungsform der vorliegenden Erfindung, der durch ein Nor­ malwortsteuersignal und ein Redundanzwortsteuersignal ge­ kennzeichnet ist. In der Fig. 5 sind Komponenten, die mit jenen der ersten Ausführungsform identisch sind, die glei­ chen Bezugsziffern zugeordnet. Die Beschreibung der Kompo­ nenten wird daher weggelassen.
Gemäß der zweiten Ausführungsform der vorliegenden Erfin­ dung wird eine Verzögerungsschaltung 70 verwendet, um ein Signal RCLK' zu erzeugen, das um Δt gegenüber dem Zeilen­ adresshaltesignal RCLK nachläuft. Das Signal RCLK' substi­ tuiert das Redundanzbeurteilungshaltesignal CCLK. Daraus folgt, dass die gleichen Vorteile wie jene, die bei der ersten Ausführungsform geschaffen werden, geschaffen werden können, ohne dass die Anzahl der Schaltungen irgendwie er­ höht wird.
Fig. 6 zeigt einen Schaltungsaufbau gemäß der dritten Aus­ führungsform der vorliegenden Erfindung und Fig. 7 ist ein Zeitplan, der den Signalverlauf zeigt. Gemäß der vorliegen­ den Ausführungsform besteht ein Halbleiterspeicher aus Zei­ lenadresspuffern 10, Adressvordekodierern 20, einer Adress­ beurteilungsschaltung 30, einer Redundanzsteuerschaltung 40, einem Redundanzwortdekodierer 50, einem Normalwortdeko­ dierer 60 und einer Zelltafelwählschaltung 80.
Die Zelltafelwählschaltung 80 treibt ein Feld von Lesever­ stärkern an, die den von außen zugeführten externen Adres­ sen A0 bis Aj zugeordnet sind. Die Zelltafelwählschaltung 80 ist beispielsweise realisiert mit einer UND-Schaltung 81, die die vordekodierten Adresssignale PXA0 bis PXAk ein­ gibt, einem Leseverstärkerfreigabesignal SE und einem Lese­ verstärkersperrsignal XDES. Die Zelltafelwählschaltung 80 überträgt ein Leseverstärkertreibsignal SAPN auf einen Le­ severstärker, um eine Normalspeicherzelle zu wählen und zu treiben. Das Leseverstärkertreibsignal SAPN, welches hoch­ geht, nachdem dies das Normalwortsignal tut, wird bestä­ tigt, um eine Aktivierung einer defekten Speicherzelle zu verhindern. Die Normalspeicherzellen und Redundanzspeicher­ zellen sind auf unterschiedlichen Tafeln ausgebildet. Eine Normalwortleitung kann daher früher getrieben werden, und zwar ungeachtet dessen, ob das Beurteilungssignal, welches die Verwendung einer Redundanzspeicherzelle betrifft, hoch oder niedrig getrieben wird. Anders ausgedrückt, wenn eine Redundanzspeicherzelle unbenutzt ist, werden Daten über eine bereits aktivierte Normalwortleitung gelesen. Gemäß der ersten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung inak­ tiviert der Normalwortdekodierer 60 eine Normalwortzelle, so dass eine Redundanzwortleitung verwendet wird. Das Sig­ nal, welches hochgeht, nachdem das Normalwortsignal hochge­ gangen ist, wird ungültig gemacht, wodurch die Aktivierung einer Normalwortleitung früher gesteuert wird.
Gemäß der vorliegenden Ausführungsform ist die Phase des Sperrsignals XDES zurück verschoben. Daraus folgt, dass ein Rand für irgendein anderes Signal leicht eingestellt werden kann. Selbst wenn die Bestätigung des Normalwortsperrsig­ nals XDES verzögert ist, ist es unnötig, die Aktivierung einer Normalwortleitung zu verzögern. Es ist daher zu er­ warten, dass die Aktion des Halbleiterspeichers weiter be­ schleunigt ist.
Wie bis hierher beschrieben, kann gemäß der vorliegenden Erfindung die Zeit, die für das Bringen eines Wortsignals, welches an eine bezeichnete Adresse angelegt wird, auf ei­ nen hohen Pegel verkürzt werden.
Dies ist deshalb möglich, weil eine Normalwortleitung unge­ achtet dessen, ob eine Redundanzwortleitung verwendet wird, früher gesteuert wird. Ein gewisses spezifisches Signal muss nicht abgewartet werden, bis entschieden ist, ob eine Normalwortleitung oder eine Redundanzwortleitung verwendet wird. Daraus folgt, dass die Zeit, die erforderlich ist, um ein Wortsignal, das an eine bezeichnete Adresse anzulegen ist, auf einen hohen Pegel zu bringen, verglichen mit einem herkömmlichen Halbleiterspeicher, um beispielsweise 2 ns verkürzt werden kann.
Obwohl diese Erfindung in Verbindung mit einer gewissen be­ vorzugten Ausführungsform beschrieben worden ist, ist klar zu ersehen, dass der von dieser Erfindung angegebene Gegen­ stand nicht auf diese spezifischen Ausführungsformen be­ grenzt ist. Im Gegenteil besteht die Intension, dass der Gegenstand der Erfindung alle Alternativen, Modifikationen und Äquivalente enthält, die als innerhalb des Schutzumfan­ ges der folgenden Patentansprüche angesehen werden können.

Claims (10)

1. Halbleiterspeichervorrichtung, mit:
einer Anzahl von Normalspeicherzellen;
einer Anzahl von Redundanzspeicherzellen;
einer Anzahl von Normalwortleitungen, die mit den Nor­ malspeicherzellen verbunden sind;
einer Anzahl von Redundanzwortleitungen, die mit den Redundanzspeicherzellen verbunden sind und die wenigstens eine erste Redundanzwortleitung umfassen;
einem Normalwortdekodierer zum Wählen und Treiben ei­ ner der Normalwortleitungen in Übereinstimmung mit externen Adresssignalen, die in Abhängigkeit von einem ersten Takt­ signal geschaffen sind;
einem Redundanzwortdekodierer zum Treiben der ersten Redundanzwortleitungen;
einer Adressbeurteilungsvorrichtung zum Beurteilen, ob die externen Adresssignale der Adresse einer defekten Nor­ malspeicherzelle entsprechen;
einer Redundanzsteuerschaltung, die an den Normalwort­ dekodierer und den Redundanzwortdekodierer angeschlossen ist;
wobei die Redundanzsteuerschaltung den Redundanzwort­ dekodierer aktiviert und den Normalwortdekodierer inakti­ viert in Antwort auf einen zweiten Takt, der sich von dem ersten Takt unterscheidet, wenn das externe Adresssignal der Adresse einer defekten Normalspeicherzelle entspricht.
2. Halbleiterspeichervorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das erste Taktsignal früher als das zweite Taktsignal aktiviert wird.
3. Halbleiterspeichervorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das zweite Taktsignal durch Verzögern des ersten Taktsignals um eine vorbestimmte Zeitspanne er­ zeugt wird.
4. Halbleiterspeichervorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Redundanzsteuerschaltung den Nor­ malwortdekodierer aktiv hält, bis der Redundanzwortdekodie­ rer gemäß dem Ergebnis der Adressbeurteilungsvorrichtung aktiviert ist.
5. Halbleiterspeichervorrichtung, mit:
einer Anzahl von Normalwortleitungen, die an Normal­ speicherzellen angeschlossen sind;
einer Anzahl von Redundanzwortleitungen, die an Redun­ danzspeicherzellen angeschlossen sind;
einem Zeilenadresspuffer, der mit externen Adresssig­ nalen gespeist wird;
einer Adressbeurteilungsschaltung, die an den Zeilen­ adresspuffer angeschlossen ist;
einem Adressvordekodierer, der an den Zeilenadresspuf­ fer angeschlossen ist und mit einem Zeilenadresssignal in Antwort auf ein erstes Taktsignal versorgt wird;
einer Redundanzsteuerschaltung, die an die Adressbeur­ teilungsschaltung angeschlossen ist und mit Ausgangssigna­ len der Adressbeurteilungsschaltung in Antwort auf ein zweites Taktsignal versehen wird;
einem Redundanzwortdekodierer, der an die Redundanz­ steuerschaltung angeschlossen ist und eine der Redundanz­ wortleitungen in Antwort auf ein Redundanzwortleitungsfrei­ gabesignal, das von der Redundanzsteuerschaltung erzeugt worden ist, treibt und
einem Normalwortdekodierer, der an die Adressvordeko­ dierer angeschlossen ist und eine der Normalwortleitungen in Antwort auf ein Normalwortleitungsfreigabesignal treibt, das an der Redundanzsteuerschaltung erzeugt worden ist,
wobei das erste Taktsignal früher als das zweite Takt­ signal aktiviert wird, wenn die Zeilenadresssignale defek­ ten Speicherzellen in der Normalspeicherzelle entsprechen,
wobei die Redundanzsteuerschaltung den Redundanzwortdeko­ dierer aktiviert und den Normalwortdekodierer inaktiviert.
6. Halbleiterspeichervorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Adressvordekodierer aktiviert wer­ den, bevor die Redundanzsteuerschaltung den Redundanzwort­ dekodierer und den Normalwortdekodierer setzt.
7. Halbleiterspeichervorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass das zweite Taktsignal mit einer vorbe­ stimmten Zeitverzögerung gegenüber der Aktivierung des ers­ ten Taktsignals aktiviert wird, wobei die vorbestimmte Zeitspanne von dem Zeitpunkt der Aktivierung des Adressvor­ dekodierers bis zum Anlegen des vordekodierten Adresssig­ nals an den Normalwortdekodierer dauert.
8. Halbleiterspeichervorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Redundanzsteuerschaltung eine An­ zahl von NOR-Schaltungen aufweist, die das Redundanzwort­ leitungsfreigabesignal in Antwort auf das zweite Taktsignal erzeugen, wobei die NOR-Schaltungen, die das Normalwortlei­ tungsfreigabesignal erzeugen, mit einer NAND-Schaltung ver­ bunden sind.
9. Halbleiterspeichervorrichtung, mit:
einer Anzahl von Normalwortleitungen, die an die Nor­ malspeicherzellen angeschlossen sind;
einer Anzahl von Redundanzwortleitungen, die an die Redundanzspeicherzellen angeschlossen sind;
einer Anzahl von Zeilenadresspuffern, die mit jedem der externen Adresssignale gespeist werden;
einer Adressbeurteilungsschaltung, die an die Zeilen­ adresspuffer angeschlossen ist;
einer Anzahl von Adressvordekodierern, die an jeden der Zeilenadresspuffer angeschlossen sind, und mit jedem der Zeilenadresssignale in Antwort auf ein erstes Taktsig­ nal gespeist werden;
einer Redundanzsteuerschaltung, die an die Adressbeur­ teilungsschaltung angeschlossen ist und mit Ausgangssigna­ len der Adressbeurteilungsschaltung in Antwort auf ein zweites Taktsignal gespeist wird;
einem Redundanzwortdekodierer, der an die Redundanz­ steuerschaltung angeschlossen ist und eine der Redundanz­ wortleitungen in Antwort auf ein Redundanzwortleitungsfrei­ gabesignal treibt, das von der Redundanzsteuerschaltung er­ zeugt worden ist;
einer Zelltafelwählschaltung, die mit den Adressvorde­ kodierern und der Redundanzsteuerschaltung verbunden ist, die mit einem Leseverstärkerfreigabesignal gespeist wird und ein Leseverstärkertreibsignal erzeugt; und
einem Normalwortdekodierer, der an die Adressvordeko­ dierer angeschlossen ist,
wobei das erste Taktsignal früher als das zweite Takt­ signal aktiviert wird.
10. Halbleiterspeicher, mit:
einem Adressdekodierer, der ein Adresssignal in Ant­ wort auf einen ersten Takt dekodiert, um ein dekodiertes Adresssignal zu erzeugen;
einer Redundanzsteuerschaltung, die auf ein Redundanz­ beurteilungssignal und ein zweites Taktsignal, das gegen­ über dem ersten Taktsignal unterschiedlich ist, antwortet, um ein Steuersignal zu erzeugen; und
einem Normalwortdekodierer, der auf das dekodierte Adresssignal und das Steuersignal antwortet, um eine der Anzahl von Normalwortleitungen zu treiben.
DE10029240A 1999-06-14 2000-06-14 Halbleiterspeicher mit Redundanzbeurteilungsschaltung Withdrawn DE10029240A1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16681199A JP3398686B2 (ja) 1999-06-14 1999-06-14 半導体記憶装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE10029240A1 true DE10029240A1 (de) 2001-01-11

Family

ID=15838116

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE10029240A Withdrawn DE10029240A1 (de) 1999-06-14 2000-06-14 Halbleiterspeicher mit Redundanzbeurteilungsschaltung

Country Status (5)

Country Link
US (1) US6269034B1 (de)
JP (1) JP3398686B2 (de)
KR (1) KR100376599B1 (de)
DE (1) DE10029240A1 (de)
TW (1) TW509949B (de)

Families Citing this family (42)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4607360B2 (ja) * 2001-03-22 2011-01-05 Okiセミコンダクタ株式会社 半導体記憶装置
JP2003217294A (ja) * 2001-11-16 2003-07-31 Fujitsu Ltd 半導体記憶装置、及び冗長判定方法
US9233696B2 (en) * 2006-03-20 2016-01-12 General Electric Company Trip optimizer method, system and computer software code for operating a railroad train to minimize wheel and track wear
US9733625B2 (en) 2006-03-20 2017-08-15 General Electric Company Trip optimization system and method for a train
US10569792B2 (en) 2006-03-20 2020-02-25 General Electric Company Vehicle control system and method
US10308265B2 (en) 2006-03-20 2019-06-04 Ge Global Sourcing Llc Vehicle control system and method
US8924049B2 (en) 2003-01-06 2014-12-30 General Electric Company System and method for controlling movement of vehicles
WO2004097841A1 (ja) * 2003-04-30 2004-11-11 Fujitsu Limited アクセスタイムを短くしたスペアセクタを有するフラッシュメモリ
JP3984209B2 (ja) 2003-07-31 2007-10-03 株式会社東芝 半導体記憶装置
US8768543B2 (en) 2006-03-20 2014-07-01 General Electric Company Method, system and computer software code for trip optimization with train/track database augmentation
US8249763B2 (en) 2006-03-20 2012-08-21 General Electric Company Method and computer software code for uncoupling power control of a distributed powered system from coupled power settings
US8370006B2 (en) 2006-03-20 2013-02-05 General Electric Company Method and apparatus for optimizing a train trip using signal information
US9527518B2 (en) 2006-03-20 2016-12-27 General Electric Company System, method and computer software code for controlling a powered system and operational information used in a mission by the powered system
US8398405B2 (en) 2006-03-20 2013-03-19 General Electric Company System, method, and computer software code for instructing an operator to control a powered system having an autonomous controller
US20080183490A1 (en) * 2006-03-20 2008-07-31 Martin William P Method and computer software code for implementing a revised mission plan for a powered system
US8370007B2 (en) * 2006-03-20 2013-02-05 General Electric Company Method and computer software code for determining when to permit a speed control system to control a powered system
US9201409B2 (en) 2006-03-20 2015-12-01 General Electric Company Fuel management system and method
US8295993B2 (en) 2006-03-20 2012-10-23 General Electric Company System, method, and computer software code for optimizing speed regulation of a remotely controlled powered system
US8788135B2 (en) 2006-03-20 2014-07-22 General Electric Company System, method, and computer software code for providing real time optimization of a mission plan for a powered system
US9156477B2 (en) 2006-03-20 2015-10-13 General Electric Company Control system and method for remotely isolating powered units in a vehicle system
US8473127B2 (en) 2006-03-20 2013-06-25 General Electric Company System, method and computer software code for optimizing train operations considering rail car parameters
US8630757B2 (en) * 2006-03-20 2014-01-14 General Electric Company System and method for optimizing parameters of multiple rail vehicles operating over multiple intersecting railroad networks
US8401720B2 (en) * 2006-03-20 2013-03-19 General Electric Company System, method, and computer software code for detecting a physical defect along a mission route
US20080201019A1 (en) * 2006-03-20 2008-08-21 Ajith Kuttannair Kumar Method and computer software code for optimized fuel efficiency emission output and mission performance of a powered system
US9266542B2 (en) * 2006-03-20 2016-02-23 General Electric Company System and method for optimized fuel efficiency and emission output of a diesel powered system
US8126601B2 (en) * 2006-03-20 2012-02-28 General Electric Company System and method for predicting a vehicle route using a route network database
US8290645B2 (en) 2006-03-20 2012-10-16 General Electric Company Method and computer software code for determining a mission plan for a powered system when a desired mission parameter appears unobtainable
US8998617B2 (en) 2006-03-20 2015-04-07 General Electric Company System, method, and computer software code for instructing an operator to control a powered system having an autonomous controller
US7974774B2 (en) * 2006-03-20 2011-07-05 General Electric Company Trip optimization system and method for a vehicle
US20080208401A1 (en) * 2006-03-20 2008-08-28 Ajith Kuttannair Kumar System, method, and computer software code for insuring continuous flow of information to an operator of a powered system
KR20080006113A (ko) * 2006-07-11 2008-01-16 삼성전자주식회사 노멀 섹션 워드 라인 단위로 결함 셀을 리페어 할 수 있는 리페어 장치 및 방법
US9037323B2 (en) 2006-12-01 2015-05-19 General Electric Company Method and apparatus for limiting in-train forces of a railroad train
US9580090B2 (en) 2006-12-01 2017-02-28 General Electric Company System, method, and computer readable medium for improving the handling of a powered system traveling along a route
US8229607B2 (en) * 2006-12-01 2012-07-24 General Electric Company System and method for determining a mismatch between a model for a powered system and the actual behavior of the powered system
US8180544B2 (en) * 2007-04-25 2012-05-15 General Electric Company System and method for optimizing a braking schedule of a powered system traveling along a route
US9120493B2 (en) 2007-04-30 2015-09-01 General Electric Company Method and apparatus for determining track features and controlling a railroad train responsive thereto
US8190312B2 (en) * 2008-03-13 2012-05-29 General Electric Company System and method for determining a quality of a location estimation of a powered system
US8965604B2 (en) 2008-03-13 2015-02-24 General Electric Company System and method for determining a quality value of a location estimation of a powered system
US8155811B2 (en) * 2008-12-29 2012-04-10 General Electric Company System and method for optimizing a path for a marine vessel through a waterway
US9834237B2 (en) 2012-11-21 2017-12-05 General Electric Company Route examining system and method
JP4901987B1 (ja) * 2010-09-14 2012-03-21 株式会社東芝 記憶装置、電子機器及び誤りデータの訂正方法
US9669851B2 (en) 2012-11-21 2017-06-06 General Electric Company Route examination system and method

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59203299A (ja) * 1983-05-06 1984-11-17 Nec Corp 冗長ビット付メモリ
KR100186277B1 (ko) * 1994-09-09 1999-05-15 사또오 후미오 반도체 메모리
KR0164806B1 (ko) * 1995-08-25 1999-02-01 김광호 반도체 메모리장치의 리던던시 디코더회로
KR100230393B1 (ko) * 1996-12-05 1999-11-15 윤종용 반도체 메모리장치

Also Published As

Publication number Publication date
TW509949B (en) 2002-11-11
KR100376599B1 (ko) 2003-03-17
JP3398686B2 (ja) 2003-04-21
US6269034B1 (en) 2001-07-31
KR20010007372A (ko) 2001-01-26
JP2000357395A (ja) 2000-12-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE10029240A1 (de) Halbleiterspeicher mit Redundanzbeurteilungsschaltung
DE4001223C2 (de)
DE69328639T2 (de) Halbleiterspeicheranordnung mit Ersatzspeicherzellen
DE60036813T2 (de) Schaltung und verfahren für ein multiplexredundanzschema in einer speicheranordnung
DE69621280T2 (de) Speichergerätschaltkreis und Verfahren zur gleichzeitigen Adressierung der Spalten einer Vielzahl von Banken einer Vielzahlbankspeicheranordnung
EP0527866B1 (de) Integrierter halbleiterspeicher mit paralleltestmöglichkeit und redundanzverfahren
DE69217761T2 (de) Lese- und Schreibschaltung für einen Speicher
DE102004048652A1 (de) Halbleiterspeicherbaustein und Verfahren zu dessen Herstellung
DE19612407A1 (de) Halbleiterspeichereinrichtung mit einer Redundanzzeile und einer Redundanzspalte, auf die vor einer Ersetzung zugegriffen werden kann
DE3534356C2 (de) Halbleiter-Speichervorrichtung
DE4101396A1 (de) Halbleiterspeichervorrichtung
DE69718896T2 (de) Halbleiterspeicheranordnung mit Redundanz
DE10252820A1 (de) Halbleiterspeichervorrichtung
DE69222743T2 (de) Speichereinrichtung und Verfahren zur Verwendung in einer Datenverarbeitungsanordnung
DE19915075C2 (de) Nichtflüchtiger ferroelektrischer Speicher
DE69324470T2 (de) Halbleiterspeicheranordnung
DE4312086A1 (de) Halbleiterspeichereinrichtung und Betriebsverfahren dafür
DE19962510B4 (de) Vorrichtung zum Erzeugen eines internen Befehlsignals und Verfahren hierfür
DE102004054968B4 (de) Verfahren zum Reparieren und zum Betreiben eines Speicherbauelements
EP1102168B1 (de) Integrierter Speicher mit Speicherzellen und Referenzzellen
DE4433504C2 (de) Halbleiterspeichervorrichtung
DE10335012A1 (de) Halbleiterspeicherbauelement mit mehreren Speicherfeldern und zugehöriges Datenverarbeitungsverfahren
DE10015370A1 (de) Halbleiterspeicherbauelement mit aktivierbaren und deaktivierbaren Wortleitungen
DE10038664B4 (de) Halbleiterspeicher mit Redundanz-Schaltung für Wortleitungen
DE19921258B4 (de) Ansteuerschaltung für einen nichtflüchtigen ferroelektrischen Speicher

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
8127 New person/name/address of the applicant

Owner name: NEC CORP., TOKIO/TOKYO, JP

Owner name: NEC ELECTRONICS CORP., KAWASAKI, KANAGAWA, JP

8127 New person/name/address of the applicant

Owner name: ELPIDA MEMORY, INC., TOKYO, JP

R119 Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee

Effective date: 20120103