DE10016453A1 - -Doppelhülse mit zwei Pressringen -InCircuit-Prüfadapter mit direkter Prüffederkontaktierung der bestückten Leiterplatte (über Doppelhülse und Leiterplatte) zum InCircuit-Testsystem - Google Patents
-Doppelhülse mit zwei Pressringen -InCircuit-Prüfadapter mit direkter Prüffederkontaktierung der bestückten Leiterplatte (über Doppelhülse und Leiterplatte) zum InCircuit-TestsystemInfo
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Description
Es ist bekannt, dass InCircuit-Prüfadaptoren bereits mit direkter Adaptierung
aber allerdings ohne Doppelhülse und mit einem anderen Verfahren hergestellt
wurden. Hierbei wurde die Leiterplatte über manuelle Layouterstellung hergestellt
und dieses Verfahren verteuerte die Prüfadapterherstellung erheblich gegenüber
manuellen Drahtverbindungen.
Bei beiden bekannten Verfahren, betrug die Herstellungszeit, z. B. bei 2000
Verbindungen mehr als zwei Wochen und beinhaltete die manuelle Fehlerquote.
Auch wurde keine Prüfpunktberechnung (Berechnung des strategisch besten
Punktes durchgeführt). Dadurch ergaben sich längere Leitungswege, die
beim Testen zu Störungen führten.
Der im Patentanspruch 1 angegebenen Erfindung liegt das Problem Störungen
beim Testen (kürzeste Leitungswege) zugrunde, die manuelle Fehlerherstellungs
quote zu beseitigen und die Herstellungszeit sowie Kostenfrage erheblich zu
reduzieren.
Die mit der Erfindung erzielten Vorteile bestehen insbesondere darin, dass
durch die Berechnung der kürzesten Leitungswege Störungen beim Testen
entfallen, die Kontaktierung keine Fehler mehr beinhaltet und dass die
Verbindungen innerhalb kürzester Zeit durch das Fräsen hergestellt werden
können. Spätere Änderungen können sehr leicht durchgeführt werden.
Die Anwendung von Patentanspruch 2 ermöglicht es, die Kontaktierung
entsprechend den Erfordernissen zum Prüfling und zur Verbindungsleiterplatte
durchzuführen. Auch verhindern die beiden Pressringe ein schräges Einschlagen
der Hülsen.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in der Zeichnung dargestellt und
wird im folgenden näher beschrieben.
Es zeigen:
Fig. 1 Prüfadapteraufbau.
Fig. 2 Platine mit sämtlichen Verbindungen, Ansicht von unten.
Fig. 3 Platine mit sämtlichen Verbindungen, Ansicht von oben.
Fig. 4 Doppelhülse mit zwei Pressringen ohne eingesteckte
Prüffederkontakte.
Fig. 5 Doppelhülse mit zwei Pressringen mit eingesteckten
Prüffederkontakten.
Erklärung zu Fig. 1:
In Fig. 1 ist der Prüfadapteraufbau ersichtlich. Die Platine (Verbindungsplatine) wurde auf der oberen Seite bereits ausgefräst und stellt nun alle benötigten Verbindungen zwischen Prüfadapter und Testsystem her.
In Fig. 1 ist der Prüfadapteraufbau ersichtlich. Die Platine (Verbindungsplatine) wurde auf der oberen Seite bereits ausgefräst und stellt nun alle benötigten Verbindungen zwischen Prüfadapter und Testsystem her.
Erklärung zu Fig. 2:
In Fig. 2 ist die Verbindungsplatine (Ansicht von unten, Testsystemrichtung) ersichtlich. Auf dieser Unterseite sind alle Testerpins und Powerpins angeordnet und auf die Oberseite an die Strategiepunkte der Verbindungsplatine geführt.
In Fig. 2 ist die Verbindungsplatine (Ansicht von unten, Testsystemrichtung) ersichtlich. Auf dieser Unterseite sind alle Testerpins und Powerpins angeordnet und auf die Oberseite an die Strategiepunkte der Verbindungsplatine geführt.
Erklärung zu Fig. 3:
In Fig. 3 ist die Verbindungsplatine (Ansicht von oben, Adapterrichtung) ersichtlich.
Hierbei handelt es sich um eine vorgefertigte Multilayerplatine bei der alle Testerpins auf die Oberseite der Verbindungsplatine an die Strategiepunkte geführt sind. In diesem Stadium ist die Oberfläche der Oberseite noch eine Kupferschicht, allerdings mit den vorgefertigten Strategiepunkten.
Mit Hilfe der Software ADA-Connect werden nun die Koordinaten der benötigten Prüfpunkte verifiziert und den Strategiepunkten zugeordnet (es wird der kürzeste Weg gesucht). Diese nun festgelegten Pins werden für die Prüfprogrammerstellung verwendet.
Mit Hilfe der Software ADA-CU-FREE werden nun alle nicht benötigten Kupferflächen freigefräst, d. h. am Schluss bleiben nur noch die benötigten Verbindungen stehen. Diese freigefräste Verbindungsplatte wird nun auf die Unterseite des Adapters geschraubt.
In Fig. 3 ist die Verbindungsplatine (Ansicht von oben, Adapterrichtung) ersichtlich.
Hierbei handelt es sich um eine vorgefertigte Multilayerplatine bei der alle Testerpins auf die Oberseite der Verbindungsplatine an die Strategiepunkte geführt sind. In diesem Stadium ist die Oberfläche der Oberseite noch eine Kupferschicht, allerdings mit den vorgefertigten Strategiepunkten.
Mit Hilfe der Software ADA-Connect werden nun die Koordinaten der benötigten Prüfpunkte verifiziert und den Strategiepunkten zugeordnet (es wird der kürzeste Weg gesucht). Diese nun festgelegten Pins werden für die Prüfprogrammerstellung verwendet.
Mit Hilfe der Software ADA-CU-FREE werden nun alle nicht benötigten Kupferflächen freigefräst, d. h. am Schluss bleiben nur noch die benötigten Verbindungen stehen. Diese freigefräste Verbindungsplatte wird nun auf die Unterseite des Adapters geschraubt.
Erklärung zu Fig. 4:
Doppelhülse mit zwei Pressringen ohne eingesteckte Prüffeder- Kontakte: Durch die Doppelhülse kann die Kontaktierung flexibel und direkt entsprechend den Bedürfnissen gestaltet werden, d. h. die Prüffederkontakte können flexibel gesteckt werde. Durch die zwei Pressringe wird ein gerades Einschlagen der Hülse gewährleistet. Auch nach grosser Beanspruchung bei längerer Prüfling bleibt die Hülse gerade und garantiert auch nach längerer Beanspruchung eine excellente Kontaktierung.
Doppelhülse mit zwei Pressringen ohne eingesteckte Prüffeder- Kontakte: Durch die Doppelhülse kann die Kontaktierung flexibel und direkt entsprechend den Bedürfnissen gestaltet werden, d. h. die Prüffederkontakte können flexibel gesteckt werde. Durch die zwei Pressringe wird ein gerades Einschlagen der Hülse gewährleistet. Auch nach grosser Beanspruchung bei längerer Prüfling bleibt die Hülse gerade und garantiert auch nach längerer Beanspruchung eine excellente Kontaktierung.
Erklärung zu Fig. 5:
Doppelhülse mit zwei Pressringe mit eingesteckten Prüffeder kontakten.
Doppelhülse mit zwei Pressringe mit eingesteckten Prüffeder kontakten.
Claims (2)
1. InCircuit-Prüfadapter mit direkter Prüffederkontaktierung der bestückten
Leiterplatte (über Doppelhülse und Leiterplatte) zum InCircuit-Testsystem,
dadurch gekennzeichnet,
dass die benötigten Prüfpunkt-Verbindungen der bestückten Leiterplatte auf dem
InCircuit-Prüfadapter zum Testsystem direkt über Doppelhülse, in der die optimalen
Prüffederkontakte selektiert werden und Leiterplatte, die gefräst wird erfolgen.
Die zu fräsende Leiterplatte ist bereits mit Strategiepunkten vorgefertigt und hat nur
noch auf der Oberseite eine Kupferschicht, die nach Software-Berechnung der
Prüfpunkte bearbeitet wird und die Verbindungen herstellt
2. Doppelhülse mit zwei Pressringen nach Patentanspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
dass auf beiden Seiten ein Prüffederkontakt entsprechend den Erfordernissen
eingesetzt werden kann und dass die beiden Pressringe für geraden Sitz in der
Nadelträgerplatte (Probe Plate) sorgen.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE2000116453 DE10016453A1 (de) | 2000-04-01 | 2000-04-01 | -Doppelhülse mit zwei Pressringen -InCircuit-Prüfadapter mit direkter Prüffederkontaktierung der bestückten Leiterplatte (über Doppelhülse und Leiterplatte) zum InCircuit-Testsystem |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE2000116453 DE10016453A1 (de) | 2000-04-01 | 2000-04-01 | -Doppelhülse mit zwei Pressringen -InCircuit-Prüfadapter mit direkter Prüffederkontaktierung der bestückten Leiterplatte (über Doppelhülse und Leiterplatte) zum InCircuit-Testsystem |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE10016453A1 true DE10016453A1 (de) | 2001-11-15 |
Family
ID=7637393
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE2000116453 Ceased DE10016453A1 (de) | 2000-04-01 | 2000-04-01 | -Doppelhülse mit zwei Pressringen -InCircuit-Prüfadapter mit direkter Prüffederkontaktierung der bestückten Leiterplatte (über Doppelhülse und Leiterplatte) zum InCircuit-Testsystem |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| DE (1) | DE10016453A1 (de) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3812654A1 (de) * | 1987-04-16 | 1988-11-03 | Teradyne Inc | Vorrichtung zum pruefen von schaltungsplatinen |
| DE29616272U1 (de) * | 1996-09-18 | 1998-01-29 | atg test systems GmbH, 97877 Wertheim | Adapter zum Prüfen von elektrischen Leiterplatten |
-
2000
- 2000-04-01 DE DE2000116453 patent/DE10016453A1/de not_active Ceased
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3812654A1 (de) * | 1987-04-16 | 1988-11-03 | Teradyne Inc | Vorrichtung zum pruefen von schaltungsplatinen |
| DE29616272U1 (de) * | 1996-09-18 | 1998-01-29 | atg test systems GmbH, 97877 Wertheim | Adapter zum Prüfen von elektrischen Leiterplatten |
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