DE10013725A1 - Meßvorrichtung sowie Verfahren zur Messung eines Weges bei einer Relativbewegung zwischen der Meßvorrichtung und einem Maßstab, der eine Meßspur mit einem Beugungsgitter aufweist, sowie miniaturisierter optischer Abtastkopf - Google Patents
Meßvorrichtung sowie Verfahren zur Messung eines Weges bei einer Relativbewegung zwischen der Meßvorrichtung und einem Maßstab, der eine Meßspur mit einem Beugungsgitter aufweist, sowie miniaturisierter optischer AbtastkopfInfo
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims abstract description 20
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 114
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims abstract description 15
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 12
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 22
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 17
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 17
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 17
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 10
- 238000011161 development Methods 0.000 claims description 8
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 6
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 5
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 4
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 claims description 2
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 2
- 238000010276 construction Methods 0.000 claims 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 7
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 6
- 238000012549 training Methods 0.000 description 5
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 2
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 101100346656 Drosophila melanogaster strat gene Proteins 0.000 description 1
- 101150049168 Nisch gene Proteins 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 230000003340 mental effect Effects 0.000 description 1
- 108090000623 proteins and genes Proteins 0.000 description 1
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-
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/26—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
- G01D5/32—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light
- G01D5/34—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells
- G01D5/347—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells using displacement encoding scales
- G01D5/34707—Scales; Discs, e.g. fixation, fabrication, compensation
- G01D5/34715—Scale reading or illumination devices
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/26—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
- G01D5/32—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light
- G01D5/34—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells
- G01D5/347—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells using displacement encoding scales
- G01D5/34707—Scales; Discs, e.g. fixation, fabrication, compensation
- G01D5/34715—Scale reading or illumination devices
- G01D5/34723—Scale reading or illumination devices involving light-guides
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Abstract
Eine Meßvorrichtung (2) zur Messung eines Weges bei einer Relativbewegung zwischen der Meßvorrichtung (2) und einem Maßstab (8), der wengistens eine Meßspur (38) mit einem Beugungsgitter (40) aufweist, weist eine Strahlungsquelle (4) zum Richten eines Strahles auf den Maßstab (8) auf. Die erfindungsgemäße Meßvorrichtung (2) weist ferner einen Wellenleiterkoppler (10) mit wenigstens zwei Wellenleitern (12, 18), die derart auf den Maßstab (8) gerichtet sind, daß an dem Beugungsgitter (40) des Maßstabs (8) gebeugte Strahlung in die Wellenleiter einkoppelt, auf, wobei in dem Wellenleiterkoppler (10) eine Überlagerung der in die Wellenleiter (12, 18) eingekoppelten Strahlung erfolgt zur Bildung phasenverschobener Interferenzsignale als Ausgangssignale des Wellenleiterkopplers (10). Ferner weist die Meßvorrichtung (2) Detektionsmittel zur Detektion der Interferenzsignale und Auswertemittel zur Auswertung der detektierten Signale auf.
Description
Die Erfindung betrifft eine Meßvorrichtung sowie
ein Verfahren zur Messung eines Weges einer Relativ
bewegung zwischen der Meßvorrichtung und einem Maß
stab, der eine Meßspur mit einem Beugungsgitter auf
weist.
Zum Messen eines Weges bei einer Relativbewegung
zwischen einer Meßvorrichtung und einem Maßstab, bei
spielsweise zur Steuerung von Werkzeugmaschinen sowie
in Koordinatenmeßsystemen, werden überwiegend inkre
mentelle Geber, magnetische Längenmeßsysteme und La
serinterferometer eingesetzt. Laserinterferometer
sind beispielsweise in Form von Sensorköpfen für in
dustrielle Anwendungen verfügbar. Sie weisen
beispielsweise Wellenleiterkoppler als Strahlteiler
und externe Auswerteeinheiten auf, wobei ihre Ferti
gung beispielsweise entweder auf Siliziumbasis mit
auf einem Chip integrierter Optik und elektrischer
Ankopplung an die Auswerteeinheit oder durch inte
grierte Optik auf Glas ggf. mit Faserankopplung der
Detektoren und des Lasers an die Auswerteeinheit er
folgen kann. Mit derartigen Interferometern können
hohe Auflösungen im Nanometerbereich erzielt werden.
Prinzipbedingt besteht jedoch eine Abhängigkeit von
der Laserwellenlänge und der Brechzahlverteilung der
Meßstrecke, die aufwendige Korrekturen erfordert.
Ein weiterer Nachteil der bekannten Interfero
meter besteht darin, daß sie einen relativ raumgrei
fenden Aufbau aufweisen und daher beispielsweise für
einen Einsatz in Mikrosystemen nicht geeignet sind.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine
Meßvorrichtung zur Messung eines Weges bei einer Re
lativbewegung zwischen der Meßvorrichtung und einem
Maßstab anzugeben, bei der Abhängigkeiten des Meß
ergebnisses von der Wellenlänge der verwendeten
Strahlung und der Brechzahlverteilung der Meßstrecke
verringert sind und die gleichzeitig einen geringen
Raumbedarf aufweisen.
Diese Aufgabe wird duch die im Anspruch 1 ange
gebene Lehre gelöst.
Erfindungsgemäß wird ein Wellenleiterkoppler
verwendet, wie er beispielsweise aus dem Aufsatz "In
tegrierte Optik auf Glas und Silizium für Sensoran
wendungen" von E. Voges in "Technisches Messen" 58
(1991), S. 140-145, im Zusammenhang mit einem faser
gekoppelten integriert-optischen Interferometer be
kannt ist. Im Gegensatz zu den bekannten Interfero
metern erfolgt bei der erfindungsgemäßen Meßvorrich
tung eine Aufspaltung der Strahlung der Strahlungs
quelle, beispielsweise eines Lasers, prinzipiell je
doch erst am Gitter, wobei eine Einkopplung der
Strahlung der Strahlungsquelle in den Wellenleiter
koppler erst nach der Beugung an dem Maßstab erfolgt.
Hierdurch ist es möglich, die Strahlungsquelle als
unabhängiges Bauelement an einem den Wellenleiter
koppler aufweisenden Substrat zu befestigen.
Auf diese Weise ist der Raumbedarf der erfin
dungsgemäßen Meßvorrichtung gegenüber den aus dem
Stand der Technik bekannten Meßvorrichtungen wesent
lich verringert. Insbesondere läßt sich die erfin
dungsgemäße Meßvorrichtung als miniaturisierte Meß
vorrichtung ausführen, die vielfältig einsetzbar ist,
beispielsweise in Werkzeugmaschinen und Koordinaten
meßsystemen sowie zur Regelung von Mikroantrieben.
Bei Betrieb der erfindungsgemäßen Meßvorrichtung
liegen am Ausgang des Wellenleiterkopplers phasenver
schobene Interferenzsignale vor, deren Auswertung aus
dem Stand der Technik allgemein bekannt ist, bei
spielsweise durch den Aufsatz "Interferometrisches
Echtzeit-Wegsystem mit vollständig dielektrischem,
integriert-optischem Sensorkopf" von H. Grübel und G.
Nitsch in Technisches Messen 58 (1991), S. 165-169.
Wird beispielsweise ein 3 × 3-Koppler verwendet, an
dessen drei Ausgängen drei um 120° phasenverschobene
Interferenzsignale detektierbar sind, so können diese
Interferenzsignale zunächst mit Hilfe von Photodioden
detektiert werden. Die den Interferenzsignalen ent
sprechenden Spannungen am Ausgang der Photodioden
bilden ein aus drei um 120° zueinander phasenverscho
benen Drehzeigern bestehendes Dreiphasensystem. Bei
Bewegung der Meßvorrichtung relativ zu dem Maßstab
drehen sich die Drehzeiger im Koordinatensystem, wo
bei ihre Phasenbeziehung relativ zueinander konstant
bleibt. Hierbei ist der Winkel, um den sich die Dreh
zeiger drehen, ein Maß für den bei der Relativbewe
gung zwischen der Meßvorrichtung und dem Maßstab zu
rückgelegten Weg. Durch Messung des Winkels, um den
sich die Drehzeiger drehen, ist somit eine Messung
des Weges bei der Relativbewegung zwischen der Meß
vorrichtung und dem Maßstab ermöglicht. Außerdem ist
auf diese Weise eine Erkennung der Richtung, in die
sich die Meßvorrichtung relativ zu dem Maßstab bewegt,
ermöglicht. Ferner können mit der erfindungs
gemäßen Meßvorrichtung bei entsprechender Ausbildung
der Auswertemittel von dem Weg abgeleitete Größen,
beispielsweise die Geschwindigkeit oder Beschleuni
gung der Meßvorrichtung relativ zu dem Maßstab, ge
messen werden.
Die Verwendung eines Maßstabes hat den Vorteil,
daß sich in einfacher Weise Referenzmarken realisie
ren lassen, um während der Relativbewegung einen ein
deutigen und ständig reproduzierbaren Bezug zu erhal
ten. Auf diese Weise lassen sich in einfacher Weise
Meßvorrichtungen realisieren, die eine Messung des
bei Bewegung entlang des Maßstabs zwischen zwei Punk
ten des Maßstabs relativ zurückgelegten Weges ermög
lichen und bei denen darüber hinaus anhand der Refer
enzmarke stets ein eindeutiger Bezug zu einem festen
Bezugspunkt auf dem Maßstab gegeben ist.
Mit der erfindungsgemäßen Meßvorrichtung sind
Wegmessungen bei beliebigen Relativbewegungen ermög
licht, insbesondere die Messung von Längen bei linea
ren Relativbewegungen und die Messung von Winkeln bei
Winkelbewegungen.
Erfindungsgemäß können beliebige Wellenleiter
koppler verwendet werden, die zur Überlagerung der
an dem Beugungsgitter gebeugten Strahlung zur Bildung
phasenverschobener Interferenzsignale geeignet sind.
Zweckmäßigerweise ist der Wellenleiterkoppler ein
n × m-Koppler, insbesondere ein 3 × 3-Koppler, wie dies
eine Ausführungsform vorsieht. Die fertigungstech
nisch einfachste Form eines solchen n × m-Kopplers ist
ein 2 × 2-Koppler, bei dem die beiden Ausgänge des Wel
lenleiterkopplers phasenverschobene Interferenzsigna
le liefern, die mit Photodioden detektierbar sind.
Nachteilig bei einem solchen 2 × 2-Koppler ist jedoch,
daß der Wellenleiterkoppler Intensitätsschwankungen
des Strahles der Strahlungsquelle nicht kompensiert.
Um eine Kompensation solcher Intensitätsschwankungen
zu ermöglichen, ist dann beispielsweise eine zusätz
liche Monitordiode erforderlich, die die Intensität
mißt. Demgegenüber erfolgt bei einem 3 × 3-Koppler eine
Kompensation von Intensitätsschwankungen.
Eine Weiterbildung der Ausführungsform mit dem
3 × 3-Koppler sieht vor, daß die Interferenzsignale am
Ausgang des Wellenleiterkopplers um etwa 120° phasen
verschoben sind. Bei dieser Ausführungsform gestaltet
sich die Auswertung der Ausgangssignale des Wellen
leiterkopplers besonders einfach. Es ist zwar auch
möglich, Koppler mit einer größeren Zahl von Ausgän
gen zu verwenden, die phasenverschobene Interferenz
signale liefern. Derartige Koppler sind jedoch auf
wendiger in der Herstellung und damit teurer. Außer
dem vergrößern sie den Raumbedarf der Meßvorrichtung.
Eine andere Ausführungsform sieht vor, daß der
Maßstab zur Einfallsrichtung der Strahlung geneigt
angeordnet ist. Diese Ausführungsform hat den Vor
teil, daß zur Auskopplung des Strahles der Strah
lungsquelle einfache Optikelemente eingesetzt werden
können. Bei dieser Ausführungsformen wird
die 0. Beugungsordnung der gebeugten Strahlung nicht
in die Strahlungsquelle zurückreflektiert, so daß
durch derartige Rückreflektionen verursachte Störun
gen, insbesondere der Strahlungsquelle, vermieden
sind.
Grundsätzlich kann es ausreichend sein, eine
Strahlungsquelle zu verwenden, die beispielsweise
Strahlung mit zwei Wellenlängen erzeugt. Um die Meß
sicherheit zu erhöhen, sieht jedoch eine Weiterbil
dung der erfindungsgemäßen Meßvorrichtung vor, daß
die Strahlungsquelle monochromatische Strahlung er
zeugt.
Gemäß einer anderen Weiterbildung erzeugt die
Strahlungsquelle kohärente Strahlung. Auf diese Weise
läßt sich die Meßsicherheit weiter erhöhen.
Erfindungsgemäß kann eine beliebige Strahlungs
quelle verwendet werden, sofern in der erforderlichen
Weise durch Beugung an dem Beugungsgitter ein Beu
gungsbild erzeugt wird. Zweckmäßigerweise ist die
erfindungsgemäße Strahlungsquelle ein Laser, insbe
sondere eine Laserdiode. Laser stehen als kostengün
stige Bauteile zur Verfügung und ermöglichen eine
hohe Meßsicherheit.
Gemäß einer anderen Weiterbildung richtet die
Strahlungsquelle die Strahlung über einen Wellenlei
ter, insbesondere eine Lichtleitfaser, auf den Maß
stab.
Eine andere Ausführungsform sieht vor, daß die
Strahlungsquelle als auf einem aktiven optischen Sub
strat, beispielsweise Galliumarsenid, integriertes
Bauteil ausgebildet ist. Auf diese Weise ist es bei
spielsweise möglich, die Strahlungsquelle zwischen
den Armen eines integrierten Wellenleiterkopplers in
das Substrat des Kopplers zu integrieren. Auf diese
Weise ergibt sich ein besonders kompakter Aufbau.
Im Sinne eines kompakten Aufbaus und einer ko
stengünstigen Herstellung ist es ferner vorteilhaft,
daß der Wellenleiterkoppler als auf einem Substrat,
insbesondere Glassubstrat, integriertes Bauteil aus
gebildet ist.
Bei den Ausführungsformen mit der integrierten
Strahlungsquelle und dem integrierten Wellenleiter
koppler können beide Bauteile grundsätzlich auf ein
und demselben Substrat realisiert sein. Vorteilhafterweise
sind die Strahlungsquelle und der Wellenlei
terkoppler jedoch als separate integrierte Bauteile
ausgebildet, die miteinander fest verbunden sind. Auf
diese Weise ist die Herstellung vereinfacht. Die
Strahlungsquelle und der Wellenleiterkoppler können
beispielsweise miteinander verklebt sein.
Falls es nicht erforderlich ist, hinsichtlich
der Position der Meßvorrichtung entlang des gesamten
Meßweges einen eindeutigen Bezug zu einem festen Be
zugspunkt auf dem Maßstab zu erhalten, sondern le
diglich den bei Bewegung der Meßvorrichtung entlang
des Maßstabs zwischen zwei Punkten relativ zu dem
Maßstab zurückgelegten Weg zu messen, so ist es aus
reichend, wenn der Maßstab eine einzige Meßspur auf
weist. Wenn demgegenüber ein eindeutiger Bezug zu
einem festen Bezugspunkt auf dem Maßstab erforderlich
ist, sieht eine außerordentlich vorteilhafte Weiter
bildung der erfindungsgemäßen Lehre vor, daß der Maß
stab eine zweite Meßspur aufweist oder ein zweiter
Maßstab mit einer zweiten Meßspur vorgesehen ist, daß
die Strahlungsquelle oder eine zweite Strahlungsquel
le einen Strahl auf die zweite Meßspur richtet und
daß ein zweiter Wellenleiterkoppler mit wenigstens
zwei Wellenleitern vorgesehen ist, die derart auf die
zweite Meßspur gerichtet sind, daß von der zweiten
Meßspur reflektierte oder durch diese transmittierte
und an dieser gebeugte Strahlung in die Wellenleiter
des zweiten Wellenleiterkopplers einkoppelt, wobei in
dem zweiten Wellenleiterkoppler eine Überlagerung der
in die Wellenleiter eingekoppelten Strahlung erfolgt
zur Bildung phasenverschobener Interferenzsignale an
Ausgängen des zweiten Wellenleiterkopplers, wobei der
zweite Wellenleiterkoppler mit den Detektionsmitteln
zur Detektion der Interferenzsignale verbunden ist.
Bei dieser Ausführungsform werden somit zwei bei der
Bestrahlung der beiden Meßspuren erzeugte, vonein
ander unabhängige Beugungsbilder ausgewertet. Auf
diese Weise ist der Eindeutigkeitsbereich, d. h. der
Bereich, in dem bei der Relativbewegung zwischen dem
Maßstab und der Meßvorrichtung ein eindeutiger Bezug
der Position der Meßvorrichtung zu einem festen Be
zugspunkt auf dem Maßstab besteht, vergrößert. Durch
entsprechende Ausbildung der Meßspuren ist es prin
zipiell möglich, einen Eindeutigkeitsbereich zu er
halten, der größer als der bei Bewegung der Meßvor
richtung entlang des Maßstabes relativ zu diesem zu
rückgelegte maximale Weg ist. Auf diese Weise ist
entlang des gesamten Weges, den die Meßvorrichtung
relativ zu dem Maßstab zurücklegt, ein eindeutiger
Bezug der Position der Meßvorrichtung zu einem festen
Bezugspunkt auf dem Maßstab gegeben. Somit ist die
erfindungsgemäße Meßvorrichtung beispielsweise bei
der Steuerung von Mikroantrieben einsetzbar. Zwar ist
auch bei der Ausführungsform mit nur einer Meßspur
und einem Beugungsgitter ein Eindeutigkeitsbereich
vorhanden; dieser ist jedoch für praktische Anwendun
gen, in denen ein eindeutiger Bezug der Position der
Meßvorrichtung zu einem festen Bezugspunkt auf dem
Maßstab erforderlich ist, in der Regel zu klein.
Eine andere Weiterbildung der Ausführungsform
mit der zweiten Meßspur sieht vor, daß diese ein Beu
gungsgitter aufweist, wobei die Beugungsgitter der
beiden Meßspuren zueinander teilerfremde Gitterkon
stanten aufweisen. Bei Verwendung eines zweiten Beu
gungsgitters ist im Vergleich zu der Ausführungsform,
bei der zur Herstellung eines Bezugspunktes eine Re
ferenzmarke verwendet wird, der Eindeutigkeitsbereich
erhöht, innerhalb dessen eine absolute Positionsbestimmung
möglich ist.
Falls im Sinne eines einfachen Aufbaus beide
Meßspuren mit ein und derselben Strahlungsquelle be
strahlt werden sollen, so sieht eine Ausführungsform
vor, daß Mittel vorgesehen sind, die die Strahlung
der Strahlungsquelle zur Bestrahlung der beiden Meß
spuren aufteilen.
Eine Weiterbildung der vorgenannten Ausführungs
form sieht vor, daß die beiden Meßspuren an relativ
zueinander und von der Strahlungsquelle weg geneigten
Flächen angeordnet sind, die an einer Kante anein
ander angrenzen, derart, daß die Kante die Strahlung
der Strahlungsquelle zur Bestrahlung der beiden Meß
spuren aufteilt. Diese Ausführungsform ist besonders
einfach und damit kostengünstig herstellbar.
Zur Bestrahlung der zweiten Meßspur kann jedoch
auch eine separate Strahlungsquelle vorgesehen sein,
wie dies eine andere Ausführungsform vorsieht.
Entsprechend den jeweiligen Anforderungen können
Mittel zur wesentlichen senkrechten Einkopplung der
an der Meßspur reflektierten oder durch diese trans
mittierten Strahlung in die Wellenleiter des Wellen
leiterkopplers vorgesehen sein. Diese Mittel können
beispielsweise durch in Strahlungsrichtung hinter der
Strahlungsquelle angeordnete Gitterkoppler oder Pris
menkoppler gebildet sein.
Falls erforderlich kann gemäß einer anderen Aus
führungsform eine Auskoppeloptik vorgesehen sein, die
die Strahlung der Strahlungsquelle auf die Meßspur
lenkt.
Eine andere Weiterbildung der erfindungsgemäßen
Lehre sieht vor, daß zur Einkopplung der an dem Beu
gungsgitter gebeugten Strahlung in die Wellenleiter
des Wellenleiterkopplers eine Einkoppeloptik, insbesondere
eine Linse, vorgesehen ist.
Schließlich sieht eine Weiterbildung der erfin
dungsgemäßen Meßvorrichtung vor, daß die Detektions
mittel Photodioden aufweisen. Da Photodioden als ein
fache und kostengünstige Standardbauteile zur Verfü
gung stehen, ist auf diese Weise der Aufbau der er
findungsgemäßen Meßvorrichtung einfach und damit ko
stengünstig gestaltet.
Die Strahlungsquelle und der Wellenleiterkoppler
können gemäß einer Ausführungsform der erfindungs
gemäßen Lehre auf der gleichen Seite des Maßstabes
angeordnet sein, derart, daß von dem Maßstab reflek
tierte und an dessen Beugungsgitter gebeugte Strah
lung in die Wellenleiter des Wellenleiterkopplers
einkoppelt.
Der Maßstab kann jedoch auch in Strahlungsrich
tung zwischen der Strahlungsquelle und dem Wellenlei
ter angeordnet sein, derart, daß durch den Maßstab
transmittierte und an dessen Beugungsgitter gebeugte
Strahlung in die Wellenleiter des Wellenleiterkopp
lers einkoppelt, wie dies eine andere Ausführungsform
vorsieht.
Die Erfindung betrifft ferner einen miniaturi
sierten optischen Abtastkopf gemäß Anspruch 24. Er
findungsgemäß sind bei diesem Abtastkopf die Strah
lungsquelle und der Wellenleiterkoppler als auf einem
Substrat integrierte Bauteile ausgebildet. Dies er
möglicht einen besonders kompakten Aufbau des Abtast
kopfes. Weiterbildungen des erfindungsgemäßen Abtast
kopfes sind in den Ansprüchen 25 bis 27 angegeben.
Ein erfindungsgemäßes Verfahren ist im Anspruch
28 und eine Weiterbildung dieses Verfahrens im An
spruch 29 angegeben.
Die Erfindung wird nachfolgend anhand der beigefügten
stark schematisierten Zeichnung näher erläu
tert, in der Ausführungsbeispiele dargestellt sind.
Es zeigt
Fig. 1 in schematischer Seitenansicht ein
erstes Ausführungsbeispiel einer er
findungsgemäßen Meßvorrichtung,
Fig. 2 in gleicher Darstellung wie Fig. 1 ein
zweites Ausführungsbeispiel einer er
findungsgemäßen Meßvorrichtung,
Fig. 3 in schematischer Draufsicht ein drit
tes Ausführungsbeispiel einer erfin
dungsgemäßen Meßvorrichtung,
Fig. 4 in gleicher Darstellung wie Fig. 3 ein
viertes Ausführungsbeispiel einer er
findungsgemäßen Meßvorrichtung ohne
den Maßstab,
Fig. 5 eine Seitenansicht der Meßvorrichtung
gemäß Fig. 4 mit dem Maßstab,
Fig. 6 in gleicher Darstellung wie Fig. 3 ein
fünftes Ausführungsbeispiel einer er
findungsgemäßen Meßvorrichtung, bei
der ein Maßstab mit zwei Meßspuren
verwendet wird,
Fig. 7 die beiden Meßspuren des Maßstabes bei
der Meßvorrichtung gemäß Fig. 6,
Fig. 8 in gleicher Darstellung wie Fig. 3 ein
sechstes Ausführungsbeispiel einer
erfindungsgemäßen Meßvorrichtung, bei
dem die Strahlung der Strahlungsquelle
zur Bestrahlung der beiden Meßspuren
an einer Kante aufgeteilt wird,
Fig. 9 die beiden Meßspuren des Maßstabes der
Meßvorrichtung gemäß Fig. 8,
Fig. 10 in gleicher Darstellung wie Fig. 3 ein
siebtes Ausführungsbeispiel einer er
findungsgemäßen Meßvorrichtung ohne
den Maßstab,
Fig. 11 eine Seitenansicht der Meßvorrichtung
gemäß Fig. 10 mit dem Maßstab,
Fig. 12 die beiden Meßspuren des Maßstabes der
Meßvorrichtung gemäß Fig. 10,
Fig. 13 in gleicher Darstellung wie Fig. 11
ein achtes Ausführungsbeispiel einer
erfindungsgemäßen Meßvorrichtung und
Fig. 14 die beiden Meßspuren des Maßstabes der
Meßvorrichtung gemäß Fig. 13.
Gleiche bzw. sich entsprechende Bauteile sind in
den Figuren der Zeichnung mit den gleichen Bezugs
zeichen versehen.
In Fig. 1 ist ein erstes Ausführungsbeispiel
einer erfindungsgemäßen Meßvorrichtung dargestellt,
die eine Strahlungsquelle 4 in Form eines Lasers auf
weist, der über eine Auskoppeloptik 6 einen Laser
strahl auf einen Maßstab 8 richtet.
Der Maßstab 8 weist auf seiner der Strahlungs
quelle 4 zugewandten Fläche eine Meßspur mit einem
Beugungsgitter auf, wie sie in Fig. 7 oben dar
gestellt ist. Die Gitterteilung des Beugungsgitters
verläuft in Fig. 1 in die Zeichenebene hinein, wobei
die Meßvorrichtung 2 parallel zu dem Beugungsgitter,
d. h. in Fig. 1 in die Zeichenebene hinein und aus
der Zeichenebene heraus, relativ zu dem Maßstab 8
beweglich ist.
Die Meßvorrichtung 2 weist ferner einen Wellen
leiterkoppler 10 auf, von dem in Fig. 1 lediglich ein
Wellenleiter 12 erkennbar ist. Der Wellenleiterkopp
ler 10 ist in anhand von Fig. 3 weiter unten näher
erläuterter Weise als 3 × 3-Koppler ausgebildet und
weist neben dem Wellenleiter 12 einen weiteren Wel
lenleiter auf, wobei die beiden Wellenleiter zu drei
Ausgängen des Wellenleiterkopplers führen. Der Wel
lenleiter 12 sowie der weitere, in Fig. 1 nicht er
kennbare Wellenleiter des Wellenleiterkopplers 10
sind derart auf den Maßstab 8 gerichtet, daß von dem
Maßstab 8 reflektierte und an dessen Beugungsgitter
gebeugte Strahlung in die Wellenleiter eingekoppelt
werden. Hierzu ist eine Einkoppeloptik 14 vorgesehen.
Der Wellenleiterkoppler 10 ist als auf einem Substrat
16 integriertes Bauteil ausgebildet. Falls erforder
lich, können den Wellenleitern 12, 14 zur Einkopplung
der an dem Maßstab 8 gebeugten Strahlung in der
Zeichnung nicht dargestellte Wellenleiter vorgeschal
tet sein. Ferner können den Ausgängen des Wellenlei
terkopplers 10 Wellenleiter nachgeordnet sein, die
die reflektierte und in dem Wellenleiterkoppler 10
überlagerte Strahlung Detektionsmitteln zuführen.
Ferner kann die Strahlungsquelle 4 den Maßstab 8 über
einen Wellenleiter bestrahlen.
In Fig. 2 ist ein zweites Ausführungsbeispiel
einer erfindungsgemäßen Meßvorrichtung dargestellt,
das sich von dem Ausführungsbeispiel gemäß Fig. 1
dadurch unterscheidet, daß der Maßstab 8 zu der Meß
vorrichtung 2 geneigt angeordnet ist. Dies hat den
Vorteil, daß die Auskoppeloptik 6 der Strahlungsquel
le 4 im Vergleich zu Fig. 1 durch ein einfacheres
Optikelement gebildet sein kann.
In Fig. 3 ist ein drittes Ausführungsbeispiel
einer erfindungsgemäßen Meßvorrichtung 2 dargestellt,
das sich von dem Ausführungsbeispiel gemäß Fig. 1
dadurch unterscheidet, daß die Strahlungsquelle 4 als
auf einem aktiven optischen Substrat integriertes,
von dem Substrat 16 des Wellenleiterkopplers 10 sepa
rates Bauteil ausgebildet ist. Aus Fig. 3 ist er
sichtlich, daß die Strahlungsquelle 4 zwischen dem
Wellenleiter 12 und einem weiteren Wellenleiter 18
des Wellenleiterkopplers 10 angeordnet und mit dem
Substrat 16 des Wellenleiterkopplers 10 verbunden
ist. Aus Fig. 3 ist ferner ersichtlich, daß der Wel
lenleiterkoppler 10 als 3 × 3-Koppler ausgebildet ist
und drei Ausgänge 20, 22, 24 aufweist.
Die Meßvorrichtung 2 ist vor dem Maßstab 8 und
parallel zu dessen Beugungsgitter in Richtung eines
Doppelpfeiles 26 relativ zu dem Maßstab 8 beweglich.
Die Auskoppeloptik der Strahlungsquelle 4 sowie
die Einkoppeloptik des Wellenleiterkopplers 10 sind
bei diesem Ausführungsbeispiel nur schematisch bei 28
angedeutet.
Als Detektionsmittel zur Detektion der Ausgangs
signale an den Ausgängen 22, 24, 26 des Wellenleiter
kopplers 10 sind bei diesem Ausführungsbeispiel Pho
todioden 30, 32, 34 vorgesehen, deren Ausgangsspan
nungen in der Zeichnung nicht dargestellten Auswerte
mitteln zugeführt werden.
Bei Betrieb der erfindungsgemäßen Meßvorrichtung
2 richtet die Strahlungsquelle 4 einen Strahl auf den
Maßstab 8, wobei der Strahl an dem Beugungsgitter
gebeugt und von dem Maßstab 8 reflektiert wird. Un
terschiedliche Beugungsordnungen der gebeugten Strah
lung werden in die Wellenleiter 12, 18 des Wellenlei
ters 10 eingekoppelt und in diesem zur Bildung pha
senverschobener Interferenzsignale derart überlagert,
daß an den Ausgängen 20, 22, 24 drei um 120° phasen
verschobene Interferenzsignale vorliegen. Die Interferenzsignale
an den Ausgängen 20, 22, 24 werden
durch die Photodioden 30, 32, 34 detektiert, deren
Ausgangsspannungen den Auswertemitteln zugeführt wer
den.
Die Ausgangsspannungen der Photodioden 30, 32,
34 bilden ein Dreiphasen-Drehzeigersystem, dessen
Drehzeiger um 120° zueinander phasenverschoben sind.
Bei Bewegung der Meßvorrichtung 2 relativ zu dem Maß
stab 8 drehen sich die Drehzeiger in ihrem Koordina
tensystem, wobei ihre Phasenbeziehung zueinander er
halten bleibt. Der Winkel, um den sich die Drehzeiger
bei einer Relativbewegung zwischen der Meßvorrichtung
2 und dem Maßstab 8 drehen, ist ein Maß für den bei
dieser Relativbewegung zurückgelegten Weg. Durch Er
mittlung dieses Winkels ist somit, wie aus dem Stand
der Technik für sich genommen bekannt, der bei der
Relativbewegung zwischen der Meßvorrichtung 2 und dem
Maßstab 8 zurückgelegte Weg ermittelbar. Durch Er
mittlung der Richtung, in die sich die Drehzeiger
drehen, ist ferner die Richtung erkennbar, in der
sich die Meßvorrichtung relativ zu dem Maßstab be
wegt. Ferner sind von dem Weg abgeleitete Größen,
beispielsweise die Geschwindigkeit und Beschleunigung
der Meßvorrichtung relativ zu dem Maßstab, ermittel
bar.
Dadurch, daß die einfallende Strahlung der
Strahlungsquelle 4 erst an dem Beugungsgitter des
Maßstabes 8 aufgespalten und erst die am Beugungs
gitter reflektierten Teilstrahlen in die Wellenleiter
12, 18 des Wellenleiterkopplers 10 eingekoppelt wer
den, ist es möglich, die Strahlungsquelle 4 als un
abhängiges Bauelement an dem Substrat 16 zu befesti
gen, wie dies bei den Ausführungsbeispielen gemäß den
Fig. 1 und 3 der Fall ist.
Auf diese Weise ist eine miniaturisierte Meßvor
richtung gebildet, die beispielsweise in Mikrosyste
men einsetzbar ist.
In Fig. 4 ist ein viertes Ausführungsbeispiel
einer erfindungsgemäßen Meßvorrichtung 2 dargestellt,
das sich von dem Ausführungsbeispiel gemäß Fig. 3
dadurch unterscheidet, daß die Einkopplung der an dem
Maßstab reflektierten und an dessen Beugungsgitter
gebeugten Strahlung in die Wellenleiter 12, 18 des
Wellenleiterkopplers 10 über einen Gitterkoppler 36
erfolgt. Dies hat den Vorteil, daß im Hinblick auf
die Einkopplung auf externe Strahlformoptiken ver
zichtet werden kann. Dies erleichtert die Montage und
Justage der Meßvorrichtung 2. Ferner ist auf diese
Weise die Meßvorrichtung 2 mit einer minimalen Anzahl
von externen Komponenten realisiert. Es ist dann al
lerdings für die Auskopplung der Strahlung aus der
Strahlungsquelle 4 ein Auskoppelgitter oder ein Aus
koppelprisma erforderlich. Bei Verwendung von aktiven
optischen Substraten kann bei diesem Ausführungsbei
spiel die Strahlungsquelle auf dem Substrat 16 des
Wellenleiterkopplers 10 integriert und mit diesem in
einem Fertigungsschritt hergestellt werden. Die
Strahlungsquelle 4 kann oberflächenemittierend ausge
bildet oder mit einem Gitterkoppler oder Prismakopp
ler realisiert sein.
Fig. 5 verdeutlicht die Anordnung des Maßstabs 8
relativ zu der Meßvorrichtung 2 bei dem Ausführungs
beispiel gemäß Fig. 4.
In Fig. 6 ist ein fünftes Ausführungsbeispiel
einer erfindungsgemäßen Meßvorrichtung 2 dargestellt,
das sich von den vorhergehenden Ausführungsbeispielen
dadurch unterscheidet, daß der Maßstab 8 neben einer
ersten Meßspur 38 mit einem ersten Beugungsgitter 40
eine zweite Meßspur 42 mit einem zweiten Beugungs
gitter 44 aufweist. Die Beugungsgitter 40, 44 ver
laufen parallel zueinander und weisen teilerfremde
Gitterkonstanten auf.
Bei dem Ausführungsbeispiel gemäß Fig. 6 erzeugt
die Auskoppeloptik 6 zwei Teilstrahlen 46' und 46",
von denen der Teilstrahl 46' auf das erste Beugungs
gitter der ersten Meßspur 38 und der Teilstrahl 46"
auf das zweite Beugungsgitter 44 der zweiten Meßspur
42 gerichtet wird.
Zur Auswertung eines durch Beugung des Teil
strahles 46" an dem zweiten Beugungsgitter 44 er
zeugten Beugungsbildes ist ein zweiter Wellenleiter
koppler 48 vorgesehen, der so aufgebaut ist und ar
beitet, wie dies zuvor für den Wellenleiterkoppler 10
beschrieben worden ist. Die Auswertung der Ausgangs
signale des zweiten Wellenleiterkopplers 48 erfolgt
in der gleichen Art und Weise, wie dies zuvor für die
Auswertung der Ausgangssignale des Wellenleiterkopp
lers 10 beschrieben worden ist.
Dadurch, daß bei dem Ausführungsbeispiel gemäß
Fig. 5 zwei voneinander unabhängige Beugungsbilder
ausgewertet werden, ist stets ein eindeutiger Bezug
zwischen der Position der Meßvorrichtung 2 und einem
festen Bezugspunkt auf dem Maßstab 8 gegeben. Es ist
somit eindeutig feststellbar, in welcher Lage relativ
zu dem Maßstab 8 sich die Meßvorrichtung 2 gerade
befindet. Wird die erfindungsgemäße Meßvorrichtung 2
beispielsweise verwendet, um einen Mikroantrieb zu
steuern, so ist nicht nur feststellbar, welchen Weg
der Mikroantrieb bei einer Bewegung zurückgelegt hat;
vielmehr ist auch feststellbar, in welcher Lage rela
tiv zu einem festen Bezugspunkt auf dem Maßstab sich
der Mikroantrieb gerade befindet.
In Fig. 8 ist ein sechstes Ausführungsbeispiel
einer erfindungsgemäßen Meßvorrichtung 2 dargestellt,
das sich von dem Ausführungsbeispiel gemäß Fig. 6
dadurch unterscheidet, daß die Meßspuren 38, 42 des
Maßstabes 8 an relativ zueinander und von der Strah
lungsquelle 4 weg geneigten Flächen 50, 52 eines Kör
pers 54 angeordnet sind, wobei die Flächen 50, 52 an
einer Kante 56 aneinander angrenzen. Die Bildung der
Teilstrahlen 46', 46" erfolgt bei diesem Aus
führungsbeispiel nicht durch die Auskoppeloptik 6 der
Strahlungsquelle 4, sondern durch die Kante 56.
Fig. 9 zeigt die Meßspuren 38, 42 des Maßstabes
8, wobei die Meßspur 38 bei diesem Ausführungsbei
spiel eine Referenzmarke aufweist, was zur Ermittlung
der absoluten Position der Meßvorrichtung 2 in Bezug
auf den Maßstab 8 ausreichend ist. Zur Detektion der
Referenzmarke ist ein Detektor 59 in Form einer Pho
todiode (vgl. Fig. 8) vorgesehen.
Fig. 10 zeigt ein siebtes Ausführungsbeispiel
einer erfindungsgemäßen Meßvorrichtung 2, das sich
von dem Ausführungsbeispiel gemäß den Fig. 6 und 8
dadurch unterscheidet, daß die Bildung der Teilstrah
len 46', 46" zur Bestrahlung der Meßspuren 38, 42
durch ein Gitter 58 erfolgt. Die erste Meßspur 38
weist bei diesem Ausführungsbeispiel eine Referenz
marke auf (vgl. Fig. 12). Zur Detektion der Referenz
marke ist ein Detektor 59 in Form einer Photodiode
vorgesehen.
Fig. 11 verdeutlicht die Anordnung des Maßstabes
8 relativ zu der Meßvorrichtung 2.
Aus Fig. 12, die die Meßspuren 38, 42 des Maß
stabes 8 bei dem Ausführungsbeispiel gemäß Fig. 10
zeigt, ist ersichtlich, daß die erste Meßspur 38 eine
Referenzmarke und die zweite Meßspur 42 ein Beugungsgitter
aufweist.
Fig. 13 zeigt ein achtes Ausführungsbeispiel
einer erfindungsgemäßen Meßvorrichtung 2, bei dem die
beiden Wellenleiterkoppler 10, 48, die zur Auswertung
der beiden Beugungsbilder, die durch Bestrahlung der
beiden Meßspuren 38, 42 erzeugt werden, erforderlich
sind, auf zwei übereinander angeordneten Substraten
60, 62 realisiert sind.
Fig. 14 zeigt die bei der Meßvorrichtung 2 gemäß
Fig. 13 verwendeten Meßspuren 38, 42, die Beugungs
gitter 40, 44 mit zueinander teilerfremden Gitterkon
stanten aufweisen.
Claims (29)
1. Meßvorrichtung zur Messung eines Weges bei einer
Relativbewegung zwischen der Meßvorrichtung (2) und
einem Maßstab (8), der wenigstens eine Meßspur (38)
mit einem Beugungsgitter (40) aufweist,
mit wenigstens einer Strahlungsquelle (4) zum Richten eines Strahles auf den Maßstab (8),
mit einem wenigstens einem Wellenleiterkoppler (10) mit wenigstens zwei Wellenleitern (12, 18), die der art auf den Maßstab (8) gerichtet sind, daß an dem Beugungsgitter (40) des Maßstabs (8) gebeugte Strah lung in die Wellenleiter (12, 18) einkoppelt, wobei in dem Wellenleiterkoppler (10) eine Überlagerung der in die Wellenleiter (12, 18) eingekoppelten Strahlung erfolgt zur Bildung phasenverschobener Interferenz signale als Ausgangssignale des Wellenleiterkopplers (10),
mit Detektionsmitteln zur Detektion der Interferenz signale und
mit Auswertemitteln zur Auswertung der detektierten Signale.
mit wenigstens einer Strahlungsquelle (4) zum Richten eines Strahles auf den Maßstab (8),
mit einem wenigstens einem Wellenleiterkoppler (10) mit wenigstens zwei Wellenleitern (12, 18), die der art auf den Maßstab (8) gerichtet sind, daß an dem Beugungsgitter (40) des Maßstabs (8) gebeugte Strah lung in die Wellenleiter (12, 18) einkoppelt, wobei in dem Wellenleiterkoppler (10) eine Überlagerung der in die Wellenleiter (12, 18) eingekoppelten Strahlung erfolgt zur Bildung phasenverschobener Interferenz signale als Ausgangssignale des Wellenleiterkopplers (10),
mit Detektionsmitteln zur Detektion der Interferenz signale und
mit Auswertemitteln zur Auswertung der detektierten Signale.
2. Meßvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß der Wellenleiterkoppler (10) ein n × m-
Koppler, insbesondere ein 3 × 3-Koppler ist.
3. Meßvorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Interferenzsignale an den Ausgängen
(20, 22, 24) des Wellenleiterkopplers (10) um etwa
120° phasenverschoben sind.
4. Meßvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß der Maßstab (8) zur Einfallsrichtung
der Strahlung geneigt angeordnet ist.
5. Meßvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Strahlungsquelle (4) monochromati
sche Strahlung erzeugt.
6. Meßvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Strahlungsquelle (4) kohärente
Strahlung erzeugt.
7. Meßvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Strahlungsquelle (4) ein Laser,
insbesondere eine Laserdiode, ist.
8. Meßvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Strahlungsquelle (4) als auf einem
aktiven optischen Substrat, beispielsweise Galliumar
senid, integriertes Bauteil ausgebildet ist.
9. Meßvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Strahlungsquelle (4) die Strahlung
über einen Wellenleiter, insbesondere eine Lichtleit
faser, auf den Maßstab (8) richtet.
10. Meßvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß der Wellenleiterkoppler (10) als auf
einem Substrat, insbesondere Glassubstrat, integrier
tes Bauteil ausgebildet ist.
11. Meßvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Strahlungsquelle (4) und der Wel
lenleiterkoppler (10) als separate integrierte Bau
teile ausgebildet sind, die miteinander fest verbun
den sind.
12. Meßvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß der Maßstab eine Referenzmarke aufweist
und daß ein Detektor zur Detektion der Referenzmarke
vorgesehen ist.
13. Meßvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß der Maßstab (8) eine zweite Meßspur
(42) aufweist oder daß ein zweiter Maßstab mit einer
zweiten Meßspur vorgesehen ist,
daß die Strahlungsquelle (4) oder eine zweite Strah lungsquelle einen Strahl auf die zweite Meßspur (42) richtet,
daß ein zweiter Wellenleiterkoppler (48) mit wenig stens zwei Wellenleitern vorgesehen ist, die derart auf die zweite Meßspur (42) gerichtet sind, daß von der zweiten Meßspur (42) reflektierte oder durch die se transmittierte und an dieser gebeugte Strahlung in die Wellenleiter des zweiten Wellenleiterkopplers (48) einkoppelt, wobei in dem zweiten Wellenleiter koppler (48) eine Überlagerung der in die Wellenlei ter eingekoppelten Strahlung erfolgt zur Bildung von phasenverschobenen Interferenzsignalen an Ausgängen des zweiten Wellenleiterkopplers (48), wobei der zweite Wellenleiterkoppler (48) mit den Detektions mitteln zur Detektion der Interferenzsignale an sei nem Ausgang verbunden ist.
daß die Strahlungsquelle (4) oder eine zweite Strah lungsquelle einen Strahl auf die zweite Meßspur (42) richtet,
daß ein zweiter Wellenleiterkoppler (48) mit wenig stens zwei Wellenleitern vorgesehen ist, die derart auf die zweite Meßspur (42) gerichtet sind, daß von der zweiten Meßspur (42) reflektierte oder durch die se transmittierte und an dieser gebeugte Strahlung in die Wellenleiter des zweiten Wellenleiterkopplers (48) einkoppelt, wobei in dem zweiten Wellenleiter koppler (48) eine Überlagerung der in die Wellenlei ter eingekoppelten Strahlung erfolgt zur Bildung von phasenverschobenen Interferenzsignalen an Ausgängen des zweiten Wellenleiterkopplers (48), wobei der zweite Wellenleiterkoppler (48) mit den Detektions mitteln zur Detektion der Interferenzsignale an sei nem Ausgang verbunden ist.
14. Meßvorrichtung nach Anspruch 12, dadurch gekenn
zeichnet, daß die zweite Meßspur (42) ein zweites
Beugungsgitter (44) aufweist, wobei die Beugungsgit
ter (40, 44) der beiden Meßspuren (38, 42) zueinander
teilerfremde Gitterkonstanten aufweisen.
15. Meßvorrichtung nach Anspruch 12, dadurch gekenn
zeichnet, daß Mittel vorgesehen sind, die die Strah
lung der Strahlungsquelle (4) zur Bestrahlung der
beiden Meßspuren (38, 42) aufteilen.
16. Meßvorrichtung nach Anspruch 12, dadurch gekenn
zeichnet, daß die beiden Meßspuren (38, 42) an rela
tiv zueinander und von der Strahlungsquelle (4) weg
geneigten Flächen (50, 52) angeordnet sind, die an
einer Kante (56) aneinander angrenzen, derart, daß
die Kante (56) die Strahlung der Strahlungsquelle (4)
zur Bestrahlung der beiden Meßspuren (38, 42) auf
teilt.
17. Meßvorrichtung nach Anspruch 12, dadurch gekenn
zeichnet, daß zur Bestrahlung der zweiten Meßspur
(42) eine separate Strahlungsquelle vorgesehen
ist.
18. Meßvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß Mittel zur im wesentlichen senkrechten
Einkopplung der an dem Beugungsgitter (40) gebeugten
Strahlung in die Wellenleiter (12, 18) des Wellenlei
terkopplers (10) vorgesehen sind.
19. Meßvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß eine Auskoppeloptik (6) vorgesehen ist,
die die Strahlung der Strahlungsquelle (4) auf die
Meßspur (38 bzw. 42) lenkt.
20. Meßvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß zur Einkopplung der an dem Beugungs
gitter gebeugten Strahlung in die Wellenleiter (12,
18) des Wellenleiterkopplers (10) eine Einkoppeloptik
(14), insbesondere eine Linse, vorgesehen ist.
21. Meßvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Detektionsmittel Photodioden (30,
32, 34) aufweisen.
22. Meßvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Strahlungsquelle (4) und der Wel
lenleiterkoppler (10) auf der gleichen Seite des Maß
stabes (8) angeordnet sind, derart, daß von dem Maß
stab (8) reflektierte und an dessen Beugungsgitter
(40) gebeugte Strahlung in die Wellenleiter (12, 18)
des Wellenleiterkopplers (10) einkoppelt.
23. Meßvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß der Maßstab (8) in Strahlungsrichtung
zwischen der Strahlungsquelle (4) und dem Wellenlei
terkoppler (10) angeordnet ist, derart, daß durch den
Maßstab (8) transmittierte und an dessen Beugungs
gitter (40) gebeugte Strahlung in die Wellenleiter
(12, 18) des Wellenleiterkopplers (10) einkoppelt.
24. Miniaturisierter optischer Abtastkopf, insbeson
dere zur Verwendung in einer Meßvorrichtung nach ei
nem der vorhergehenden Ansprüche,
mit einer als auf einem Substrat integriertes Bauteil ausgebildeten Strahlungsquelle (4) und
mit einem als auf einem Substrat integriertes Bauteil ausgebildeten Wellenleiterkoppler (10), der mit der Strahlungsquelle verbunden ist.
mit einer als auf einem Substrat integriertes Bauteil ausgebildeten Strahlungsquelle (4) und
mit einem als auf einem Substrat integriertes Bauteil ausgebildeten Wellenleiterkoppler (10), der mit der Strahlungsquelle verbunden ist.
25. Abtastkopf nach Anspruch 24, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Strahlungsquelle (4) und der Wel
lenleiterkoppler (10) als separate, fest miteinander
verbundene integrierte Bauteile ausgebildet sind.
26. Abtastkopf nach Anspruch 24, dadurch gekenn
zeichnet, daß das Substrat, auf dem der Wellenleiter
koppler (10) integriert ist, ein optisch aktives Sub
strat ist und daß die Strahlungsquelle (4) auf dem
Substrat des Wellenleiterkopplers integriert ist.
27. Abtastkopf nach Anspruch 24, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Strahlungsquelle (4) eine Laserdio
de ist.
28. Verfahren zur Messung eines Weges bei einer Re
lativbewegung zwischen einer Meßvorrichtung und einem
Maßstab, der eine Meßspur mit einem Beugungsgitter
aufweist,
bei dem Strahlung aus einer Strahlungsquelle auf den Maßstab gerichtet und an dem Beugungsgitter gebeugt wird, bei dem die gebeugte Strahlung in einen Wellenleiterkoppler mit wenigstens zwei Wellenleitern ein gekoppelt wird, und
bei dem die in die Wellenleiter des Wellenleiterkopp lers eingekoppelte Strahlung überlagert wird zur Bil dung phasenverschobener Interferenzsignale als Aus gangssignale des Wellenleiterkopplers und
bei dem die Interferenzsignale durch Detektionsmittel detektiert und die detektierten Signale Auswertemit teln zugeführt werden.
bei dem Strahlung aus einer Strahlungsquelle auf den Maßstab gerichtet und an dem Beugungsgitter gebeugt wird, bei dem die gebeugte Strahlung in einen Wellenleiterkoppler mit wenigstens zwei Wellenleitern ein gekoppelt wird, und
bei dem die in die Wellenleiter des Wellenleiterkopp lers eingekoppelte Strahlung überlagert wird zur Bil dung phasenverschobener Interferenzsignale als Aus gangssignale des Wellenleiterkopplers und
bei dem die Interferenzsignale durch Detektionsmittel detektiert und die detektierten Signale Auswertemit teln zugeführt werden.
29. Verfahren nach Anspruch 28, dadurch gekennzeich
net, daß eine Meßvorrichtung nach einem der Ansprüche
1 bis 23 verwendet wird.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE2000113725 DE10013725A1 (de) | 2000-03-21 | 2000-03-21 | Meßvorrichtung sowie Verfahren zur Messung eines Weges bei einer Relativbewegung zwischen der Meßvorrichtung und einem Maßstab, der eine Meßspur mit einem Beugungsgitter aufweist, sowie miniaturisierter optischer Abtastkopf |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE2000113725 DE10013725A1 (de) | 2000-03-21 | 2000-03-21 | Meßvorrichtung sowie Verfahren zur Messung eines Weges bei einer Relativbewegung zwischen der Meßvorrichtung und einem Maßstab, der eine Meßspur mit einem Beugungsgitter aufweist, sowie miniaturisierter optischer Abtastkopf |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE10013725A1 true DE10013725A1 (de) | 2001-10-11 |
Family
ID=7635602
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE2000113725 Ceased DE10013725A1 (de) | 2000-03-21 | 2000-03-21 | Meßvorrichtung sowie Verfahren zur Messung eines Weges bei einer Relativbewegung zwischen der Meßvorrichtung und einem Maßstab, der eine Meßspur mit einem Beugungsgitter aufweist, sowie miniaturisierter optischer Abtastkopf |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| DE (1) | DE10013725A1 (de) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102007023516A1 (de) | 2007-05-18 | 2008-11-20 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Anordnung zur Übertragung eines Mediums zwischen einer Grundeinheit und einer Aktiveinheit sowie Wegsensor |
Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3509102A1 (de) * | 1985-03-14 | 1986-09-18 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut | Messeinrichtung |
| DE3702314C1 (de) * | 1987-01-27 | 1988-01-14 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Lichtelektrische Messeinrichtung |
| DE3625327C1 (de) * | 1986-07-26 | 1988-02-18 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Lichtelektrische Positionsmesseinrichtung |
| DE3801763C1 (de) * | 1988-01-22 | 1989-06-08 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut, De | |
| DE4005020A1 (de) * | 1989-12-23 | 1991-06-27 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Einrichtung mit wenigstens einem wellenleiterkoppler |
| DE3816247C2 (de) * | 1987-05-11 | 1995-10-19 | Canon Kk | Vorrichtung zur Messung einer Relativbewegung von zwei zueinander relativ bewegbaren Objekten |
| DE3901869C2 (de) * | 1988-01-22 | 1995-11-09 | Mitutoyo Corp | Optischer Codierer |
-
2000
- 2000-03-21 DE DE2000113725 patent/DE10013725A1/de not_active Ceased
Patent Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3509102A1 (de) * | 1985-03-14 | 1986-09-18 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut | Messeinrichtung |
| DE3625327C1 (de) * | 1986-07-26 | 1988-02-18 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Lichtelektrische Positionsmesseinrichtung |
| DE3702314C1 (de) * | 1987-01-27 | 1988-01-14 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Lichtelektrische Messeinrichtung |
| DE3816247C2 (de) * | 1987-05-11 | 1995-10-19 | Canon Kk | Vorrichtung zur Messung einer Relativbewegung von zwei zueinander relativ bewegbaren Objekten |
| DE3801763C1 (de) * | 1988-01-22 | 1989-06-08 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut, De | |
| DE3901869C2 (de) * | 1988-01-22 | 1995-11-09 | Mitutoyo Corp | Optischer Codierer |
| DE4005020A1 (de) * | 1989-12-23 | 1991-06-27 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | Einrichtung mit wenigstens einem wellenleiterkoppler |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102007023516A1 (de) | 2007-05-18 | 2008-11-20 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Anordnung zur Übertragung eines Mediums zwischen einer Grundeinheit und einer Aktiveinheit sowie Wegsensor |
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| 8131 | Rejection |