DE10004580A1 - Verfahren zur Prüfung von Zylinderlinsen bezüglich Flächenabweichungen und Zentrierung der Einzelflächen untereinander - Google Patents
Verfahren zur Prüfung von Zylinderlinsen bezüglich Flächenabweichungen und Zentrierung der Einzelflächen untereinanderInfo
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Abstract
Die Prüfung von Zylinderlinsen kann in streifender Inzidenz wegen der vorliegenden Geometrie erfolgen. Dazu werden diffraktive optische Elemente eingesetzt, deren Periode über das Element nahezu konstant gehalten werden kann. Damit das möglich wird, sind die beugenden Strukturen Parallelkurvenscharen zur Meridiankurve des Linsenkörpers. Durch die streifende Inzidenz kann die Linse von allen Seiten simultan geprüft werden, was einen großen Fortschritt darstellt, da damit neben den Flächenabweichungen von der Idealform zusätzliche globale Lageparameter der Begrenzungsflächen relativ zu den diffraktiven Bezugselementen und damit auch relativ zueinander gewonnen werden können. Durch die schräge Inzidenz auf die Teilmantelflächen wird einerseits die Empfindlichkeit herabgesetzt, wodurch auch feinstgeschliffene Flächenteile wie die Linsenkanten in die Messung eingeschlossen werden können. Andererseits ergibt sich längs der Zylinderachse des Linsenkörpers eine geringere Probendichte bei der Messung, die durch die anamorphotische Verzerrung verursacht wird. Daher kann mit sogenannten Prismen- oder Zylinderlinsenteleskopen eine Entzerrung vorgenommen werden. Ebenso geeignet erscheinen auch Gitteranamorphote aufgebaut aus geblazten Gittern.
Description
Zylinderlinsen sind bezüglich ihrer Abweichungen von der Idealform zu prüfen, wobei eine
allgemeine Zylinderlinse zwei Zylinderflächen hat und zusätzlich plane Anschlagsflächen. Für
die optische Funktion sind sowohl die Flächenformen als auch die relativen Lagen der Flächen
zueinander wesentlich, weshalb der Zweck der Erfindung ein Verfahren zur Form- und
Lageprüfung der optisch wirksamen und mechanischen Flächen ist.
Ziel der Erfindung ist die Angabe eines Verfahrens basierend auf der Nutzung von
diffraktiven Strahlformungselementen zur Strahlformung und Strahlteilung für ein
Interferometer, welches mit streifender Inzidenz der Wellenfront auf den Prüfling arbeitet.
Durch die erfindungsgemäße Lösung soll es möglich sein, Form- und Lageabweichungen von
Zylinderlinsen auch bei einer Rest-Rauhigkeit von z. B. 0.5 µm rms zu messen.
Bekannt sind interferometrische Verfahren zur Prüfung von Zylinderlinsen bei denen durch
spezielle optische Systeme im Prüflingsstrahlengang dafür gesorgt wird, daß das Licht überall
senkrecht auf die Prüflingsoberfläche trifft. Nach der Reflexion durchläuft das Licht
angenähert den gleichen Weg durch das optische System und die reflektierte Welle wird dann
mit einer passenden Referenzwelle zu einem niederfrequenten Interferogramm überlagert.
Naheliegend ist es als Ausgangswellenfront eine Planwelle zu verwenden, so daß die
Referenzwelle ebenfalls eine Planwelle darstellt.
Da Zylinderoptik schwierig herzustellen ist, geht man meist den Weg über ein diffraktives
optisches Element, welches man als Zonenplatte beschreiben kann. Da das diffraktive
Element für eine zweimalige Wellenfront-Transformation benutzt wird, muß die
Beugungseffizienz hoch sein. Das läßt sich mit Phasen-Masken erreichen, bei denen durch die
Wahl der Stegbreite in einer Periode und die Wahl der Relieftiefe eine Optimierung möglich
ist, so daß 40% Beugungseffizienz erreicht werden können. Eine große Schwierigkeit ergibt
sich bei stark gekrümmten Zylinderflächen, da dann die diffraktiven Elemente sehr fein
strukturiert werden müssen, wobei man schnell mit der Strukturgröße in die Größenordnung
der Lichtwellenlänge kommt. Das bringt enorme Probleme bei der Herstellung der optischen
diffraktiven Elemente mit sich. Besonders die gleichförmige Tiefenätzung bei Erhalt des
Aspektverhältnisses macht wegen des großen Gangs der Periode des diffraktiven optischen
Elementes große Schwierigkeiten.
Außerdem sind bei senkrechter Inzidenz die Außenflächen des Linsenkörpers nicht so ohne
weiteres simultan meßbar, das heißt natürlich auch, daß ihre relative Lage nicht mit z. B.
lithographischer Präzision bestimmbar ist, die an sich in einem diffraktiven optischen Element
fixiert werden kann und danach mit Erfolg zur Messung eingesetzt werden könnte.
Die Zylindersymmetrie legt aber natürlich auch alternative Möglichkeiten zum senkrechten
Lichteinfall auf den Prüfling nahe. Das soll anhand der Fig. 1 näher erläutert werden, in
welcher die senkrechte Inzidenz-Interferometrie mit den hier angestrebten Möglichkeiten der
Prüfung in streifender Inzidenz verglichen werden soll.
Wie aus der Fig. 1 ersichtlich ist, muß bei senkrechter Inzidenz der Prüflingswelle ein großes
Ortsbandbreite-Produkt in dem diffraktiven optischen Element (DOE) realisiert werden.
Außerdem sind noch Sondermaßnahmen erforderlich (die hier einfachheitshalber fortgelassen
wurden), um unerwünschte Reflexe von den DOE-Flächen zu unterdrücken. Diese Reflexe
würden bei der Auflichtanordnung in ihrer Intensität von gleicher Größenordnung sein wie die
Testwelle.
Durch das Aufteilen der Funktion des DOE in ein Teiler- und ein Vereiniger-DOE gepaart mit
streifendem Lichteinfall auf das Linsenelement ergibt sich
- - Eine nahezu konstante DOE-Periode,
- - Eine Durchlichtanordnung mit bedeutend besserem Siganl/Rauschen-Verhältnis,
- - Die streifende Inzidenz ermöglicht einen sehr stabilen common-path-Aufbau des Interferometers, wobei wegen der diffraktiven Strahlenteiler die nullte Beugungsordnung jeweils als Referenzwelle herangezogen werden kann,
- - Die Empfindlichkeit des Interferometers ist durch die Periode des DOE-Paares vorgegeben und in weiten Grenzen frei wählbar.
Anhand der Fig. 1 kann auch die Funktion des erfindungsgemäßen Verfahrens zur Prüfung
von Zylinderflächen ableiten. Das erste DOE teilt die einfallende Planwelle in vornehmlich
drei Wellen auf: in eine ungebeugte Planwelle, eine divergente und eine konvergente
Kegelwelle. Letztere trifft überall unter gleichem Winkel streifend auf einen zylindrischen
Prüfling wird dort reflektiert und bei Auftreffen auf das zweite DOE in eine nahezu plane on-
axis Welle zurückverwandelt. Dadurch ergibt sich ein Interferenzbild zwischen der Objekt-
und der ungebeugten Referenzwelle, welches die Abweichungen des Prüflings von der
Idealform anzeigt.
Dieses Prinzip ist auf allgemeine stabförmige Körper ausdehnbar.
In Fig. 2 ist der Fall einer bikonvexen Zylinderlinse zusammen mit planen seitlichen
Begrenzungsflächen dargestellt. Zu dieser speziellen Gestalt korrespondiert die Struktur der
beiden DOE, die zur Prüfung herangezogen werden. Im einfachsten Fall besteht die Struktur
für Kreiszylinderflächenabschnitte aus Abschnitten von diffraktiven Axicons und die von
Planflächen korrespondieren mit einfachen Gittern, wobei die Orientierung des Körpers in der
Struktur des DOE geeignet abgebildet ist. Zur Auswertung der Interferogramme läßt sich die
Methodik der phase shifting Interferometrie heranziehen, indem man sich die benötigten
Interferenzbilder mit unterschiedlicher Referenzphase durch eine axiale Verschiebung von
einem DOE beschafft. Eine axiale Verschiebung führt zu einer Änderung der relativen
Phasenlage zwischen Referenz- und Prüflingswelle wegen der unterschiedlichen Richtungen
der Wellenfrontnormalen. Die phase shifting Interferometrie stellt auch durch ihre hohe
Genauigkeit den Rahmen für eine erfolgreiche Optikprüfung unter streifender Inzidenz, indem
sie den Großteil des Empfindlichkeitsverlustes wieder ausgleicht.
Durch die Messung der Zylinderlinsen in streifender Inzidenz ergibt sich längs der
Zylinderachse eine anamorphotische Verzerrung, die zu einem Informationsverlust führt.
Darüber hinaus ist die starke anamorphotische Verzerrung besonders störend bei kurzen
Zylinderlinsen (zu geringe Zahl von Schnitten längs der Linsenachse). Hier kann eine
anamorphotische Entzerrung Abhilfe schaffen. Dabei kann entweder die unverzerrte Richtung
ebenfalls komprimiert werden oder die verzerrte entzerrt werden. Für diesen Zweck sind z. B.
prismatische Anamorphe mit teleskopischem Strahlengang geeignet. Allerdings verursachen
diese einen lateralen Strahlversatz, der durch eine symmetrisierte Serienschaltung zweier
Prismenteleskope (s. Fig. 3) kompensiert werden kann. Mit Zylinderlinsenteleskopen könnte
man den seitlichen Versatz vermeiden, muß dann aber eventuell die Aberrationen der
Zylinderoptik in die Betrachtung der Gesamtgenauigkeit einbeziehen. Das erfordert
Simulationsrechnungen, die mit unserer Raytrace software Version 6.3 ausgeführt werden
sollen.
1.) Schwider; "Verfahren zur interferometrischen Prüfung von technischen Oberflächen"
DE Patent Nr. 196 43 074, Anmeldetag: 18 10 1996
2.) G. Schulz, J. Schwider,. "Interferometric testing of smooth surfaces", Prog. in Optics XIII, E. Wolf, Ed., Elsivier Publisher New York, (1976)
3.) J. Schwider, "Verfahren und Anordnung zur Prüfung beliebiger Mantelflächen rotationssymmetrischer Festkörper mittels synthetischer Hologramme", DDR WP 106 769, Anmeldetag 4.1.1972
4.) J. Schwider, "Verfahren zur Prüfling technischer Oberflächen mit Hilfe von computer- erzeugten Hologrammen", G. Pat. pending Aktz. DE 195 11 926.3, Anmeldetag 31.3.1995
2.) G. Schulz, J. Schwider,. "Interferometric testing of smooth surfaces", Prog. in Optics XIII, E. Wolf, Ed., Elsivier Publisher New York, (1976)
3.) J. Schwider, "Verfahren und Anordnung zur Prüfung beliebiger Mantelflächen rotationssymmetrischer Festkörper mittels synthetischer Hologramme", DDR WP 106 769, Anmeldetag 4.1.1972
4.) J. Schwider, "Verfahren zur Prüfling technischer Oberflächen mit Hilfe von computer- erzeugten Hologrammen", G. Pat. pending Aktz. DE 195 11 926.3, Anmeldetag 31.3.1995
Claims (8)
1. Verfahren zur interferometrischen Prüfung von Zylinderlinsen mit Hilfe von
computererzeugten diffraktiven Elementen in streifender Inzidenz dadurch
gekennzeichnet, daß das kollimierte Licht eines Lasers senkrecht auf ein erstes
diffraktives optisches Element trifft und dort in eine ungebeugte Planwelle und mehrere
gebeugte Wellen aufgeteilt wird, von denen eine passend vordeformierte Wellenfront für
alle Azimuthe tangential streifend auf die Prüflingsmantelfläche fällt, dort reflektiert wird
und danach auf ein zweites diffraktives optisches Element trifft und durch Beugung mit
der Referenzwelle zu einem Interferogramm überlagert wird, welches die Abweichungen
der Oberfläche von der Idealform anzeigt.
2. Verfahren nach Anspruch 1 dadurch gekennzeichnet, daß die automatisierte
Auswertung mit den Mitteln der phase shifting Interferometrie erfolgt, wozu mehrere
phasenverschobene Abweichungsbilder in Form von Interferogrammen durch axiale
Verschiebung eines der diffraktiven Elemente erzeugt werden.
3. Verfahren nach Anspruch 1 dadurch gekennzeichnet, daß die diffraktiven Elemente in
Form von Ronchi-Phasen-Elementen derart ausgelegt werden, daß die drei ersten
Beugungsordnungen gleich intensiv ausfallen.
4. Verfahren nach Anspruch 1-3 dadurch gekennzeichnet, daß auch die planen
Anschlagflächen in die interferometrische Auswertung einbezogen werden, wodurch sich
die mittleren relativen Lagen aller Teilflächen einer Zylinderlinse angeben lassen.
5. Verfahren nach Anspruch 1-4 dadurch gekennzeichnet, daß die beugenden Strukturen
der diffraktiven optischen Elemente Parallelkurven zum Flächenmeridian der
Zylinderlinsen sind, wodurch sich beliebige mathematisch konvexe Linsenprofile in
einem Nulltest berücksichtigen lassen.
6. Verfahren nach Anspruch 1-4 dadurch gekennzeichnet, daß wahlweise die mittlere
Ortsfrequenz von Teilgebieten der diffraktiven Elemente angepaßt an die
Flächenrauhigkeit der Teilmantelfläche unterschiedlich gewählt wird.
7. Verfahren nach Anspruch 1-4 dadurch gekennzeichnet, daß die durch die streifende
Inzidenz hervorgerufene anamorphotische Verzerrung durch Prismenteleskope oder
Zylinderlinsenteleskope kompensiert wird.
8. Verfahren nach Anspruch 1-4 dadurch gekennzeichnet, daß die anamorphotische
Verzerrung durch eine Kombination zweier geblazter Gitter in Reihenschaltung reduziert
beziehungsweise aufgehoben wird.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE2000104580 DE10004580A1 (de) | 2000-02-02 | 2000-02-02 | Verfahren zur Prüfung von Zylinderlinsen bezüglich Flächenabweichungen und Zentrierung der Einzelflächen untereinander |
Applications Claiming Priority (1)
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Publications (1)
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| DE10004580A1 true DE10004580A1 (de) | 2001-08-09 |
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| DE2000104580 Withdrawn DE10004580A1 (de) | 2000-02-02 | 2000-02-02 | Verfahren zur Prüfung von Zylinderlinsen bezüglich Flächenabweichungen und Zentrierung der Einzelflächen untereinander |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| DE (1) | DE10004580A1 (de) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102004008318A1 (de) * | 2004-02-17 | 2005-09-08 | Jenoptik Laser, Optik, Systeme Gmbh | Massanordnung zur Prüfung von Zylinderlinsen |
| US8228485B2 (en) | 2005-11-29 | 2012-07-24 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Projection illumination system |
| WO2018007211A1 (en) * | 2016-07-08 | 2018-01-11 | Carl Zeiss Smt Gmbh | System for interferometrically measuring the imaging quality of an anamorphic projection lens |
-
2000
- 2000-02-02 DE DE2000104580 patent/DE10004580A1/de not_active Withdrawn
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102004008318A1 (de) * | 2004-02-17 | 2005-09-08 | Jenoptik Laser, Optik, Systeme Gmbh | Massanordnung zur Prüfung von Zylinderlinsen |
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| CN109477708A (zh) * | 2016-07-08 | 2019-03-15 | 卡尔蔡司Smt有限责任公司 | 用于干涉地测量变形投射镜头的成像质量的系统 |
| US10697852B2 (en) | 2016-07-08 | 2020-06-30 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Measuring method and measuring system for interferometrically measuring the imaging quality |
| TWI751179B (zh) * | 2016-07-08 | 2022-01-01 | 德商卡爾蔡司Smt有限公司 | 用於干涉性地量測光學成像系統的成像品質之量測方法與量測系統 |
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