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DE1084382B - Halbleiteranordnung mit einem Halbleiterkoerper aus zwei Zonen entgegengesetzten Leitfaehigkeitstyps - Google Patents

Halbleiteranordnung mit einem Halbleiterkoerper aus zwei Zonen entgegengesetzten Leitfaehigkeitstyps

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Publication number
DE1084382B
DE1084382B DER23657A DER0023657A DE1084382B DE 1084382 B DE1084382 B DE 1084382B DE R23657 A DER23657 A DE R23657A DE R0023657 A DER0023657 A DE R0023657A DE 1084382 B DE1084382 B DE 1084382B
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
contact
zone
space charge
semiconductor
current
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DER23657A
Other languages
English (en)
Inventor
Hermann Statz
Robert A Pucel
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Raytheon Co
Original Assignee
Raytheon Manufacturing Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Raytheon Manufacturing Co filed Critical Raytheon Manufacturing Co
Publication of DE1084382B publication Critical patent/DE1084382B/de
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10DINORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
    • H10D10/00Bipolar junction transistors [BJT]
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F99/00Subject matter not provided for in other groups of this subclass
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10DINORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
    • H10D48/00Individual devices not covered by groups H10D1/00 - H10D44/00
    • H10D48/30Devices controlled by electric currents or voltages
    • H10D48/32Devices controlled by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
    • H10D48/34Bipolar devices
    • H10D48/345Bipolar transistors having ohmic electrodes on emitter-like, base-like, and collector-like regions
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10DINORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
    • H10D64/00Electrodes of devices having potential barriers
    • H10D64/20Electrodes characterised by their shapes, relative sizes or dispositions 
    • H10D64/27Electrodes not carrying the current to be rectified, amplified, oscillated or switched, e.g. gates
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10DINORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
    • H10D99/00Subject matter not provided for in other groups of this subclass

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)

Description

  • Halbleiteranordnung mit einem Halbleiterkörper aus zwei Zonen entgegengesetzten Leitfähigkeitstyps Die Erfindung betrifft allgemein Übertragungseinrichtungen für elektrische Signale mit Halbleiterkörpern und speziell eine Halbleiteranordnung mit einem Halbleiterkörper aus zwei Zonen entgegengesetzten Leitfähigkeitstyps, die an einem pn-Übergang zusammenstoßen,- an dem an je einer Zone eine ohmsche Elektrode und auf der einen Zone am pn-Übergang eine nichtohmsche Steuerelektrode angebracht ist.
  • Es sind sogenannte »Transistoren« bekannt, welche aus einem Halbleiterkörper aus zwei verschiedenen Zonen entgegengesetzten Leitfähigkeitstyps bestehen. An jeder der beiden Zonen ist eine ohmsche Elektrode angebracht. Weiterhin können am pn-Übergang weitere ohmsche Elektroden vorgesehen sein.
  • Gemäß der vorliegenden Erfindung wird nun eine neue Gattung von Halbleiteranordnungen vorgeschlagen, welche als »Spacistor« bezeichnet werden soll.
  • Die gemäß der vorliegenden Erfindung vorgeschlagenen »Spacistoren« unterscheiden sich von den bekannten »Transistoren« im wesentlichen dadurch, daß an die beiden ohmschen Elektroden eine so hohe Spannung, z. B. von 250 V, in Sperrichtung angelegt ist, daß auf der dabei entstehenden breiten Raumladungszone sowohl die nichtohmsche Steuerelektrode als auch eine weitere Steuerelektrode angebracht ist.
  • Ähnlich wie die Transistoren bestehen die Halbleiteranordnungen gemäß der Erfindung aus einem Körper aus halbleitendem Material, z. B. Germanium oder Silizium, mit zwei Zonen entgegengesetzten Leitfähigkeitstvps. Der positive Leitfähigkeitstyp kann dabei durch Verunreinigungsmaterial aus der III. Gruppe des Periodischen Systems, der negative Leitfähigkeitstyp durch Verunreinigungsmaterial aus der V. Gruppe erzielt werden.
  • Während jedoch die Transistoren im allgemeinen nur zur Übertragung von Hörfrequenzen oder relativ niedrigen Radiofrequenzen brauchbar sind, eignen sich die Halbleiteranordnungen gemäß der vorliegenden Erfindung auch für höhere Frequenzen. Bei den Transistoren hängt die Wirkungsweise von einer willkürlichen Diffusionsbewegung der Stromträger über die mittlere Basiszone ab. Da jedoch die für einen vollständigen Durchgang der Stromträger quer über die Basiszone von dem Emitter zu dem Kollektor erforderliche Zeit im Vergleich zu der oftmals erwünschten Betriebsfrequenz relativ lang ist, ist die Anwendung der Transistoren für höhere Frequenzen infolge der in diesem Bereich des elektromagnetischen Spektrums vorliegenden schlechten Frequenzabhängigkeit stark beeinträchtigt.
  • Der überraschende Vorteil hinsichtlich der Übertragung höherer Frequenzen bei den Spacistoren gemäß der Erfindung läßt sich darauf zurückführen, daß der erste auf der breiten Raumladungszone angeordnete Kontakt als ein Mittel zur Einführung von Ladungsträgern direkt in die in dem Halbleiterkörper aufrechterhaltene Raumladungszone dient, so daß die Übergangszeit der Stromträger auf ihrem Weg zum Kollektor im Vergleich zur Übergangszeit der Stromträger durch die Basiszone der Transistoren wesentlich verkürzt wird. Die verkürzte Übergangszeit resultiert aus den Beschleunigungskräften, welche auf die Stromträger durch das starke elektrische Feld der Raumladungszone wirken. Der zweite in der breiten Raumladungszone angeordnete Kontakt dient als Steuerelektrode zur Modulierung der Emission der Stromträger durch den Emitterkontakt, so daß also der Fluß der Stromträger durch eine von außen angelegte Signalspannung steuerbar ist. Zusätzlich bewirkt der als Steuerelektrode dienende zweite Kontakt eine wesentliche Verminderung des Einflusses von Spannungsänderungen über einen an den Ausgangskreis angeschlossenen Lastkreis auf die Emission der Stromträger durch den Einführungskontakt, so daß also eine Anordnung mit hohem Ausgangsscheinwiderstand erzielt wird. Dementsprechend ist die Anordnung gemäß der vorliegenden Erfindung in der praktischen Anwendung nicht durch die Rückkopplungsbedingungen beschränkt, wie sie zwischen dem Ausgang und dem Eingang bei den bekannten Transistoren vorliegen.
  • Es sei noch klargestellt, daß die Halbleiteranordnung gemäß der Erfindung keine Transistoren in dem Sinne sind, wie diese Bezeichnung bisher in der Technik verwendet wurde. Da in den Anordnungen gemäß der vorliegenden Erfindung die Mittel zum Einführen der Stromträger in den Halbleiterkörper in einer Raumladungszone eingeschlossen sind, die sich von dem der Kollektorverbindung entsprechenden Teil erstreckt, liegt auch die eigentliche Transistorarbeitsweise nicht mehr vor, da Emitter und Kollektor im wesentlichen kurzgeschlossen sind.
  • Die Zeichnungen dienen der weiteren Erläuterung des Gegenstandes der Erfindung. Es zeigt Fig. 1 eine schematische Darstellung einer Ausführungsform eines Spacistors gemäß der vorliegenden Erfindung, Fig.2 ein Diagramm, welches den Potentialverlauf in einem Längsschnitt durch die Raumladungszone in der Anordnung gemäß Fig. 1 in der Nähe des Modulationspunktes 12 erläutert, Fig. 3 ein Diagramm, das in übertriebener Darstellung die Wirkung eines negativ vorgespannten Kontaktes in der Raumladungszone der Vorrichtung gemäß Fig. 1 erläutert, Fig. 4 ein Schaubild, das die Änderung des Potentials in der Raumladungszone der Einrichtung gemäß Fig. 1 in Abhängigkeit des Abstandes von dem Modulationskontakt zeigt, Fig. 5 ein Schaubild der auf den eingeführten Strom bezogenen Steilheit für zwei verschiedene Halbleiteranordnungen der vorliegenden Erfindung, welche verschiedenen Abstand zwischen dem Einführungskontakt und dem Modulationskontakt haben, Fig. 6 a ein Diagramm, das den Potentialverlauf über die Raumladungszone in der Einrichtung gemäß Fig. 1 für zwei verschiedene Größen einer zwischen den Klemmen 6 und 7 angelegten Vorspannung, jedoch ohne die Kontakte 9 oder 12, zeigt, Fig.6b ein Diagramm, das den Potentialverlauf über die Raumladungszone in der Einrichtung gemäß Fig.1 für zwei verschiedene Größen einer zwischen den Klemmen 6 und 7 angelegten Vorspannung mit dem Kontakt 12 und bei Vorspannung des Kontaktes 12 mit einer konstanten Spannung relativ zu der Klemme 7 zeigt, Fig. 7 a und 7 b Schaltpläne, die zum Messen der Strom-Spannungs-Verhältnisse und des Einführungswirkungsgrades der in den Raumladungszonen angeordneten Kontakte, z. B. in der Einrichtung gemäß Fig. 1, geeignet sind, Fig. 8 a ein Schaubild, das die Abhänigkeit zwischen dem eingedrückten Strom und der angelegten Spannung zeigt, wenn der Einführungskontakt der Einrichtung gemäß Fig. 1 eine Wolframspitze ist, Fig.8a ein Schaubild, welches das Verhältnis des >>Loch«- und des »Elektronen«-Stromflusses für verschiedene Werte eines eingedrückten Gesamtstromes unter Verwendung einer Wolframspitze als Einführungskontakt in der Einrichtung gemäß Fig. 1 zeigt, Fig. 9 ein Schaubild des Energiepegels, welches der Erläuterung der Arbeitsweise des Wolframemitterkontäktes der Einrichtung gemäß Fig. 1 dient, Fig.10a und 10b Schaubilder ähnlich denjenigen in Fig.8a und 8b mit Ausnahme, daß der Einführungskontakt an der Einrichtung ein stark positiver einlegierter Bereich ist, Fig. 11a eine schematische, schaubildliche Ansicht einer abgewandelten Ausführungsform einer Einrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung, Fig. 11b eine schematische Darstellung einer weiteren Ausführungsform einer Einrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung, Fig. 12 einen Schaltplan einer Einrichtung ähnlich der in Fig. 1 dargestellten. mit Ausnahme, daß hier der Eingang zwischen der. Klemme 7 und dem Einführungskontakt 9 und nicht zwischen der Klemme 7 und dem Modulationskontakt 12 wie in Fig. 1 liegt.
  • In Fig. 1 ist eine schematische Darstellung eines »Spacistor«-Tetrodenhalbleiteraufbaues gemäß der vorliegenden Erfindung dargestellt. Das Bezugszeichen 10 bezeichnet allgemein einen Körper aus halbleitendem Material, z. B. aus Germanium oder Silizium, der zwei angrenzende Zonen 1 und 2 eines Materials vom entgegengesetzten elektrischen Leitfähigkeitstyp aufweist. Der Körper 10 kann in irgendeiner geeigneten, dem Fachmann bekannten Art und Weise hergestellt werden, z. B. indem man einen Einzelkristall aus einer geschmolzenen Masse eines Halbleitermaterials wachsen läßt und indem man wechselweise die Schmelze mit einem geeigneten Verunreinigungsmaterial versetzt, um die N-Zone 1 und die P-Zone 2 mit einer entsprechenden PN-Stoßstelle 3 zwischen den beiden Zonen zu bilden.
  • Die P-Zone 2 ist mit der N-Zone 1 über eine Vorspanungsquelle, z. B. eine Batterie 4, und einen geeigneten Lastwiderstand 5 verbunden. Die positive Klemme der Batterie 4 ist, wie dargestellt, mit einer Elektrode 6 verbunden, welche an der N-Zone 1 sitzt. Die negative Klemme der Batterie 4 ist mit einer Elektrode 7 verbunden, welche an der, P-Zone 2 sitzt, so daß der PN-Übergang 3 in Sperrichtung vorgespannt wird und eine Raumladungszone 8 geschaffen wird, die sich in die N-Zone 1 und in die P-Zone 2 erstreckt. Der Körper 10 hat einen Stromträger-Einführungskontakt 9, welcher mit der Oberfläche desselben in der Nähe der Stoßstelle 3 verbunden ist. Der Einführungskontakt 9 ist an die Klemme 7 über eine Batterie 11 angeschlossen, welche den Kontakt 9 negativ in bezug auf das Potential der Barunterliegenden Raumladungszone vorspannt. Es sei jedoch bemerkt, daß das Potential des Kontaktes 9 in bezug auf den Konakt 7 positiv ist. Unter dieser Bedingung werden Stromträger, in diesem Falle Elektronen, in die Raumladungszone eingeführt oder »injiziert«. Die Stromträger fließen durch die N-Zone 1, die Baterie 4, den Widerstand 5, die Batterie 11 und zurück zu dem Kontakt 9. Die Emission der Elektronen aus dem Kontakt 9 ist in den meisten zu beschreibenden Fällen durch die Raumladung begrenzt. Bei dem beschriebenen Beispiel kann der Kontakt 9 eine kleine, stark 1-,1-dotierte vorgelagerte Zone haben oder wechselweise ein Druckkontakt mit einem spitzen Wolframpunkt sein, welcher mit der Oberfläche des Körpers 10 Kontakt macht. In jedem Fall muß der Kontakt 9 so gestaltet sein, daß er Stromträger unter den angegebenen Vorspannungsbedingungen emittiert.
  • Der Körper 10 ist, wie in Fig. 1 dargestellt, weiterhin mit einem zweiten Kontakt 12 versehen, welcher in der Nähe des Emissionskontaktes 9 angeordnet ist. Der Kontakt 12 kann als Modulationskontakt angesprochen werden. Er liegt ebenfalls innerhalb der Grenzen der Raumladungszone B. Der Modulationskontakt 12 ist an die positive Klemme einer Batterie 13 angeschlossen. Die negative Klemme der Batterie 13 ist mit einer Seite eines Eingangsklemmenpaares 14 verbunden. Unter dieser Vorspannungsbedingung wird der Kontakt 12 im umgekehrten Sinne relativ zu dem Potential der darunterliegenden Raumladungszone 8 vorgespannt, d. h., der Kontakt 12 ist negativ relativ zu diesem Potential. Dies erfüllt die wesentliche Bedingung, daß der Kontakt 12 gleichrichtend arbeitet, wenn er in der Raumladungszone 8 sitzt, d. h., der Stromfluß in umgekehrter Richtung durch den Kontakt 12 wird im wesentlichen Null sein, wogegen der Vorwärtsstromfluß in den Körper 10 groß ist. Dein Modulationskontakt 12 kann beispielsweise eine stark dotierte kleine P-Zone vorgelagert sein, um diese Bedingung zu erfüllen.
  • Im Betrieb der Halbleiteranordnung wird das durch die Batterie 13 dem Modulationskontakt 12 aufgezwungene Potential immer positiv relativ zu dem Einführungskontakt 9 sein. Trotz dieses Umstandes wird keiner der von dem Kontakt9 emittierten Stromträger von dem Kontakt 12 gesammelt. Der Grund für diese Wirkung ist teilweise aus Fig. 2 ersichtlichlich, in welcher eine schematische Darstellung des Potentials, ausgedrückt in Elektronenenergieeinheiten, in einem Längsquerschnitt der Raumladungszone 8 der in Fig. 1 dargestellten Halbleiteranordnung gezeigt ist. Der maschenähnliche Abschnitt 15 zeigt die Elektronenenergie der Raumladungszone. Die emittierten Elektronen fließen den schräg verlaufenden Teil abwärts gegen die Linie C-D, die das Ende der Raumladungszone veranschaulichen. Das Feld ist, wie dargestellt, in der Nähe des vorgespannten Punktes 12 deformiert und bildet eine angehobene Stelle 16, welche in ihrer Höhe nach außen gegen den vorderen Teil des Feldes 15 nach und nach abnimmt. Es wird daher wirkungsmäßig eine Stelle von höherem negativem Potential in der Fläche unmittelbar unter dem Kontakt 12 geschaffen, welche die emittierten Elektronen zwingt, auf ihrem Weg zu der Linie C-D um diese Fläche herumzufließen. Wenn dementsprechend der Punkt 12 negativ relativ zu dem Potential der darunterliegenden Raumladungszone vorgespannt wird, fließt kein Elektronenstrom in den Konakt 12. Da der Kontakt 12 in einer Raumladungszone sitzt, durchdringt das von ihm erzeugte Feld nicht vollständig die Raumladungszone 8 und ändert nicht das Gesamtfeld derselben. Das Feld erstreckt sich zu den Grenzen der kaumladungszone, wo es sich ausbuchtet und die alte Raumladungszonengrenze deformiert, um die neuen Raumladungsgrenzen 17 und 18, wie in Fig. 3 dargestellt, zu bilden. In Fig. 3 wurde der Einführungskontakt 9 weggelassen und lediglich der Modulationskontakt 12 dargestellt, um die Wirkung des vorgespannten Kontaktes 12 auf die Raumladungszone 8 klarer zu veranschaulichen. Die Art und Weise, in welcher das Potential der Raumladungszone 8 durch die Anwesenheit des vorgespannten Modulationspunktes 12 geändert wird, kann leicht gemessen werden. Für diesen Zweck wurde eine 10-Volt-Wechselspannung der Vorspannung des Kontaktes 12 überlagert, und mit einem beweglichen Wolframeinführungskontakt 9 wurde injiziert, d. h., die Wechselspannung an der Oberfläche der Ra.umladungszone wurde an verschiedenen Punkten gemessen. In Fig. 4 sind die Ergebnisse für eine Germanium-Halbleiteranordnung dargestellt, bei der an den PN-Übergang eine Gesamtgleichspannung von 220 Volt über einer 1,2 . 10-2 cm breiten Raumladungszone angelegt wurde. In Fig.4 bedeutet die Abszisse den physikalischen Abstand zwischen dem Einführungskontakt 9 und dem Modulationskontakt 12. Der Modulationskontakt 12 übt, wie bereits weiter oben erwähnt, eine Doppelfunktion aus. Zuerst kann die Emission der durch den Kontakt 9 eingeführten Stromträger durch Überlagerung einer Wechselspannung über die Gleichstromvorspannung steuermäßig geändert werden. Dies ist darauf zurückzuführen, daß die Feldstärke in der Nähe des Einführungspunktes 9 geändert und die durch die Raumladung beschränkte Emission moduliert wird. Es zeigte sich, daß der Modulationsgrad in kritscher Weise von der geometrischen Anordnung der Kontakte 9 und 12, insbesondere von ihrem geometrischen Abstand, abhängt. Weiterhin besteht eine Abhängigkeit von der Größe des Vorspannungsstromflusses.
  • Zur quantitativen Diskussion der Modulation wird üblicherweise die Vakuumröhrenterminologie angewendet. Man definiert eine Steilheit g" wie folgt: In der Gleichung (1) stellt IA"sg den Laststrom und I;"j den injizierten Strom dar, während Vmoa das Potential des Modulationskontaktes 12 ist. Die Steilheit g," ist in Fig. 5 für zwei typische Germanium-Halbleiteranordnungen als Funktion des Vorspannungsstromes aufgezeichnet. Die Kurve 19 entspricht einer Versuchsanordnung, bei der die Kontakte 9 und 12 näher aneinanderlagen als die Kontakte bei der Aufnahme der Kurve 20. Aus diesen Kurven ist ersichtlich, daß g," annähernd linear mit dem Vorspannungsstrom wächst. Bei den Versuchs-Halbleiteranordnungen bestand der Modulationskontakt aus einem goldlegierten Punkt auf einer P-Zone von etwa 5 - 10-3 cm Durchmesser, während der Einführungskontakt 9 ein Wolf rampunkt war, welcher im Abstand von etwa 1,2 - 10-3 cm von der Kante des Modulationskontaktes 12 angeordnet war. Der Knick in der, Kurve 19 und die Streuung der Meßpunkte in der Kurve 20 wird auf die Tatsache zurückgeführt, daß der Abstand zwischen dem Einführungskontakt 9 und dem Modulationskontakt 12 bei beiden Einrichtungen nicht derselbe war. Der Abstand zwischen den Kontakten in der der Kurve 19 zugeordneten Einrichtung war etwas geringer als der Abstand zwischen den Kontakten der der Kurve 20 zugeordneten Einrichtung. Bei der Erprobung der angegebenen Einrichtungen wurde eine Gesamtspannung von 205 Volt angelegt. Die Raumladungzone hatte eine Breite von etwa 10-2 cm. Es sei noch darauf hingewiesen, daß die Stellungen des Einführungspunktes und des Modulationspunktes vorzugsweise so liegen, daß diese in Längsrichtung zu der Erstreckung der Raumladungszone fluchten. Wenn diese Kontakte nebeneinander seitlich versetzt auf der Raumladungszone aufsitzen, wird ein niedrigeres g," für vergleichbare Trennungsabstände erzielt.
  • Die zweite Funktion des Modulationskontaktes 12 liegt darin, den Einfluß der Spannungsschwankungen über die Last 5 auf die Emission der Stromträger durch den Einführungskontakt 9 zu vermindern. Um die Erläuterung, wie diese Funktion von dem Kontakt 12 bewältigt wird, zu erleichtern, wird auf die Fig. 6 a und 6 b Bezug genommen. In Fig. 6 a ist das Potential über die Raumladungszone für zwei verschiedene, zwischen den Klemmen 6 und 7 einer in Fig. 1 dargestellten Einrichtung liegende Spannungen durch die Kurven 21 und 22 wiedergegeben, ohne daß hier irgendwelche Kontakte an der Raumladungszone anliegen. Die Lage, welche ein Einführungskontakt normalerweise einnehmen würde, ist durch die gestrichelte Linie 23 angedeutet. Es ist klar ersichtlich, daß eine -Änderung der angelegten Spannung das Potential der unterhalb des Einführungskontaktes liegenden Raumladungszone ändert und dementsprechend die Emission von Stromträgern durch den Einführungskontakt beeinflußt. Das Vorspannungspotential hinsichtlich der unterhalb des Einführungskontaktes liegenden Raumladungszone hängt also, mit anderen Worten, von der angelegten Spannung ab. Diese Situation steht im Gegensatz zu der in Fig. 6b dargestellten, in welcher das Potential über die Raumladungszone in der Nähe der Oberfläche für dieselben beiden angelegten Spannungen wie in der Fig. 6 a in den Kurven 21 und 22 dargestellt ist. Hier ist jedoch ein Modulationskontakt vorhanden, der, wie durch die gestrichelte Linie 24 angedeutet, angeordnet ist und der mit einer konstanten Spannung relativ zu der Klemme 7 in Fig. 1 vorgespannt ist. Aus Fig.6b ist ersichtlich, daß die unteren Teile der Kurven 21 und 22 in demjenigen Bereich im wesentlichen zusammenfallen, in welchem der Einführungskontakt so angeordnet ist, daß im wesentlichen keine Änderung des Potentials der Barunterliegenden Raumladungszone unter einer Änderung der angelegten Spannung auftritt. Die Vorspannung des Einführungskontaktes relativ zu der Raumladungszone ist dementsprechend im wesentlichen unabhängig von der über die Klemmen 6 und 7 der Vorrichtung gemäß Fig.1 angelegten Spannung. Dies bedeutet wiederum, daß der von dem Einführungskontakt 9 emittierte Strom im wesentlichen von der angelegten Spannung unabhängig ist, so daß dementsprechend eine hohe Ausgangsimpedanz für die Halbleitereinrichtung erzielt wird. Es zeigte sich, daß die Ausgangsimpedanz bis hinauf zu 30 Megohm für l1";=0,3 mA bei der Einheit liegen kann, für die die g"-Werte als Kurve 19 in Fig. 5 dargestellt sind.
  • Um eine maximale Betriebswirksamkeit der Vorrichtungen gemäß der vorliegenden Erfindung zu erzielen, ist es erforderlich, daß der Kontakt 9 gute Stromeinführungscharakteristiken hat und daß der Modulationskontakt 12 gute Gleichrichtungseigenschaften in der Raumladungszone 8 hat. Damit die Vorrichtung gemäß Fig. 1 einen hohen Leistungsgewinn zeigt, ist es besonders von Bedeutung, daß der Modulationskontakt 12 eine gute Sperrstromcharakteristik hat.
  • Wie bereits weiter oben erwähnt, kann der Einführungskontakt 9 des Spacistors gemäß Fig. 1 einen Wolframdraht haben, der Druckkontakt mit der Oberfläche des Halbleiterkörpers 10 macht. Die Strom-Spannungs-Charakteristik eines derartigen Kontaktes kann durch Verwendung der in Fig. 7 a dargestellten Prüfschaltung gemessen werden. Wie dort gezeigt ist, ist ein Halbleiterkörper 40 mit P- und N-Zonen ähnlich dem Körper der Fig. 1 mit einem Wolframeinführungskontakt 41 ähnlich dem Kontakt 9 in Fig. 1 versehen. Der PN-Übergang 42 wird durch die Batterie 43 umgekehrt vorgespannt. Zwischen den Kontakt 41 und der Klemme 46 ist eine regelbare Spannungsquelle 44 und ein Strommeßgerät 45 geschaltet. Es fließt kein Strom, wenn das Potential des Kontaktes 41 im wesentlichen gleich ist dem Potential der Barunterliegenden Raumladungszone 47. Bei der Prüfung wird die von der Batterie 44 an den Kontakt 41 angelegte Spannung relativ zu dem obenerwähnten Potential gemessen, so daß für I=0, V=O ist. Die Stromeinführungsmenge kann dementsprechend durch Änderung der an den Kontakt 41 angelegten Spannung geändert werden. In Fig.7b ist eine weitere Prüfschaltung ähnlich der Schaltung der Fig. 7 a dargestellt mit Ausnahme, daß zusätzlich ein Strommeßgerät 49 zwischen die Klemme 46 und das Meßgerät 45 und ein Strommeßgerät 51 zwischen die Klemme 48 und die Batterie 43 eingeschaltet ist. Diese Schaltung ermöglicht, daß bestimmt werden kann, zu welchem Bruchteil der eingedrückte Strom aus Elektronen entsprechend derAblesung des Meßgerätes 51 und aus »Löchern« entsprechend der Ablesung durch das Meßgerät 49 besteht.
  • In Fig. 8 a ist die Strom-Spannungs-Charakteristik eines typischen Wolframkontaktes in der Raumladungszone veranschaulicht, wie sie durch Verwendung des Prüfkreises gemäß der Fig. 7 a erzielt werden kann. Die Kurve 25 zeigt, daß die Scheinwiderstandscharakteristik des Kontaktes 41 unter steigender Vorspannung, d. h. wenn der Kontakt 41 steigend positiver relativ zu der darunterliegenden Rauinladungszone gemacht wird, im wesentlichen die gleiche ist wie die umgekehrt vorgespannte Scheinwiderstandskurve 26, d. h. wenn der Kontakt 41 nach und nach stärker negativ relativ zu der Barunterliegenden Raumladungszone gemacht wird. Die Kurven 25 und 26 deuten so an, daß praktisch keine Gleichrichtung stattfindet, unabhängig davon, welche Polarität die an den Einführungskontakt 41 anliegende Spannung hat. Dieses überraschende Ergebnis ist grundlegend von den Ergebnissen mit Wolframpunktkontakten auf einem neutralen N- oder P-Halbleitermaterial, d. h. einem Halbleitermaterial, bei dem unter diesem Punkt keine Raumladung vorliegt, verschieden. Gemäß der Erfindung zeigt es sich also dementsprechend, daß ein Wolframpunkt wirksam in Flußrichtung vorgespannt wird, wenn der Punkt entweder positiv oder negativ relativ zu der Barunterliegenden Raumladungszone ist. Ein derartiger Kontakt kann dementsprechend als Emitter für Stromträger unabhängig von der Polarität, die dieser Kontakt annimmt, verwendet werden.
  • In Fig. 8 b ist der »Loch«- oder »Lückenstrom « und der Elektrostrom I" bzw. I" als Funktion von Il"; aufgezeichnet. Es ist ersichtlich, daß für Spannungen, die den Kontakt 41 positiv relativ zu der Barunterliegenden Raumladungszone 47 vorspannen, der injizierte Strom hauptsächlich aus Lücken oder Löchern, wie durch die Kurve 27 dargestellt, besteht. Die Löcher oder Lücken fließen in der Raumladungszone bis zu dem positiven Bereich. Dieser Lückenstrom wird von dem Meßgerät 49 in Fig. 7b angezeigt. Für die umgekehrte Polarität besteht der eingedrückte Strom hauptsächlich aus Elektronen, wie durch die Kurve 28 dargestellt. Diese Elektronen fließen zu dem negativen Bereich. Der erzielte Elektronenstrom wird von dem Meßgerät 51 in Fig. 7b angezeigt. Das Schaubild gemäß Fig.8b zeigt ebenfalls, daß I" sich nur gering mit Änderung von Ii"; ändert, wenn hauptsächlich ein Lückenstrom fließt, wie aus der Kurve 30 ersichtlich, und daß weiterhin kleine Änderungen von In bei Änderungen von Ii"; auftreten, wenn hauptsächlich ein Elektronenstrom fließt, wie aus der Kurve 31 ersichtlich. Die Abnahme von Ip mit II"i nach links vom Ausgangspunkt her ist das, was man normalerweise erwarten würde. Einige der in der kaumladungszone 47 oder der in der negativen Zone innerhalb etwa einer Diffusionslänge von der Raumladungszone erzeugten Löcher werden bei ihrem Fließen durch den Wolframkontakt 41 gesammelt. Dementsprechend wird erwartet, daß I" abnimmt, je stärker negativ der Kontakt 41 relativ zu der Raumladungszone gemacht wird: Aus demselben Grund könnte man jedoch auch erwarten, daß In mit steigendem Itn; nach rechts vom Ausgang abnimmt im Gegensatz zu den beobachteten Ergebnissen. Obgleich dieses Phänomen im Augenblick noch nicht vollständig durchschaut wird, können mehrere Gründe für diese Beobachtung hypothetisch vorausgesetzt werden. Die Ursache für das Phänomen kann beispielsweise darin liegen, daß der PI\T-Übergang durch die Stromträgereinführung weit genug erwärmt wird, um den Rückstrom der Hauptdiode zu steigern. Es kann auch die Feldstärke groß genug sein, so daß einige der eingeführten Stromträger eine lawinenartige Vervielfältigung einleiten. Es können auch kleine vagabundierende Ströme über die Oberfläche des Halbleiterkörpers an dem beobachteten Effekt schuld sein.
  • Es sei bemerkt, daß, obwohl die Wirkung der Stromeinführungspunktkontakte 9 und 41 unter Bezugnahme auf Wolfram beschrieben wurde, diese Kontakte nicht auf die Verwendung von Wolfram beschränkt sind, da andere metallische Kontakte an deren Stelle treten können und ebenfalls als Emissionskontakte entweder für »Löcher« oder für Elektronen je nach der Polarität des Kontaktes relativ zu der Raumladungszone, wie zuvor beschrieben, arbeiten. Obgleich die Gründe für das außerordentliche Leistungsvermögen eines derartigen Kontaktes im Augenblick noch nicht voll verständlich sind, bietet die Fig. 9 und die folgende Beschreibung zumindest eine plausible Erklärung.
  • Entsprechend der Darstellung in Fig. 9 befindet sich das Metall im wesentlichen in Anlage mit dem Halbleiter. Oberflächenladungen wurden vernachlässigt, da sie nicht groß genug sind, um Umkehrschichten zu erzeugen, so daß sie auch dementsprechend nicht die Erörterung beinflussen. In dem Halbleiter befinden sich praktisch keine Löcher in dem Valenzelektonenband und keine Elektronen in dem Leitungselektronenband, da die hohe Feldstärke in der Räumladungszone sämtliche Träger abzieht. Die Elektronen aus dem -Metall fließen in das Leitungselektronenband des Halbleiters,' wie durch den Pfeil angedeutet, welcher von den in einen Kreis eingeschlossenen Negativzeichen 32 aus.-geht. Die Größe dieses Stromes ist In der Gleichung (7) bedeutet I", eine Konstante, welche von der Kontaktfläche der Wahrscheinlichkeit eines Überganges eines Elektrons aus dem Metall in das Leitungselektronenband des Halbleiters und anderen Faktoren abhängig ist. Der Boltzmann-Faktor in der Gleichung (2) trägt der Anzahl von Elektronen Rechnung, die genug thermische Energie haben, um den Übergang in den Halbleiter zu bewerkstelligen. Die Größe EC ist die Energie des Leitungselektronenbandrandes an- der Oberfläche. EF ist die Fermi-Energie in dem Metall, k ist die Boltzmann-Konstante, und T ist die absolute Temperatur. In ähnlicher Weise werden Elektronen von dem Valenzelektronenband des Halbleiters in das Metall übergehen, oder, was dasselbe ist, Löcher werden- von dem Metall in das Valenzelektronenband des Halbleiters übergehen, wie durch das in einen Kreis eingeschlossene Positiv= zeichen 33 und den Pfeil angedeutet, der die Richtung des Flusses anzeigt. Der gesamte LochstromfluB I" hat also die Form Die Größe I" ist von der Kontaktfläche und von der Wahrscheinlichkeit eines Überganges eines Loches aus dem Metall in den Halbleiter abhängig. Die Energie der Valenzelektronenbandkarte an der Oberfläche ist mit E" bezeichnet. Dementsprechend ist der Strom I, welcher aus dem Kontakt in den Halbleiter fließt Wenn der Kontakt schwebt, wird EF den Wert Epo annehmen, für welchen I = 0 ist.
  • Aus der Gleichung (4) ergibt sich: Wenn eine Spannung h zwischen dem Metall und dem Halbleiter liegt, fällt der größte Teil des Potentialabfalles in die Raumladungszone. Infolge des endlichen .Abstandes zwischen dem Metall und der Oberfläche erscheint jedoch auch ein kleiner Bruchteil der Spannung zwischen dem Metall und der Oberfläche. Dieser Bruchteil soll c sein. Dementspreched wird für eine angelegte Spannung h die Fermi-Energie des Metalls sich relativ zu den Energiebanden an der Oberfläche von EFO nach Ep=EFO-qcV (6) verschieben, wobei q eine Elektronenladung bedeutet. Wenn die Gleichungen (5) und (6) in die Gleichung (4) eingesetzt werden, ergibt sich Die experimentell ermittelten Kurven zeigen die Hauptmerkmale der Gleichung (7). Es muß jedoch berücksichtigt werden, daß die Gültigkeit der Gleichung (7) auf kleine Ströme und Spannungen begrenzt ist. Wenn der Strom wächst, steigt auch die Konzentration der Elektronen oder Löcher vor dem Kontakt: Dementsprechend ist die Voraussetzung von vernachlässigbaren kleinen Elektronenkonzentrationen oder Lochkonzentrationen in dem Halbleiter nicht mehr haltbar. Die Elektronen oder Löcher verhindern auch das elektrische Feld in der Nähe des Kontaktpunktes, se daß dementsprechend c abnimmt. Die Raumladung beginnt also, mit anderen Worten, die Emission aus dem Kontaktpunkt zu begrenzen. Es existiert also ein Übergang von der Stromspannungsbeziehung gemäß Gleichung (7) zu einer Beziehung, welche einer durch die Raumladung begrenzten Emission entspricht. Der Vollständigkeit halber sei erwähnt, daß man auch noch einen anderen Grund dafür in Erwägung ziehen kann, daß c eine Funktion ist, welche sich mit der angelegten Spannung gering ändert. Fürangelegte Spannungen, die groß genug sind, werden die Ränder der Raumladungszone deformiert, wodurch sich der zwischen dem Metall und der Halbleiteroberfläche auftretende Spannungsbruchteil ändert. Immerhin zeigt die oben angegebene Ableitung, wieso keine Gleichrichtung für eine metallische Spitze in der Raumladungszone auftritt und wieso sowohl für positive als auch für negative Vorspannungen Löcher bzw. Elektronen eingeführt oder injiziert werden.
  • Es wird nun wieder die Art des Kontaktes betrachtet, der als Modulationskontakt 12 in der in Fig. 1 dargestellten Vorrichtung verwendet werden kann. Es ist, wie bereits weiter oben festgestellt, für einen erfolgreichen Betrieb der Vorrichtung gemäß Fig. 1 -wesentlich, daß der Modulationskontakt eine nennenswerte Gleichrichtungscharakteristik in der Raumladungszone 8 zeigt. Es zeigte sich nun, daß ein stark dotierter Kontakt mit P-Zone, welcher z. B. durch Legierung einer geringen Menge eines Verunreinigungsmaterials der positiven Gattung an einem Halbleiterkörper 10 hergestellt werden kann, einen Kontakt liefert, der die geforderte Bedingung erfüllt. Wenn man einen derartigen Kontakt, beispielsweise durch die Batterie 13, - in umgekehrtem Sinne vorspannt, nimmt dieser Kontakt 12 im wesentlichen keinen Strom auf. Dies ist aus folgendem ersichtlich: Da der Kontakt 12 relativ zu der darunterliegenden Raumladungszone 8 negativ vorgespannt ist, können die Löcher in dem kleinen Kontakt mit P-Zone nicht in die Raumladungszone fließen. Es sind jedoch einige Elektronen in dem Kontakt mit P-Zone vorhanden. Deren Konzentration ist jedoch an der Grenze zwischen dem positiven Kontakt und der Raumladungszone Null. Es existiert dementsprechend ein Konzentrationsgradient in der Elektronenverteilung von der Innenseite des Positivkontaktes oder -bereiches zu der Grenze zwischen diesem Kontakt und der Raumladungszone, der einen außerordentlich kleinen Gleichstrom zur Folge hat. Dieser Gleichstrom liegt in der Größenordnung von 10-7 Ampere für Germanium. Für Silizium liegt er noch um einige Größenordnungen niedriger. Dieser Strom hängt so lange nicht von der durch die Batterie 13 angelegten Vorspannung ab, wie die Vörspannung größer ist als einige zehntel Volt, so daß dementsprechend die Ausgangsdifferentialimpedanz unendlich ist. In den positiven Kontaktbereich 12 können von der Raumladungszone 8 infolge der durch die Batterie 13 angelegten Gegenspannung keine Elektronen fließen. Der Positivkontakt kann jedoch im Prinzip einige Löcher sammeln, die in der Raumladungszone 8 oder in dem neutralen Teil der RT-Zone 1 innerhalb etwa einer Diffusionslänge der Raumladungszone auf thermischem Weg erzeugt wurden. Die Anzahl der gesammelten Löcher hängt leicht von der Gegenspannung der Baterie 13 ab, so daß dementsprechend dieser Zuschuß zu dem Stromfluß zu einer endlichen Eingangsdifferentialimpedanz führt. Es zeigte sich jedoch, daß Eingangsimpedanzen in der Größenordnung von 30 Megohm ohne Schwierigkeiten erzielt werden können. Verbesserte Verfahren in der Herstellung des Modulationskontaktes und in der Vermeidung von vagabundierenden Strömen werden aller Voraussicht nach diese Ziffer noch auf höhere Werte bringen.
  • In Fig. 11a ist ein Spacistor gemäß einer anderen Ausführungsform des Erfindungsgedankens dargestellt. Das Bezugszeichen 60 bezeichnet allgemein einen Körper aus Halbleitermaterial, z. B. aus Germanium oder Silizum, welcher eine P-Zone61 und eine N-Zone 62 hat. Die Zwischenfläche zwischen den beiden Bereichen bildet einen PN-Übergang 63. Der PN-Übergang 63 wird in umgekehrter Richtung von einer Batterie 64 vorgespannt, deren negative Klemme mit der Klemme 65 und deren positive Klemme mit der Klemme 66 über eine als Widerstand 67 dargestellte Last verbunden ist, so daß dementsprechend eine Raumladungszone 68 gebildet wird. Der Körper 60 hat weiterhin einen Stromträger einführenden Kontakt 69, welcher an dem Körper 60 innerhalb der Grenzen der Raumladungszone 67 angeordnet ist. Weiterhin hat der Körper 60 einen Modulationskontakt 70, der ebenfalls an dem Körper 60 innerhalb der Raumladungszone angeordnet ist. Der Einführungskontakt 69 wird relativ zu der Raumladungszone 68 durch die Batterie 71 negativ vorgespannt, während der Modulationskontakt 70 relativ zu der Raumladungszone 68 durch die Batterie 72 negativ vorgespannt wird. Die in Fig. 11a dargestellte Ausführungsform unterscheidet sich von der in Fig. 1 dargestellten Ausführungsform darin, daß der Einführungskontakt 69 und der Modulationskontakt 70 den Körper 10 längs einer Linie berühren. Es sei im Interesse der Klarheit bemerkt, daß die Kontakte 69 und 70 stark vergrößert dargestellt sind, soweit dies Breite, Eindringungstiefe und Abstände betrifft. Bei dieser Ausführungsform kann der Einführungskontakt 69 ein stark N-dotierter Kontakt sein, der gebildet wird, indem ein Draht aus einem N-Material oder einer N-dotierenden Legierung in den Körper 10 bis zu einer beschränkten Tiefe einlegiert wird, so daß eine N-Linienkontaktzone gebildet wird. Der Modulationskontakt 70 kann ein stark P-dotierter Kontakt sein, der gebildet wird, indem ein Draht aus einem P-Material oder einer P-Legierung bis zu einer beschränkten Tiefe in den Körper 10 einlegiert wird, so daß dementsprechend ein P-Linienkontaktbereich gebildet wird. Die Wirkungsweise dieser speziellen Ausführungsform ist im wesentlichen dieselbe, wie die unter Bezugnahme auf die Ausführungsform gemäß Fig. 1 beschriebene, wenn eine Modulationssignalspannung an die Signaleingangsklemmen 73 angelegt wird. Der Vorteil des in Fig. 11a dargestellten Aufbaues liegt hauptsächlich darin, daß größere Werte von gm als mit den im Abstand angeordneten Punktkontakten erzielt werden können und daß weiterhin die Vorrichtung bei höheren Leistungspegeln betrieben werden kann, als wenn der Einführungskontakt und der Modulationskontakt im wesentlichen von Punktkontakten gebildet werden.
  • In Fig. 11 b ist noch eine weitere Ausführungsform der vorliegenden Erfindung dargestellt. Der Körper des Halbleitermaterials 80 hat wie zuvor, eine positive Zone 74 und eine negative Zone 75, die durch den PN-Übergang 76 voneinander getrennt sind. Von der Vorspannungsbatterie 79 ist eine Seite über die Last 81 mit der Klemme 77 und die andere Seite mit der Klemme 78 verbunden, so daß die Stoßstelle 76 in umgekehrter Richtung vorgespannt wird und eine Raumlaungszone 82 gebildet wird. Ein Einführungskontakt 83, z. B. mit einem stark dotierten N-Bereich, liegt an einer Oberfläche des Körpers 10. Der Kontakt 83 wird negativ relativ zu der Raumladungszone 82 von der Batterie 84 vorgespannt. An der dem Einführungskontakt83 gegenüberliegenden Oberfläche des Körpers 10 ist ein Modulationskontakt 84, z. B. ein stark P-dotierter Bereich, vorgesehen. Der Kontakt 84 wird ebenfalls negativ relativ zu der Raumladungszone 82 durch die Batterie 85 vorgespannt. In ähnlicher Weise, wie bei den vorhergehenden Ausführungsformen beschrieben, kann hier die Emission der Stromträger durch den Kontakt 83 moduliert werden, indem ein Signal von außen an die Eingangsklemmen 86 angelegt wird. Der Vorteil der Anordnung des Einführungskontaktes 83 und des Modulationskontaktes 84 an gegenüberliegenden Flächen des Körpers 10 liegt wiederum hauptsächlich darin, daß größere Werte von g"t mit diesem Aufbau erzielbar sind. Es sei klargestellt, daß die Vorrichtungen gemäß der vorliegenden Erfindung nicht auf Betriebsweisen beschränkt sind, wie sie beispielsweise unter Bezugnahme auf die zuvor erläuterten Ausführungsformen erläutert wurden. Dies heißt also, daß ein Betrieb mit einem zwischen dem Modulationskontakt und einem festen Bezugspunkt von außen angelegten Modu-14tionssignal nicht unbedingte Voraussetzung ist. Die Vorrichtungen können in verschiedener Art und Weise betrieben werden, wobei immer noch ähnliche Ergebnisse, wie zuvor beschrieben, erzielt werden können. In Fig. 12 ist ein Beispiel einer möglichen Abänderung der Betriebsweise veranschaulicht. In Fig. 12 wurden dieselben Bezugszeichen wie in Fig. 1 verwendet, da er Aufbau und die Schaltungsanordnung gemäß Fig. 12 identisch mit derjenigen der Fig. 1 sind, mit der einzigen Ausnahme, daß die Eingangsklemmen 14 gemäß Fig. 1 zwischen dem Einführeungskontakt9 und der Klemme? und nicht zwischen dem Modulationskontakt 12 und der Klemme 7 wie in Fig. 1 liegen. Diese Anordnung ermöglicht, daß die äußere Signalspannung an den Einführungskontakt 9 und nicht an den Modulationskontakt 12 angelegt wird. Mit der in Fig. 12 dargestellten Eingangsanordnung zeigt der Spacistor eine niedrige Eingangsimpedanz und eine hohe Ausgangsimpedanz im Vergleich zu der hohen Eingangsimpedanz und der hohen Ausgangsimpedanz, wie sie mit den zuvor beschriebenen Ausführungsformen erzielt werden.
  • Obgleich die Einführungskontakte und die Modulationskontakte in den zuvor beschriebenen »Spacistoren« entweder als metallische Druckspitzen oder als ein stark N-dotierter Bereich für den Einführungskontakt und P-dotiert für den Modulationskontakt beschrieben wurden, sei klargestellt, daß P- und N-Dotierung auch vertauscht sein können. So kann beispielsweise in dem Spacistor gemäß Fig. 11a der Einführungskontakt 69 ein stark P-dotierter Kontakt und der Modulationskontakt 70 ein stark N-dotierter Kontakt sein. In diesem Fall wurden jedoch die Lage der P-Hauptzone 61 und der N-Hauptzone 62 und die Polaritäten der Batterien 64 71 und 72 relativ zu der in Fig. 11a dargestellten Ausführungsform vertauscht.
  • In den Fig. 10a und 10b sind die Charakteristiken der Stromträgereinführungskontakte dargestellt, welche durch Verunreinigungen dotierte Kontakte und nichtmetallische Druckspitzenkontakte sind. Die Charakteristiken der letzteren sind in den Fig. 8 a und 8 b in ähnlicher Art wie in den Fig. 10a und 10b beschrieben. Wie in der einem positiv angereicherten Kontakt entsprechenden Fig. 10a dargestellt ist, wird ein Strom nur eingeführt, wenn der Kontakt in Flußrichtung, wie durch die Kurve90 veranschaulicht, vorgespannt wird. Wenn der Kontakt umgekehrt vorgespannt wird, wird, wie durch die Kurve 91 gezeigt, im wesentlichen kein Strom eingeführt. Aus Fig. 10b ist ersichtlich, daß, wenn der Kontakt nach vorwärts vorgespannt wird, der eingedrückte Strom im wesentlichen vollständig aus Löchern besteht, wie durch die Kurve 92 dargestellt, wogegen im wesentlichen keine Elektronen eingeführt werden, wie aus der Kurve 93 ersichtlich ist. Infolge des damit verbundenen sehr geringen Stromes ist kein eingeführter Strom dargestellt, wenn der angereicherte Kontakt in umgekehrter Richtung vorgespannt wird.
  • Es sei weiterhin klargestellt, daß, obwohl die Vorrichtungen gemäß der Erfindung in erster Linie unter Bezugnahme auf Fälle beschrieben wurden, in welchen der Körper des halbleitenden Materials im wesentlichen aus Germanium oder Silizium zusammengesetzt ist, die Vorrichtungen nicht auf die Verwendung nur dieser beiden halbleitenden Materialien beschränkt sind. Es kann jedes feste halbleitende Material verwendet werden, dessen elektrische Leitfähigkeitscharakteristik durch Einfluß von Verunreinigungsatomen geändert werden kann. Beispiele derartiger halbleitender Substanzen sind Siliziumkarbid, Verbindungen der Elemente der Gruppe III und V des Periodischen Systems nach M e n d e 1 j e e v und Verbindungen aus den Gruppen II und VI des Periodischen Systems. Da die Spacistoreinrichtungen gemäß der vorliegenden Erfindung unabhängig von der Lebensdauer der Stromträger arbeiten, da diese hier keine Basisregion zu durchlaufen haben, wie dies in einem Transistor der Fall ist, können zur Herstellung von Spacistoren mit Erfolg viele halbleitende Materialien verwendet werden, die infolge dieses Problems zur Herstellung von Transistoren nicht geeignet sind. In diesem Zusammenhang sind besonders diejenigen Materialien interessant, die bei Hochtemperaturbetrieb sehr große Energielücken haben.
  • Unabhängig von den beschriebenen bevorzugten Ausführungsformen gemäß der Erfindung können verschiedene Anpassungen und Abwandlungen ohne Abweichung von dem Erfindungsgedanken vorgenommen werden. So können beispielsweise, obgleich lediglich zwei innerhalb der Raumladungszone des Spacistors liegende Steuerkontaktelektroden dargestellt wurden, weitere Kontakte vorgesehen werden, um eine weitere Kontrolle über den Stromträgerfluß in der Vorrichtung analog beispielsweise dem Schirmgitter und dem Bremsgitter in einer Vakuumröhre zu erzielen.

Claims (7)

  1. PATENTANSPRÜCHE: 1. Halbleiteranordnung mit einem Halbleiterkörper aus zwei Zonen entgegengesetzten Leitfähigkeitstyps, die an einem pn-Übergang zusammenstoßen, an dem an je einer Zone eine ohmsche Elektrode und auf der einen Zone am pn-Übergang eine nichtohmsche Steuerelektrode angebracht ist, dadurch gekennzeichnet, daß an die beiden ohmschen Elektroden eine so hohe Spannung, z. B. von 250 V, in Sperrichtung angelegt ist, daß auf der dabei entstehenden breiten Raumladungszone sowohl die nichtohmsche Steuerelektrode als auch eine weitere Steuerelektrode angebracht sind.
  2. 2. Halbleiteranordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Steuerelektroden auf der breiten Raumladungszone als Druckkontakt aus Metall und als Legierungskontakt ausgebildet sind.
  3. 3. Halbleiteranordnung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Druckkontakt ein an dem Halbleiterkörper anliegender Wolframdraht ist.
  4. 4. Halbleiteranordnung nach den Ansprüchen 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß dem Legierungskontakt eine verhältnismäßig kleine Zone positiven Leitfähigkeitstyps vorgelagert ist.
  5. 5. Halbleiteranordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die beiden auf der breiten Raumladungszone angebrachten Steuerelektroden Legierungskontakte sind.
  6. 6. Halbleiteranordnung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß der ersten Steuerelektrode eine verhältnismäßig kleine Zone negativen Leitfähigkeitstyps und der zweiten eine verhältnismäßig kleine Zone positiven Leitfähigkeitstyps vorgelagert ist.
  7. 7. Halbleiteranordnung nach den Ansprüchen 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daB die beiden auf der breiten Raumladungszone angebrachten Steuerelektroden auf gegenüberliegenden Oberflächen des Halbleiterkörpers vorgesehen sind. In Betracht gezogene Druckschriften: Deutsche Patentschriften Nr. 812 091,_ 836 826, 889 809, 890 847.
DER23657A 1957-07-15 1958-07-10 Halbleiteranordnung mit einem Halbleiterkoerper aus zwei Zonen entgegengesetzten Leitfaehigkeitstyps Pending DE1084382B (de)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1231032B (de) * 1963-04-11 1966-12-22 Siemens Ag Druckabhaengiges Halbleiterbauelement mit mindestens einem pn-UEbergang

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DE812091C (de) * 1949-06-09 1951-08-27 Western Electric Co Verstaerker aus einem Halbleiterkoerper
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