CZ101195A3 - Process and apparatus for investigating transparent material - Google Patents
Process and apparatus for investigating transparent material Download PDFInfo
- Publication number
- CZ101195A3 CZ101195A3 CZ951011A CZ101195A CZ101195A3 CZ 101195 A3 CZ101195 A3 CZ 101195A3 CZ 951011 A CZ951011 A CZ 951011A CZ 101195 A CZ101195 A CZ 101195A CZ 101195 A3 CZ101195 A3 CZ 101195A3
- Authority
- CZ
- Czechia
- Prior art keywords
- camera
- thickness
- light
- images
- defects
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 17
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 title claims abstract description 16
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 87
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 claims abstract description 7
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 23
- 208000002925 dental caries Diseases 0.000 claims description 16
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 14
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 9
- 230000003044 adaptive effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 2
- 238000003908 quality control method Methods 0.000 abstract 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 abstract 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 7
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 6
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 5
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 5
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 description 3
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 229910052754 neon Inorganic materials 0.000 description 2
- GKAOGPIIYCISHV-UHFFFAOYSA-N neon atom Chemical compound [Ne] GKAOGPIIYCISHV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 230000002596 correlated effect Effects 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 230000004438 eyesight Effects 0.000 description 1
- 230000004313 glare Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000011896 sensitive detection Methods 0.000 description 1
- 238000001429 visible spectrum Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/38—Concrete; Lime; Mortar; Gypsum; Bricks; Ceramics; Glass
- G01N33/386—Glass
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
- G01N21/896—Optical defects in or on transparent materials, e.g. distortion, surface flaws in conveyed flat sheet or rod
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
- G01N2021/8829—Shadow projection or structured background, e.g. for deflectometry
- G01N2021/8832—Structured background, e.g. for transparent objects
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
- G01N2021/8887—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges based on image processing techniques
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
- G01N21/896—Optical defects in or on transparent materials, e.g. distortion, surface flaws in conveyed flat sheet or rod
- G01N2021/8962—Optical defects in or on transparent materials, e.g. distortion, surface flaws in conveyed flat sheet or rod for detecting separately opaque flaws and refracting flaws
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
- G01N21/896—Optical defects in or on transparent materials, e.g. distortion, surface flaws in conveyed flat sheet or rod
- G01N2021/8967—Discriminating defects on opposite sides or at different depths of sheet or rod
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/10—Scanning
- G01N2201/102—Video camera
Landscapes
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Textile Engineering (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Food Science & Technology (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
Způsob a zařízení pro prohlížení transparentního materiálu
Oblast techniky
Vynález se týká způsobu a zařízení pro prohlížení transparentního materiálu a vztahuje se na oblast automatického prohlížení v průmyslovém měřítku zobrazováním na výstupu výrobní linky.
Dosavadní stav technikv
Prohlížení transparentního materiálu, jako je například sklo, spočívá v detekci a zjištění polohy vnitřních kazů, vytvářených při výrobě skla. Vliv těchto kazů na kvalitu skleněného výrobku závisí na jejich počtu, jejich tvaru a normám kvality skleněného výrobku podle předpokládaného použití.
Tyto vady jsou několika jsou bublinové a zrnkové kazy. vady povahu plynových bublin, riálu, jejichž tvar se liší od vláknu nebo jehlici s poměrem délky k(šířce typů, z nichž nejdůležitější U bublinových kazů mají tyto uzavřených v roztaveném matíi1“ kuličky až k velmi protáhlému větší než deset, základních sločástice ve
U typu zrnka se jedná o vady stejnořódosti žek, které mají za následek tvorbu viditelné skle.
Velikost a tvar těchto vnitřních kazů se mění podle materiálu a hloubky v materiálu. Jejich velikost je zpravidla menší než milimetr, přičemž maximální rozlišení dosahuje desetiny milimetru.
Automatická analýza kvality materiálu je automatická detekce kazů materiálu, která přímo reaguje na jeho výrobu. Tato analýza dovoluje vyřazovat vadné výrobky, ale také používat spolehlivých statistických údajů pokud jde o počet á velikost kazů za účelem úpravy tužných parametrů výroby materiálu.
.+,
-2Ve známých prohlížecích zařízeních se používá pozorovací systém spočívající ve světelném zdroji například typu
Λ, y laseru, osvětlujícím transparentní materiál, který se má
I prohlížet. Světelné záření je po průchodu v materiálu analyzováno detekčním zařízením, citlivým na světelná záření, například kamerou CCD, a dovoluje detekci a hloubkové zjištění polohy eventuelních kazů.
Použití umělého vidění pro prohlídku transparentních materiálů a zejména skla je však v současné době omezeno nedostatkem účinnosti pokud jde o rozlišování mezi poruchami povrchu, jako jsou částice prachu ležící na povrchu materiálu, který se má prohlížet, a vnitřními kazy, které jsou skutečnými výrobními vadami uvnitř hmoty materiálu., Přítomnost prachových částic na povrchu může být totiž skutečně zdrojem^ nejasností, když se zjistí skutečná vada materiálu, ležící: v blízkosti povrchu. Částice prachu jsou osvětlovány v blízkosti světelného zdroje a mohou maskovat eventuelní kaz, ležící v blízkosti povrchu. Kromě toho určité kazy protáhlého tvaru se při styku se světelným svazkem nelesknou a nejsou; tedy zjišťovány.
Vynález si proto klade za úkol odstranit výše uvedené nedostatky .
j
Podstata vynálezu
Vynález přináší způsob prohlížení transparentního materiálu osvětlením prostřednictvím nejméně jednoho světelného zdroje, a pozorováním tlouštky materiálu nejméně jednou kamerou, jehož podstatou je, že se rovnoměrně osvětluje světlé pozadí, umístěné vzhledem ke kameře za materiálem, pro jeho zvi1 ditelnění průhledem přes materiál, pokrývající zorné pole kamery a sloužící jako referenční plocha kontrastu, přičemž se osvětluje ze strany povrch materiálu pro rozlišování kazů uvnitř materiálu od parazitních prvků uložených na jeho povrchu, přičemž se průhledem kamerou, umístěnou na svislici
-3k povrchu materiálu, zviditelňuje sled kontrastních obrazů reprodukujících tlouštku materiálu, a informace získané po sobe' následujícími obrazy, reprezentativními přo’ materiál,’ ' viděný v jeho tlouštce, se zpracovávají pro detekci a zjišťování polohy kazů uvnitř tlouštky materiálu.
Vynález se také vztahuje na prohlížecí zařízení pro provádění výše uvedeného způsobu.
Vynález má výhodu v tom, že umožňuje rozlišovat vnořené vady ve hmotě materiálu v blízkosti povrchu parazitních povrchových prvků, jako jsou částice prachu. Rovněž dovoluje zjistit.polohu.kazů. bez ohledu na jejich tvar a jejich orientaci a rovněž dovoluje měřit jejich hloubku v materiálu.
*
Přehled obrázků na výkresech
Vynález je blíže vysvětlen v následujícím popisu na příkladech provedení s odvoláním na připojené výkresy, ve kterých znázorňuje obr.l celkový pohled na prohlížecí zařízení podle vynálezu, obr.2 pohled ze strany na provedení zařízeni', z obr:l, obr.3 podrobnost zařízení podle vynálezu a obr.4 optické schéma.
Na obrázcích jsou stejnojmenné prvky označeny stejnými vsta‘hovými značkami. · · —- ·.···· -· - .....
Příklady provedeni vynálezu
Prohlížecí zařízení podle vynálezu obsahuje v provedení schematická znázorněném v půdorysném pohledu na obr.l detekční stanici 1 pro detekci a stanovování polohy vad vé“. třech rozměrech X, ‘Y, Z. Transparentní materiál 2 je položen na dopravníku, tvořeném například dvěma rovnoběžnými kolejnicemi 3^ a 32, podporujícími materiál 2, který se postupně prohlíží, když prochází pod detekční stanicí 1, přičemž posun dopravníku se provádí ve směru osy X při orientaci znázorněné šipkou. Stanice 1 poskytuje jeden nebo více neznázorněných obrazů po sobě následujících řezů materiálu 2.
-4Na obr.2 je znázorněn boční pohled na zařízení podle vynálezu. Na tomto obrázku nejsou kolejnice .3-j. ,3>2 dopravníku
Í znázorněny. Zařízení obsahuje černobílou kameru 4., používající například snímače typu CCD, pozorujícího průhledem prohlíženého materiálu 2. Podle optiky, která je jí přiřazena, kamera 4 pokrývá proměnlivou oblast materiálu s danou rozlišovací schopností. Seřízení objektivu kamery 4 je předmětem kompromisu mezi hloubkou pole pokrývajícího tlouštku materiálu 2 o velikosti několika milimetrů, a zvětšením zajišťujícím detekci vad 5 s maximální rozlišovací schopností řádově v desetinách milimetru.
Kamera 4 je umístěna na kolmici k hornímu povrchu 6 materiálu 2.
* ·
S odstupem pod materiálem 2 je umístěno slabě osvět-. .
leně světlé pozadí 7. Kamera 4 pokrývá oblast pozorování materiálu odpovídající řezu v tlouštce materiálu 2 a nedostává přímé světlo, pocházející z osvětlení světlého pozadí 7. Pro získání rovnoměrného osvětlení na pozadí 7 jsou okolo svět- .
lého pozadí 7 umístěny neonové trubice, například trubice.
8.1» 8.2' a pozadí tak rozptyluje světlo, které dopadá na jeho povrch. Může být vytvořeno například z bílého papíru. Toto světlé pozadí 7 vytváří rovinu, jejíž rovnoměrný kontrast slouží jako referenční kontrast. V příkladě pozadí z bílého papíru tak kamera 4 reprodukuje zcela bílý obraz, odpovídající řezu transparentním materiálem 2 bez kazu. Naproti tomu jakýkoli kaz 5, přítomný ve hmotě materiálu 2, je zaznamenáván na světlém pozadí 7 jako tmavá skvrna.
$ | Stranou materiálu 2 je umístěn zdroj 9^ a 92 světelného svazku, například bílého světla. Orientace světelných paprsku dopadajících na horní povrch 6 materiálu 2 je určena tak, že téměř nevnikají do materiálu 2, takže, neosvětlují kazy 5 obsažené v blízkosti povrchu 6. Osvětlení je napřík-5lad provedeno neonovými trubicemi slabého výkonu. Jsou umístěny do takového zařízení 10]^ a 102. že světelné paprsky vycházejí . všechny prakticky, vzájemně .rovnoběžně. Zařízení
10·^ a 1O2 je například tvořeno dvěma rovinnými plochami? £ uloženými rovnoběžně a sloužícími jako optický vodič pro i světelné paprsky. Cílem tohoto osvětlení je osvítit horní povrch 6 materiálu 2. Vše, co se nachází na povrchu v zorném poli kamery 4 je tak osvíceno a vychyl-uje vysokou světelnou intenzitu zpět ke kameře 4_.
Osvětlení, vedené přes povrch, může rovněž používat světelný zdroj, jehož vlnová délka dopadajících paprsků, vydávaných zdrojem, je taková, že nevnikají do materiálu s daným indexem lomu. V tomto případě jsou detektory kamery přizpůsobeny pro. zjišúování vlnových délek. Prach 11 ležící na horním povrchu 6 materiálu 2 se projevuje na obrazu rekonstituovaném kamerou 4 buď jako světlejší body, například bílé, které se odlišuji od světlého pozadí Z, které může být lehce šedavé a sloúžit jako referenční odstín kontrastu, nebo vnořené do pozadí 7.
Pod materiálem, který se má prohlížet, je mezi kolej- . nicemi 3^ a 32 mezi materiálem 2 a světlým pozadím 7 umístěn světelný zdroj-12 laserového typu, vysílající svazek svírá-, jící určený úhel a mezi spodním povrchem 14 materiálu 2 a svazkem 13. Laserový zdroj 12 se spřažen s neznázorněným prostředkem, známým jako expanzní prostředek svazku. Tento prostředek je například tvořen optickou tyčí tak, že rozšiřuje laserový svazek 13 vysílaným zdrojem 12 do jediného směru. Nakloněné uspořádání laserového zdroje 12 vzhledem ke spodnímu povrchu 14 materiálu 2 dovoluje používat pouze je- I dinou kameru 4 v případě, že materiál není rovinný, ale je 'J lehce konvexní.
Obr.3 znázorňuje částečný perspektivní pohled na výše uvedené provedení, ukazující v souřadnicovém systému X-Y-Z
-6materiál 2 osvětlený laserovým zdrojem 12. Laserový svazek
13, přizpůsobený předchozími optickými prostředky, tvoří světelnou clonu, vyznačenou šrafovanou oblastí, která odpovídá v každém okamžiku šikmému řezu materiálem 2,.
Obr.4 znázorňuje částečný řez materiálem 2 a polohu laseru 12 vzhledem k materiálu 2. Laserový svazek 13./ vysílaný laserovým zdrojem 12, prochází tlouštkou transparentního materiálu 2 a svírá úhel a se spodním povrchem 14 materiálu 2, Každý povrch 6 a 14 materiálu 2, kterým takto prochází laserový svazek 13 v bodech A a B, se přenáší na obraz vodorovnou stopovou čarou, nebo křivkou sledující zakřivení materiálu, s převyšujícím jasem vzhledem k pozadí 7. Vzdálenost mezi každou z těchto stopových čar slouží jako referenční hodnota pro výpočet hloubky kazů 5 v tlouštce materiálu^ &
vymezovaného dvěma čarami. Výška roviny řezu materiálu, J zviditelněné kamerou 4 v materiálu 2, je tak dána segmentem AB znázorněným jako průsečnice laserového svazku 13 s transparentním materiálem 2.
f '
Na obr.4 jsou znázorněny tečkovanými čarami paprsky a a b a jedná se o paprsky, vysílané laserovým svazkem 13Λ ,Jf vytvářené rozptylem na každém rozhraní vzduch/materiál a materiál/vzduch na površích 14., <5, zjišťované kamerou 4.
Tím, že jsou takto rozptýleny, vylučují oslnění kamery 4.
Toto uspořádání, aniž by jím docházelo k příliš velké absorbci záření, dovoluje zabránit násobným odrazům ve viditelném spektru. Velikost úhlu a, v němž je nakloněn laserový zdroj
12, dovoluje kromě toho zvýšit rozlišovací schopnost při mě“ ření hloubky kazů 5, nebot segment AB je delší ve srovnání se segmentem protínajícím svisle tlouštku materiálu 2. Úhel a je například 45° a nad ním se rozlišovací schopnost relativní chyby měření hloubky kazu 5 zmenšuje.
Informace poskytované stanicí 1. dovolují zjišťování polohy zobrazováním kazů ve třech rozměrech X,Y a Z. Infor-7mace o světelnosti kazu 5 kromě toho dovoluje přibližně kvantifikovat jeho velikost.
Při použití kamery 4, pracující s rychlostí 25 obrazů za sekundu a maximální rychlostí rovnoměrného posunu 5 cm za sekundu se tedy kaz 5 posouvá o 2 mm na obraz. Rychlost rovnoměrného posunu je spojena s frekvencí získávání obrazů kamerou 4 a kompromis s různými osvětleními používanými v rámci vynálezu dovoluje optimalizovat kvalitu obrazů.
Obrazy, získávané při posunu transparentního materiálu 2, neseňěho dopravníkem 3χ a J2 vzhledem ke stanici 1 pro detekci a zjišťování polohy, dovoluje získávat od jednoho obrazu na druhý informace vhodné pro následující analýzu. Světelnost dovoluje oddělovat obrazy 5, znázorňované..tmavými skvrnami na světlém pozadí 7, sloužícím jako referenční plocha. . Souřadnice. X, Y obrazových' bodů reprezentativníchpro kaz 5 a tedy tmavé skvrny dovolují určovat polohu kazu
-l v obrazu, přičemž posun těchto obrazových bodů na sledu více obrazů, například deseti.,, dovoluje .uvést do vzájemného vztahu informace, přítomné; na, těchto, .obrazech.,, a.. zvýšené Λητ. tenzity vznikající při setkání laserového svazku 13 s kazem5 dovolují vypočítávat neznázornéným počítačem jeho hloubku v materiálu, 2.
Pro oddělování tmavých skvrn odpovídajících kazům od světlého pozadí 7, jakož i eventuelně od nadměrných jasů vyplývajících z přítomnosti prachu 11 počítač používá například metodu výpočtu adaptivním prahem a/nebo detekce obrysu .
Z více sbíraných informací se při způsobu dále provádí sledování kazu 5 v tlouštce materiálu 2·, reprezentovaného tmavým bodem a po té jasným bodem při přechodu kazu 5 do laserového svazku 33, a prachových částic 11, reprezentovaných body světlejšími než pozadí 7 nebo vnořenými ro rovnoměrného
-8kontrastu pozadí 7 od jednoho obrazu na druhý. Využití redundance informací tak činí detekci kazů spolehlivější.
Zpracovávání obrazu prováděného počítačem je tak místě zaostřené na oblasti blízké předpokládanému kazu 5, aby se vzal v úvahu jeho tvar, jeho jas atd. jemná analýza této oblasti používá například předvidací algoritmus používající metodu statistické korelace.
Vynález se neomezuje na způsob a zařízení pro prohlížení, jaké byly výše popsány. Zejména byl popsán dopravník, na němž je unášen transparentní materiál, který se přesouvá vzhledem ke svislici pozorovací stanice. Je však možné použít, aniž by se opustil rámec vynálezu, pohyblivý pozorovací prostředek přičemž prohlížený materiál zůstává nehybný. Toto uspořádání je obzvláště vhodné pro velké prohlížené di-., iy.
Dále může osvětlení bílým světlem sledující povrch a osvětlení světlého pozadí provedeny světelnými zdroji odlišné povahy vůči těm, jaké byly popsány, a uzpůsobené typu snímače používaného kamerou. Důležitým omezením, které je třeba respektovat, je poskytnout celkové osvětlení dovolující kameře rozlišit parazitní prvek od povrchu vnitřního kazu.
Konečně je možné, aniž by se opustil vynález, spojit s prostředkem pro detekci a lokalizaci druhý totožný prostředek, uspořádaný vzájemně opačně vůči prvnímu, pro detekci parazitních prvků povrchu, uložených na dolním povrchu materiálu.
Claims (9)
- PATENTOVÉ NÁROKY1. Způsob prohlížení transparentního materiálu (2) osvětlením prostřednictvím nejméně jednoho světelného zdro- li je, a pozorováním tlouštky materiálu (2) nejméně jednou ka- y měrou (4), vyznačený tím, , že se rovnoměrně osvětluje světlé pozadí (7), umístěné vzhledem ke kameře (4) za materiálem, pro jeho zviditelnění průhledem přes materiál (2), pokrývající zorné pole kamery (4) a sloužící jako referenční plocha kontrastu, přičemž se osvětluje ze strany povrch materiálu (2) pro rozlišování kazů (5) uvnitř materiálu (2) od parazitních prvků (11) uložených na jeho povrchu, přičemž se průhledem kamerou (4), umístěnou na svislici k povrchu materiálu (2), zviditelňuje sled kontrastních obrazů reprodukujících tlouštku materiálu (2), a informace získané po sobě následujícími obrazy, reprezentativními pro materiál (2), viděný v jeho tlouštce, se zpracovávají pro detekci a zjišťování polohy kazů (5) uvnitř tlouštky materiálu (2).
- 2. Způsob podle nároku.1 vyznačený tím, že se dále provádí,osvětlení laserovým svazkem .(13),. procházejícím materiálem (2) v jeho tlouštce a nakloněným vzhledem k jehopovrchu pro vytváření rovinné a šikmé světelné clony, v zorném poli kamery (4), a průhledem kamerou (4) se zviditelňuje sled kontrastních obrazů, reprodukujících po sobě následující řezy materiálem (2).I
- 3. Způsob podle nároku 1 nebo 2 vyznačený tím, že se informace získané obrazy poskytované kamerou (
- 4) zpracovávají a oddělují se tmavé skvrny, odpovídající kazům (5) uvnitř tlouštky materiálu (2), od světlého pozadí (7), sloužící jako referenční plocha kontrastu, přičemž se určují souřadnice (X, Y) obrazových bodů reprezentativních pro kazy na obrazu, a informace získané na více obrazech se uvádějí do vzájemného stavu a vypočítává se hloubka kazů (5) osvětlovaných laserovým svazkem (13) na základě světelných stop re-10prezentativních pro tlouštku materiálu (2), sloužících jako referenční prostředek pro výpočet.>> 4. Způsob podle kteréhokoli z nároků 1 až 3 vyznačený | tím, že se zviditelňují po sobě následující řezy materiálem (2) a materiál (2) se posouvá na dopravníku (3^, 32) podporujícím ho ve vodorovné rovině (XY) pod fixním prostředkem (1) pro detekci a zjišťování polohy.
- 5. Způsob podle nároku 4 vyznačený tím, že se dále spojuje první fixní prostředek (1) s druhým totožným prostředkem, umístěným v opačném směru, pro zviditelňování parazitních prvků, uložených na jedné i druhé straně transparentního materiálu (2)..5
- 6. Zařízení pro provádění způsobu podle kteréhokoliz nároku 1 až 5 vyznačené tím, že obsahuje nejméně jeden prostředek (1) pro detekci a zjišťování polohy, obsahující kameru (4), uloženou na svislici k materiálu (2), který se má prohlížet, pro zviditelňování sledu obrazů reprezentujících po sobě následující řezy v tlouštce materiálu (2), světlé pozadí (7), umístěné vzhledem ke kameře (4) za mate-b riálem (2), pokrývající zorné pole kamery (4), zdroj (9^, 92) postranního osvětlení materiálu (2), jehož světelný svazek je odrážen povrchem materiálu (2) ke kameře (4), zdroj osvětlení typu laseru (12), spojený s prostředky rozšiřování svazku v jediném směru pro vytváření šikmé světelné clony, určené k osvětlování po sobé následujících řezových rovin v tlouštce materiálu (2), a počítač pro zpracovávání obrazů pro detekci a zjišťování polohy vad (5) v tlouštce materiálu
- 7. Zařízení podle nároku 6 vyznačené tím, že zdroj osvětleni typu laseru (12) je uložen vzhledem ke kameře (4) za materiálem (2) pro vytváření šikmé světelné clony.
- 8. Zařízení podle nároku 6 nebo 7 vyznačené tím, že počítač obsahuje ústrojí pro vypočítávání adaptivním prahem a/nebo pro detekci obrysu pro oddělování tmavých skvrn od světlého pozadí (7).
- 9. Zařízení podle kteréhokoli z nároků & až 8 vyznačené tím, že počítač obsahuje předvídací ústrojí pro detekci kazů (5) na po sobě následujících obrazech při použití metody statistické korelace.
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR9212526A FR2697086B1 (fr) | 1992-10-20 | 1992-10-20 | Procédé et dispositif d'inspection de matériau transparent. |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CZ101195A3 true CZ101195A3 (en) | 1996-11-13 |
Family
ID=9434692
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CZ951011A CZ101195A3 (en) | 1992-10-20 | 1993-10-13 | Process and apparatus for investigating transparent material |
Country Status (10)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5598262A (cs) |
| EP (1) | EP0665951B1 (cs) |
| JP (1) | JPH08502361A (cs) |
| KR (1) | KR950704679A (cs) |
| CZ (1) | CZ101195A3 (cs) |
| DE (1) | DE69307722T2 (cs) |
| FR (1) | FR2697086B1 (cs) |
| PL (1) | PL172759B1 (cs) |
| RU (1) | RU95109712A (cs) |
| WO (1) | WO1994009358A1 (cs) |
Families Citing this family (44)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5715051A (en) * | 1996-10-21 | 1998-02-03 | Medar, Inc. | Method and system for detecting defects in optically transmissive coatings formed on optical media substrates |
| US6396579B1 (en) * | 1997-03-10 | 2002-05-28 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Method, apparatus, and system for inspecting transparent objects |
| GB9812091D0 (en) * | 1998-06-05 | 1998-08-05 | Glaverbel | Defect detecting unit |
| GB2338309B (en) * | 1998-06-13 | 2002-05-08 | Neil Colin Hamilton | Recognition apparatus for toughened glass |
| JP3330089B2 (ja) * | 1998-09-30 | 2002-09-30 | 株式会社大協精工 | ゴム製品の検査方法及び装置 |
| ES2156071B1 (es) * | 1999-03-01 | 2002-02-01 | Sevilla Juan Antonio Lasso | Equipo de luz coherente xenon para el control de calidad en la fabricacion del vidrio. |
| US6521905B1 (en) * | 1999-09-22 | 2003-02-18 | Nexpress Solutions Llc | Method and device for detecting the position of a transparent moving conveyor belt |
| JP4647090B2 (ja) * | 2000-12-13 | 2011-03-09 | ローム株式会社 | 透明積層体の検査装置 |
| RU2196299C2 (ru) * | 2001-01-23 | 2003-01-10 | Гультяев Юрий Павлович | Устройство измерения характеристик прозрачных неоднородностей |
| US6885904B2 (en) * | 2001-05-18 | 2005-04-26 | Advanced Vision Particle Measurement, Inc. | Control feedback system and method for bulk material industrial processes using automated object or particle analysis |
| US6629010B2 (en) | 2001-05-18 | 2003-09-30 | Advanced Vision Particle Measurement, Inc. | Control feedback system and method for bulk material industrial processes using automated object or particle analysis |
| US7142295B2 (en) * | 2003-03-05 | 2006-11-28 | Corning Incorporated | Inspection of transparent substrates for defects |
| DE102004005019A1 (de) * | 2004-01-30 | 2005-08-18 | Isra Glass Vision Gmbh | Verfahren zur Bestimmung der Tiefe eines Fehlers in einem Glasband |
| US7122819B2 (en) * | 2004-05-06 | 2006-10-17 | Micron Technology, Inc. | Method and apparatus for imager die package quality testing |
| DE102004026375B4 (de) * | 2004-05-29 | 2007-03-22 | Isra Glass Vision Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Detektion von Kratzern |
| US7199386B2 (en) * | 2004-07-29 | 2007-04-03 | General Electric Company | System and method for detecting defects in a light-management film |
| WO2006087213A2 (de) * | 2005-02-18 | 2006-08-24 | Schott Ag | Verfahren und vorrichtung zur erfassung und/oder klassifizierung von fehlstellen |
| US7567344B2 (en) * | 2006-05-12 | 2009-07-28 | Corning Incorporated | Apparatus and method for characterizing defects in a transparent substrate |
| US7369240B1 (en) | 2006-07-20 | 2008-05-06 | Litesentry Corporation | Apparatus and methods for real-time adaptive inspection for glass production |
| US7551274B1 (en) | 2007-02-28 | 2009-06-23 | Lite Sentry Corporation | Defect detection lighting system and methods for large glass sheets |
| JP4913210B2 (ja) * | 2007-03-16 | 2012-04-11 | 旭化成ケミカルズ株式会社 | 中空糸多孔膜の欠陥検査方法、欠陥検査装置及び製造方法 |
| US7800749B2 (en) * | 2007-05-31 | 2010-09-21 | Corning Incorporated | Inspection technique for transparent substrates |
| DE102007037812B4 (de) | 2007-08-10 | 2023-03-16 | Carl Zeiss Optotechnik GmbH | Verfahren und Vorrichtung zur Detektion von Oberflächenfehlern eines Bauteils |
| KR20110099255A (ko) * | 2008-11-25 | 2011-09-07 | 쓰리엠 이노베이티브 프로퍼티즈 컴파니 | 가요성 웨브를 세척하기 위한 장치 및 방법 |
| JP4796160B2 (ja) * | 2009-02-27 | 2011-10-19 | 三菱重工業株式会社 | 薄膜の検査装置及び検査方法 |
| DE102010021853B4 (de) | 2010-05-28 | 2012-04-26 | Isra Vision Ag | Einrichtung und Verfahren zur optischen Überprüfung eines Gegenstands |
| IT1402103B1 (it) * | 2010-10-08 | 2013-08-28 | Università Di Pisa | Metodo e dispositivo per rilevare la posizione geometrica di un difetto in un oggetto |
| KR20130140058A (ko) * | 2010-12-09 | 2013-12-23 | 아사히 가라스 가부시키가이샤 | 유리 리본 내 결함 측정 방법 및 유리 리본 내 결함 측정 시스템 |
| JP5874139B2 (ja) * | 2011-12-01 | 2016-03-02 | 国立大学法人東京工業大学 | 膜材料の欠陥の光学的観察方法および装置 |
| US9790465B2 (en) | 2013-04-30 | 2017-10-17 | Corning Incorporated | Spheroid cell culture well article and methods thereof |
| DE102013107215B3 (de) | 2013-07-09 | 2014-10-09 | Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg | Verfahren zur Herstellung eines Spiegelsubstrat-Rohlings aus Titan-dotiertem Kieselglas für die EUV-Lithographie, sowie System zur Positionsbestimmung von Defekten in einem Rohling |
| DE202014102853U1 (de) | 2014-06-23 | 2014-07-14 | Oliver Gabriel | Vorrichtung zur Detektion der optischen Güte einer transparenten Materialoberfläche sowie deren Verwendung |
| WO2016069895A1 (en) | 2014-10-29 | 2016-05-06 | Corning Incorporated | Cell culture insert |
| JP2017532971A (ja) | 2014-10-29 | 2017-11-09 | コーニング インコーポレイテッド | 細胞培養集合体を生成するためのマイクロウェル設計および製造 |
| US11857970B2 (en) | 2017-07-14 | 2024-01-02 | Corning Incorporated | Cell culture vessel |
| EP3652292B1 (en) | 2017-07-14 | 2025-06-18 | Corning Incorporated | Cell culture vessel for 3d culture and methods of culturing 3d cells |
| WO2019014635A1 (en) | 2017-07-14 | 2019-01-17 | Corning Incorporated | 3D CELL CULTURE CONTAINERS FOR MANUAL OR AUTOMATIC EXCHANGE |
| JP7171696B2 (ja) | 2018-07-13 | 2022-11-15 | コーニング インコーポレイテッド | 相互接続されたウェルを有するマイクロプレートを備えた流体デバイス |
| CN111051493B (zh) | 2018-07-13 | 2023-11-03 | 康宁股份有限公司 | 具有稳定器装置的细胞培养容器 |
| JP7171695B2 (ja) | 2018-07-13 | 2022-11-15 | コーニング インコーポレイテッド | 液体培地送達面を含む側壁を有するマイクロキャビティ皿 |
| ES2942576T3 (es) | 2018-11-20 | 2023-06-02 | Simulacions Optiques S L | Dispositivo de verificación de un circuito integrado con un emisor optoelectrónico, sistema de fabricación y procedimiento de verificación y de fabricación correspondiente |
| EP3838470A1 (de) * | 2019-12-17 | 2021-06-23 | Bystronic Laser AG | Fremdteil- und schlackendetektion an einem arbeitstisch |
| KR20230044505A (ko) * | 2020-08-04 | 2023-04-04 | 코닝 인코포레이티드 | 재료를 검사하는 방법들 및 장치 |
| CN113899760B (zh) * | 2021-09-30 | 2025-01-21 | 长沙韶光铬版有限公司 | 一种玻璃基板的检测方法、装置、电子设备及存储介质 |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US2042526A (en) * | 1932-09-01 | 1936-06-02 | Libbey Owens Ford Glass Co | Sheet glass inspection apparatus |
| US3519362A (en) * | 1968-03-12 | 1970-07-07 | Ppg Industries Inc | Glass color streak detector including a flexible background material biased against the glass |
| US3814946A (en) * | 1972-12-04 | 1974-06-04 | Asahi Glass Co Ltd | Method of detecting defects in transparent and semitransparent bodies |
| JPS61207953A (ja) * | 1985-03-12 | 1986-09-16 | Nec Corp | 自動外観検査装置 |
| JPS6232345A (ja) * | 1985-08-02 | 1987-02-12 | Yaskawa Electric Mfg Co Ltd | 欠点検出装置 |
| DE3611574A1 (de) * | 1986-04-07 | 1987-10-08 | Georg Markthaler | Vorrichtung zur qualitaetskontrolle |
| KR960012330B1 (ko) * | 1987-05-27 | 1996-09-18 | 마쓰무라 미노루 | 투광판재의 식별형 결점 검출 장치 |
| DE3816392A1 (de) * | 1988-05-13 | 1989-11-23 | Ver Glaswerke Gmbh | Verfahren zur bestimmung der optischen qualitaet von flachglas oder flachglasprodukten |
| DE3926349A1 (de) * | 1989-08-09 | 1991-02-14 | Sick Optik Elektronik Erwin | Optische fehlerinspektionsvorrichtung |
-
1992
- 1992-10-20 FR FR9212526A patent/FR2697086B1/fr not_active Expired - Fee Related
-
1993
- 1993-10-13 JP JP6509708A patent/JPH08502361A/ja active Pending
- 1993-10-13 WO PCT/FR1993/001015 patent/WO1994009358A1/fr not_active Ceased
- 1993-10-13 PL PL93308462A patent/PL172759B1/pl unknown
- 1993-10-13 US US08/325,172 patent/US5598262A/en not_active Expired - Fee Related
- 1993-10-13 CZ CZ951011A patent/CZ101195A3/cs unknown
- 1993-10-13 EP EP93922985A patent/EP0665951B1/fr not_active Expired - Lifetime
- 1993-10-13 RU RU95109712/25A patent/RU95109712A/ru unknown
- 1993-10-13 KR KR1019950701573A patent/KR950704679A/ko not_active Withdrawn
- 1993-10-13 DE DE69307722T patent/DE69307722T2/de not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0665951A1 (fr) | 1995-08-09 |
| EP0665951B1 (fr) | 1997-01-22 |
| FR2697086B1 (fr) | 1994-12-09 |
| RU95109712A (ru) | 1996-12-27 |
| DE69307722T2 (de) | 1997-06-12 |
| KR950704679A (ko) | 1995-11-20 |
| DE69307722D1 (de) | 1997-03-06 |
| US5598262A (en) | 1997-01-28 |
| PL172759B1 (en) | 1997-11-28 |
| PL308462A1 (en) | 1995-07-24 |
| FR2697086A1 (fr) | 1994-04-22 |
| WO1994009358A1 (fr) | 1994-04-28 |
| JPH08502361A (ja) | 1996-03-12 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CZ101195A3 (en) | Process and apparatus for investigating transparent material | |
| CN102713582B (zh) | 抛光的宝石中的夹杂物检测 | |
| US5459330A (en) | Process and device for the inspection of glass | |
| US7760350B2 (en) | Glazing inspection | |
| US5125741A (en) | Method and apparatus for inspecting surface conditions | |
| KR100756254B1 (ko) | 투명 매체의 다크뷰 검사 시스템 | |
| US4675730A (en) | Video surface inspection system | |
| KR102386192B1 (ko) | 워크 피스들에서의 결함 검출을 위한 장치, 방법 및 컴퓨터 프로그램 제품 | |
| EP1062478B8 (en) | Apparatus and method for optically measuring an object surface contour | |
| FI94551B (fi) | Menetelmä ja laite liikkuvan työkappaleen pintaprofiilin tarkkailemiseksi | |
| US4895446A (en) | Particle detection method and apparatus | |
| EP0178037B1 (en) | Compact laser scanning system | |
| US20210341353A1 (en) | System and method for inspecting optical power and thickness of ophthalmic lenses immersed in a solution | |
| US5128550A (en) | Method of and an apparatus for testing large area panes for optical quality | |
| EP0071202A1 (en) | Method and apparatus for optically inspecting a moving web of glass | |
| US7006212B2 (en) | Electrical circuit conductor inspection | |
| CN114018944A (zh) | 一种单晶硅棒自动检测系统及检测方法 | |
| GB2095828A (en) | Detection of defects in fibrous arrays | |
| CN111351805A (zh) | 光源模块、浮法玻璃在线缺陷检测装置及其检测方法 | |
| KR101039686B1 (ko) | 연속적으로 제조되어 이동하는 대상투명판의 결점들을검출하기 위한 방법과 장치 | |
| JP3822567B2 (ja) | 移動するストリップの自動表面検査装置 | |
| JP4002139B2 (ja) | 非破壊検査装置 |