CN223347007U - 一种用于集成电路自动测试设备的通用承载装置 - Google Patents
一种用于集成电路自动测试设备的通用承载装置Info
- Publication number
- CN223347007U CN223347007U CN202422464901.8U CN202422464901U CN223347007U CN 223347007 U CN223347007 U CN 223347007U CN 202422464901 U CN202422464901 U CN 202422464901U CN 223347007 U CN223347007 U CN 223347007U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- resource
- test
- unit
- resource channel
- interface
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
本实用新型公开一种用于集成电路自动测试设备的通用承载装置,目的在于解决现有承载板与ATE机台兼容性差的问题,其包括用于与待测芯片连接的IO资源通道、资源切换模块、测试IO通道模块以及测试电源模块;IO资源通道包括第一IO资源通道单元、第二IO资源通道单元、第三IO资源通道单元以及第四IO资源通道单元;第一IO资源通道单元、第二IO资源通道单元、第三IO资源通道单元以及第四IO资源通道单元围成一正方形且呈中心对称;第一IO资源通道单元、第二IO资源通道单元、第三IO资源通道单元以及第四IO资源通道单元通过资源切换模块与测试IO通道模块连接。本实用新型采用正方形且呈中心对称的设计,提升了承载板与ATE机台兼容性。
Description
技术领域
本实用新型涉及集成电路领域,具体而言,本实用新型涉及一种用于集成电路自动测试设备的通用承载装置。
背景技术
随着集成电路产业的快速发展,人们对各种集成电路的测试及自动化测试设备(Automatic Test Equipment,简称“ATE”)资源的分配需求也提出了越来越高的要求。
面对各种不同的ATE机台及机台资源,现有的集成电路测试通常也需要重新开发与之适应的各种承载板,而这在一定程度上降低了生产效率。部分解决方式采用杜邦线等连接方式,但是,这种方式往往因为连接稳定性不佳,常会导致接触不良等问题。
实用新型内容
为了解决现有承载板与ATE机台兼容性差的问题,本实用新型提供了一种用于集成电路自动测试设备的通用承载装置,该一种用于集成电路自动测试设备的通用承载装置包括用于与待测芯片连接的IO资源通道、与所述待测芯片的接地端连接的资源切换模块、测试IO通道模块以及与所述资源切换模块连接的测试电源模块;所述IO资源通道包括第一IO资源通道单元、第二IO资源通道单元、第三IO资源通道单元以及第四IO资源通道单元;
所述第一IO资源通道单元、第二IO资源通道单元、第三IO资源通道单元以及第四IO资源通道单元围成一正方形且呈中心对称;所述第一IO资源通道单元、第二IO资源通道单元、第三IO资源通道单元以及第四IO资源通道单元通过所述资源切换模块与所述测试IO通道模块连接。
优选地,所述第一IO资源通道单元、第二IO资源通道单元、第三IO资源通道单元以及第四IO资源通道单元分别至少包括一个IO接口。
优选地,所述第一IO资源通道单元、第二IO资源通道单元、第三IO资源通道单元以及第四IO资源通道单元分别包括64个IO接口。
优选地,所述资源切换模块包括资源IO接口单元,所述资源IO接口单元与所述第一IO资源通道单元、第二IO资源通道单元、第三IO资源通道单元以及第四IO资源通道单元的IO接口连接。
优选地,所述资源切换模块包括资源接地接口单元,所述资源接地接口单元通过短接帽与所述待测芯片上的接地端连接。
优选地,所述资源切换模块包括资源电源接口单元,所述资源切换模块通过所述资源电源接口单元与所述测试电源模块连接。
优选地,所述测试IO通道模块包括测试IO接口单元,所述测试IO接口单元与所述IO资源通道的IO接口相适应。
优选地,所述测试IO接口单元包括至少一个用于ATE测试的测试IO接口子单元,所述测试IO接口子单元与所述IO资源通道的IO接口连接。
优选地,所述测试IO接口子单元设置在所述IO资源通道的外围。
优选地,所述测试IO接口子单元呈四边布局且每边为两个测试IO接口子单元;所述测试IO接口单元包括第一测试IO接口子单元、第二测试IO接口子单元、第三测试IO接口子单元、第四测试IO接口子单元、第五测试IO接口子单元、第六测试IO接口子单元、第七测试IO接口子单元、第八测试IO接口子单元;所述第一测试IO接口子单元、第二测试IO接口子单元位于一边且与所述第一IO资源通道单元相适应;所述第三测试IO接口子单元、第四测试IO接口子单元位于一边且与所述第二IO资源通道单元相适应;所述第五测试IO接口子单元、第六测试IO接口子单元位于一边且与所述第三IO资源通道单元相适应;所述第七测试IO接口子单元、第八测试IO接口子单元位于一边且与所述第四IO资源通道单元相适应。
与现有技术相比,本实用新型一种用于集成电路自动测试设备的通用承载装置具有如下有益效果:
本实用新型一种用于集成电路自动测试设备的通用承载装置通过将IO资源通道的第一IO资源通道单元、第二IO资源通道单元、第三IO资源通道单元以及第四IO资源通道单元进行正方形且呈中心对称的设计,不仅能够确保任意两个相邻的接口对应的IO通道不会重叠从而实现快速搭建工程调试硬件环境的目的,还有效解决了杜邦线等连接方式带来的接触不良等问题,因此,在一定程度上大大提升了承载板与ATE机台兼容性。
本实用新型附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出,这些将从下面的描述中变得明显,或通过本实用新型的实践了解到。
附图说明
本实用新型上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解,其中:
图1为本实用新型实施例一种用于集成电路自动测试设备的通用承载装置的结构示意图。
图2为本实用新型实施例一种用于集成电路自动测试设备的通用承载装置中的一种IO资源通道结构示意图。
图中标识说明:
101、IO资源通道;1011、第一IO资源通道单元;1013、第二IO资源通道单元;1015、第三IO资源通道单元;1017、第四IO资源通道单元;
103、资源切换模块;
105、测试IO通道模块;
107、测试电源模块。
具体实施方式
下面详细描述本实用新型的实施例,所述实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,仅用于解释本实用新型,而不能解释为对本实用新型的限制。
请参阅图1-2,本实用新型实施例一种用于集成电路自动测试设备的通用承载装置,其包括用于与待测芯片连接的IO资源通道101、与待测芯片的接地端连接的资源切换模块103、测试IO通道模块105以及与资源切换模块103连接的测试电源模块107,其中:
IO资源通道101包括第一IO资源通道单元1011、第二IO资源通道单元1013、第三IO资源通道单元1015以及第四IO资源通道单元1017,其中第一IO资源通道单元1011、第二IO资源通道单元1013、第三IO资源通道单元1015以及第四IO资源通道单元1017围成一正方形且呈中心对称;第一IO资源通道单元1011、第二IO资源通道单元1013、第三IO资源通道单元1015以及第四IO资源通道单元1017通过资源切换模块103与测试IO通道模块105连接。
在一些实施方式中,第一IO资源通道单元1011、第二IO资源通道单元1013、第三IO资源通道单元1015以及第四IO资源通道单元1017分别至少包括一个IO接口。
示例地,如图2所示,假设IO资源通道101包括16个IO接口时,则第一IO资源通道单元1011、第二IO资源通道单元1013、第三IO资源通道单元1015以及第四IO资源通道单元1017沿顺时针方向逐次围成一正方形且呈中心对称。值得注意的是,该设计能够确保任意两个相邻的接口对应的IO通道不会重叠,也就可以针对不同的转接板就能立即应用,从而实现快速切换至对应的机台电源资源。
在一些实施方式中,第一IO资源通道单元1011、第二IO资源通道单元1013、第三IO资源通道单元1015以及第四IO资源通道单元1017分别包括64个IO接口,则IO资源通道101总计就有256个IO接口,这样就可以兼容管脚数量不高于256个的集成电路芯片的ATE机台测试。
资源切换模块103包括资源接地接口单元、资源IO接口单元以及资源电源接口单元,其中,资源IO接口单元与第一IO资源通道单元1011、第二IO资源通道单元1013、第三IO资源通道单元1015以及第四IO资源通道单元1017的IO接口连接;资源接地接口单元通过短接帽与待测芯片上的接地端连接;资源切换模块103通过资源电源接口单元与测试电源模块107连接。
具体地,当待测芯片上的接地端与IO资源通道101上的IO接口连接时,使用短接帽将资源接地接口单元和与待测芯片接地端连接的IO资源通道101上的IO接口直接连接即可。这样就可以有效应对不同待测芯片中不同接地端的设置,不仅大大提高了兼容性,还减少了焊线等工作,极大有利于提升生产效率。
测试IO通道模块105包括与IO资源通道101的IO接口相适应的测试IO接口单元,其中,测试IO接口单元包括至少一个用于ATE测试的
测试IO接口子单元,测试IO接口子单元与IO资源通道101的IO接口连接。
为了便于电路设计和便于测试调整,测试IO接口子单元设置在IO资源通道101的外围。
在一些实施方式中,测试IO接口子单元呈四边布局且每边为两个测试IO接口子单元。具体地,测试IO接口单元包括第一测试IO接口子单元、第二测试IO接口子单元、第三测试IO接口子单元、第四测试IO接口子单元、第五测试IO接口子单元、第六测试IO接口子单元、第七测试IO接口子单元、第八测试IO接口子单元,其中,第一测试IO接口子单元、第二测试IO接口子单元位于一边且与第一IO资源通道单元1011相适应;第三测试IO接口子单元、第四测试IO接口子单元位于一边且与第二IO资源通道单元1013相适应;第五测试IO接口子单元、第六测试IO接口子单元位于一边且与第三IO资源通道单元1015相适应;第七测试IO接口子单元、第八测试IO接口子单元位于一边且与第四IO资源通道单元1017相适应。
在一些实施方式中,测试电源模块107、第一测试IO接口子单元、第二测试IO接口子单元、第三测试IO接口子单元、第四测试IO接口子单元、第五测试IO接口子单元、第六测试IO接口子单元、第七测试IO接口子单元、第八测试IO接口子单元均为牛角座接口。
为了便于进一步理解本实用新型实施例一种用于集成电路自动测试设备的通用承载装置,下面简述其工作原理。
第一步,将待测元件与本实用新型实施例一种用于集成电路自动测试设备的通用承载装置相连。
第二步,通过牛角插座将本实用新型实施例一种用于集成电路自动测试设备的通用承载装置与ATE机台对应。
最后,ATE机台就可直接通过本实用新型实施例一种用于集成电路自动测试设备的通用承载装置对待测元件进行测试。
在一些实施方式中,本实用新型实施例一种用于集成电路自动测试设备的通用承载装置还可以预留设置继电模块、电容模块以及其他常见的测试相关模块,以进一步提升兼容性。
与现有技术相比,本实用新型实施例一种用于集成电路自动测试设备的通用承载装置具有如下有益效果:
本实用新型实施例一种用于集成电路自动测试设备的通用承载装置通过将IO资源通道101的第一IO资源通道单元1011、第二IO资源通道单元1013、第三IO资源通道单元1015以及第四IO资源通道单元1017进行正方形且呈中心对称的设计,不仅能够确保任意两个相邻的接口对应的IO通道不会重叠从而实现快速搭建工程调试硬件环境的目的,还有效解决了杜邦线等连接方式带来的接触不良等问题,因此,在一定程度上大大提升了承载板与ATE机台兼容性。
以上所述仅是本实用新型的部分实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型原理的前提下,还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本实用新型的保护范围。
Claims (10)
1.一种用于集成电路自动测试设备的通用承载装置,其特征在于:所述用于集成电路自动测试设备的通用承载装置包括用于与待测芯片连接的IO资源通道、与所述待测芯片的接地端连接的资源切换模块、测试IO通道模块以及与所述资源切换模块连接的测试电源模块;所述IO资源通道包括第一IO资源通道单元、第二IO资源通道单元、第三IO资源通道单元以及第四IO资源通道单元;
所述第一IO资源通道单元、第二IO资源通道单元、第三IO资源通道单元以及第四IO资源通道单元围成一正方形且呈中心对称;所述第一IO资源通道单元、第二IO资源通道单元、第三IO资源通道单元以及第四IO资源通道单元通过所述资源切换模块与所述测试IO通道模块连接。
2.如权利要求1所述的用于集成电路自动测试设备的通用承载装置,其特征在于:所述第一IO资源通道单元、第二IO资源通道单元、第三IO资源通道单元以及第四IO资源通道单元分别至少包括一个IO接口。
3.如权利要求1所述的用于集成电路自动测试设备的通用承载装置,其特征在于:所述第一IO资源通道单元、第二IO资源通道单元、第三IO资源通道单元以及第四IO资源通道单元分别包括64个IO接口。
4.如权利要求2所述的用于集成电路自动测试设备的通用承载装置,其特征在于:所述资源切换模块包括资源IO接口单元,所述资源IO接口单元与所述第一IO资源通道单元、第二IO资源通道单元、第三IO资源通道单元以及第四IO资源通道单元的IO接口连接。
5.如权利要求4所述的用于集成电路自动测试设备的通用承载装置,其特征在于:所述资源切换模块包括资源接地接口单元,所述资源接地接口单元通过短接帽与所述待测芯片上的接地端连接。
6.如权利要求5所述的用于集成电路自动测试设备的通用承载装置,其特征在于:所述资源切换模块包括资源电源接口单元,所述资源切换模块通过所述资源电源接口单元与所述测试电源模块连接。
7.如权利要求6所述的用于集成电路自动测试设备的通用承载装置,其特征在于:所述测试IO通道模块包括测试IO接口单元,所述测试IO接口单元与所述IO资源通道的IO接口相适应。
8.如权利要求7所述的用于集成电路自动测试设备的通用承载装置,其特征在于:所述测试IO接口单元包括至少一个用于ATE测试的测试IO接口子单元,所述测试IO接口子单元与所述IO资源通道的IO接口连接。
9.如权利要求8所述的用于集成电路自动测试设备的通用承载装置,其特征在于:所述测试IO接口子单元设置在所述IO资源通道的外围。
10.如权利要求9所述的用于集成电路自动测试设备的通用承载装置,其特征在于:所述测试IO接口子单元呈四边布局且每边为两个测试IO接口子单元;所述测试IO接口单元包括第一测试IO接口子单元、第二测试IO接口子单元、第三测试IO接口子单元、第四测试IO接口子单元、第五测试IO接口子单元、第六测试IO接口子单元、第七测试IO接口子单元、第八测试IO接口子单元;所述第一测试IO接口子单元、第二测试IO接口子单元位于一边且与所述第一IO资源通道单元相适应;所述第三测试IO接口子单元、第四测试IO接口子单元位于一边且与所述第二IO资源通道单元相适应;所述第五测试IO接口子单元、第六测试IO接口子单元位于一边且与所述第三IO资源通道单元相适应;所述第七测试IO接口子单元、第八测试IO接口子单元位于一边且与所述第四IO资源通道单元相适应。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202422464901.8U CN223347007U (zh) | 2024-10-12 | 2024-10-12 | 一种用于集成电路自动测试设备的通用承载装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202422464901.8U CN223347007U (zh) | 2024-10-12 | 2024-10-12 | 一种用于集成电路自动测试设备的通用承载装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN223347007U true CN223347007U (zh) | 2025-09-16 |
Family
ID=97023838
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202422464901.8U Active CN223347007U (zh) | 2024-10-12 | 2024-10-12 | 一种用于集成电路自动测试设备的通用承载装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN223347007U (zh) |
-
2024
- 2024-10-12 CN CN202422464901.8U patent/CN223347007U/zh active Active
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN101470134B (zh) | 转接板 | |
| WO2022062852A1 (zh) | 芯片试验装置、系统及方法 | |
| CN115267481A (zh) | 一种芯片测试电路和芯片测试装置 | |
| CN101453065B (zh) | 转接板 | |
| CN223347007U (zh) | 一种用于集成电路自动测试设备的通用承载装置 | |
| CN103596364A (zh) | 用于高速板上电路板测试、确认及验证的集成电路组合 | |
| CN213068951U (zh) | 射频芯片控制板和射频芯片测试系统 | |
| CN220752283U (zh) | 一种电源模块测试台 | |
| CN215493906U (zh) | 一种用于ipm模块高温工作寿命试验的老化板 | |
| CN215641651U (zh) | 一种用于芯片测试的三维测试板和多工位三维测试板 | |
| CN211580109U (zh) | 通用型手机摄像头静电测试板 | |
| CN210955087U (zh) | 调试板与产品板互连调试装置 | |
| CN215340176U (zh) | 一种用于血糖仪的工装治具 | |
| CN216086867U (zh) | 摄像头测试机通用测试转接板 | |
| CN221303390U (zh) | 一种芯片测试转接设备和芯片测试系统 | |
| CN210665802U (zh) | 一种通用双列直插器件测试适配器 | |
| CN220961612U (zh) | 芯片测试用转接模组及芯片测试装置 | |
| CN219534521U (zh) | 一种引脚封装器件、主板、服务器、电子设备 | |
| CN108680773A (zh) | 一种测试接触片连接器 | |
| CN218974419U (zh) | 子母板结构的ic电子元件测试夹具 | |
| CN112069016A (zh) | Sip芯片的测试工装 | |
| CN2640037Y (zh) | 集成电路转接板 | |
| CN223107932U (zh) | 一种拖链电缆的测试装置 | |
| CN206541801U (zh) | 半导体芯片的电性测试固定连接装置 | |
| CN218975982U (zh) | 一种lcd显示屏调试转板 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |