CN212133564U - 一种适用涡流探伤样管的读数显微镜改造结构 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种适用涡流探伤样管的读数显微镜改造结构，属于测量仪器改造技术领域。它包括读数显微镜本体（1），所述读数显微镜本体（1）的下方设置有底座（2），所述底座（2）为中空结构，一侧还设置有透光区，所述透光区上方设置有光源（5）；所述底座（2）的底部为“V”型槽结构，并在底座（2）下方匹配底座（2）的底部结构设置有V型架（7）。本实用新型能够更好地固定样管，实现对涡流探伤样管方便快捷、准确可靠的测量。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种适用涡流探伤样管的读数显微镜改造结构，属于测量仪器改造技术领域。
背景技术
现有技术下，涡流探伤样管是用于校准涡流探伤设备的对比试样，应与被检钢管的公称尺寸相同、化学成分、表面状态、热处理状态相似。使用穿过式线圈涡流擦伤技术时，对比试样上的人工缺陷为通孔。通孔的直径及间隔位置应符合GB/T7735的规定。
通孔尺寸的测量方法应符合YB/T145的规定。该规定中对通孔尺寸的测量方法有两种：一是使用塞规通止端进行合格判断；二是使用读数显微镜进行直接测量。由于样管规格品种较多，相对应的通孔尺寸也比较杂，需要配备多种规格的塞规，且使用频繁易磨损，溯源性差，投入成本较高。读数显微镜使用方便，示值稳定，重复性好，溯源性好，投入成本底。但使用读数显微镜测量时，由于样管表面为曲面，不利于固定，影响测量准确度，因此未能得到广泛应用。
例如专利公开号为CN203310711U的中国专利公开了一种读数显微镜测量台。所述读数显微镜测量台包括支架、悬臂机构、悬臂支撑件和底座，其中，所述支架垂直安装在底座上；所述悬臂机构包括悬臂和悬臂紧固件，悬臂包括分别设置在其两端的长条形槽和能够使支架穿过的第一通孔，读数显微镜放置在所述长条形槽中并能够沿长条形槽的长度方向移动，悬臂紧固件用于将悬臂与支架紧固连接；悬臂支撑件包括设置在所述悬臂下方的滑块和滑块紧固件，滑块具有能够使支架穿过的第二通孔，滑块紧固件将滑块与所述支架紧固连接。
上述专利的读数显微镜工作台之后读数显微镜可以来回移动，并能够确保读数显微镜与试样在测量过程中位置保持相对稳定，具有读数方便、测量数据精确等优点；但是其平台结构无法固定样管，非常容易影响测量准确度。
因此，研发一种较好固定效果的读数显微镜，从而提高通孔尺寸测量结果的准确度是社会所需的。
实用新型内容
本实用新型的目的是为了解决上述背景问题中提出的问题，提供一种适用涡流探伤样管的读数显微镜改造结构，它结构合理，生产成本较低，实现对涡流探伤样管方便快捷、准确可靠的测量。
本实用新型的目的是这样实现的：一种适用涡流探伤样管的读数显微镜改造结构，包括读数显微镜本体，所述读数显微镜本体的下方设置有底座，所述底座为中空结构，一侧还设置有透光区，所述透光区上方设置有光源；
所述底座的底部为“V” 型槽结构，并在底座下方匹配底座的底部结构设置有V型架。
所述光源通过调节支架安装在透光区上方。
所述底座通过螺栓安装在读数显微镜本体下方。
所述底座与V型架之间设置样管。
相比于现有技术，本实用新型具有以下优点：
本实用新型的一种适用涡流探伤样管的读数显微镜改造结构，它结构合理，生产成本较低，能够更好地在测量时实现样管的固定，实现对涡流探伤样管方便快捷、准确可靠的测量，从而提高通孔尺寸测量结果。
附图说明
图1为本实用新型一种适用涡流探伤样管的读数显微镜改造结构的示意图。
其中：1、读数显微镜本体；2、底座；3、样管；4、通孔；5、光源；6、调节支架；7、V型架；8、螺栓。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本实用新型加以说明：
如图1所示，一种适用涡流探伤样管的读数显微镜改造结构，包括读数显微镜本体1，其特征在于：所述读数显微镜本体1的下方设置有底座2，所述底座2为中空结构，一侧还设置有透光区，所述透光区上方设置有光源5；
所述底座2的底部为“V” 型槽结构，并在底座2下方匹配底座2的底部结构设置有V型架7。
所述光源5通过调节支架6安装在透光区上方。
所述底座2通过螺栓8安装在读数显微镜本体1下方，从而可以加工不同角度与大小的底座，达成可拆卸更换使用的效果。
在本实施例中，本实用新型一种适用涡流探伤样管的读数显微镜改造结构工作时，在所述底座2与V型架7之间设置样管3，实现对通孔的准确测量。
以上仅是本实用新型的具体应用范例，对本实用新型的保护范围不构成任何限制。凡采用等同变换或者等效替换而形成的技术方案，均落在本实用新型权利保护范围之内。
Claims (4)
1.一种适用涡流探伤样管的读数显微镜改造结构，包括读数显微镜本体（1），其特征在于：所述读数显微镜本体（1）的下方设置有底座（2），所述底座（2）为中空结构，一侧还设置有透光区，所述透光区上方设置有光源（5）；
所述底座（2）的底部为“V” 型槽结构，并在底座（2）下方匹配底座（2）的底部结构设置有V型架（7）。
2.根据权利要求1所述的一种适用涡流探伤样管的读数显微镜改造结构，其特征在于：所述光源（5）通过调节支架（6）安装在透光区上方。
3.根据权利要求1所述的一种适用涡流探伤样管的读数显微镜改造结构，其特征在于：所述底座（2）通过螺栓（8）安装在读数显微镜本体（1）下方。
4.根据权利要求1所述的一种适用涡流探伤样管的读数显微镜改造结构，其特征在于：所述底座（2）与V型架（7）之间设置样管（3）。
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