CN212111394U - 一种金属硅微量元素检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种金属硅微量元素检测装置，包括底座、步进电机、金属硅块、微量元素检测仪、信息储存处理器和电机驱动器，所述底座的外表面被限位块贯穿，且限位块的左侧表面固定连接有储料箱，所述底座和限位块的外表面均被拉杆贯穿，且拉杆的右侧表面固定连接有复位弹簧，并且复位弹簧固定设置在底座的左侧表面。该金属硅微量元素检测装置，当将材料放置在内槽中后，金属硅块会在重力的作用下缓缓下降，滑入到圆周分布的圆环块凹槽中，由于步进电机的每次旋转角度为90°，使得每次金属硅块会落在圆环块凹槽中，被步进电机持续带动旋转到微量元素检测仪下进行检测，达到连续上料检测的效果，提高效率。

Description

一种金属硅微量元素检测装置

技术领域

本实用新型涉及金属硅相关技术领域，具体为一种金属硅微量元素检测装置。

背景技术

金属硅是一种在工业中常见的金属元素，一般是通过石英以及焦炭进行熔炼而得出的金属元素，但由于金属硅中也具备有一些微量元素，需要对此些微量元素进行检测，以便下一步工序的加工，此时则需要使用一种金属硅微量元素检测装置，但是该装置却具有一些缺点：

其一，普遍的检测装置不便于进行持续上料，需要一步步对检测物进行拆卸安装导致，影响工时；

其二，普遍的检测装置不能够自动进行下料，需要人工进行下料，不仅消耗人力，还会影响生产效率。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种金属硅微量元素检测装置，以解决上述背景技术中提出的不能够持续进行连续上料；无法进行自动下料的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种金属硅微量元素检测装置，包括底座、步进电机、金属硅块、微量元素检测仪、信息储存处理器和电机驱动器，所述底座的外表面被限位块贯穿，且限位块的左侧表面固定连接有储料箱，所述底座和限位块的外表面均被拉杆贯穿，且拉杆的右侧表面固定连接有复位弹簧，并且复位弹簧固定设置在底座的左侧表面，所述底座的内部固定设置有步进电机，且步进电机的输出端安装有固定柱，并且固定柱的顶端固定连接有支撑块，所述支撑块贯穿底座的顶表面，且支撑块的顶表面固定连接有圆环块，所述圆环块的顶表面开设有凹槽，且圆环块的内表面固定连接有第一磁力块，所述底座的顶表面固定设置有圆柱块，且圆柱块的顶端左侧表面被凸块贯穿，并且凸块的底表面固定连接有第二磁力块，所述第二磁力块的左侧表面固定连接有连接弹簧，且连接弹簧固定设置在圆柱块的内部，所述底座的顶表面固定设置有储物块，且储物块的外表面开设有内槽，并且内槽的内部放置有金属硅块，所述底座的顶表面固定连接有固定块，且固定块的外表面分别固定连接有微量元素检测仪和信息储存处理器，并且固定块的内部固定设置有电机驱动器。

优选的，所述限位块与底座构成滑动结构，且限位块上的储料箱位于圆环块的左侧。

优选的，所述拉杆与底座构成滑动结构，且底座通过复位弹簧与拉杆构成弹性结构，并且拉杆与限位块为卡合连接。

优选的，所述固定柱和支撑块均与底座构成转动结构，且支撑块上的圆环块外表面圆周分布有4个凹槽和第一磁力块，并且第一磁力块与第二磁力块构成同性相斥结构。

优选的，所述第二磁力块通过连接弹簧与圆柱块构成弹性结构，且第二磁力块上的凸块外表面与金属硅块的外表面相贴合。

优选的，所述微量元素检测仪的信号输出端分别连接在信息储存处理器和电机驱动器的信号输出端，且电机驱动器的输出端连接在步进电机的电源处，并且步进电机设置每次旋转90°。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：该金属硅微量元素检测装置，

1.当将材料放置在内槽中后，金属硅块会在重力的作用下缓缓下降，滑入到圆周分布的圆环块凹槽中，由于步进电机的每次旋转角度为90°，使得每次金属硅块会落在圆环块凹槽中，被步进电机持续带动旋转到微量元素检测仪下进行检测，达到连续上料检测的效果，提高效率；

2.而当每次圆环块旋转90°时会带动第一磁力块旋转，使得第一磁力块推动第二磁力块，第二磁力块则会对带动凸块滑动，对凹槽中的金属硅块进行挤压，金属硅块则会被推入到储料箱中，达到自动下料功能；

3.而当需要对储料箱中的金属硅块进行拿取时，可通过拉动拉杆，使得拉杆不再与限位块卡合，此时即可滑动限位块，将储料箱从底座上拆除，便于一次性取较多的金属硅块，搬运到下一个工序，提高效率。

附图说明

图1为本实用新型整体正剖视结构示意图；

图2为本实用新型整体俯视结构示意图；

图3为本实用新型整体侧剖视结构示意图；

图4为本实用新型圆柱块俯剖视结构示意图。

图中：1、底座；2、限位块；3、储料箱；4、拉杆；5、复位弹簧；6、步进电机；7、固定柱；8、支撑块；9、圆环块；10、凹槽；11、第一磁力块；12、圆柱块；13、凸块；14、第二磁力块；15、连接弹簧；16、储物块；17、内槽；18、金属硅块；19、固定块；20、微量元素检测仪；21、信息储存处理器；22、电机驱动器。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-4，本实用新型提供一种技术方案：一种金属硅微量元素检测装置，包括底座1、限位块2、储料箱3、拉杆4、复位弹簧5、步进电机6、固定柱7、支撑块8、圆环块9、凹槽10、第一磁力块11、圆柱块12、凸块13、第二磁力块14、连接弹簧15、储物块16、内槽17、金属硅块18、固定块19、微量元素检测仪20、信息储存处理器21和电机驱动器22，底座1的外表面被限位块2贯穿，且限位块2的左侧表面固定连接有储料箱3，底座1和限位块2的外表面均被拉杆4贯穿，且拉杆4的右侧表面固定连接有复位弹簧5，并且复位弹簧5固定设置在底座1的左侧表面，底座1的内部固定设置有步进电机6，且步进电机6的输出端安装有固定柱7，并且固定柱7的顶端固定连接有支撑块8，支撑块8贯穿底座1的顶表面，且支撑块8的顶表面固定连接有圆环块9，圆环块9的顶表面开设有凹槽10，且圆环块9的内表面固定连接有第一磁力块11，底座1的顶表面固定设置有圆柱块12，且圆柱块12的顶端左侧表面被凸块13贯穿，并且凸块13的底表面固定连接有第二磁力块14，第二磁力块14的左侧表面固定连接有连接弹簧15，且连接弹簧15固定设置在圆柱块12的内部，底座1的顶表面固定设置有储物块16，且储物块16的外表面开设有内槽17，并且内槽17的内部放置有金属硅块18，底座1的顶表面固定连接有固定块19，且固定块19的外表面分别固定连接有微量元素检测仪20和信息储存处理器21，并且固定块19的内部固定设置有电机驱动器22。

限位块2与底座1构成滑动结构，且限位块2上的储料箱3位于圆环块9的左侧，当将限位块2塞入到底座1中后，移动限位块2将储料箱3移动到圆环块9的左侧，便于进行接料。

拉杆4与底座1构成滑动结构，且底座1通过复位弹簧5与拉杆4构成弹性结构，并且拉杆4与限位块2为卡合连接，在将限位块2塞入底座1前先拉扯拉杆4，当限位块2移动到一定的位置时，可松开拉杆4，拉杆4则会在复位弹簧5的作用下滑入底座1卡合限位块2，达到防止限位块2移动的效果。

固定柱7和支撑块8均与底座1构成转动结构，且支撑块8上的圆环块9外表面圆周分布有4个凹槽10和第一磁力块11，并且第一磁力块11与第二磁力块14构成同性相斥结构，当固定柱7带动支撑块8上的圆环块9旋转时，圆环块9会带动第一磁力块11旋转，当第一磁力块11旋转接近第二磁力块14时，会对第二磁力块14产生排斥力，使得第二磁力块14滑动。

第二磁力块14通过连接弹簧15与圆柱块12构成弹性结构，且第二磁力块14上的凸块13外表面与金属硅块18的外表面相贴合，并且金属硅块18与内槽17构成滑动摩擦结构，第二磁力块14不受到排斥力时，第二磁力块14会受到连接弹簧15的推力带动凸块13滑动，从而达到可循环进行推动挤压的效果。

微量元素检测仪20的信号输出端分别连接在信息储存处理器21和电机驱动器22的信号输出端，且电机驱动器22的输出端连接在步进电机6的电源处，该步进电机6设置每次旋转90°，当微量元素检测仪20检测完后会将信息传给信息储存处理器21进行储存，再将信号脉冲传达给电机驱动器22，使得电机驱动器22将信号脉冲接受转换为电信号启动步进电机6，通过步进电机6驱使固定柱7旋转90°，而微量元素检测仪20可采用QL-HW2000系列的分析仪，储存处理器21可采用AMD系列中的CPU。

工作原理：在使用该金属硅微量元素检测装置时，给该装置接上外接电源后，将材料放入储物块16的内槽17中，根据图1、图2、图3、图4，在重力的作用下内槽17中的材料会滑动触碰到圆环块9的外表面，而圆环块9在转动过程中会带动凹槽10转动，凹槽10接触到圆环块9时，圆环块9才会完全从内槽17滑出停留在凹槽10上，此时由于电机驱动器22会被微量元素检测仪20传达的信号连续启动，使得电机驱动器22会驱动步进电机6运作，步进电机6则驱使固定柱7旋转，固定柱7通过支撑块8带动圆环块9旋转，使得圆环块9带动凹槽10旋转分别对金属硅块18进行装填，将金属硅块18移动到固定块19上微量元素检测仪20的下方进行检测，被检测的信息则会被输送到信息储存处理器21中进行储存，而由于微量元素检测仪20每检测完一次则会传输一次信息给电机驱动器22，使得电机驱动器22连续启动步进电机6，从而圆环块9连续旋转，在圆环块9旋转过程中会带动第一磁力块11旋转，第一磁力块11接近圆柱块12上的第二磁力块14时，第二磁力块14会被第一磁力块11的斥力推动挤压连接弹簧15带动凸块13滑动，凸块13则会将被检测后的金属硅块18推出凹槽10落入到储料箱3中，循环如此，达到连续上料和下料的效果，提高效率；

而当需要对储料箱3中的材料进行拿取时，根据图1和图2，拉动复位弹簧5作用下的拉杆4，使得拉杆4滑动不再与限位块2进行卡合，之后即可推动储料箱3，使得限位块2在底座1中滑动，将限位块2从底座1中完全取出，达到拿取的效果，增加了整体的实用性。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (6)

1.一种金属硅微量元素检测装置，包括底座(1)、步进电机(6)、金属硅块(18)、微量元素检测仪(20)、信息储存处理器(21)和电机驱动器(22)，其特征在于：所述底座(1)的外表面被限位块(2)贯穿，且限位块(2)的左侧表面固定连接有储料箱(3)，所述底座(1)和限位块(2)的外表面均被拉杆(4)贯穿，且拉杆(4)的右侧表面固定连接有复位弹簧(5)，并且复位弹簧(5)固定设置在底座(1)的左侧表面，所述底座(1)的内部固定设置有步进电机(6)，且步进电机(6)的输出端安装有固定柱(7)，并且固定柱(7)的顶端固定连接有支撑块(8)，所述支撑块(8)贯穿底座(1)的顶表面，且支撑块(8)的顶表面固定连接有圆环块(9)，所述圆环块(9)的顶表面开设有凹槽(10)，且圆环块(9)的内表面固定连接有第一磁力块(11)，所述底座(1)的顶表面固定设置有圆柱块(12)，且圆柱块(12)的顶端左侧表面被凸块(13)贯穿，并且凸块(13)的底表面固定连接有第二磁力块(14)，所述第二磁力块(14)的左侧表面固定连接有连接弹簧(15)，且连接弹簧(15)固定设置在圆柱块(12)的内部，所述底座(1)的顶表面固定设置有储物块(16)，且储物块(16)的外表面开设有内槽(17)，并且内槽(17)的内部放置有金属硅块(18)，所述底座(1)的顶表面固定连接有固定块(19)，且固定块(19)的外表面分别固定连接有微量元素检测仪(20)和信息储存处理器(21)，并且固定块(19)的内部固定设置有电机驱动器(22)。

2.根据权利要求1所述的一种金属硅微量元素检测装置，其特征在于：所述限位块(2)与底座(1)构成滑动结构，且限位块(2)上的储料箱(3)位于圆环块(9)的左侧。

3.根据权利要求1所述的一种金属硅微量元素检测装置，其特征在于：所述拉杆(4)与底座(1)构成滑动结构，且底座(1)通过复位弹簧(5)与拉杆(4)构成弹性结构，并且拉杆(4)与限位块(2)为卡合连接。

4.根据权利要求1所述的一种金属硅微量元素检测装置，其特征在于：所述固定柱(7)和支撑块(8)均与底座(1)构成转动结构，且支撑块(8)上的圆环块(9)外表面圆周分布有4个凹槽(10)和第一磁力块(11)，并且第一磁力块(11)与第二磁力块(14)构成同性相斥结构。

5.根据权利要求1所述的一种金属硅微量元素检测装置，其特征在于：所述第二磁力块(14)通过连接弹簧(15)与圆柱块(12)构成弹性结构，且第二磁力块(14)上的凸块(13)外表面与金属硅块(18)的外表面相贴合，并且金属硅块(18)与内槽(17)构成滑动摩擦结构。

6.根据权利要求1所述的一种金属硅微量元素检测装置，其特征在于：所述微量元素检测仪(20)的信号输出端分别连接在信息储存处理器(21)和电机驱动器(22)的信号输出端，且电机驱动器(22)的输出端连接在步进电机(6)的电源处。

Images