CN211402624U - 一种测试效率高的集成电路测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种测试效率高的集成电路测试装置，包括支撑台，所述支撑台的上端滑动连接有导向座，所述导向座的前端通过螺纹连接有铰接钉，所述铰接钉的外侧铰接有挡块，所述导向座内滑动连接有支撑板，所述支撑板的前端设置有支撑凸条，所述支撑板的上端粘合有橡胶垫，所述橡胶垫的上端摆放有集成电路板，所述集成电路板与导向座滑动连接。该测试效率高的集成电路测试装置通过采用两个导向座的配合对集成电路板进行导向，且设计方便使用的挡块对集成电路板进行定位，防止集成电路板发生水平移动，而且集成电路板采用支撑板支撑，支撑板上还设计橡胶垫保护集成电路板，支撑板底部还设计弹簧进行缓冲，使得测试时，对集成电路板进行保护。
Description
技术领域
本实用新型涉及集成电路板加工技术领域，具体为一种测试效率高的集成电路测试装置。
背景技术
集成电路是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构；其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步。
在集成电路板加工过程中国，都需要对集成电路板进行测试。一般采用对应的测试板进行手动测试。但是在测试时效率较低，目前多采用气缸驱动测试板测试。但是测试时对集成电路板的装夹并不方便，而且也缺乏测试对集成电路板冲击的保护措施。目前的工装适用性差，不能根据需要调整，以方便对不同规格的集成电路板进行装夹。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种测试效率高的集成电路测试装置，以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种测试效率高的集成电路测试装置，包括支撑台，所述支撑台的上端滑动连接有导向座，所述导向座的前端通过螺纹连接有铰接钉，所述铰接钉的外侧铰接有挡块，所述导向座内滑动连接有支撑板，所述支撑板的前端设置有支撑凸条，所述支撑板的上端粘合有橡胶垫，所述橡胶垫的上端摆放有集成电路板，所述集成电路板与导向座滑动连接，所述导向座与挡块接触，所述支撑板的下端固定连接有导杆，所述导杆的外侧套装有弹簧，所述支撑台的上端固定连接有支撑架，所述支撑架内开设有通孔，所述通孔内转动连接有螺纹杆，所述支撑架的中部下端固定连接有气缸，所述气缸设置有气缸杆，所述气缸杆的下端通过螺栓安装有连接套，所述连接套的下端固定连接有测试板。
优选的，所述支撑台上开设有导向孔，所述导向孔的数量为两个，且每个导向孔内均滑动连接有导杆。
优选的，所述导向座的数量为两个，且导向座在支撑台的上端呈对称分布，且每个导向座内均通过螺纹连接有螺纹杆。
优选的，所述挡块内开设有铰接孔，所述铰接孔与铰接钉转动连接，所述挡块的下端与支撑凸条接触。
优选的，所述弹簧的上端与支撑板的下端接触，所述弹簧的下端与支撑台的上端接触，所述导杆的下端通过螺纹连接有第一限位环。
优选的，所述螺纹杆的数量为两个，且每个螺纹杆的外侧通过螺纹连接有第二限位环，所述第二限位环与支撑架的表面接触。
本实用新型提供了一种测试效率高的集成电路测试装置。具备以下有益效果：
(1)、该测试效率高的集成电路测试装置通过采用两个导向座的配合对集成电路板进行导向，且设计方便使用的挡块对集成电路板进行定位，防止集成电路板发生水平移动，而且集成电路板采用支撑板支撑，支撑板上还设计橡胶垫保护集成电路板，支撑板底部还设计弹簧进行缓冲，使得测试时，对集成电路板进行保护。
(2)、该测试效率高的集成电路测试装置通过设计对称的导向座，且导向座内通过螺纹连接螺纹杆，螺纹杆穿过支撑架，且采用第二限位环限位，通过螺纹杆的设计可以调节导向座的位置，方便根据需要对不同规格的集成电路板进行装夹，适用性好。
附图说明
图1为本实用新型的整体结构示意图；
图2为本实用新型的图1的A部结构放大图；
图3为本实用新型的图1的局部结构俯视图；
图4为本实用新型的图2的B部结构放大图。
图中：1支撑台、2导向孔、3导向座、4铰接钉、5挡块、51铰接孔、6支撑板、7橡胶垫、8集成电路板、9导杆、10弹簧、11第一限位环、12支撑凸条、13支撑架、14通孔、15螺纹杆、16第二限位环、17气缸、18气缸杆、19连接套、20测试板。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-4，本实用新型提供一种技术方案：一种测试效率高的集成电路测试装置，包括支撑台1，支撑台1的上端滑动连接有导向座3，导向座3的前端通过螺纹连接有铰接钉4，铰接钉4的外侧铰接有挡块5，挡块5可以绕铰接钉4转动，导向座3内滑动连接有支撑板6，支撑板6的前端设置有支撑凸条12，支撑凸条12对挡块5具有支撑作用，支撑板6的上端粘合有橡胶垫7，橡胶垫7的上端摆放有集成电路板8，集成电路板8与导向座3滑动连接，导向座3与挡块5接触，通过导向座3和挡块5的配合，可以对集成电路板8进行定位，支撑板6的下端固定连接有导杆9，导杆9的外侧套装有弹簧10，弹簧10具有缓冲作用，支撑台1的上端固定连接有支撑架13，支撑架13内开设有通孔14，通孔14内转动连接有螺纹杆15，通孔14为螺纹杆15提供了转动空间，支撑架13的中部下端固定连接有气缸17，气缸17为SC系列标准气缸，属于现有技术，且配备有控制开关，气缸17设置有气缸杆18，气缸杆18的下端通过螺栓安装有连接套19，连接套19的下端固定连接有测试板20，测试板20设置有多个测试针，对集成电路板8进行测试，属于现有技术。
本实施例中，具体的，支撑台1上开设有导向孔2，导向孔2的数量为两个，且每个导向孔2内均滑动连接有导杆9。通过导向孔2的设计，为导杆9提供了安装空间，且导杆9可以在导向孔2内滑动。
本实施例中，具体的，导向座3的数量为两个，且导向座3在支撑台1的上端呈对称分布，且每个导向座3内均通过螺纹连接有螺纹杆15。通过对称分布的导向座3可以对集成电路板8进行限位，螺纹杆15可以和导向座3发生螺纹运动，产生相对位移。
本实施例中，具体的，挡块5内开设有铰接孔51，铰接孔51与铰接钉4转动连接，挡块5的下端与支撑凸条12接触。支撑凸条12的设计对挡块5具有支撑作用，通过铰接钉4和铰接孔51的配合，可以使得挡块5发生转动。
本实施例中，具体的，弹簧10的上端与支撑板6的下端接触，弹簧10的下端与支撑台1的上端接触，导杆9的下端通过螺纹连接有第一限位环11。弹簧10具有弹性，可发生弹性变形，从而具有缓冲作用，第一限位环11的设计防止导杆9从导向孔2内滑脱。
本实施例中，具体的，螺纹杆15的数量为两个，且每个螺纹杆15的外侧通过螺纹连接有第二限位环16，第二限位环16与支撑架13的表面接触。通过第二限位环16的设计，可以对螺纹杆15进行限位，防止螺纹杆15发生轴向移动。
本实用新型在具体实施时：当需要对集成电路板8进行装夹时，只需将集成电路板8置于两个导向座3内，然后向右拨动挡块5，使得挡块5向右偏转，且与支撑凸条12和集尘电路板8的前端接触，实现对集成电路板8的定位，装夹方便快捷，而且集成电路板8采用支撑板6支撑，支撑板6上还设计橡胶垫7保护集成电路板8，支撑板6底部还设计弹簧10进行缓冲，使得测试时，当测试板20下压时，对集成电路板8进行保护；当需要调节导向座3的位置时，转动螺纹杆15，螺纹杆15与导向座3发生螺纹运动，产生相对位移，由于螺纹杆15被第二限位环16限位，无法发生轴向移动，故导向座3移动，即可调整位置，便于根据需要进行调整，方便根据需要对不同规格的集成电路板8进行装夹，适用性好。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (6)
1.一种测试效率高的集成电路测试装置，包括支撑台(1)，其特征在于：所述支撑台(1)的上端滑动连接有导向座(3)，所述导向座(3)的前端通过螺纹连接有铰接钉(4)，所述铰接钉(4)的外侧铰接有挡块(5)，所述导向座(3)内滑动连接有支撑板(6)，所述支撑板(6)的前端设置有支撑凸条(12)，所述支撑板(6)的上端粘合有橡胶垫(7)，所述橡胶垫(7)的上端摆放有集成电路板(8)，所述集成电路板(8)与导向座(3)滑动连接，所述导向座(3)与挡块(5)接触，所述支撑板(6)的下端固定连接有导杆(9)，所述导杆(9)的外侧套装有弹簧(10)，所述支撑台(1)的上端固定连接有支撑架(13)，所述支撑架(13)内开设有通孔(14)，所述通孔(14)内转动连接有螺纹杆(15)，所述支撑架(13)的中部下端固定连接有气缸(17)，所述气缸(17)设置有气缸杆(18)，所述气缸杆(18)的下端通过螺栓安装有连接套(19)，所述连接套(19)的下端固定连接有测试板(20)。
2.根据权利要求1所述的一种测试效率高的集成电路测试装置，其特征在于：所述支撑台(1)上开设有导向孔(2)，所述导向孔(2)的数量为两个，且每个导向孔(2)内均滑动连接有导杆(9)。
3.根据权利要求1所述的一种测试效率高的集成电路测试装置，其特征在于：所述导向座(3)的数量为两个，且导向座(3)在支撑台(1)的上端呈对称分布，且每个导向座(3)内均通过螺纹连接有螺纹杆(15)。
4.根据权利要求1所述的一种测试效率高的集成电路测试装置，其特征在于：所述挡块(5)内开设有铰接孔(51)，所述铰接孔(51)与铰接钉(4)转动连接，所述挡块(5)的下端与支撑凸条(12)接触。
5.根据权利要求1所述的一种测试效率高的集成电路测试装置，其特征在于：所述弹簧(10)的上端与支撑板(6)的下端接触，所述弹簧(10)的下端与支撑台(1)的上端接触，所述导杆(9)的下端通过螺纹连接有第一限位环(11)。
6.根据权利要求1所述的一种测试效率高的集成电路测试装置，其特征在于：所述螺纹杆(15)的数量为两个，且每个螺纹杆(15)的外侧通过螺纹连接有第二限位环(16)，所述第二限位环(16)与支撑架(13)的表面接触。
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