CN211237679U - 测试电路及其显示装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种测试电路及其显示装置，所述显示面板包括显示区与非显示区，所述非显示区包括虚拟像素，所述虚拟像素上连接有虚拟数据线，所述测试电路包括：多个测试垫，配置于所述非显示区，用以接收或发送多个测试信号；多条测试线，连接所述测试垫，用于将所述多个测试信号的至少之一传输至所述显示面板，或从所述显示面板发出，其中，所述虚拟数据线为所述测试线。由此可节省边界空间的同时不影响面板正常显示，还能检测各级信号线输出。

Description

测试电路及其显示装置

技术领域

本实用新型涉及显示技术领域，具体涉及一种测试电路及其显示装置。

背景技术

随着光电与半导体技术的演进，也带动了平板显示器(Flat Panel Display)的蓬勃发展，而在诸多平板显示器中，液晶显示器(Liquid Crystal Display，简称LCD)因具有高空间利用效率、低消耗功率、无辐射以及低电磁干扰等诸多优越特性，已被应用于生产生活的各个方面。

液晶显示器LCD通常包括相对设置的液晶显示面板和背光模块，其中其中液晶单元排列为矩阵形式，且由于液晶显示面板无法发光，需要背光模块向液晶显示面板提供均匀的光线，再通过根据接收到的图像信号，施加电场，控制穿过液晶层的光透射率，来显示图像。此外液晶显示器LCD还包括驱动电路(如设置于邻近像素阵列的外围区域)，基于接收到的图像数据信号来驱动液晶显示面板。

液晶显示面板的像素阵列包括薄膜晶体管(TFT，Thin Film Transistor)基板(包括与多个像素相对应的多个TFT)和滤色器基板(如，红、绿、蓝滤波器矩阵)，彼此面对，两基板之间放置有液晶材料，以及保持两基板之间的单元间隔的隔板(spacer)。

薄膜晶体管基板具有扫描线、数据线、在扫描线和数据线的绝缘相交点形成的薄膜晶体管TFT(如用作每一液晶单元的开关)、与薄膜晶体管TFT相连的像素电极、以及涂在这些元件上的取向膜(alignment film)。扫描线和数据线在各自的焊点上接收来自(外围)驱动电路的信号。数据线将像素信号发送至像素电极(TFT的源极)，响应扫描线发送的扫描信号(在TFT的栅极接收)，将电场施加于液晶。

滤色器基板包括形成在每一液晶单元上的滤色器、将滤色器彼此分开并反射外部光线的黑矩阵、将参考(如地)电压提供给所有液晶单元的公共电极、以及涂在所有这些元件上的取向膜。

薄膜晶体管基板和滤色器基板是分别制造并组装的，将液晶注入两基板之间，密封两基板，因而形成液晶显示面板。

面板成盒后要经过点灯测试检测信号线中的缺陷(通过确定信号线是否短路或开路)以及薄膜晶体管TFT内的缺陷，以此确认设计的可行性和画面显示情况，一般情况下面板会在显示区外围的边界区域预留测试线路，但这会占用芯片外围走线的空间，同时后期还会测试各输入信号的波形，对于数据信号和扫描信号波形测试数量有限，不能实现具体待测试的信号级数。

实用新型内容

为了解决上述技术问题，本实用新型提供了一种测试电路及其显示装置，可以节省边界空间的同时不影响面板正常显示，还能检测各级信号线输出。

一方面本实用新型提供了一种测试电路，用于测试显示面板，所述显示面板包括显示区与非显示区，所述非显示区包括虚拟像素，所述虚拟像素上连接有虚拟数据线，其中，所述测试电路包括：

多个测试垫，配置于所述非显示区，用以接收或发送多个测试信号；

多条测试线，连接所述测试垫，用于将所述多个测试信号的至少之一传输至所述显示面板，或从所述显示面板发出，

其中，所述虚拟数据线为所述测试线。

进一步的，所述显示区包括像素阵列，所述像素阵列包括：

多条扫描线、与所述扫描线绝缘相交的多条数据线，所述数据线和扫描线限定出多个像素单元，

其中，所述多条数据线向所述像素单元提供多个源极驱动信号，所述多条扫描线向所述像素单元提供多个栅极驱动信号。

进一步的，所述非显示区还包括：

栅极驱动芯片，连接所述扫描线，用于提供所述栅极驱动信号；

源极驱动芯片，连接所述数据线，用于提供所述源极驱动信号。

进一步的，所述多条扫描线在所述非显示区内与所述测试线均具有绝缘相交区域。

进一步的，所述测试线与任一所述扫描线的连接，用于测试所述扫描线的信号输出。

进一步的，通过焊接任一所述扫描线与所述测试线的绝缘相交区域，使所述测试线与任一所述扫描线连接。

进一步的，所述显示面板还包括：

多条修复线，与所述扫描线平行，设置于所述非显示区内，其中，所述多条修复线分别与所述数据线和所述测试线均具有绝缘相交区域。

进一步的，任一所述数据线与所述测试线和所述修复线的连接，用于测试所述数据线的信号输出。

进一步的，通过焊接任一所述数据线分别与所述测试线和所述修复线的绝缘相交区域，使所述测试线实现和所述修复线连接的同时与任一所述数据线连接。

另一方面本实用新型提供了一种显示装置，其包括：

显示面板，包括上述的测试线路；以及

背光模组，用于为所述显示面板提供亮度。

本实用新型的有益效果是：本实用新型利用未参与显示的虚拟像素，通过将连接该虚拟像素的虚拟数据线为显示面板中测试电路的测试线，既用于完成点灯测试，也可用于测试显示面板的线路连接情况，实现了节省空间的同时又不影响显示面板的正常显示；

同时该测试电路的测试线与接入显示区的扫描线均有绝缘相交区域，利用该测试线作为为每一行扫描线的信号测试线，通过焊接此绝缘相交区域，实现电连接，可以测试任意一行的扫描线的输出；

此外，可利用显示面板中预设的与扫描线平行设置的修复线，通过焊接测试电路中测试线与修复线的绝缘相交区域，以及修复线与待测试的数据线的绝缘相交区域，实现电连接，即可测试任意一行的数据线的输出。

附图说明

通过以下参照附图对本实用新型实施例的描述，本实用新型的上述以及其他目的、特征和优点将更为清楚。

图1示出本实用新型实施例的显示面板中测试电路的结构示意图；

图2示出本实用新型实施例的测试电路中部分结构示意图；

图3示出本实用新型实施例中显示面板的结构示意图。

具体实施方式

为了便于理解本实用新型，下面将参照相关附图对本实用新型进行更全面的描述。附图中给出了本实用新型的较佳实施例。但是，本实用新型可以通过不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反的，提供这些实施例的目的是使对本实用新型的公开内容的理解更加透彻全面。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本实用新型。

下面，参照附图对本实用新型进行详细说明。

图1示出本实用新型实施例的显示面板中测试电路的结构示意图，图2示出本实用新型实施例的测试电路中部分结构示意图。

如图1和2所示，本实用新型实施例提供了一种测试电路(部分结构未示出)，该测试电路用于测试显示面板100的输入信号，显示面板100包括显示区与非显示区，该非显示区包括有虚拟像素，该虚拟像素上连接有虚拟数据线1241，其中，该测试电路包括：多个测试垫PAD和多条测试线1241，其中，多个测试垫PAD配置于非显示区内，用以接收或发送多个测试信号，而多条测试线1241则连接该测试垫PAD，用于将多个测试信号的至少之一传输至显示面板100，该输入信号包括显示面板100的驱动信号和上述多个测试信号，且在本实施例中，连接有虚拟像素的虚拟数据线未参与显示工作，故选取的该虚拟数据线在成盒点灯测试时刻作为测试电路中的测试线1241，组装完成后也可以作为显示面板100驱动信号的传输线，测试显示面板中某一信号线(数据线或扫描线)的线路连接。进一步的，所述驱动信号包括但不限于栅极驱动信号和源极驱动信号。

进一步的，该显示区包括有像素阵列，该像素阵列包括：多条扫描线123、与扫描线123绝缘相交的多条数据线124，该数据线124和扫描线123限定出多个像素单元，像素单元包括有薄膜晶体管101和像素电极，其中，每一薄膜晶体管101与扫描线123和数据线124相连，像素电极形成于数据线124和扫描线123的绝缘相交区域，每一像素电极均与一个薄膜晶体管101相连，其中，多条数据线124用于向像素单元提供多个源极驱动信号，多条扫描线123用于向像素单元提供多个栅极驱动信号。具体的，多个薄膜晶体管101的栅极均电连接有一扫描线123，源极均电连接有一数据线，漏极均电连接有一像素电极，在扫描线的控制下，将数据线输入的数据信号通过像素电极提供给其对应的子像素，控制该子像素的显示。

进一步的，该显示面板100的非显示区还包括：栅极驱动芯片10和源极驱动芯片20，该栅极驱动芯片10连接多条扫描线123，用于提供所上述栅极驱动信号，源极驱动芯片,20连接多条数据线124，用于提供上述源极驱动信号。

进一步的，多条扫描线123在非显示区内与测试线1241均具有绝缘相交区域102，在一种实施方式中，通过焊接任一扫描线123与测试线1241的绝缘相交区域，使测试线1241与任一扫描线123连接，以及将测试垫PAD连接外部检测设备和/或将与测试垫PAD连接的测试线1241的另一端连接测试芯片30，即可用于测试栅极驱动信号经该扫描线123的输出情况和/或该扫描线123的连接情况。

本实用新型提供的用于显示面板100的测试电路，选取虚拟数据线为测试电路中的测试线1241，同时该显示面板100还包括多条修复线，该多条修复线与扫描线123平行，设置于非显示区内，其中，该多条修复线分别与数据线124和测试线1241均具有绝缘相交区域105。

进一步的，该多条修复线至少包括第一修复线103和第二修复线104，其中，第一修复线103靠近源极驱动芯片10设置，第二修复线104靠近测试芯片30设置。

进一步的，通过焊接任一数据线124分别与测试线1241和修复线103(或104)的绝缘相交区域105，使测试线1241实现和修复线103(或104)连接的同时实现与任一数据线124的连接，以及将测试垫PAD连接外部检测设备和/或将与测试垫PAD连接的测试线1241的另一端连接测试芯片30，即可用于测试源极驱动信号经该数据线124的输出情况和/或该数据线124的连接情况。

另一方面本实用新型提供了一种显示装置，其包括上述实施例中所述的显示面板；以及背光模组，其中，该显示面板具有上述中的测试电路，而背光模组主要用于为该显示面板提供亮度。

在本实用新型的一种实施方式中，利用因被黑色矩阵遮挡而未参与显示的虚拟像素，通过将连接该虚拟像素的虚拟数据线充当显示面板的测试线，实现了节省空间的同时又不影响显示面板的正常显示。

在另一种实施方式中，该测试电路的测试线与接入显示区的扫描线距有绝缘相交区域，利用测试线作为每一行扫描线的信号测试线，通过焊接此绝缘相交区域实现二者间的电连接，可以测试任意一行的扫描线的输出。

在另一种实施方式中，可利用显示面板中预设的与扫描线平行设置的修复线，通过焊接测试电路中测试线与修复线的绝缘相交区域，以及焊接修复线与待测试的数据线的绝缘相交区域实现三者间的电连接，即可测试任意一行的数据线的输出。

应当说明的是，在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“内”等指示方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的组件或元件必须具有特定的方位，以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

此外，在本文中，所含术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

最后应说明的是：显然，上述实施例仅仅是为清楚地说明本实用新型所作的举例，而并非对实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引申出的显而易见的变化或变动仍处于本实用新型的保护范围之中。

Claims (10)

1.一种测试电路，用于测试显示面板，所述显示面板包括显示区与非显示区，所述非显示区包括虚拟像素，所述虚拟像素上连接有虚拟数据线，其特征在于，所述测试电路包括：

多个测试垫，配置于所述非显示区，用以接收或发送多个测试信号；

多条测试线，连接所述测试垫，用于将所述多个测试信号的至少之一传输至所述显示面板，或从所述显示面板发出；

其中，所述虚拟数据线为所述测试线。

2.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述显示区包括像素阵列，所述像素阵列包括：

多条扫描线、与所述扫描线绝缘相交的多条数据线，所述数据线和扫描线限定出多个像素单元，

其中，所述多条数据线向所述像素单元提供多个源极驱动信号，所述多条扫描线向所述像素单元提供多个栅极驱动信号。

3.根据权利要求2所述的测试电路，其特征在于，所述非显示区还包括：

栅极驱动芯片，连接所述扫描线，用于提供所述栅极驱动信号；

源极驱动芯片，连接所述数据线，用于提供所述源极驱动信号。

4.根据权利要求2所述的测试电路，其特征在于，所述多条扫描线在所述非显示区内与所述测试线均具有绝缘相交区域。

5.根据权利要求2所述的测试电路，其特征在于，所述测试线与任一所述扫描线连接，用于测试所述扫描线的信号输出。

6.根据权利要求5所述的测试电路，其特征在于，通过焊接任一所述扫描线与所述测试线的绝缘相交区域，使所述测试线与任一所述扫描线连接。

7.根据权利要求2所述的测试电路，其特征在于，所述显示面板还包括：

多条修复线，与所述扫描线平行，设置于所述非显示区内，其中，所述多条修复线分别与所述数据线和所述测试线均具有绝缘相交区域。

8.根据权利要求7所述的测试电路，其特征在于，任一所述数据线与所述测试线和所述修复线的连接，用于测试所述数据线的信号输出。

9.根据权利要求8所述的测试电路，其特征在于，通过焊接任一所述数据线分别与所述测试线和所述修复线的绝缘相交区域，使所述测试线实现和所述修复线连接的同时与任一所述数据线连接。

10.一种显示装置，其特征在于，包括：

显示面板，包括权利要求1～9中任一项所述的测试电路；以及

背光模组，用于为所述显示面板提供亮度。

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