CN217687002U - 一种检验砂型上补砂块高低的检具 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种检验砂型上补砂块高低的检具，包括条状的检具本体，该检具本体上设有检高区域和检低区域；检高区域上沿检具本体的延伸方向依次设有多个检高对照面，以其中最接近检具本体的一个检高对照面所在平面为检高基准面；检高对照面的一侧设有一第一外侧面，第一外侧面与各检高对照面垂直相交；对应检高区域设有检高定位尺；检低区域上沿检具本体的延伸方向依次设有多个检低对照面，以其中最远离检具本体的一个检低对照面所在平面为检低基准面；检低对照面的一侧设有一第二外侧面，第二外侧面与各检低对照面垂直相交；对应检低区域设有检低定位尺。本检具能够测量补砂块和砂型之间高低差是否符合要求。

Description

一种检验砂型上补砂块高低的检具

技术领域

本实用新型涉及砂型检具技术领域，特别地，涉及一种检验砂型上补砂块高低的检具。

背景技术

在铸造过程中，由于砂型的表面有一层细小浮砂，铸造之后砂型内散落的浮砂不易清理，所以通常会分型出来一个补砂块，铸造时使补砂块和砂型共同拼装组成一个完整的模具，铸造后将补砂块拆下，从而得以方便地清理浮砂。

然而在补砂块和砂型相互拼装进行合箱定位时，常会出现定位不准确的情况，即补砂块和砂型之间存在高度差，没有精确地按照预设位置配合；这种情况通常肉眼难以分辨，如果在这种情况下进行铸造，则会导致铸造出来的产品内外壁出现偏差，进而导致后续加工流程中，出现不好找基准、偏心不好加工、可能加工不出等问题。

针对上述问题，就需要提供一种能够方便测量补砂块和砂型之间，高低差是否符合要求的检具。

发明内容

本实用新型的目的在于提供一种检验砂型上补砂块高低的检具。

本实用新型采用的技术方案是：一种检验砂型上补砂块高低的检具，包括条状的检具本体，该检具本体上设有检高区域和检低区域；

所述检高区域上沿所述检具本体的延伸方向依次设有多个检高对照面，各所述检高对照面相互平行且高度互不相同，以其中最接近所述检具本体的一个检高对照面所在平面为检高基准面；所述检高对照面的一侧设有一第一外侧面，所述第一外侧面与各所述检高对照面垂直相交；

对应所述检高区域设有检高定位尺，所述检高定位尺包括一个位于所述检高基准面上的检高定位面，该检高定位面向外延伸并连接到所述第一外侧面上，形成多个分别对应连接各所述检高对照面的第一连接齿；

所述检低区域上沿所述检具本体的延伸方向依次设有多个检低对照面，各所述检低对照面相互平行且高度互不相同，以其中最远离所述检具本体的一个检低对照面所在平面为检低基准面；所述检低对照面的一侧设有一第二外侧面，所述第二外侧面与各所述检低对照面垂直相交；

对应所述检低区域设有检低定位尺，所述检低定位尺包括一个位于所述检低基准面上的检低定位面，该检低定位面向外延伸并连接到所述第二外侧面上，形成多个分别对应连接各所述检低对照面的第二连接齿。

上述技术方案中的有关内容解释如下：

1.上述方案中，所述检具本体为条状长方体，所述检高区域和所述检低区域分别位于所述检具本体的相对面上。

2.上述方案中，所述检具本体的两端设有握把，所述握把沿所述检具本体的延伸方向延伸。

3.上述方案中，所述检高对照面上制有检高刻度值，所述检高刻度值为对应的检高对照面与所述检高基准面的高度差；所述检低对照面上制有检低刻度值，所述检低刻度值为对应的检低对照面与所述检低基准面的高度差。

4.上述方案中，所有所述检高刻度值构成一等差数列；所有所述检低刻度值构成另一等差数列。

5.上述方案中，所有所述检高对照面沿所述检具本体的延伸方向依次相邻布置；所有所述检低对照面沿所述检具本体的延伸方向依次相邻布置。

6.上述方案中，最接近所述检具本体的一个检高对照面位于所有所述检高对照面的中部；最远离所述检具本体的一个检低对照面位于所有所述检低对照面的中部。

7.上述方案中，所述检高对照面共设有五个；所述检低对照面共设有五个。

本实用新型的有益效果在于：本检验砂型上补砂块高低的检具在使用时，通过简单的比对步骤便能够测量出补砂块和砂型之间是否存在高度差，同时获取到大体的高度差数值，从而判断是否需要对补砂块和砂型进行调整，操作简单，使用方便，操作人员根据该数值来调整补砂块的高度，能够给调整高度的操作带来帮助，间接提高铸件精度，保证了铸件产品的合格率。

附图说明

附图1为本实用新型一个实施例检高区域一侧的示意图；

附图2为附图1所示实施例检高区域一侧的侧视图；

附图3为附图1所示实施例在检高工作状态下的俯视图；

附图4为附图1所示实施例在检高工作状态下的侧视图；

附图5为附图1所示实施例检低区域一侧的示意图；

附图6为附图1所示实施例检低区域一侧的侧视图；

附图7为附图1所示实施例在检低工作状态下的俯视图；

附图8为附图1所示实施例在检低工作状态下的侧视图。

以上附图中：1．检具本体；10．握把；21．检高对照面；22．第一外侧面；23．检高定位尺；24．检高定位面；25．第一连接齿；31．检低对照面；32．第二外侧面；33．检低定位尺；34．检低定位面；35．第二连接齿；4．砂型；5．补砂块。

具体实施方式

下面结合附图及实施例对本实用新型作进一步描述：

以下将以图式及详细叙述对本案进行清楚说明，任何本领域技术人员在了解本案的实施例后，当可由本案所教示的技术，加以改变及修饰，其并不脱离本案的精神与范围。

本文的用语只为描述特定实施例，而无意为本案的限制。单数形式如“一”、“这”、“此”、“本”以及“该”，如本文所用，同样也包含复数形式。

关于本文中所使用的“第一”、“第二”等，并非特别指称次序或顺位的意思，亦非用以限定本案，其仅为了区别以相同技术用语描述的组件或操作。

关于本文中所使用的“连接”或“定位”，均可指二或多个组件或装置相互直接作实体接触，或是相互间接作实体接触，亦可指二或多个组件或装置相互操作或动作。

关于本文中所使用的“包含”、“包括”、“具有”等，均为开放性的用语，即意指包含但不限于。

关于本文中所使用的用词（terms），除有特别注明外，通常具有每个用词使用在此领域中、在本案内容中与特殊内容中的平常意义。某些用以描述本案的用词将于下或在此说明书的别处讨论，以提供本领域技术人员在有关本案之描述上额外的引导。

关于本文中所使用的“前”、“后”、“上”、“下”、“左”、“右”等，均为方向性用词，在本案中仅为说明各结构之间位置关系，并非用以限定本案保护范围及实际实施时的具体方向。

如图1至图8所示的实施例，提供一种检验砂型上补砂块高低的检具，包括条状的检具本体1，该检具本体1上设有检高区域和检低区域。

本实施例中所述检具本体1为条状长方体，所述检高区域和所述检低区域分别位于所述检具本体1的相对面上。

所述检高区域上沿所述检具本体1的延伸方向依次设有多个检高对照面21，各所述检高对照面21相互平行且高度互不相同，以其中最接近所述检具本体1的一个检高对照面21所在平面为检高基准面。

本实施例中，所述检高对照面21共设有五个，所有所述检高对照面21沿所述检具本体1的延伸方向依次相邻布置，成连续的台阶状。

所述检高对照面21的一侧设有一第一外侧面22，所述第一外侧面22与各所述检高对照面21垂直相交。

对应所述检高区域设有检高定位尺23，所述检高定位尺23包括一个位于所述检高基准面上的检高定位面24，该检高定位面24向外延伸并连接到所述第一外侧面22上，形成多个分别对应连接各所述检高对照面21的第一连接齿25；其中检高定位面24的高度低于部分检高对照面21，对应的第一连接齿25的底部形成缺口以连接检高对照面21；由此，通过观察该第一外侧面22能够直观看出检高定位面24和各检高对照面21之间存在的高度差。

所述检低区域上沿所述检具本体1的延伸方向依次设有多个检低对照面31，各所述检低对照面31相互平行且高度互不相同，以其中最远离所述检具本体1的一个检低对照面31所在平面为检低基准面。

本实施例中，所述检低对照面31共设有五个，所有所述检低对照面31沿所述检具本体1的延伸方向依次相邻布置，成连续的台阶状。

所述检低对照面31的一侧设有一第二外侧面32，所述第二外侧面32与各所述检低对照面31垂直相交。

对应所述检低区域设有检低定位尺33，所述检低定位尺33包括一个位于所述检低基准面上的检低定位面34，该检低定位面34向外延伸并连接到所述第二外侧面32上，形成多个分别对应连接各所述检低对照面31的第二连接齿35；由于检低定位面34高于部分检低对照面31，故第二外侧面32在对应位置向上延伸，从而与检低定位面34垂直相交；由此，通过观察该第二外侧面32能够直观看出检低定位面34和各检低对照面31之间存在的高度差。

此外，各所述检高对照面21上制有检高刻度值，所述检高刻度值为对应的检高对照面21与所述检高基准面之间高度差的具体数值，如最接近所述检具本体1的一个检高对照面21上制有的检高刻度值为0，本实施例中其余四个检高对照面21上制有的检高刻度值分别为+0.25、+0.5、+0.75、+1，单位均为毫米，其正号代表该检高对照面21凸出于检高基准面；所有所述检高刻度值构成一等差数列，适于进行测量。

其中，检高刻度值为0的检高对照面21位于所有所述检高对照面21的中间，本实施例中检高对照面21从左至右依次以检高刻度值为+0.5、+0.25、0、+0.75、+1的次序排列，形成一个V形，该形状便于测量时快速定位，减少检具的移动路径。

此外，各所述检低对照面31上制有检低刻度值，所述检低刻度值为对应的检低对照面31与所述检低基准面之间高度差的具体数值，如最远离所述检具本体1的一个检低对照面31上制有的检低刻度值为0，本实施例中其余四个检低对照面31上制有的检低刻度值分别为-0.25、-0.5、-0.75、-1，单位均为毫米，其负号代表该检低对照面31低于检低基准面；所有所述检低刻度值构成一等差数列，适于进行测量。

其中，检低刻度值为0的检低对照面31位于所有所述检低对照面31的中间，本实施例中检低对照面31从左至右依次以检低刻度值为-0.5、-0.25、0、-0.75、-1的次序排列，形成一个倒V形，该形状便于测量时快速定位，减少检具的移动路径。

本实施例中，所述检具本体1的两端设有握把10，所述握把10沿所述检具本体1的延伸方向延伸，从而便于测量时抓握该检具并进行移动。

本检具使用前，操作人员初步判断补砂块5的上表面比砂型4的上表面低还是高。

当判断补砂块5的上表面比砂型4的上表面高时，进行检高操作；

首先，将检具上检高定位尺23的检高定位面24贴合在补砂块5的上表面上，同时使检具本体1的第一外侧面22贴合于砂型4的侧面，如图3、图4所示；此时透过各第一连接齿25之间的间隙，能够观察到第一外侧面22，该状态下第一外侧面22由上至下同时与检高对照面21、检高定位面24、砂型4上表面相交，其中检高定位面24与检高对照面21之间的高度差是确定的，其刻度数值被制于对应的检高对照面21上；

接着，通过左右调节检具选取一个合适的检高对照面21，并目测比对检高定位面24与检高对照面21之间的高度差和检高定位面24与砂型4上表面之间的高度差，由此能够大体确定检高定位面24与砂型4上表面之间的高度差数值；由于该状态下检高定位面24和砂型4上表面的高度差即为补砂块5上表面和砂型4上表面的高度差，由此就能够大体确定补砂块5上表面和砂型4上表面的高度差数值；

其中，检高定位面24与检高对照面21之间的高度差和检高定位面24与砂型4上表面之间的高度差相近时，可以认为该检高对照面21是合适的，该情况便于估定检高定位面24与砂型4上表面之间的高度差数值。

当判断补砂块5的上表面比砂型4的上表面低时，进行检低操作；

首先，将检具上检低定位尺33的检低定位面34贴合在砂型4的上表面上，同时使检具本体1的第二外侧面32贴合于补砂块5的侧面，如图7、图8所示；此时透过各第二连接齿35之间的间隙，能够观察到第二外侧面32，该状态下第二外侧面32同时与检低定位面34、检低对照面31、补砂块5上表面相交，其中检低定位面34与检低对照面31之间的高度差是确定的，其刻度数值被制于对应的检低对照面31上；

接着，通过左右调节检具选取一个合适的检低对照面31，使该检低对照面31与补砂块5上表面大致齐平，由此就可以大体确定检低定位面34与补砂块5上表面之间的高度差数值；由于该状态下检低定位面34与补砂块5上表面之间的高度差即为补砂块5上表面和砂型4上表面的高度差，由此就能够大体确定补砂块5上表面和砂型4上表面的高度差数值。

本检验砂型上补砂块高低的检具在使用时，通过简单的比对步骤便能够测量出补砂块5和砂型4之间是否存在高度差，同时获取到大体的高度差数值，从而判断是否需要对补砂块5和砂型4进行调整，操作简单，使用方便，操作人员根据该数值来调整补砂块5的高度，能够给调整高度的操作带来帮助，间接提高铸件精度，保证了铸件产品的合格率。

值得一提的是，虽然本检具使用时不能十分精确地确定补砂块5上表面和砂型4上表面的高度差数值，但操作人员在使用时只需要获取大体的数值来帮助操作，所以完全能够实现技术目的，提高测量的精确度反而会导致检具成本和操作复杂度的不必要增加。

值得一提的是，当所测量的高度差大于量程时，可以认为其差别较大以至于肉眼能够看出，而不需要进行测量。

上述实施例只为说明本实用新型的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本实用新型的内容并据以实施，并不能以此限制本实用新型的保护范围。凡根据本实用新型精神实质所作的等效变化或修饰，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种检验砂型上补砂块高低的检具，其特征在于：

包括条状的检具本体（1），该检具本体（1）上设有检高区域和检低区域；

所述检高区域上沿所述检具本体（1）的延伸方向依次设有多个检高对照面（21），各所述检高对照面（21）相互平行且高度互不相同，以其中最接近所述检具本体（1）的一个检高对照面（21）所在平面为检高基准面；所述检高对照面（21）的一侧设有一第一外侧面（22），所述第一外侧面（22）与各所述检高对照面（21）垂直相交；

对应所述检高区域设有检高定位尺（23），所述检高定位尺（23）包括一个位于所述检高基准面上的检高定位面（24），该检高定位面（24）向外延伸并连接到所述第一外侧面（22）上，形成多个分别对应连接各所述检高对照面（21）的第一连接齿（25）；

所述检低区域上沿所述检具本体（1）的延伸方向依次设有多个检低对照面（31），各所述检低对照面（31）相互平行且高度互不相同，以其中最远离所述检具本体（1）的一个检低对照面（31）所在平面为检低基准面；所述检低对照面（31）的一侧设有一第二外侧面（32），所述第二外侧面（32）与各所述检低对照面（31）垂直相交；

对应所述检低区域设有检低定位尺（33），所述检低定位尺（33）包括一个位于所述检低基准面上的检低定位面（34），该检低定位面（34）向外延伸并连接到所述第二外侧面（32）上，形成多个分别对应连接各所述检低对照面（31）的第二连接齿（35）。

2.根据权利要求1所述的一种检验砂型上补砂块高低的检具，其特征在于：所述检具本体（1）为条状长方体，所述检高区域和所述检低区域分别位于所述检具本体（1）的相对面上。

3.根据权利要求2所述的一种检验砂型上补砂块高低的检具，其特征在于：所述检具本体（1）的两端设有握把（10），所述握把（10）沿所述检具本体（1）的延伸方向延伸。

4.根据权利要求1所述的一种检验砂型上补砂块高低的检具，其特征在于：所述检高对照面（21）上制有检高刻度值，所述检高刻度值为对应的检高对照面（21）与所述检高基准面的高度差；所述检低对照面（31）上制有检低刻度值，所述检低刻度值为对应的检低对照面（31）与所述检低基准面的高度差。

5.根据权利要求4所述的一种检验砂型上补砂块高低的检具，其特征在于：所有所述检高刻度值构成一等差数列；所有所述检低刻度值构成另一等差数列。

6.根据权利要求1所述的一种检验砂型上补砂块高低的检具，其特征在于：所有所述检高对照面（21）沿所述检具本体（1）的延伸方向依次相邻布置；所有所述检低对照面（31）沿所述检具本体（1）的延伸方向依次相邻布置。

7.根据权利要求6所述的一种检验砂型上补砂块高低的检具，其特征在于：最接近所述检具本体（1）的一个检高对照面（21）位于所有所述检高对照面（21）的中部；最远离所述检具本体（1）的一个检低对照面（31）位于所有所述检低对照面（31）的中部。

8.根据权利要求7所述的一种检验砂型上补砂块高低的检具，其特征在于：所述检高对照面（21）共设有五个；所述检低对照面（31）共设有五个。

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