CN203981819U - 一种电缆连接测试电路 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种电缆连接测试电路，包括CPU模块、通讯模块、多路通道选择模块、输入接口、输出接口与电源模块，电源模块与CPU模块连接，通讯模块与CPU模块相连，多路通道选择模块与CPU模块相连，CPU模块上连接有按键接口、液晶显示屏接口与蜂鸣器，输入接口与多路通道选择模块连接，输出接口与多路通道选择模块连接。本电缆连接测试电路具有多种模式切换，在不同的模式下可以实现多种功能。使得电缆的测试方便快捷。此外，本实用新型外置有十三根电线，可以同时进行十三根电缆的测试。在需要测试大量电缆的情况，能够同时测量多根电缆将节约大量的时间，使得测试更加快捷。

Description

一种电缆连接测试电路

技术领域

 本实用新型涉及一种测试电路，尤其是涉及一种电缆连接测试电路。

背景技术

电缆是光电信号传输工具，主要被用于控制安装、连接设备、输送电力及信号传输等，是日常生活中常见的物品。由于电缆主要用于信号的传输，因此对电缆的物理特性及电气性能都有一定的要求。在使用过程中需要对电缆进行各方面的测试，检测其性能是否正常并满足使用要求。

传统多采用手动和单项测试仪进行分步测试的方式。手动测试是依靠技术人员正确连接触点并进行检测，有可能会产生一定的人为误差。手动测试较为耗时，且完全依赖于测试技术人员对此项工作的精细程度，即有可能发生漏检。单项测试仪进行分步测试，测试一根电缆需要多个测试仪分别对它进行测试，使用起来不够方便快捷。

发明内容

本实用新型所要解决的技术问题是提供一种能够方便快捷的测试多根电缆的电缆连接测试电路。

本实用新型解决上述技术问题所采用的技术方案为：一种电缆连接测试电路，包括CPU模块、通讯模块、多路通道选择模块、输入接口、输出接口与电源模块，所述的电源模块与CPU模块连接，所述的通讯模块与CPU模块相连，所述的多路通道选择模块与CPU模块相连，所述的CPU模块上连接有按键接口、液晶显示屏接口与蜂鸣器，所述的输入接口与多路通道选择模块连接，所述的输出接口与多路通道选择模块连接。

所述的电源模块包括型号为1117的稳压芯片、第四电容、第五电容与第三二极管，所述的稳压芯片的第一管脚接地，稳压芯片的第一管脚连接到插头，所述的稳压芯片的第三管脚依次通过第二电阻、第一二极管、第一电感连接到插头，稳压芯片的第二管脚与第三二极管的正极端连接，所述的第三二极管的负极端与稳压芯片的第三管脚连接，所述的稳压芯片的第四管脚与第三二极管的正极端连接，稳压芯片的第二管脚与第四电容的一端连接，所述的第四电容的另一端接地，第四电容的一端与VCC输出端连接，稳压芯片的第二芯片与第五电容的一端连接，所述的第五电容的另一端接地，第五电容的一端与VDD输出端连接，所述的稳压芯片的第一管脚与第三管脚与电源插座连接。

所述的CPU模块包括第四电阻、型号为PIC18F4685的第一芯片与型号为SIP1X5的第二芯片，所述的第一芯片的第六管脚接地，第一芯片的第七管脚通过并联的第二十电容与第二十一电容连接到地，所述的第一芯片的第二十八管脚通过第二十二电容接地，第一芯片的第二十九管脚接地，所述的第一芯片的第十六管脚与所述的第二芯片的第五管脚连接，第一芯片的第十七管脚与第二芯片的第四管脚连接，所述的第二芯片的第三管脚接地，第二芯片的第二管脚连接到VCC输出端，第二芯片的第一管脚与第一芯片的第十八管脚连接，所述的第四电阻的一端与第二芯片的第一管脚连接，第四电阻的另一端通过第六电容接地，第四电阻的另一端通过第三电阻连接到VCC输出端。

所述的多路通道选择模块包括两块型号为74HC138的第五芯片与第六芯片，所述的第五芯片的第五管脚与第六芯片的第六管脚连接后与第一芯片的第十五管脚连接，所述的第五芯片的第四管脚接地，第五芯片的第六管脚通过第二十三电容后接地，第五芯片的第八管脚接地，第五芯片的第十六管脚连接到VCC输出端，第六芯片的第四管脚、第五管脚与第八管脚均接地，第六芯片的第十六管脚连接到VCC输出端。

所述的输出接口包括十二个第一发光二极管与十二个第一三极管，所述的第一发光二极管与第一三极管一一对应，所述的第一发光二极管的正极端均连接到VCC输出端，第一发光二极管的负极端分别通过电阻连接到多路通道选择模块，所述的第一三极管的发射极均连接到地，第一三极管的集电极分别通过电阻连接到输出插座。

所述的输入接口包括十二个第二发光二极管与十二个第二三极管，所述的第二发光二极管与第二三极管一一对应，所述的第二发光二极管的正极端均连接到+12V电源电压，第二发光二极管的负极端分别通过电阻连接到输入插座，所述的第二三极管的发射极均连接到地，第二三极管的集电极分别通过电阻连接到VCC输出端。

所述的液晶显示屏接口包括型号为DIP10X2的第七芯片，所述的第七芯片与第一芯片连接，所述的第七芯片的第一管脚接地，第七芯片的第二管脚通过并联的第七电容与第八电容后接地，第七芯片的第二管脚连接到VCC输出端，第七芯片的第四管脚通过第五电阻连接到VCC输出端。

所述的按键接口包括按键插座，所述的按键插座与第一芯片连接，按键插座通过电阻连接到VCC输出端。

所述的蜂鸣器与第一芯片之间连接有第二三极管与第十九电阻，所述的第一芯片的第四十二管脚通过第十九电阻后与第二三极管的基极连接，所述的第二三极管的发射极连接到VCC输出端，第二三极管的集电极与蜂鸣器的第一管脚连接，蜂鸣器的第二管脚接地。

与现有技术相比，本实用新型的优点在于本电缆连接测试电路具有多种模式切换，在不同的模式下可以实现多种功能。使得电缆的测试方便快捷。此外，本实用新型外置有十三根电线，可以同时进行十三根电缆的测试。在需要测试大量电缆的情况，能够同时测量多根电缆将节约大量的时间，使得测试更加快捷。

附图说明

图1为本实用新型的框图；

图2为本实用新型的CPU模块的电路图；

图3为本实用新型的电源模块的电路图；

图4为本实用新型的多路通道选择模块的电路图；

图5为本实用新型的输出模块的电路图；

图6为本实用新型的输入模块的电路图；

图7为本实用新型的液晶显示屏接口的电路图；

图8为本实用新型的按键接口的电路图；

图9为本实用新型的蜂鸣器部分的电路图。

具体实施方式

以下结合附图实施例对本实用新型作进一步详细描述。

如图1至图9所示：一种电缆连接测试电路，包括CPU模块1、通讯模块2、多路通道选择模块3、输入接口5、输出接口4与电源模块6，电源模块6与CPU模块1连接，通讯模块2与CPU模块1相连，多路通道选择模块3与CPU模块1相连，CPU模块1上连接有按键接口7、液晶显示屏接口8与蜂鸣器9，输入接口5与多路通道选择模块3连接，输出接口4与多路通道选择模块3连接。

电源模块6包括型号为1117的稳压芯片U1、第四电容C4、第五电容C5与第三二极管D3，稳压芯片U1的第一管脚接地，稳压芯片U1的第一管脚连接到插头，稳压芯片U1的第三管脚依次通过第二电阻、第一二极管、第一电感连接到插头，稳压芯片U1的第二管脚与第三二极管D3的正极端连接，第三二极管D3的负极端与稳压芯片U1的第三管脚连接，稳压芯片U1的第四管脚与第三二极管D3的正极端连接，稳压芯片U1的第二管脚与第四电容C4的一端连接，第四电容C4的另一端接地，第四电容C4的一端与VCC输出端连接，稳压芯片U1的第二芯片P2与第五电容C5的一端连接，第五电容C5的另一端接地，第五电容C5的一端与VDD输出端连接，稳压芯片U1的第一管脚与第三管脚与电源插座连接。

CPU模块1包括第四电阻R4、型号为PIC18F4685的第一芯片U2与型号为SIP1X5的第二芯片P2，第一芯片U2的第六管脚接地，第一芯片U2的第七管脚通过并联的第二十电容C20与第二十一电容C21连接到地，第一芯片U2的第二十八管脚通过第二十二电容C22接地，第一芯片U2的第二十九管脚接地，第一芯片U2的第十六管脚与第二芯片P2的第五管脚连接，第一芯片U2的第十七管脚与第二芯片P2的第四管脚连接，第二芯片P2的第三管脚接地，第二芯片P2的第二管脚连接到VCC输出端，第二芯片P2的第一管脚与第一芯片U2的第十八管脚连接，第四电阻R4的一端与第二芯片P2的第一管脚连接，第四电阻R4的另一端通过第六电容C6接地，第四电阻R4的另一端通过第三电阻连接到VCC输出端。

多路通道选择模块3包括两块型号为74HC138的第五芯片U5与第六芯片U6，第五芯片U5的第五管脚与第六芯片U6的第六管脚连接后与第一芯片U2的第十五管脚连接，第五芯片U5的第四管脚接地，第五芯片U5的第六管脚通过第二十三电容C23后接地，第五芯片U5的第八管脚接地，第五芯片U5的第十六管脚连接到VCC输出端，第六芯片U6的第四管脚、第五管脚与第八管脚均接地，第六芯片U6的第十六管脚连接到VCC输出端。

输出接口4包括十二个第一发光二极管与十二个第一三极管，第一发光二极管与第一三极管一一对应，第一发光二极管的正极端均连接到VCC输出端，第一发光二极管的负极端分别通过电阻连接到多路通道选择模块3，第一三极管的发射极均连接到地，第一三极管的集电极分别通过电阻连接到输出插座P5。

输入接口5包括十二个第二发光二极管与十二个第二三极管，第二发光二极管与第二三极管一一对应，第二发光二极管的正极端均连接到+12V电源电压，第二发光二极管的负极端分别通过电阻连接到输入插座P6，第二三极管的发射极均连接到地，第二三极管的集电极分别通过电阻连接到VCC输出端。

液晶显示屏接口8包括型号为DIP10X2的第七芯片CZ2，第七芯片CZ2与第一芯片U2连接，第七芯片CZ2的第一管脚接地，第七芯片CZ2的第二管脚通过并联的第七电容C7与第八电容C8后接地，第七芯片CZ2的第二管脚连接到VCC输出端，第七芯片CZ2的第四管脚通过第五电阻连接到VCC输出端。

按键接口7包括按键插座P7，按键插座P7与第一芯片U2连接，按键插座P7通过电阻连接到VCC输出端。

蜂鸣器与第一芯片U2之间连接有第二三极管Q2与第十九电阻R19，第一芯片U2的第四十二管脚通过第十九电阻R19后与第二三极管Q2的基极连接，第二三极管Q2的发射极连接到VCC输出端，第二三极管Q2的集电极与蜂鸣器的第一管脚连接，蜂鸣器P4的第二管脚接地。

Claims (9)

1. 一种电缆连接测试电路，其特征在于包括CPU模块、通讯模块、多路通道选择模块、输入接口、输出接口与电源模块，所述的电源模块与CPU模块连接，所述的通讯模块与CPU模块相连，所述的多路通道选择模块与CPU模块相连，所述的CPU模块上连接有按键接口、液晶显示屏接口与蜂鸣器，所述的输入接口与多路通道选择模块连接，所述的输出接口与多路通道选择模块连接。

2.根据权利要求1所述的一种电缆连接测试电路，其特征在于所述的电源模块包括型号为1117的稳压芯片、第四电容、第五电容与第三二极管，所述的稳压芯片的第一管脚接地，稳压芯片的第一管脚连接到插头，所述的稳压芯片的第三管脚依次通过第二电阻、第一二极管、第一电感连接到插头，稳压芯片的第二管脚与第三二极管的正极端连接，所述的第三二极管的负极端与稳压芯片的第三管脚连接，所述的稳压芯片的第四管脚与第三二极管的正极端连接，稳压芯片的第二管脚与第四电容的一端连接，所述的第四电容的另一端接地，第四电容的一端与VCC输出端连接，稳压芯片的第二芯片与第五电容的一端连接，所述的第五电容的另一端接地，第五电容的一端与VDD输出端连接，所述的稳压芯片的第一管脚与第三管脚与电源插座连接。

3.根据权利要求2所述的一种电缆连接测试电路，其特征在于所述的CPU模块包括第四电阻、型号为PIC18F4685的第一芯片与型号为SIP1X5的第二芯片，所述的第一芯片的第六管脚接地，第一芯片的第七管脚通过并联的第二十电容与第二十一电容连接到地，所述的第一芯片的第二十八管脚通过第二十二电容接地，第一芯片的第二十九管脚接地，所述的第一芯片的第十六管脚与所述的第二芯片的第五管脚连接，第一芯片的第十七管脚与第二芯片的第四管脚连接，所述的第二芯片的第三管脚接地，第二芯片的第二管脚连接到VCC输出端，第二芯片的第一管脚与第一芯片的第十八管脚连接，所述的第四电阻的一端与第二芯片的第一管脚连接，第四电阻的另一端通过第六电容接地，第四电阻的另一端通过第三电阻连接到VCC输出端。

4.根据权利要求3所述的一种电缆连接测试电路，其特征在于所述的多路通道选择模块包括两块型号为74HC138的第五芯片与第六芯片，所述的第五芯片的第五管脚与第六芯片的第六管脚连接后与第一芯片的第十五管脚连接，所述的第五芯片的第四管脚接地，第五芯片的第六管脚通过第二十三电容后接地，第五芯片的第八管脚接地，第五芯片的第十六管脚连接到VCC输出端，第六芯片的第四管脚、第五管脚与第八管脚均接地，第六芯片的第十六管脚连接到VCC输出端。

5.根据权利要求2所述的一种电缆连接测试电路，其特征在于所述的输出接口包括十二个第一发光二极管与十二个第一三极管，所述的第一发光二极管与第一三极管一一对应，所述的第一发光二极管的正极端均连接到VCC输出端，第一发光二极管的负极端分别通过一个电阻连接到多路通道选择模块，所述的第一三极管的发射极均连接到地，第一三极管的集电极分别通过一个电阻连接到输出插座。

6.根据权利要求2所述的一种电缆连接测试电路，其特征在于所述的输入接口包括十二个第二发光二极管与十二个第二三极管，所述的第二发光二极管与第二三极管一一对应，所述的第二发光二极管的正极端均连接到+12V电源电压，第二发光二极管的负极端分别通过一个电阻连接到输入插座，所述的第二三极管的发射极均连接到地，第二三极管的集电极分别通过一个电阻连接到VCC输出端。

7.根据权利要求3所述的一种电缆连接测试电路，其特征在于所述的液晶显示屏接口包括型号为DIP10X2的第七芯片，所述的第七芯片与第一芯片连接，所述的第七芯片的第一管脚接地，第七芯片的第二管脚通过并联的第七电容与第八电容后接地，第七芯片的第二管脚连接到VCC输出端，第七芯片的第四管脚通过第五电阻连接到VCC输出端。

8.根据权利要求3所述的一种电缆连接测试电路，其特征在于所述的按键接口包括按键插座，所述的按键插座与第一芯片连接，按键插座通过电阻连接到VCC输出端。

9.根据权利要求3所述的一种电缆连接测试电路，其特征在于所述的蜂鸣器与第一芯片之间连接有第二三极管与第十九电阻，所述的第一芯片的第四十二管脚通过第十九电阻后与第二三极管的基极连接，所述的第二三极管的发射极连接到VCC输出端，第二三极管的集电极与蜂鸣器的第一管脚连接，蜂鸣器的第二管脚接地。