CN201677232U - 研磨片 - Google Patents
研磨片 Download PDFInfo
- Publication number
- CN201677232U CN201677232U CN2010202009417U CN201020200941U CN201677232U CN 201677232 U CN201677232 U CN 201677232U CN 2010202009417 U CN2010202009417 U CN 2010202009417U CN 201020200941 U CN201020200941 U CN 201020200941U CN 201677232 U CN201677232 U CN 201677232U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- grinding
- sheet
- abrasive
- different
- abrasive sheet
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Polishing Bodies And Polishing Tools (AREA)
Abstract
本实用新型公开了一种研磨片,其表面上附着有研磨颗粒,所述研磨片的表面被划分为若干区域,同一区域内附着的研磨颗粒大小相同,不同区域附着的研磨颗粒大小不同。与现有技术相比,本实用新型提出的研磨片,具有不同粗糙度的区域,无须在研磨机上更换不同等级的研磨片即可在一张研磨片上完成不同粗糙等级的抛光,大大节省时间,提高工作效率,从而相应的减少了制造的费用。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种研磨片,具体地说,涉及用于硬物表面研磨的研磨片。
背景技术
研磨技术在半导体技术领域内具有广泛的应用,通过在硅片和抛光机上的抛光头之间的相对运动,并同时施加压力,实现硅片表面平整化、去除表面物质等。用于抛光硅片表面的抛光头上设置有研磨片,比较广泛的研磨片为钻石研磨片(diamond lapping film),研磨片一般由精细的钻石颗粒附着在一平板上构成,根据钻石颗粒的大小程度,分成不同的等级,从而形成不同粗糙度等级的研磨片,通常用不同的颜色来表示不同的等级,便于选择和辨认。
为了获得比较优越的表面平整度或者需要去除待抛光表面的部分厚度时,需要依次采用多种不同等级的研磨片来进行抛光,例如未封装的芯片截面、TEM(transmission electron microscopy,透射电子显微镜)检测样片、为后序工艺执行平坦化的芯片表面、采用离子束聚焦(FIB:focused ion beam)得到的截面等,都需要非常平整和光滑的表面。现有技术中,抛光机上一次只能安装一种研磨片,因而,当需要使用不同等级的研磨片来完成一道抛光工序时,就需要多次安装、拆卸更换研磨片,不仅增加了工作量,而且增大了制造成本。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是提供一种研磨片,可以同时提供不同粗糙度等级的表面,以减少更换抛光片的工作量,降低制造成本。
为解决以上技术问题,本实用新型提供的一种研磨片,其表面上附着有研磨颗粒,所述研磨片的表面被划分为若干区域,同一区域内附着的研磨颗粒大小相同,不同区域附着的研磨颗粒大小不同。
进一步的,所述研磨片的表面沿径向被划分为若干区域。
进一步的,所述研磨片的表面为圆形,所述若干区域分别为以研磨片表面的中心为圆心的圆形区域和数个同心圆环区域。
进一步的,所述研磨片的表面沿时钟方向被划分为若干区域。
进一步的,所述研磨片的表面为圆形,所述表面被划分为若干扇形区域。
进一步的,附着在各个区域上的研磨颗粒的大小逐渐增大或者减小。
进一步的,所述研磨颗粒的大小范围为0.1um~30um。
进一步的,所述研磨颗粒为钻石或者碳化硅颗粒。
与现有技术相比,本实用新型提出的研磨片,具有不同粗糙度的区域,无须在研磨机上更换不同等级的研磨片即可在一张研磨片上完成不同粗糙等级的抛光,节省时间,提高工作效率,从而相应的减少了制造的费用。
附图说明
图1为本实用新型第一实施例的研磨片示意图;
图2为本实用新型第一实施例中研磨片的应用示意图;
图3为本实用新型第二实施例的研磨片示意图。
具体实施方式
为使本实用新型的技术特征更明显易懂,下面结合附图与实施例,对本实用新型做进一步的描述。
请参阅图1,为本实用新型第一实施例的研磨片示意图,该研磨片2为圆形,其表面上附着有研磨颗粒(未标示),所述研磨片2的表面沿半径方向被划分为多个区域,作为示例,图中画出五个区域(20、21、22、23、24),分别为以研磨片2表面的中心为圆心的一个圆形区域和四个同心圆环区域。同一区域内附着的研磨颗粒大小相同,不同的区域附着的研磨颗粒大小不同,由于研磨颗粒大小不一,形成的圆形区域以及各个圆环区域之间的表面粗糙度不同,在研磨片2表面上形成不同的粗糙表面区域。
在实际的研磨过程中,通常一般都是先进行粗磨,用以快速去除待磨物的厚度,然后进行精细研磨,最后进行抛光处理,因此,可以将上述研磨片2设计成最外区域24的研磨颗粒最大,形成的粗糙度最大,并使各个区域(23、22、21、20)上的研磨颗粒大小逐渐减小。也可以根据需要,采用研磨颗粒大小逐渐增大的方式进行设计。
所述研磨颗粒可以选择为钻石或者碳化硅颗粒等硬度比较大的研磨颗粒。研磨颗粒的大小范围为0.1um~30um。由此,可以根据需要,在此5个区域中分别选择不同的研磨颗粒进行任意组合形成多种表面粗糙度不同的区域。
为了方便在使用的时候便于识别,每个区域采用一种颜色进行标示,从而形成不同区域呈现不同的颜色,比如根据其表面粗糙度从小到大递增顺序,采用颜色由浅逐渐变深的方法加以标示,研磨人员可以方便根据被研磨物的研磨等级选择相应的区域进行研磨。
请参阅图2,图2为本实用新型实施例中研磨片应用的示意图。使用时,研磨人员将研磨片2固定在研磨机的转盘1上,将待磨物体3例如芯片或TEM检测样片等固定在吸盘4上,启动研磨机,转盘1进行逆时针或者顺时针方向旋转,在手持或者机械控制下,吸盘4向下运动,与研磨片2上某一粗糙度等级的区域接触,并施加一定压力,喷嘴5同时喷洒研磨液或去离子水,在研磨片2与待磨物体3之间不停进行摩擦,实现待磨物体3表面平整化,或者去除部分厚度的目的。
在开始进行粗磨的时候,可以选择粗糙度比较大的区域进行粗磨,达到快速进行研磨的目的,当研磨到一定厚度,再选择粗糙度比较小的区域进行精细研磨,最后再选择粗糙度更小的区域进行研磨,达到精细抛光的目的。由于本实施例的研磨片上具有不同粗糙度的区域,无须在研磨机上更换不同等级的研磨片即可在一张研磨片上完成不同粗糙等级的抛光,大大节省时间,提高工作效率,从而相应的减少了制造的费用。
而且,由于本实用新型实施例中的研磨片上具有不同的粗糙度区域,因此,同一研磨机上可以允许几个研磨人员在同一研磨片上的不同的区域同时工作,从而可以充分有效利用研磨机。
当然,本实用新型并不局限于上述同心圆排列的研磨片,请参阅图3,图3为本实用新型的另一实施例的研磨片示意图,所述研磨片2的表面上分为若干区域,同一区域内附着的研磨颗粒大小相同,不同区域附着的研磨颗粒大小不同。本实施例中位5个区域(20、21、22、23、24),这五个区域以所述研磨片2表面的中心为圆心,沿时钟顺时针或者逆时针方向被划分为若干区域,比如被划分成若干扇形状分布,在此5个区域中分别选择不同的研磨颗粒进行任意组合形成多种表面粗糙度不同的区域。
以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解,本实用新型不受上述实施例的限制,上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理,在不脱离本实用新型精神和范围的前提下本实用新型还会有各种变化和改进,这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等同物界定。
Claims (8)
1.一种研磨片,其表面上附着有研磨颗粒,其特征在于:所述研磨片的表面被划分为若干区域,同一区域内附着的研磨颗粒大小相同,不同区域附着的研磨颗粒大小不同。
2.如权利要求1所述的研磨片,其特征在于:所述研磨片的表面沿径向被划分为若干区域。
3.如权利要求2所述的研磨片,其特征在于:所述研磨片的表面为圆形,所述若干区域分别为以研磨片表面的中心为圆心的圆形区域和数个同心圆环区域。
4.如权利要求1所述的研磨片,其特征在于:所述研磨片的表面沿时钟方向被划分为若干区域。
5.如权利要求4所述的研磨片,其特征在于:所述研磨片的表面为圆形,所述表面被划分为若干扇形区域。
6.如权利要求1所述的研磨片,其特征在于:附着在各个区域上的研磨颗粒的大小逐渐增大或者减小。
7.如权利要求1或6所述的研磨片,其特征在于:所述研磨颗粒的大小范围为0.1um~30um。
8.如权利要求1所述的研磨片,其特征在于:所述研磨颗粒为钻石或者碳化硅颗粒。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN2010202009417U CN201677232U (zh) | 2010-05-21 | 2010-05-21 | 研磨片 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN2010202009417U CN201677232U (zh) | 2010-05-21 | 2010-05-21 | 研磨片 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN201677232U true CN201677232U (zh) | 2010-12-22 |
Family
ID=43342292
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN2010202009417U Expired - Fee Related CN201677232U (zh) | 2010-05-21 | 2010-05-21 | 研磨片 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN201677232U (zh) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105397617A (zh) * | 2015-10-26 | 2016-03-16 | 上海华力微电子有限公司 | 一种研磨垫及其更换方法 |
| CN105500225A (zh) * | 2015-12-25 | 2016-04-20 | 江苏锋芒复合材料科技集团有限公司 | 一种高综合性能复合研磨片及其制造方法 |
-
2010
- 2010-05-21 CN CN2010202009417U patent/CN201677232U/zh not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105397617A (zh) * | 2015-10-26 | 2016-03-16 | 上海华力微电子有限公司 | 一种研磨垫及其更换方法 |
| CN105500225A (zh) * | 2015-12-25 | 2016-04-20 | 江苏锋芒复合材料科技集团有限公司 | 一种高综合性能复合研磨片及其制造方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP5428793B2 (ja) | ガラス基板研磨方法および磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法 | |
| CN102658528A (zh) | 一种分级结构化复合弹性研抛盘 | |
| CN106378671B (zh) | 一种大尺寸的CdS单晶片的减薄工艺 | |
| WO2013012226A2 (ko) | Cmp 패드 컨디셔너 | |
| US20150283672A1 (en) | Chemical mechanical polishing conditioner having different heights | |
| CN114523340B (zh) | 研磨抛光成套装备、研磨抛光方法 | |
| CN201287300Y (zh) | 抛光垫 | |
| TWI737928B (zh) | 化學機械研磨設備及其操作方法 | |
| CN101444899A (zh) | 制造芯片载体的方法 | |
| JP6447332B2 (ja) | 両面研磨装置用のキャリアの製造方法およびウェーハの両面研磨方法 | |
| CN113246015B (zh) | 具有终点检测窗的抛光垫及其应用 | |
| CN201677232U (zh) | 研磨片 | |
| CN202702052U (zh) | 一种分级结构化复合弹性研抛盘 | |
| JP2015041643A (ja) | ウェーハの両面研磨方法 | |
| KR20010089245A (ko) | 반도체웨이퍼의 제조방법 | |
| CN204748298U (zh) | 研磨系统及研磨垫的组合件 | |
| WO2015182316A1 (ja) | 基板処理装置 | |
| CN105856063A (zh) | 抛光液均匀流动的抛光垫 | |
| JP2008142802A (ja) | 基板の製造方法および基板 | |
| TWM482476U (zh) | 平坦化之化學機械研磨修整器 | |
| CN205271740U (zh) | 研磨垫修整器及研磨装置 | |
| JP2008238389A (ja) | Cmpパッドコンディショナ | |
| US20190105753A1 (en) | CMP composite groove polishing pad | |
| JP2012166380A (ja) | 金型用基板及び金型用基板の検査方法 | |
| CN203887682U (zh) | 研磨头及研磨装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C14 | Grant of patent or utility model | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee | ||
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20101222 Termination date: 20170521 |