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CN201508371U - 微带式连接器测试夹具 - Google Patents

微带式连接器测试夹具 Download PDF

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CN201508371U
CN201508371U CN200920244820XU CN200920244820U CN201508371U CN 201508371 U CN201508371 U CN 201508371U CN 200920244820X U CN200920244820X U CN 200920244820XU CN 200920244820 U CN200920244820 U CN 200920244820U CN 201508371 U CN201508371 U CN 201508371U
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CN
China
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outer conductor
microstrip
tested
type connector
microstrip type
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CN200920244820XU
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English (en)
Inventor
王健
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XI'AN GOLDWAVE S&T CO Ltd
Original Assignee
XI'AN GOLDWAVE S&T CO Ltd
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Abstract

本实用新型一种微带式连接器测试夹具,解决了现有微带式连接器无法直接在仪器上进行测试的技术问题。包括内导体、外导体和绝缘子,所述绝缘子设置在内导体和外导体之间,所述内导体的一端设置有可与微带式连接器内导体相配合的内插孔,其另一端设置有可与测试电缆内导体相配合的被测插孔,所述外导体一端设置有可与微带式连接器外导体相配合的外接触头,其另一端设置有可与测试电缆外导体相配合的被测接触头,所述外接触头采用铣槽收口结构。使得出厂前的微带式连接器可通过测试夹具和测试电缆后直接与仪器相连进行测试,避免了不合格产品的出厂。

Description

微带式连接器测试夹具
技术领域
本实用新型涉及一种微带式连接器测试夹具。
背景技术
微带式连接器是目前应用最广泛的一种连接器,但因为微带式连接器尾部端接带状线,无法直接在仪器上进行测试,所以一般的微带式连接器都不进行测试,生产出来后直接提供给用户使用,性能的好坏只能等用户装机后通过对比才能得出,用户使用起来很不方便。在此背景下,解决微带式连接器的测试问题迫在眉睫。
发明内容
本实用新型目的是提出一种微带式连接器测试夹具,其解决了现有微带式连接器无法直接在仪器上进行测试的技术问题。
本实用新型的技术解决方案:
一种微带式连接器测试夹具,其特殊之处是:其包括内导体、外导体和绝缘子,所述绝缘子设置在内导体和外导体之间,所述内导体的一端设置有可与微带式连接器内导体相配合的内插孔,其另一端设置有可与测试电缆内导体相配合的被测插孔,所述外导体一端设置有可与微带式连接器外导体相配合的外接触头,其另一端设置有可与测试电缆外导体相配合的被测接触头,所述外接触头采用铣槽收口结构。
本实用新型所具有的优点:
1、本实用新型微带式连接器测试夹具的两端分别与微带式连接器和测试电缆连接,使得出厂前的微带式连接器可通过测试夹具和测试电缆后直接与仪器相连进行测试,避免了不合格产品的出厂。
2、本实用新型微带式连接测试仪夹具的接触头采用铣槽收口,这样被测试的微带式连接器就可以直接插进接触头里,并且接触很紧密,采用这种紧密插入的连接方式,结构简单、可靠并且性能优良。
附图说明
图1是本实用新型微带式连接器测试夹具的结构示意图;
图2是被测试连接器的结构示意图;
图3是微带式连接器测试夹具与被测试体的组合图;
其中:1-内导体,2-绝缘子,3-外导体,31-外触头,11-内插孔,12-被测插孔,13-铣槽收口结构,6-被测试连接器,61-被测试连接器内导体,62-被测试连接器外导体。
具体实施方式
图1是本实用新型微带式连接器测试夹具的结构示意图;包括内导体1、外导体3和绝缘子2,绝缘子2设置在内导体1和外导体3之间,内导体1的一端设置有可与微带式连接器内导体61相配合的内插孔11,其另一端设置有可与测试电缆内导体相配合的被测插孔12,外导体3一端设置有可与微带式连接器外导体62相配合的外接触头31,其另一端设置有可与测试电缆外导体相配合的被测接触头32,述外接触头31采用铣槽收口结构13。
在测试时微带式连接器插入到接触头中,两者紧密结合,组成了一个被测试体。微带式连接器与测试夹具采用紧密插入的连接方式,结构简单、连接可靠、性能优良。

Claims (1)

1.一种微带式连接器测试夹具,其特征在于:其包括内导体(1)、外导体(3)和绝缘子(2),所述绝缘子(2)设置在内导体(1)和外导体(3)之间,所述内导体(1)的一端设置有可与微带式连接器内导体(61)相配合的内插孔(11),其另一端设置有可与测试电缆内导体相配合的被测插孔(12),所述外导体(3)一端设置有可与微带式连接器外导体(62)相配合的外接触头(31),其另一端设置有可与测试电缆外导体相配合的被测接触头(32),所述外接触头(31)采用铣槽收口结构(13)。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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C17 Cessation of patent right
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

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