CN201287289Y - 探针研磨装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种探针研磨装置，用以研磨一探针座上的复数根探针。此探针研磨装置至少包含一基座、一载台以及一驱动装置。上述的基座具有一底板以及固定于该底板侧壁的一立板，且该底板上表面具有一研磨片。载台具有一第一板块、一第二板块以及一连结于该第二板块下端的固定片，其中该第一板块与该立板之间呈水平方向的滑动配合，该第二板块与第一板块之间呈垂直方向的滑动配合，而该固定片上设有该探针座。驱动装置则连结于第二板块上端，以升降该载台，并使探针座与研磨片接触而对复数根探针进行研磨。

Description

探针研磨装置

技术领域

本实用新型关于一种探针研磨装置，特别是关于一种可利用驱动装置来升降探针座的探针研磨装置。

背景技术

随着科技进步，具有省电、无幅射、体积小、低耗电量、平面直角、高解析度、画质稳定等多项优势的液晶显示器，为原先处独占地位的传统映像管屏幕(简称CRT)带来了莫大的冲击，尤其是现今各式信息产品如：手机、笔记型计算机、数字相机、PDA、液晶屏幕等产品越来越普及，亦使得液晶显示器(LCD)的需求量大大提升。

液晶显示器主要由一液晶显示面板以及一背光模块(Backlight module)所组成。其中液晶显示面板是由一彩色滤光片基板(Color filtersubstrate)、一薄膜晶体管数组基板(TFT array substrate)以及配置于此两基板之间的液晶层所构成，而背光模块是用以提供此液晶显示面板所需的面光源，以使液晶显示器达到显示的效果。由此可知，「液晶显示面板」的优劣，直接影响了整个显示器的质量。因此，面板制造质量的优劣，自然占有决定性的地位。

为了解所制造出来的面板其功能是否正常，目前业界最普遍使用的面板检测方法，乃是利用与面板相同尺寸的一探针组(Probe unit)。探针组具有复数个探针座(Block)，而复数根用以检测的探针便是装设于该探针座中。其中，探针座的位置可经由设计使其对应于该些源极线的复数个源极垫以与门极线的复数个栅极垫，再藉由探针与面板的源极垫以与门极垫的接触，检测个别的源极垫或门极垫是否导通，便可得知每一源极线以与门极线是否正常运作。在检测完成后，才会进一步切割为个别的面板。

请参阅图1A，为公知探针座1的侧视剖面示意图。此探针座1主要具有一电路板11，以及复数根与电路板11连接的探针12。其中，复数根探针12均分别具有一与电路板11固接的连接端121，以及一用于与面板的源极垫或门极垫做接触的接触端122。

当进行面板测试时，探针座1上的每一接触端122必须与其欲接触面板上的电极垫相互对应。同时，每一根探针12的接触端(即针尖)122到电路板11的垂直距离T皆须具有一致性，以使每一根探针12都能准确且平均地与面板上的每一个电极垫做电性接触，而进行不同的电性准位、参数或功能等种种测试，并得到精确且具有参考价值的测试结果。

为使探针座1在进行测试之前，每一根探针12的接触端122均具有一定程度的平坦度，且其到电路板11的垂直距离T都相同，故必须对探针12的接触端122进行研磨，使探针座1上的每一个接触端122均位于同一个平面上。

请参考图1B，其绘示一公知探针研磨方法。一般来说，以往探针研磨作业大多由操作人员手持一探针座1，将探针座1上的各个接触端122接触研磨片2(此处为砂纸)以进行研磨。由于各个探针12是呈细针状，且探针座1上皆设有为数众多的探针12，故操作人员在一一研磨其接触端122时，必须相当谨慎以使每一接触端122达同一平面，十分耗时且劳心费力。

然而，手工研磨探针12的方法，并无法使各接触端122皆以相同的角度被研磨。再者，操作人员亦无法精准地控制其研磨的力道。因此，对于探针12的接触端122而言，其每一刻所承受的研磨力量以及研磨角度等均有所不同，进而导致探针12的接触端122不能呈同一平面，如图1C所示。更甚者，探针12也可能会因为操作人员施力的不当致使发生歪折。

倘若探针12的接触端122不呈一水平面，亦即探针座1具有探针参差不齐的问题时，便有可能会在面板检测的过程中产生假情报，例如：栅极断路(Gate open)、源极断路(Source open)、源极线短路(Source line short)或门极线短路(Gate line short)等，而影响了整颗探针座1的测试精确度，亦或造成了探针12的损坏而无法再于后续测试作业中使用等状况。此时，工厂必须买一颗新的探针座1来替换，反而增加了整体耗材成本。

因而，在国内面板产业发展蒸蒸日上，面板测试作业的精准度日益受到重视的同时，如何快速又精准地研磨探针座上的复数根探针，以准确地测量出面板的各项功能以及电性参数，并控管面板的制造质量，已然成为目前各相关领域的设计者亟思发展的目标。

实用新型内容

有鉴于此，为了有效解决上述问题，本实用新型提供一种探针研磨装置，用以研磨一探针座上的复数根探针，减少探针在研磨过程中因施力不均而导致的损坏状况。

此探针研磨装置至少包含一基座、一载台以及一驱动装置。上述的基座具有一底板以及固定于该底板侧面的一立板，且该底板上表面具有一研磨片。载台具有一第一板块、一第二板块以及一连结于该第二板块下端的固定片，其中该第一板块与该立板之间系呈水平方向的滑动配合，该第二板块与第一板块之间系呈垂直方向之滑动配合，而该固定片上设有该探针座。驱动装置则连结于第二板块上端，以升降该载台，并使探针座与研磨片接触而对复数根探针进行研磨。

关于本实用新型的优点与精神，以及更详细的实施方式可以藉由以下的实施方式以及所附图式得到进一步的了解。

附图说明

图1A为公知探针座的侧视剖面示意图；

图1B为公知探针研磨方法的示意图；

图1C为利用公知探针研磨方法所研磨的探针侧面示意图；

图2为本实用新型一实施例的探针研磨装置的正面示意图；以及

图3为本实用新型一实施例的探针研磨装置的侧面示意图。

【主要组件符号说明】

1    探针座              11   电路

12   探针                121  连接端

122  接触端              T    接触端至电路板的垂直距离

2    研磨片              3    探针研磨装置

31   基座                311  底板

312  立板                32   载台

321  第一板块            3211 滑套

322  第二板块            323  固定片

3231 板面                3232 折曲部

324  第一锁合件           325  第二锁合件

33  驱动装置          34 定位板

341 螺孔              35 转盘

36  摇柄              37 第一滑轨

38  标尺              39 长杆

具体实施方式

请参考搭配参考图2以及图3，此两图分别绘示了本实用新型一实施例的探针研磨装置3的正面与侧面结构示意图。首先，如图2所示，此探针研磨装置3至少包含一基座31、一载台32以及一驱动装置33。上述的基座31具有一底板311以及固定于该底板311侧壁的一立板312，且该底板311上表面具有一研磨片2。

载台32设于立板的一表面，具有一第一板块321、一连结于第一板块321的一表面的第二板块322以及一连结于第二板块322下端的固定片323，其中第一板块321与立板312之间呈水平方向的滑动配合，第二板块322与第一板块321之间呈垂直方向的滑动配合，而固定片323上设有探针卡座。如图3所示，进一步指出第一板块321以其反面设于立板312的一表面且沿该表面水平移动，而第二板块322设于第一板块321的正面且沿第一板块321的正面上升或下降。

而驱动装置33连结于第二板块322上端，以升降载台32。其中，当载台32下降时，探针座1上可与研磨片2接触，并沿着立板312平移而对探针座1上的复数根探针12进行研磨。

一般而言，探针座1具有复数根探针12，而此处所指的探针12指片状排列式探针。然而，虽以片状排列式探针为一较佳实施例说明，但只要能符合本实用新型适用范围的探针种类均应包含在内。另外，在本实施例中该研磨片2为一砂纸，当探针座1下降时，复数根探针12可透过与砂纸2的接触进行研磨。

另外，固定片323包含一板面3231以及一折曲部3232。其中，固定片3231可藉由折曲部3232将其用一第一锁合件324锁固于第二板块322下端。而探针座1利用一第二锁合件325将其固定于板面3231的下表面。如图所示，第二锁合件325为一蝶型螺丝组，便于拆装探针座1。然而，第二锁合件325并不受限于此，亦可为其它具固定功能的组件。更甚者，固定探针座1的方式亦不受限于锁固，其它一般可用以固定，诸如：卡合、吸附、黏合等均可适用。

在一较佳实施例中，驱动装置33为一导螺杆。在本实施例中，当施力于驱动装置33另一端时，即可控制载台32升降。此时，探针研磨装置3更包含有一定位板34、一转盘35以及竖立于转盘35上表面的一摇柄36。其中，定位板34由第一板块321上缘向外延伸，并与底板311平行，且定位板34具有一螺孔341，允许驱动装置33通过且相互螺合。而驱动装置33的另一端与转盘35下表面连接，故当操作人员施力于摇柄36时，可推动转盘35使其所对应的驱动装置33转动，并带动第二板块322沿着第一板块321升降，进而提高或降低探针座1的高度位置。

请继续参考图2，探针研磨装置3还包含一第一滑轨37与一第二滑轨(未图示)，分别贴合于立板312的一表面以及第一板块321的正面上，且其延伸方向分别平行与垂直于基座31的底板311。相对地，以立板312表面的第一滑轨37为例，载台32的第一板块321背面需设置有一滑套3211用以与前述的第一滑轨37结合，使第一板块321可沿着第一滑轨37平移。至于第一板块321上所设置的滑套3211与第一滑轨37，虽不一一说明其间的细部结构或是连接关系，但其可为：第一板块321与立板312相对的一侧设置一凸块，相对地立板312则设置有一凹槽(即滑轨道)，可与上述的凸块相互套合并限制其滑动的方向为上升或下降等方式。反之，倘若第一板块321上系设置一凹槽，则立板312上相对设置一凸块亦为另一实施方式，并不受限于上述任一方式为之。同样地，虽未图示，第二板块322亦会设置有一滑套用以与第二滑轨结合，使第二板块322可沿着第二滑轨升降。至于第二板块322上所设置的滑套与第二滑轨间的连结与设置方式与前述相同，故不再赘述。另外，第一板块321正面更设有一标尺38，当驱动装置33带动第二板块322沿着第二滑轨升降时，可透过标尺38测量第二板块322移动的距离。亦即，如图3所示，操作人员可针对每一刻度对应于探针座1距离研磨片2的位置高度，或是探针12长短对应于标尺38所使用的刻度等作一记录，例如：当刻度3时，探针座1的复数根探针12的接触端122已经与研磨片2接触，此时操作人员便应停止推动摇柄36，以避免驱动装置33转动进而使探针座1持续下降而压坏探针12。

需特别说明的是，前述的导螺杆仅为驱动装置33的较佳实施例。然而，虽未图标，驱动装置33也可以是一自动升降装置。亦即不需藉由人工施力，驱动装置33可带动载台32自动升降。其中，如前述探针座1设置于载台32的第二板块322，而该驱动装置33控制载台32持续下降直至探针座1内的探针12的接触端碰触到研磨片2时，会由探针座1反馈一信号至该驱动装置33，使载台32停止，以进行后续的探针研磨。同样地，若探针12的接触端在碰触到研磨片2后，载台32仍然持续下降导致有压坏探针12之虞，探针座1也会反馈一信号至驱动装置33，使其带动载台32上升。

另外，驱动装置33带动载台32的移动距离当然也可以仰赖前述的标尺38来记录，详细操作方式已详述如前文，是以不再赘述。然而，针对每一刻度对应于探针座1距离研磨片2的位置高度，其记录方式并不受限于此，自动升降装置内也可设有一记录器，根据探针座所反馈的信号与相关数据的关系来作一判断，例如：探针碰触到研磨片的时间之于探针长短的关系图，或是比对载台下降高度等方式。值得注意的是，驱动装置33虽介绍如前文，然其用以感测何时该停止载台32的下降，何时又该带动载台32上升，甚者如何记录相关的信息而进一步提供探针研磨制程参考的方式不胜枚举，并不以此为限。

再者，探针研磨装置3还具有一长杆39，其一端与第一板块321连接，当施力于长杆39的另一端时，可推移第一板块321沿着第一滑轨37进行水平移动。在一较佳实施例中，每推动长杆39使第一板块321沿着第一滑轨37自左到右水平移动一趟，便可研磨探针12约一微米的长度。因此，上述的第一滑轨37与研磨片2的长度可以视操作人员的需求而随的调整，自不在话下。另外，虽前述说明乃设置一长杆39以推动第一板块321沿着第一滑轨37水平移动，然亦可省略此一设计，改以人力推动第一板块321移动或设置一电动滑轨组等，故其它一般可应用于此目的的方法自应包含在内，并不受限于任一方式为之。

根据以上实施例所公开的方式研磨探针座1上的复数根探针12后，可使用光学显微镜观看探针座1，明显地发现探针12的一致性。或是使用测试片进行测试，亦未有欠陷不良等假情报产生，即完成了探针的研磨与修复。综上所述，可以了解本实用新型的优势在于：

(1)本实用新型直接使用一驱动装置，亦即前述所提的导螺杆，来升降固定于载台上的探针座，并藉由另一长杆来推动载台，使探针由左而右进行同一方向的研磨。此举不仅仅能够解决公知技术上所面临的困难，降低探针参差不齐的情形发生。也可以避免公知技术中因为操作人员力道不同或施力不当所造成探针座损坏的状况。相对地，降低了探针修复不良的问题，进而减少了探针需求的成本。

(2)本实用新型加设一标尺，可依照探针长短与标尺刻度作一对应记录。接着，操作人员即可参考该记录，来转动导螺杆并将探针座移动到适当位置后进行研磨。因此，本实用新型不仅可减少调整探针座高度所需耗费的时间，更进一步地降低因人员操作所可能造成的损坏情形。

虽然本实用新型已以较佳实施例公开如上，然其并非用以限定本实用新型，任何熟习此技艺者，在不脱离本实用新型的精神和范围内，当可作各种的更动与润饰，因此本实用新型的保护范围当视权利要求书所界定者为准。

Claims (17)

1.一种探针研磨装置，用以研磨一探针座上的复数根探针，其特征在于，该研磨装置包括：

一基座，具有一底板以及固定于该底板侧面的一立板，其中该底板上表面具有一研磨片；

一载台，具有一第一板块、一第二板块以及一连结于该第二板块下端的固定片，其中该第一板块与该立板之间呈水平方向的滑动配合，该第二板块与第一板块之间呈垂直方向的滑动配合，而该固定片上设有该探针座；以及

一驱动装置，连结于该第二板块上端以驱动该载台升降。

2.如权利要求1所述的探针研磨装置，其特征在于，该第一板块的反面设于该立板的一表面且沿该表面平移，而该第二板块设于该第一板块的正面且沿该第一板块升降。

3.如权利要求1所述的探针研磨装置，其特征在于，该驱动装置为设置于该第二板块的一自动升降装置。

4.如权利要求1所述的探针研磨装置，其特征在于，该驱动装置为一导螺杆，其一端连接于该第二板块上。

5.如权利要求4所述的探针研磨装置，其特征在于，还包含一定位板，由该第一板块上缘向外延伸，且与该底板平行。

6.如权利要求4所述的探针研磨装置，其特征在于，还包含一转盘以及竖立于该转盘上表面的一摇柄，而该导螺杆另一端与该转盘下表面连接。

7.如权利要求4所述的探针研磨装置，其特征在于，还包含一第一滑轨，贴合于该立板的一表面上，且其延伸方向平行于该底板。

8.如权利要求7所述的探针研磨装置，其特征在于，该第一板块背面具有一滑套用以与该第一滑轨结合，使该第一板块可沿着该第一滑轨平移。

9.如权利要求7所述的探针研磨装置，其特征在于，还包含一第二滑轨，贴合于该第一板块正面上，且其延伸方向垂直于该底板，该第二板块具有一滑套用以与该第二滑轨结合，使该第二板块可沿着该第二滑轨升降。

10.如权利要求1所述的探针研磨装置，其特征在于，该固定片包含一板面以及一折曲部，该折曲部通过一第一锁合件将其锁固于该第二板块下端，该探针座以一第二锁合件将其固定于该板面的下表面。

11.如权利要求9所述的探针研磨装置，其特征在于，该第一板块正面还设有一标尺。

12.如权利要求7所述的探针研磨装置，其特征在于，还具有一长杆，其一端与该第一板块连接。

13.如权利要求1所述的探针研磨装置，其特征在于，该固定片包含一板面以及一折曲部。

14.如权利要求13所述的探针研磨装置，其特征在于，该折曲部通过一第一锁合件将其锁固于该第二板块下端。

15.如权利要求13所述的探针研磨装置，其特征在于，该探针座以一第二锁合件将其固定于该板面的下表面。

16.如权利要求1所述的探针研磨装置，其特征在于，该研磨片为一砂纸。

17.如权利要求1所述的探针研磨装置，其特征在于，该复数根探针为片状排列式探针。

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