CN201153076Y - Rf测试开关 - Google Patents
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Abstract
一种RF测试开关，包括：第一开关部件，包括一金属外罩及一胶芯组件，金属外罩的下端周缘设有多个固定爪片，胶芯组件，与金属外罩间以预塑一体成型结合；第二开关部件，包括一端子组及一绝缘底座，端子组包括至少一第一金属片及至少一第二金属片，第一金属片与第二金属片间是以开关关系连结，绝缘底座供端子组的第一金属片及第二金属片容置结合，且绝缘底座与端子组的第一金属片及第二金属片间是以预塑一体成型方式组合，并使第一金属片一端及第二金属片一端露出于绝缘底座底部，绝缘底座的底部周缘由第一开关部件的金属外罩的固定爪片弯折包覆结合，使第一开关部件结合第二开关部件。本实用新型组配更加简单精确，大幅提高产品的良率。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种电器开关，尤其涉及一种使组配更加简单精确，大幅提高产品良率的RF测试开关。
背景技术
现有的RF测试开关广泛使用于RF电路测试的场合中，例如图1所示，现有的手机1内部的RF电路板2与手机天线3间，必需设置一测试开关4，在手机1出厂前，需进行出厂检验时，则通过该测试开关4的开启(ON)或关闭(OFF)来进行RF电路板2与天线3间的相关功能测试操作，由于测试开关4必需容置于体积与空间狭小的手机1内部，因此，测试开关4必需讲求体积小巧。
上述现有的测试开关4的必需要求体积小巧，在组配上必需将如小型的金属外壳、塑料芯心、金属端子及塑料底座予以进行组配，需经过至少四道的组配制程程序，相当复杂不便，即使考虑以全自动机械予以自动组配结合，也需耗费相当高的成本，且多个组配程序间易产生误差而形成大量的不良品，使现有RF测试开关除了制造成本偏高外，产品生产的质量与良率也不符合经济效益，实为目前现有的RF测试开关所极待解决的课题。
此外，在相关的先前专利技术文献方面，中国台湾专利公报第260904「线缆连接器插接座的改良结构」新型专利案，则揭示以金属保护罩、胶芯组及中央端子组所组成的线缆连接器插接座，其中，该胶芯组包括定位部、主体部及底板等多个组件，定位部、主体部及底板间以柱孔凹凸对位组合，除了组件繁多不便组配，而使该线缆连接器插接座的制造成本偏高及产品良率及质量下降外，由于现有RF测试开关所讲求的前提是体积小巧，因此，该多个定位部、主体部及底板组件间以柱孔凹凸对位组合更加不易，且组件精密度及容许误差值必需被严格要求，否则，胶芯组中的定位部、主体部及底板任何一个组件间的定位柱或定位孔只要精密度略降或容许误差值稍大，皆会产生无法组合形成不良品的问题，严重影响RF测试开关产品生产的效益及产业利用价值。
实用新型内容
本实用新型所要解决的主要技术问题在于，克服现有技术存在的上述缺陷，而提供一种RF测试开关，本实用新型所需要求的组件精密度可以降低，且组件容许误差值范围较大，进而使组配更加简单精确，大幅提高产品的良率。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：
一种RF测试开关，其特征在于包括：第一开关部件，包括一金属外罩及一胶芯组件，该金属外罩的下端周缘设有多个固定爪片，该胶芯组件，与该金属外罩间以预塑一体成型结合；第二开关部件，包括一端子组及一绝缘底座，该端子组包括至少一第一金属片及至少一第二金属片，该第一金属片与第二金属片间是以开关关系连结，绝缘底座供端子组的第一金属片及第二金属片容置结合，且该绝缘底座与端子组的第一金属片及第二金属片间是以预塑一体成型方式组合，并使该第一金属片一端及第二金属片一端露出于绝缘底座底部，该绝缘底座的底部周缘由第一开关部件的金属外罩的固定爪片弯折包覆结合，使第一开关部件结合第二开关部件。
前述的RF测试开关，其中第一开关部件的金属外罩顶端设有一容纳开口。
前述的RF测试开关，其中第一开关部件的胶芯组件顶端设有一结合部。
前述的RF测试开关，其中结合部内形成一开口。
前述的RF测试开关，其中第二开关部件的端子组的第一金属片一端形成一端子部。
前述的RF测试开关，其中端子部表面至少设有一凸块。
前述的RF测试开关，其中第二开关部件的端子组的第二金属片一端形成一端子部。
前述的RF测试开关，其中端子部表面至少设有一凸块。
前述的RF测试开关，其中第二开关部件的端子组的第一金属片与第二金属片间形成一单投开关连结结构。
前述的RF测试开关，其中第二开关部件的绝缘底座顶端形成一开口，其绝缘底座底部周缘设有多个凹槽。
本实用新型的RF测试开关的功效，是在于借由第一开关部件的金属外罩与胶芯组件为预塑成型结合成一体，与第二开关部件的端子组及绝缘底座为预塑成型结合为一体相互嵌组包覆，而使RF测试开关的制造成本可大幅降低及降低不良品产生的机率，同时，因只有第一开关部件、第二开关部件两个预塑模块开关组件组配，所需要求的组件精密度可以降低，且组件容许误差值范围较大，进而使组配更加简单精确，大幅提高产品的良率。
附图说明
下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。
图1是现有RF测试开关的应用架构图；
图2是本实用新型的RF测试开关的第一实施例的立体外观结构示意图；
图3为本实用新型的RF测试开关的第一开关部件立体外观结构示意图；
图4为本实用新型的RF测试开关的第二开关部件立体外观结构示意图；
图5为本实用新型的立体分解结构示意图；
图6为本实用新型的剖视图；
图7为本实用新型的RF测试开关应用于手机的RF电路板的应用例图；
图8是本实用新型的RF测试开关的第二实施例图。
图中标号说明：
100RF测试开关
1手机
2RF电路板
3手机天线
4测试开关
10第一开关部件
11金属外罩
111容纳开口
112固定爪片
12胶芯组件
121结合部
1211开口
20第二开关部件
21端子组
211第一金属片
211a端子部
211b凸块
212第二金属片
212a端子部
212b凸块
22绝缘底座
221开口
222凹槽
200手机
210RF电路板
具体实施方式
首先请参阅图2、图3、图4、图5及图6所示，为本实用新型的RF测试开关100的第一实施例，该RF测试开关100包含一第一开关部件10及一第二开关部件20，其中，该第一开关部件10包含一金属外罩11及一胶芯组件12，金属外罩11顶端形成一容纳开口111，下端周缘设有若干固定爪片112，该胶芯组件12为塑料构成，且顶端设有一结合部121，该结合部121对应结合于该金属外罩11的容纳开口111内，且该结合部121内形成一开口1211。
该胶芯内膜12与该金属外罩11是以预塑一体成型方式组合，该胶芯内膜12与该金属外罩11间的预塑一体成型结合方式不限，在本实用新型中是以金属外罩11置于模具中，而以塑料一体射出成型方式为例。
该第二开关部件20，包括一端子组21及绝缘底座22，该端子组21包括至少一第一金属片211及至少一第二金属片212，该第一金属片211与第二金属片212间的连结关系不限，在本实用新型中是以如单投开关连结方式为例，其它开关的连结关系如三投切换或双投开关等连结结构应属于本实用新型的技术范畴。上述的第一金属片211一端形成一端子部211a；第二金属片212一端形成一端子部212a，该端子部211a与212a可供以表面黏着技术(SMT)连结于如一手机200的RF电路板210上(如图7所示)。
绝缘底座22顶端形成一开口221，该开口221供端子组21的第一金属片211及第二金属片212容置结合，该绝缘底座22底端周缘设有若干凹槽222，且该绝缘底座22与端子组21的第一金属片211及第二金属片212间以预塑一体成型方式组合，并使该第一金属片211的端子部211a及第二金属片212的端子部212a露出于绝缘底座22底部，而形成表面黏着组件(SMD)的表面黏着功能，以便连结至如图7所示的手机200的RF电路板210上。
该绝缘底座22底部的各凹槽222供上述金属外罩11下端周缘的各固定爪片112予以弯折嵌组包覆结合，使该金属外罩11、胶芯组件12预塑一体成型的模块化的第一开关部件10与该端子组21及绝缘底座22预塑一体成型组合形成的模块化第二开关部件20相互组合连结，并使该第二开关部件20的端子组21的第一金属片211对应第一开关部件10的胶芯内膜12的结合部121的开口1211，使第一金属片211可以通过开口1211露出而供压按操作形成如同单投开关的开启或关闭的功能。
请再配合图7所示，为本实用新型的RF测试开关100应用于手机200的RF电路板210表面黏着的应用例，其中，借由该结合于绝缘底座22底部的端子组21中的第一金属片211一端的端子部211a及第二金属片212一端的端子部212a，以及，各弯折嵌入凹槽222的各固定爪片112表面，以表面黏着技术黏着于该手机200的RF电路板210表面，亦即借由上述的金属外罩11、胶芯组件12预塑一体成型的模块化第一开关部件10与该端子组21及绝缘底座22预塑一体成型组合形成的模块化第二开关部件20，以简单及低成本组合制程，以形成表面黏着开关组件结构，不需要严格的组件精密度配合及具有较宽广的组件容许误差值，进而使产品的不良率下降，且简化组件组配制程而具有产业利用价值。
请再参阅图8所示，为本实用新型的RF测试开关100的第二实施例，其中，该第二开关部件20的端子组21的第一金属片211的端子部211a表面至少设有一凸块211b；该端子组21的第二金属片212的端子部212a表面至少设有一凸块212b，使该端子组21整体与该绝缘底座22预塑一体成型时，可以使该第一金属片211的端子部211a及第二金属片212的端子部212a更加紧密及牢固结合于绝缘底座22中，该凸块211b及凸块212b的形成方式不限，如以冲压成型、预铸成型或弯折成型方式均不限，且该凸块211b及凸块212b的形状不限，在本实用新型中是以矩形凸块为例，其它如锯齿块或三角块或半圆球块等形状皆不脱离本实用新型的范畴。
在以上图2～图8中所示本实用新型的RF测试开关，其中所揭示的相关说明及图式，仅为便于阐明本实用新型的技术内容及技术手段，所揭示较佳实施例之一。
以上所述，仅是本实用新型的较佳实施例而已，并非对本实用新型作任何形式上的限制，凡是依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本实用新型技术方案的范围内。
Claims (10)
1、一种RF测试开关，其特征在于包括：
第一开关部件，包括一金属外罩及一胶芯组件，该金属外罩的下端周缘设有多个固定爪片，该胶芯组件，与该金属外罩间以预塑一体成型结合；
第二开关部件，包括一端子组及一绝缘底座，该端子组包括至少一第一金属片及至少一第二金属片，该第一金属片与第二金属片间是以开关关系连结，绝缘底座供端子组的第一金属片及第二金属片容置结合，且该绝缘底座与端子组的第一金属片及第二金属片间是以预塑一体成型方式组合，并使该第一金属片一端及第二金属片一端露出于绝缘底座底部，该绝缘底座的底部周缘由第一开关部件的金属外罩的固定爪片弯折包覆结合，使第一开关部件结合第二开关部件。
2、根据权利要求1所述的RF测试开关，其特征在于：所述第一开关部件的金属外罩顶端设有一容纳开口。
3、根据权利要求1所述的RF测试开关，其特征在于：所述第一开关部件的胶芯组件顶端设有一结合部。
4、根据权利要求3所述的RF测试开关，其特征在于：所述结合部内形成一开口。
5、根据权利要求1所述的RF测试开关，其特征在于：所述第二开关部件的端子组的第一金属片一端形成一端子部。
6、根据权利要求5所述的RF测试开关，其特征在于：所述端子部表面至少设有一凸块。
7、根据权利要求1所述的RF测试开关，其特征在于：所述第二开关部件的端子组的第二金属片一端形成一端子部。
8、根据权利要求7所述的RF测试开关，其特征在于：所述的端子部表面至少设有一凸块。
9、根据权利要求1所述的RF测试开关，其特征在于：所述第二开关部件的端子组的第一金属片与第二金属片间形成一单投开关连结结构。
10、根据权利要求1所述的RF测试开关，其特征在于：所述第二开关部件的绝缘底座顶端形成一开口，其绝缘底座底部周缘设有多个凹槽。
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