CN200989846Y - 光学测试治具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种光学测试治具，用以测试一镜头组件，其包括有一校正基准装置及一相对应的测试装置，而校正基准装置具有至少一光源及一调正幕，且测试装置具有一用以固定镜头组件的固定机构、一调整镜头组件焦距的驱动机构、及一设置于镜头组件与调正幕间的近摄滤镜，其中近摄滤镜用以缩短校正基准装置与测试装置间的相对距离，而驱动机构通过蜗轮带动齿轮组以调整镜头组件的焦距。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种光学测试治具，尤其涉及一种校正镜头组件焦距的光学测试治具。
背景技术
随着目前科技的蓬勃发展，市场上的数字产品不断地推陈出新且价格低廉，具有影像拍摄功能的手机、PDA、以及数字相机等消费级影像撷取装置已日渐普及化，已成为大众在日常生活或是工作上用来纪录事物的便捷工具。
为了确保数字相机等影像撷取装置的成像清晰，于组装数字相机前，其镜头组件必须先经过对焦测试的步骤流程，以使数字相机具有最佳的成像质量。现有的用以测试镜头组件焦距的测试治具，利用多个光源投射至一具有标靶的布幕上，且镜头组件通过齿轮组中的各个齿轮相互啮合所产生的减速比，并根据镜头组件所撷取的标靶成像来调整镜头组件的焦距，致使镜头组件的焦距调整至最佳化。
现有的测试治具中，做为标靶的布幕与镜头组件之间需要2000毫米(mm)的距离，才可对镜头组件进行对焦测试，其所需的工作空间过大，且容易因测试距离过大而产生人为的量测误差。
现有的测试治具的用以调整镜头组件焦距的齿轮组，由于组成齿轮的数量繁多导致齿轮组的整体架构庞大，而占据测试治具过多的工作空间，也因过多齿轮的相互啮合，导致齿轮组产生过大的间隙公差，致使原始设定的减速比与实际输出的减速比产生差异，并造成齿轮组的精度降低。
此外，齿轮组通过一刻度机构以手动方式调整镜头组件的焦距，极易因人为的误差导致齿轮组的精准度不佳，如此将必须耗费过多的时间仔细地将镜头组件的焦距调整至最佳化，不但费时费力且校正速度极慢，并不符合生产制造所要求的经济效益。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题在于提供一种光学测试治具，借以改良先前技术的所需工作空间过大、及齿轮组的齿轮数量过多，导致精度及测试效率不佳的缺点。
为了实现上述目的，本实用新型的光学测试治具，用以测试一镜头组件，其包括有一校正基准装置及一相对应的测试装置。其中，校正基准装置具有至少一光源及一调正幕，且测试装置具有一固定机构、一驱动机构、及一近摄滤镜，而固定机构用以固定镜头组件，并使镜头组件与调正幕位于同一光轴上，驱动机构具有一与镜头组件连结的齿轮组及一与齿轮组相连接的蜗轮，用以调整镜头组件的焦距，而近摄滤镜设置于镜头组件与调正幕间的光轴位置处，以缩短校正基准装置与测试装置间的相对距离。
本实用新型的功效在于通过一近摄滤镜以缩短校正基准装置与测试装置间的测试距离，且利用蜗轮带动齿轮组以调整镜头组件的焦距，将大幅减少光学测试治具的使用空间，并提升光学测试治具的精准度及测试效率。
以上的关于本新型内容的说明及以下的实施方式的说明用以示范与解释本新型的原理，并且提供本新型的专利申请范围更进一步的解释。
附图说明
图1A为本实用新型的俯视图；
图1B为本实用新型的侧视图；
图1C为本实用新型的驱动机构与镜头组件连结的局部放大示意图；以及
图2为本实用新型的驱动机构的连接关系示意图。
其中，附图标记：
100：光学测试治具 110：校正基准装置
111：光源 112：调正幕
113：毛玻璃片 120：测试装置
121：固定机构 122：驱动机构
1221：步进马达 1222：齿轮组
1223：蜗轮 123：近摄滤镜
200：镜头组件 300：电子装置
T：齿数
具体实施方式
图1A至图1C所示为本实用新型的俯视图及侧视图。如图所示，本实用新型揭露的光学测试治具100用以测试一镜头组件200，而镜头组件200电性连结于一电子装置300，并传输一测试信号至电子装置300。本实用新型的光学测试治具100包括有一校正基准装置110及一对应于校正基准装置110的测试装置120，其中校正基准装置110具有两光源111及一调正幕112，而调正幕112上设有一校正标靶(图中未示)，且两光源111为卤素灯，并以镜像对称的入射角度将光线投射至调正幕112的校正标靶上；而对应于校正基准装置110的测试装置120具有一固定机构121、一驱动机构122、及一近摄滤镜123(Close-Up Filter)，其中固定机构121为一活动夹具，用以将镜头组件200夹持固定于其中，并使镜头组件200对应于调正幕112，致使镜头组件200与调正幕112的校正标靶位于同一光轴上，而驱动机构122连结于镜头组件200上，且驱动机构122根据镜头组件200传回至电子装置300的信号，以进行镜头组件200的焦距测试参数的调整，而近摄滤镜123邻近于镜头组件200，并设置于镜头组件200撷取调正幕112的校正标靶的光轴位置上，以使镜头组件200与调正幕112间的测试距离得以缩短，可由原先的2000mm的测试距离，大幅缩短至183mm的测试距离。
如图1A及图1B所示，其中还可于两光源111投射至调正幕112的光轴位置上分别设置一毛玻璃片113，以使光源111所发射的光线更集中至调正幕112上。此外，用以调整镜头组件200的驱动机构122更具有一步进马达1221，以取代现有技术的手动方式带动驱动机构122来调整镜头组件200的焦距，将可更快速省力并精确地调整镜头组件200所设定的测试焦距。
图1C及图2所示为本实用新型的驱动机构122与镜头组件200的连结的局部放大图及驱动机构122的连接关系示意图。如图所示，其中驱动机构122具有一与镜头组件200相互连结的齿轮组1222，及一与齿轮组1222连接的蜗轮1223，利用蜗轮1223精准地驱动齿轮组来调整镜头组件200的焦距，以减少因过多齿轮啮合所产生的累积公差，致使镜头组件200的测试焦距产生误差。
如图2所示，其中本实用新型的蜗轮1223带动一46齿齿轮，并令46齿齿轮带动同一轴心的46齿齿轮，且46齿齿轮与相邻轴心的105齿齿轮相互连接，并带动与105齿齿轮位于同一轴心上的35齿齿轮，接着35齿齿轮带动相邻的105齿齿轮，最后105齿齿轮带动相邻的61齿齿轮而输出一扭力以调整镜头组件200的焦距。以蜗轮1223使46齿齿轮带动105齿齿轮，可得到减速比0.4(46/105＝0.4)，致使齿轮组1222具有足够的扭力调整镜头组件200的焦距，且通过不同齿数的齿轮组成的齿轮组1222，将可大幅降低因齿轮间隙所产生的累积公差，以使驱动机构122精准地调整镜头组件200的焦距。
与现有技术相较，本实用新型的光学测试治具利用一近摄滤镜以缩短校正基准装置与测试装置间的测试距离，并通过蜗轮带动齿轮组以调整镜头组件的焦距，将大幅减少光学测试治具所使用的工作空间，并可提升光学测试治具的精准度及测试效率。
当然，本实用新型还可有其它多种实施例，在不背离本实用新型精神及其实质的情况下，熟悉本领域的普通技术人员当可根据本实用新型做出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本实用新型所附的权利要求的保护范围。
Claims (4)
1.一种光学测试治具，用以测试一镜头组件，其特征在于，包括有：
一校正基准装置，其具有至少一光源及一调正幕；以及
一测试装置，对应于该校正基准装置，该测试装置包括有：
一固定机构，该镜头组件固定于该固定机构，并且该镜头组件对应于该调正幕；
一驱动机构，连结于该镜头组件，用以调整该镜头组件的焦距；以及
一近摄滤镜，设置于该镜头组件与该调正幕间的光轴位置，用以缩短该校正基准装置与该测试装置间的相对距离。
2.根据权利要求1所述的光学测试治具，其特征在于，该驱动机构还具有一与该镜头组件连结的齿轮组及一与该齿轮组连接的蜗轮。
3.根据权利要求2所述的光学测试治具，其特征在于，该驱动机构还具有一与该蜗轮连接用以驱动该蜗轮带动该齿轮组的步进马达。
4.根据权利要求1所述的光学测试治具，其特征在于，在该光源与该调正幕之间设置一毛玻璃片。
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|---|---|---|---|---|
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| CN102759440A (zh) * | 2011-04-27 | 2012-10-31 | 华晶科技股份有限公司 | 解像力测试装置及其方法 |
| TWI645175B (zh) * | 2014-10-23 | 2018-12-21 | 鴻海精密工業股份有限公司 | 景深測試裝置 |
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2006
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