CN209803254U - 一种触摸屏老化测试系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种触摸屏老化测试系统，该系统包括IC芯片、供电接口和示波器，IC芯片包括串联连接的产品连接接口和功能测试接口，产品连接接口包括GND1端口、VCC1端口、SCL1端口、SDA1端口、INT1端口和RST1端口，SCL1端口和SDA1端口用于老化测试时与示波器连接，所述功能测试接口与所述产品连接接口的同类端口一一对应连接，功能测试接口功能测试时和一测试设备连接。本实用新型设置产品连接接口和功能测试接口，将老化测试实验和功能化测试区分开，老化测试时，示波器连接在SCL1端口和SDA1端口确认产品是否正常工作，无需和测试设备进行连接，大大减少测试设备的消耗。

Description

一种触摸屏老化测试系统

技术领域

本实用新型涉及老化测试技术领域，特别是涉及一种触摸屏老化测试系统。

背景技术

触摸屏（touch panel，简称TP）为透明产品，通电工作时能完成坐标报点。老化测试的过程为：在TP产品制作好后运行10天以上，辅以在高温高湿等环境条件，检测TP产品长时间运行是否功能稳定，该功能测试需要借助电脑，通过电脑软件显示来观察TP产品的功能情况。

现有的TP产品老化测试需要配备测试板连接到电脑的USB接口上，老化测试实验和功能化测试的过程都连接电脑，需要连续投入大量的电脑和测试板完成几百片的产品功能老化测试，电脑和测试板长时间工作产生损耗，使投入使用的测试费用特别高。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提出一种触摸屏老化测试系统，解决现有的触摸屏老化测试实验和功能化测试都需连接电脑导致测试费用过高的问题。

本实用新型提出一种触摸屏老化测试系统，包括供电接口和IC芯片，所述IC芯片包括通过导线串联连接的产品连接接口和功能测试接口，所述产品连接接口包括GND1端口、VCC1端口、SCL1端口、SDA1端口、INT1端口和RST1端口，所述GND1端口接地，所述VCC1端口连接所述供电接口，所述SCL1端口和SDA1端口用于老化测试时连接示波器；

所述功能测试接口包括GND2端口、VCC2端口、SCL2端口、SDA2端口、INT2端口和RST2端口，所述功能测试接口与所述产品连接接口的同类端口一一对应连接，所述功能测试接口用于功能测试时连接测试设备。

根据本实用新型提出的触摸屏老化测试系统，具有以下有益效果：本实用新型的触摸屏老化测试系统设置产品连接接口和功能测试接口，将老化测试实验和功能化测试区分开，进行老化测试实验时，示波器连接在SCL1端口和SDA1端口确认产品是否正常工作，无需和测试设备进行连接，当需要确认TP产品的具体功能，测试设备才与功能测试接口连接用于测试具体功能，上述设计节省了测试设备的工作时间及降低了其损耗，大大减少了测试费用。

另外，根据本实用新型提供的触摸屏老化测试系统，还可以具有如下附加的技术特征：

进一步地，所述IC芯片设有多个，多个所述IC芯片之间并联连接。

进一步地，所述SCL1端口和SDA1端口分别连接一上拉电阻，两个所述上拉电阻分别连接所述供电接口。

进一步地，所述测试设备为一电脑。

进一步地，所述功能测试接口上设有顶针，所述顶针顶压在所述功能测试接口上。

进一步地，所述顶针引出一I2C线路与一测试板相连，所述测试板与所述测试设备相连。

进一步地，所述供电接口包括GND3端口和VCC3端口，所述GND3端口与所述GND1端口连接，所述VCC3端口与所述VCC1端口连接。

本实用新型的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本实用新型的实践了解到。

附图说明

本实用新型的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1是本实用新型实施例的触摸屏老化测试系统的结构示意图；

图2是本实用新型实施例的触摸屏老化测试系统的电路连接示意图；

图3是本实用新型另一实施例的触摸屏老化测试系统的电路连接示意图

10、供电接口；20、IC芯片；30、产品连接接口；40、功能测试接口；50、示波器；60、测试设备。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本实用新型的具体实施方式做详细的说明。附图中给出了本实用新型的若干实施例。但是，本实用新型可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本实用新型的公开内容更加透彻全面。

请参照图1和图2所示，本实用新型的实施例提供一种触摸屏老化测试系统，包括供电接口10、IC芯片20和示波器50。

所述IC芯片20包括通过导线串联连接的产品连接接口30和功能测试接口40，所述产品连接接口30包括GND1端口、VCC1端口、SCL1端口、SDA1端口、INT1端口和RST1端口，所述GND1端口接地，所述VCC1端口连接所述供电接口10，所述SCL1端口和SDA1端口用于老化测试时连接示波器50，所述功能测试接口40包括GND2端口、VCC2端口、SCL2端口、SDA2端口、INT2端口和RST2端口，所述功能测试接口与所述产品连接接口的同类端口一一对应连接，即GND2端口和GND1端口连接，SCL2端口和SCL1端口连接等，所述功能测试接口40可与一测试设备60连接用于测试触摸屏的功能。

本实用新型的工作过程为：供电接口10通过连接VCC1端口给IC芯片20工作供电，将待老化测试实验的TP产品通过焊接或连接器扣压连接在产品连接接口30上，对TP产品进行通电老化测试实验，此时示波器50连接在SCL1端口和SDA1端口上，通过示波器50测量SCL1端口和SDA1端口波形信号，对比已有的测试设备60测试产品的波形信号确认产品是否正常工作，在老化测试实验过程中，功能测试接口40有信号通过，如果在老化测试实验过程中临时想确认TP产品的具体功能，测试设备60连接在功能测试接口40上，通过测试设备60显示判定TP产品的具体功能是否良好。

从上述描述可知，本实用新型的有益效果在于：本实用新型的触摸屏老化测试系统设置产品连接接口30和功能测试接口40，将老化测试实验和功能化测试区分开，进行老化测试实验时，示波器50连接在所述SCL1端口和SDA1端口确认产品是否正常工作，无需和测试设备60进行连接，当需要确认TP产品的具体功能，测试设备60才与功能测试接口40连接用于测试具体功能，上述设计节省了测试设备60的工作时间及降低了其损耗，大大减少了测试费用。

基于上述实施例，请参照图3所示，本实用新型的另一实施例的IC芯片20设有2个，2个所述IC芯片20之间并联连接。在本实用新型的其他实施例中可以为3个，4个，5个，甚至上百个IC芯片20并联连接，以实现上百片TP产品同时进行老化测试实验和功能化测试。

一个供电接口10通过采用IC芯片20并联的方式给多个IC芯片20供电，该恒流源供电的方式以最低的测试费用实现上百片TP产品同时进行老化测试实验和功能化测试，根据TP产品的数量调节恒流源的供电电压和电流，使并联在一起的TP产品都能正常工作。且各IC芯片20之间的SCL、SDA、INT、RST端口是相对独立的，不会出现信号串扰现象。

具体的，所述SCL1端口和SDA1端口分别连接一上拉电阻，两个所述上拉电阻分别连接所述供电接口10。SCL1端口和SDA1端口分别连接一上拉电阻，两个上拉电阻标号为R1和R2，两个上拉电阻分别连接到VCC1端口与供电接口10来连接。

具体的，所述测试设备60为一电脑。

具体的，所述功能测试接口40上设有顶针，所述顶针顶压在所述功能测试接口40上。

具体的，所述顶针引出的I2C线路与一测试板相连，所述测试板与所述测试设备60相连。

通过顶针顶压在功能测试接口40上，并将顶针引出的I2C线路接到测试板，测试板接到电脑上，通过电脑的测试软件数据显示判定TP产品的具体功能是否良好。功能测试过程中实现TP产品不需要从产品连接接口30上拆解下来，使用顶针顶压在预留的功能测试接口40上连接到测试设备60上来测试功能，节省测试人力。测试板也只是在功能测试时才工作，避免了测试板在老化测试实验时进行投入和消耗。

具体的，所述供电接口10包括GND3端口和VCC3端口，所述GND3端口与所述GND1端口连接，所述VCC3端口与所述VCC1端口连接。

综上所述，本实用新型提供的一种触摸屏老化测试系统，设置产品连接接口30和功能测试接口40，将老化测试实验和功能化测试区分开，进行老化测试实验时，示波器50连接在所述SCL1端口和SDA1端口确认产品是否正常工作，无需和测试设备60进行连接，当需要确认TP产品的具体功能，测试设备60才与功能测试接口40连接用于测试具体功能，上述设计节省了测试设备60的工作时间及降低了其损耗，大大减少了测试费用。

以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (7)

1.一种触摸屏老化测试系统，其特征在于，包括供电接口和IC芯片，所述IC芯片包括通过导线串联连接的产品连接接口和功能测试接口，所述产品连接接口包括GND1端口、VCC1端口、SCL1端口、SDA1端口、INT1端口和RST1端口，所述GND1端口接地，所述VCC1端口连接所述供电接口，所述SCL1端口和SDA1端口用于老化测试时连接示波器；

所述功能测试接口包括GND2端口、VCC2端口、SCL2端口、SDA2端口、INT2端口和RST2端口，所述功能测试接口与所述产品连接接口的同类端口一一对应连接，所述功能测试接口用于功能测试时连接测试设备。

2.根据权利要求1所述的触摸屏老化测试系统，其特征在于，所述IC芯片设有多个，多个所述IC芯片之间并联连接。

3.根据权利要求1或2所述的触摸屏老化测试系统，其特征在于，所述SCL1端口和SDA1端口分别连接一上拉电阻，两个所述上拉电阻分别连接所述供电接口。

4.根据权利要求1所述的触摸屏老化测试系统，其特征在于，所述测试设备为一电脑。

5.根据权利要求4所述的触摸屏老化测试系统，其特征在于，所述功能测试接口上设有顶针，所述顶针顶压在所述功能测试接口上。

6.根据权利要求5所述的触摸屏老化测试系统，其特征在于，所述顶针引出一I2C线路与一测试板相连，所述测试板与所述测试设备相连。

7.根据权利要求1所述的触摸屏老化测试系统，其特征在于，所述供电接口包括GND3端口和VCC3端口，所述GND3端口与所述GND1端口连接，所述VCC3端口与所述VCC1端口连接。