CN204166008U - 电子元件测试模组的启闭装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种电子元件测试模组的启闭装置，其测试模组设有测试座及一盖置于该测试座上的盖体，该具散热结构的盖体并以多个卡勾勾扣该测试座的扣合部定位，该启闭装置包含移载机构及启闭单元，该移载机构设有至少一方向位移的移载具，以连结装配该启闭单元，该启闭单元设有至少一驱动源，以驱动至少一夹具的二个夹持件作相对位移，使该二个夹持件压抵或释放该测试模组的盖体的二个卡勾脱离或勾扣于该测试座的扣合部，而将该盖体取出或盖置于该测试座，进而开启或关闭该测试模组的盖体；藉此，可自动化启闭测试模组，不仅节省人力成本，并缩短启闭作业时间，达到节省成本及提升测试产能的实用效益。

Description

电子元件测试模组的启闭装置

技术领域

本实用新型提供一种可自动化启闭测试模组的启闭装置，不仅缩减人力，并缩短启闭作业时间，进而节省成本及提升测试产能。

背景技术

在现今，电子元件于后段封装完成后，为确保产品品质，会将电子元件置入测试模组的测试座而进行测试作业，以检测电子元件于制作过程中是否遭受损坏，以淘汰出不良品，由于电子元件于执行测试作业的过程中，其本身会因执行程式作业而产生自热，为避免电子元件的自热温度超出预设的测试温度，而影响测试品质，业者于测试模组的测试座上方装配有具散热结构的盖体，并利用散热结构与电子元件作冷热交换，使电子元件的温度保持于预设的测试温度范围内，进而确保电子元件的检测合格率。

请参阅图1、2，多个测试模组10装配于一测试电路板20上，各测试模组10包含有测试座11及盖体12，该测试座11设有容置电子元件的容置槽111，并于容置槽111内配置有多个电性连接测试电路板20之探针112，另于测试座11的两侧凹设有扣合部113，该盖体12的顶面设有散热结构，该散热结构设有一凸伸出于盖体12底面的传导件121，以接触传导电子元件的自热，并连结位于盖体12顶面的散热鳍片122，而散热鳍片122的上方则装配有散热风扇123，另于盖体12的两侧相对应测试座11的扣合部113位置以枢轴124枢设有卡勾125，各卡勾125的一端与盖体12间设有弹簧126，另一端则设有勾部1251，以勾扣于测试座11的扣合部113，使盖体12盖置定位于测试座11上；请参阅图3、4，于使用时，工作人员以手部按压盖体12两侧的二个卡勾125一端，卡勾125即压缩弹簧126，并以枢轴124为旋转中心，使另一端的勾部1251向外摆动而脱离测试座11的扣合部113，进而可开启取出盖体12，工作人员再以手动方式将待测的电子元件30置入于测试座11的容置槽111内，接着以手动方式再将盖体12盖置于测试座11的上方，并释放二个卡勾125，使二个卡勾125利用弹簧126的弹力而复位，并以勾部1251勾扣于测试座11的扣合部113，以关闭测试座11，并令传导件121接触传导电子元件30的自热，再利用盖体12顶面的散热鳍片122及散热风扇123散热，以使电子元件30的温度保持于预设的测试温度范围内，进而确保电子元件30的检测合格率；然而，此一手动启闭测试模组10的使用方式，具有如下缺失：

1.业者以人工作业方式启闭测试模组10的盖体12，若测试模组10数量庞大时，势必需配置较多人力逐一启闭盖体12，造成增加作业成本的缺失。

2.由于盖体12上配置有传导件121、散热鳍片122及散热风扇123等元件，导致盖体12的重量较重，于测试作业时，工作人员必须费力将多个测试模组10的盖体12由测试座11上逐一取下，以供电子元件30置入于测试座11，再费力将盖体12逐一重新盖置扣合于测试座11上，以致人工启闭作业不仅耗时费力，亦降低测试产能。

3.当工作人员以手动方式开启测试模组10的盖体12后，又需以手动方式逐一于测试座11取放电子元件30，更增加上下料作业时间，进而降低测试产能。

发明内容

本实用新型的目的一，是提供一种电子元件测试模组的启闭装置，其测试模组设有测试座及一盖置于测试座上的盖体，该具散热结构的盖体并以多个卡勾勾扣测试座的扣合部定位，该启闭装置包含移载机构及启闭单元，该移载机构设有作至少一方向位移的移载具，以连结装配启闭单元，该启闭单元设有至少一驱动源，以驱动至少一夹具的二个持件作相对位移，使二个持件压抵或释放测试模组的盖体的二个勾脱离或勾扣于测试座的扣合部，而将盖体取出或盖置于测试座，进而开启或关闭测试模组的盖体；藉此，可自动化启闭测试模组，而大幅缩减人力配置，达到节省成本的实用效益。

本实用新型的目的二，是提供一种电子元件测试模组的启闭装置，其中，该移载机构的移载具可带动启闭单元的多个夹具对应于多个测试模组，该启闭单元的多个驱动源即驱动多个夹具取放多个盖体，进而自动化一次启闭一批次测试模组的盖体，以大幅缩减启闭盖体作业时间，达到提升测试产能的实用效益。

本实用新型的目的三，是提供一种电子元件测试模组的启闭装置，其中，该启闭单元以架板装配多个驱动源，并于架板与移载机构的移载具间设有连接结构，该连接结构于架板与移载具间设有相互配合的具卡掣部的第一连结座及具嵌扣件的第二连结座，于更换整个启闭单元时，可以气动方式驱动嵌扣件自动化脱离或卡合卡掣部，即可便利装拆整个启闭单元，达到提升使用效能的实用效益。

本实用新型的目的四，是提供一种电子元件测试模组的启闭装置，其中，该启闭装置设有具至少一拾取器的拾取机构，于启闭单元自动化开启测试模组的盖体后，拾取机构即可以拾取器自动化于测试座取放电子元件，毋需以人工取放，以大幅缩减上下料作业时间，达到提升测试产能的实用效益。

附图说明

图1为现有测试模组的示意图；

图2为现有测试模组的测试座及盖体的示意图；

图3为现有测试模组的使用示意图(一)；

图4为现有测试模组的使用示意图(二)；

图5为本实用新型启闭装置的示意图；

图6为本实用新型启闭装置的启闭单元的示意图；

图7为本实用新型启闭装置的使用示意图(一)；

图8为本实用新型启闭装置的使用示意图(二)；

图9为本实用新型启闭装置的使用示意图(三)；

图10为本实用新型启闭装置的使用示意图(四)；

图11为本实用新型启闭装置的使用示意图(五)；

图12为本实用新型启闭装置的使用示意图(六)；

图13为本实用新型启闭装置的使用示意图(七)；

图14为本实用新型启闭装置的使用示意图(八)；

图15为本实用新型启闭装置的使用示意图(九)；

图16为本实用新型启闭装置的移载机构与启闭单元的分离示意图。

附图标记说明：测试模组-10；测试座-11；容置槽-111；探针-112；扣合部-113；盖体-12；传导件-121；散热鳍片-122；散热风扇-123；枢轴-124；卡勾-125；勾部-1251；弹簧-126；测试电路板-20；电子元件-30；启闭装置-40；移载机构-41；第一移送器-411；第二移送器-412；马达-4121；传动组-4122；机架-413；移载具-414；第二连结座-415；嵌扣件-4151；启闭单元-42；架板-421；第一连结座-422；卡掣部-4221；驱动源-423；夹持件-424、425；第一垫体-4241、4251；第二垫体-4242、4252；拾取机构-43；第三移送器-431；拾取器-432；测试模组-50；测试座-51；容置槽-511；探针-512；扣合部-513、514；盖体-52；枢轴-521、522；卡勾-523、524；承压部-5231、5241；勾部-5232、5242；弹簧-525、526；传导件-531；散热鳍片-532；散热风扇-533；电子元件-60。

具体实施方式

为对本实用新型作更进一步阐述，兹举一较佳实施例并配合图式，详述如后：

请参阅图5、6，本实用新型启闭装置40包含移载机构41及启闭单元42，该移载机构41设有至少一移送器，以移送至少一移载具作至少一方向位移，于本实施例中，该移载机构设有第一移送器411及第二移送器412，该第一移送器411带动一装配有第二移送器412的机架413作第一方向(如X方向)位移，该第二移送器412设有马达4121，以驱动传动组4122位移，该传动组4122包含皮带轮组及螺杆螺座组，并以螺杆螺座组的螺座经连结架连结一移载具414，以带动移载具414作第二方向(如Z方向)位移，该启闭单元42设有至少一驱动源，以驱动至少一夹具夹放作动，更进一步，该驱动源可直接装配于移载具414上，或者装配于一架板上，再以架板连结移载具414，于本实施例中，启闭单元42设有一架板421，并于架板421的顶面与移载机构41的移载具414间设有连接结构，该连接结构于架板421与移载具414间设有相互配合的具卡掣部的第一连结座及具嵌扣件的第二连结座，以供装拆启闭单元42，于本实施例中，该连接结构于架板421的顶面设有具卡掣部4221的第一连结座422，该卡掣部4221可为环槽，该移载具414于底面相对应第一连结座422的位置设有第二连结座415，该第二连结座415设有多个可为珠体的嵌扣件4151，并以气动方式驱动多个嵌扣件4151卡掣或脱离第一连结座422的卡掣部4221，另于架板421的底面设有多个可为压缸的驱动源423，各驱动源423驱动夹具的二个夹持件424、425作相对位移，各夹持件424、425的内侧面分别设有第一垫体4241、4251，并于内顶面设有第二垫体4242、4252，用以缓冲。

请参阅图7、8、9，为本实用新型启闭装置40应用的测试模组50，多个测试模组50配置于测试电路板上，该测试模组50包含测试座51及盖体52，该测试座51设有承置电子元件的容置槽511，并于容置槽511内配置有多个电性连接测试电路板的探针512，另于测试座51的两侧凹设有扣合部513、514，该盖体52于相对应测试座51的扣合部513、514位置以枢轴521、522枢设有卡勾523、524，各卡勾523、524一端的承压部5231、5241与盖体52间设有弹簧525、526，另一端则设有勾部5232、5242，以勾扣于测试座51的扣合部513、514，又该盖体52上设有辅助电子元件散热的散热结构，该散热结构设有一凸伸出于盖体52底面的传导件531，以接触传导电子元件的自热，并连结位于盖体52顶面的散热鳍片532，而散热鳍片532的上方则装配有散热风扇533；于使用启闭装置40开启测试模组50的盖体52时，该启闭装置40的移载机构41的第一移送器411载送第二移送器412及启闭单元42作X方向位移至测试模组50的上方，并使多个夹具对位于多个盖体52，接着第二移送器412的马达4121驱动传动组4122，并经由传动组4122的螺座带动移载具414及启闭单元42作Z方向下降位移，使启闭单元42的各夹具的二个夹持件424、425位于各盖体52的二个卡勾523、524侧方。

请参阅第10图，该启闭单元42的驱动源423驱动夹具的二个夹持件424、425作相对位移，而压抵盖体52的二个卡勾523、524的承压部5231、5241，并利用第一垫体4241、4251与承压部5231、5241相贴合而增加接触磨擦力，以确实平稳夹持二个卡勾523、524，二个卡勾523、524的承压部5231、5241压缩弹簧525、526，并以枢轴521、522为旋转中心而向外摆动，令勾部5232、5242脱离测试座51的扣合部513、514。

请参阅图7、11，于盖体52的二个卡勾523、524脱离测试座51后，该移载机构41的第二移送器412的马达4121驱动传动组4122，并经由传动组4122的螺座带动移载具414及启闭单元42作Z方向上升位移，使启闭单元42的夹具的二个夹持件424、425夹持盖体52离开测试座51，进而开启测试模组50的盖体52，接着第一移送器411载送第二移送器412及启闭单元42作X方向反向位移离开测试模组50的上方，以供测试座51进行上料作业。

请参阅图11、12，该上料作业可采人工上料或自动化上料，由于本实用新型可自动化开启测试模组50的盖体52，为使启闭装置40一贯自动化作业，毋需以人工取放电子元件，以大幅缩减上下料作业时间，本实用新型启闭装置40更包含设有拾取机构43，该拾取机构43设有至少一取放电子元件的拾取器，以及设有至少一移送器带动拾取器作至少一方向位移，于本实施例中，该拾取机构43设有第三移送器431带动具有待测电子元件60的拾取器432作X方向位移至测试模组50的测试座51上方，第三移送器431再带动拾取器432作Z方向位移将待测电子元件60置入于测试座51的容置槽511，使待测电子元件60电性接触测试座51的探针512，以完成上料作业，该拾取机构43的第三移送器431再带动多个拾取器432作X－Z方向位移离开测试模组50的上方。

请参阅图7、13、14，该移载机构41的第一移送器411载送第二移送器412及启闭单元42作X方向位移至测试模组50的上方，并使多个夹具的二个夹持件424、425夹持多个盖体52对位于多个测试座51，由于二个夹持件424、425仍压抵夹持盖体52的二个卡勾523、524，使得二个卡勾523、524保持呈外张状态，接着第二移送器412的马达4121驱动传动组4122，并经由传动组4122的螺座带动移载具414及启闭单元42作Z方向下降位移，使启闭单元42的夹具的二个夹持件424、425将夹持的盖体52盖置于测试座51上，令盖体52的二个卡勾523、524对位于测试座51的二个扣合部513、514，该启闭单元42的驱动源423驱动夹具的二个夹持件424、425作反向位移，而释放盖体52的二个卡勾523、524，二个卡勾523、524利用弹簧525、526的复位弹力，以枢轴521、522为旋转中心而向内摆动，使二个卡勾523、524的勾部5232、5242勾扣于测试座51的扣合部513、514，使盖体52盖置定位于测试座51上，以关闭测试座51。

请参阅图7、15，该移载机构41的第一移送器411及第二移送器412带动启闭单元42作X－Z方向位移离开测试模组50，由于盖体52盖置于测试座51上时，令传导件531接触待测电子元件60，当待测电子元件60于测试座51内执行测试作业且产生自热时，待测电子元件60的自热可经由传导件531传导至散热鳍片532散热，并利用散热风扇533辅助散热，使得待测电子元件60保持于预设之测试温度范围内，进而确保检测合格率，于测试完毕后，该启闭装置40可利用多个夹具夹持取出盖体52，进而开启测试座51以供上下料。

请参阅图16，本实用新型的启闭装置40可更换启闭单元42而因应不同型态的测试模组，由于移载机构41的移载具414与启闭单元42的架板421利用连接结构的第一连结座422及第二连结座415连结组装，于更换启闭单元42时，以气动方式驱动第二连结座415的嵌扣件4151内缩退位而脱离第一连结座422的卡掣部4221，使移载具414与架板421分离，即可便利更换启闭单元42，达到提升使用便利性的实用效益。

以上所述的实施例仅仅是对本实用新型的优选实施方式进行描述，并非对本实用新型的范围进行限定，在不脱离本实用新型设计精神的前提下，本领域普通技术人员对本实用新型的技术方案作出的各种变形和改进，均应落入本实用新型权利要求书确定的保护范围内。

Claims (10)

1.一种电子元件测试模组的启闭装置，其特征在于其包含： 

移载机构：设有至少一移送器，以驱动至少一移载具作至少一方向位移； 

启闭单元：装配于该移载机构的移载具，并设有至少一驱动源，以驱动至少一夹具压夹或释放测试模组的盖体的二个卡勾脱离或勾扣该测试模组的测试座的扣合部，而启闭该测试模组的盖体。 

2.根据权利要求1所述的电子元件测试模组的启闭装置，其中，该启闭装置的移载机构设有第一移送器及第二移送器，该第一移送器带动至少一装配该第二移送器的机架作第一方向位移，该第二移送器带动该移载具及该启闭单元作第二方向位移。 

3.根据权利要求2所述的电子元件测试模组的启闭装置，其中，该移载机构的第二移送器设有马达，以驱动至少一传动组位移，该传动组连结驱动该移载具位移。 

4.根据权利要求1所述的电子元件测试模组的启闭装置，其中，该启闭单元的驱动源为压缸。 

5.根据权利要求1所述的电子元件测试模组的启闭装置，其中，该启闭单元的夹具具有二个夹持件，该驱动源带动二个该夹持件作相对位移。 

6.根据权利要求5所述的电子元件测试模组的启闭装置，其中，该夹具的夹持件的内侧面设有第一垫体，以接触贴合该测试模组的盖体的卡勾。 

7.根据权利要求5所述的电子元件测试模组的启闭装置，其中，该夹具的夹持件的内顶面设有第二垫体，用以缓冲。 

8.根据权利要求1所述的电子元件测试模组的启闭装置，其中，该启闭单元设有至少一架板，并于该架板上装配该至少一驱动源。 

9.根据权利要求8所述的电子元件测试模组的启闭装置，其中，该启闭单元的架板与该移载机构的移载具间设有连接结构，该连接结构于该架板与该移载具间设有相互配合的具卡掣部的第一连结座及具嵌扣件的第二连结座。 

10.根据权利要求1所述的电子元件测试模组的启闭装置，其中，该启闭装置设有拾取机构，该拾取机构设有至少一取放电子元件的拾取器，以及设有至少一移送器带动该拾取器作至少一方向位移。