CN1404044A

CN1404044A - 最佳刻录功率测定的方法

Info

Publication number: CN1404044A
Application number: CN02142890A
Authority: CN
Inventors: 萧原坤
Original assignee: Via Technologies Inc
Current assignee: Via Technologies Inc
Priority date: 2002-09-23
Filing date: 2002-09-23
Publication date: 2003-03-19
Anticipated expiration: 2022-09-23
Also published as: CN1209762C

Abstract

本发明提供一种最佳刻录功率测定的方法，应用于记录型储存媒体，如：可重复刻录式光盘片。这个刻录功率测定方法利用可重复刻录式光盘片可以重复刻录的特性，同时对光盘片内圈的刻录功率测定区域和一些数据刻录区域进行数个刻录功率测定；接着根据所得的最佳刻录功率数据，对储存媒体的数据刻录区域进行刻录，例如：利用所得的数个最佳刻录功率值，使用内插法建立最佳刻录功率与刻录位置到盘片中心的距离的关系曲线图，使得光驱在做正常数据刻录时，可针对不同的刻录位置选择其最佳刻录功率。

Description

最佳刻录功率测定的方法

技术领域

本发明涉及一种最佳刻录功率测定的方法，且特别涉及可重复刻录式光盘片的最佳刻录功率测定的方法，可针对光盘片的任意位置找出其最佳刻录功率。

背景技术

所谓的可重复刻录式光盘片(rewritable disk如CD-RW)，是指光盘片可以被重复写入不同的数据，有别于只能刻录一次的可录式光盘片(recordable disk如CD-R)。不论是可重复刻录式光盘片或是可录式光盘片，在光驱做正式刻录数据之前都必须先做所谓的最佳刻录功率测定(OptimalPower Calibration，简称OPC)，以得知所需使用的最佳刻录功率。常见的光盘片最佳刻录功率的测定都是在位于光盘片内圈的功率测定区块(PowerCalibration Area，简称PCA)中进行。常见的最佳刻录功率测定的过程流程图如图1所示。请参考图1，首先，读写头先跳至位于内圈的刻录功率测定区域中的计数区域(步骤100)，读出目前已经被刻录过的区块数目，以得知空白的刻录功率测定区域地址及盘片已经被做过OPC的次数(步骤110)。接着刻录器的读写头跳至这个空白的刻录功率测定区域(步骤120)，开始进行十五种不同刻录功率的测定。刻录器先利用十五种刻录功率将十五笔(frame)测试数据写入空白的刻录功率测定区域中(步骤130)。之后刻录器将读写头跳回刚刚开始写入的位置，将这些测试数据读出，以判断最佳的刻录功率为何(步骤140、150、160)。之后刻录器便利用这个所测得的最佳刻录功率将所有待写入的数据刻录进光盘片中(步骤170、180、190)。此外因一般的盘片正常下，最多只能被刻100次，故其中步骤180会在计数区域(count area上更新此张盘片已被刻录的次数。

常见这样的测量光盘片最佳刻录功率方法只能适用于固定线速度刻录方式(Constant Linear Velocity，简称CLV)，而不适用于固定角速度刻录方式(Constant Angular Velocity，简称CAV)。其原因是在CAV下光驱在刻录光盘片的内外圈时所使用的刻录线速度是不一样的，其刻录线速度与其刻录位置到盘片中心的距离成正比。在固定角速度的情形下，一般光盘片外圈的刻录速度可达内圈刻录速度的2.5倍左右，这样的差距使得光驱在进行外圈刻录时若使用在内圈的刻录功率测定区域所测得知最佳刻录功率进行刻录，容易导致失败。是以，目前的刻录方式都是以固定线速度的方式进行，相较于固定角速度的方式，固定线速度的刻录方式需花费较多的时间。此外，即便是采用固定线速度的刻录方式，也可能因为光盘片内外圈的材质不同而对最佳刻录功率有不同的需求，若不能反应材质不同而有不同刻录功率，也易导致刻录失败。而常见的最佳刻录功率测定方式却只功率测出适用于盘片内圈的最佳刻录功率。

发明内容

本发明的目的在于提供一种最佳刻录功率测定的方法，可应用于可重复刻录的储存媒体。这个刻录功率测定方法利用此储存媒体可以重复刻录的特性，测得储存媒体中的任意位置的最佳刻录功率。如此一来，不论是使用哪一种定速度的刻录方式，或是针对光盘片内外圈不同的刻录材质，刻录机都可以针对不同的刻录位置使用最佳的刻录功率进行数据刻录的动作。

为达上述及其它目的，本发明提供一种最佳刻录功率测定的方法，此方法应用于记录型储存媒体如：可重复刻录式光盘片。与一般可刻录光盘片一样，可重复刻录式光盘片包括一个位于内圈的刻录功率测定区域与一般数据刻录区域。此刻录测定方法首先在刻录功率测定区域进行一般的刻录功率测定动作，接着在一般数据刻录区域选择多个数据区块进行一种特殊的刻录功率测定动作，从而可以得到这些数据区块的最佳刻录功率。此法的最后，根据所得的最佳刻录功率数据，对储存媒体的数据刻录区域进行刻录，例如：利用内插法得到一个最佳刻录功率与刻录位置到盘片中心的距离的关系曲线图，做为日后正常刻录时的最佳刻录功率参考图。此刻录功率测定方法使得光驱在做正常的数据刻录时可以针对目前的刻录位置选择最佳的刻录功率。此方法可以支持固定角速度的刻录方式，以提升刻录数据的速率。

依据本发明的较佳实施例，上述的特殊刻录功率测定采用「Sub Q codemode 0」做为测定时所刻录进光盘片的数据。此做法的用意是使得那些用来做刻录功率测定的数据区块在做完刻录功率测定后仍处于清除状态(erase)，因此不会被误读成正常数据或干扰正常数据读取。此刻录功率测定方法利用可重复刻录式光盘片可以重复刻录的特性，测量得光盘片上任意位置的最佳刻录功率，使得光盘刻录动作不论是固定线速度或是固定角速度的刻录方式，都得以使用最佳的刻录功率对盘片上所有位置的数据区块进行刻录动作。

为让本发明的上述和其它目的、特征、和优点能更明显易懂，下文特举一较佳实施例，并配合附图作详细说明如下。

附图说明

图1显示一种常见最佳刻录功率测定方法的流程示意图；

图2A及图2B显示根据本发明较佳实施例的最佳刻录功率测定方法的流程示意图；

图3显示根据本发明较佳实施例的可重复刻录式光盘片上刻录功率测定区块的规划示意图；

图4显示本发明较佳实施例中针对任意光盘片位置所量测得到的最佳刻录功率曲线示意图。标号说明

310原有刻录功率测定区域

320欲写入的数据区

330本发明任意规划的最佳刻录功率测定区块

具体实施方式

图2A及图2B所示，为根据本发明一较佳实施例的最佳刻录功率测定方法的流程示意图。请一并参考图3，本发明所提出的刻录功率测定方法首先将读写头跳至位于光盘片内圈的原有刻录功率测定区域310，读出其中刻录功率测试计数值，以得知已经进行过的刻录功率测试次数，算出空白的刻录功率测定区域位置(步骤200、205)。接着刻录器的读写头跳至这个空白的刻录功率测定区域(步骤210)，开始进行十五种不同刻录功率的测定。刻录器先利用十五种刻录功率将十五笔(frame)测试数据写入空白的刻录功率测定区域中(步骤215)。接着跳回刚刚开始写入测试数据的位置，将这些测试数据读出，以判断光盘片内圈的最佳刻录功率为何(步骤220、225、230)。之后刻录器便利用这个所测得的内圈最佳刻录功率进行一次的刻录动作于计数区域中(步骤235、240)，值得一提的是因一般的盘片在正常下，最多只能被刻100次，故其中步骤240会在计数区域(count area)上更新此张盘片已被刻录的次数。

如图2B所示，刻录器结束内圈的测试刻录后，开始对光盘片的其它位置进行最佳刻录功率的测试动作。请再参考图3，刻录器在待写入数据区域320中选择一些数据区块330，针对每一个数据区块都利用十五种不同的刻录功率，将十五笔「Sub Q code mode 0」数据写入这些数据区块中，用以判断这些数据区块所在位置的最佳刻录功率为何(步骤245、250、255、260、265)。这些数据区块的选择可以是平均地散布在空白区域范围320内。

最后，如图2B所示，此方法利用所测得的数个最佳功率，使用内插法建立一个最佳刻录功率与刻录位置到盘片中心的距离的关系曲线图(步骤270)图4即为这种关系图的示意图。如此一来，刻录器在刻录每一笔数据的时候，都可以利用目前位置查得一个最佳的刻录功率进行正常数据的刻录动作(步骤275)。且因为我们在数据区块进行刻录功率测试动作时写入光盘的是「Sub Qcode mode 0」，此数据格式在一般读取动作是将不会被视为正常数据。

此刻录功率测定方法利用可重复刻录式光盘片可以重复刻录的特性，测量得光盘片上任意位置的最佳刻录功率，使得光盘刻录动作不论是固定线速度或是固定角速度的刻录方式，都得以使用最佳的刻录功率对盘片上所有位置的数据区块进行刻录动作。

本领域普通技术人员知道，本实施例针对可重复刻录式光盘片，但其实可应用于所有可重复刻录式储存媒体。另外，本实施例采用多个区域来进行试验，再以内插法来得到关系曲线图，但其实可利用其它数值分析的方法来得到不同的关系曲线图，或是简化到只试验两个区域等。

虽然本发明已以较佳实施例公开如上，然其并非用于限定本发明，任何本领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，可作一些等效变化和变动，因此本发明的保护范围以权利要求为准。

Claims

1、一种最佳刻录功率测定的方法，应用于一记录型储存媒体，包括一数据刻录区域，其特征在于，该方法包括下列步骤：

在该数据刻录区域中选择一第一数据区块；

使用一特定刻录数据对该第一数据区块进行刻录功率测定；

取得针对该第一数据区块的一第一数据区块最佳刻录功率；

在该数据刻录区域中选择一第二数据区块；

使用该特定刻录数据对该第二数据区块进行刻录功率测定；

取得针对该第二数据区块的一第二数据区块最佳刻录功率；以及

利用所得的最佳刻录功率与其对应的数据区块位置对该储存媒体的该数据刻录区域进行刻录。

2、如权利要求1所述的最佳刻录功率测定的方法，其特征在于，还包括下列步骤于取得该第二数据区块的第二数据区块最佳刻录功率的步骤后：

在该数据刻录区域中选择数个第三数据区块；

使用该特定刻录数据对该数个第三数据区块个别进行刻录功率测定；以及

取得针对该数个第三数据区块的数个对应的第三数据区块最佳刻录功率。

3、如权利要求1所述的最佳刻录功率测定的方法，其特征在于，利用所得的最佳刻录功率与其对应的数据区块位置对该储存媒体的该数据刻录区域进行刻录的步骤采用所得的最佳刻录功率与其对应的数据区块位置找出一最佳刻录功率与位置关系来进行刻录。

4、如权利要求2所述的最佳刻录功率测定的方法，其特征在于，该特定刻录数据在做完刻录功率测定之后，呈现一清除状态，该清除状态在读取时将不会被视为正常的数据。

5、如权利要求1所述的最佳刻录功率测定的方法，其特征在于，该特定刻录数据为符合sub Q mode 0格式的数据。

6、一种最佳刻录功率测定的方法，应用于一记录型储存媒体，该记录型储存媒体包括一刻录功率测试区域与一数据刻录区域，其特征在于，该方法包括下列步骤：

在该刻录功率测试区域进行刻录功率测定；

取得的一内圈最佳刻录功率；

在该数据刻录区域中选择一第一数据区块；

使用一特定刻录数据对该第一数据区块进行刻录功率测定；

取得针对该第一数据区块的一第一数据区块最佳刻录功率；以及

利用所得的最佳刻录功率与其对应的刻录功率测试区域与数据区块位置对该储存媒体的该数据刻录区域进行刻录。

7、如权利要求6所述的最佳刻录功率测定的方法，其特征在于，还包括下列步骤于取得该第一数据区块的第一数据区块最佳刻录功率的步骤后：

在该数据刻录区域中选择数个第二数据区块；

使用该特定刻录数据对该数个第二数据区块个别进行刻录功率测定：以及

取得针对该数个第二数据区块的数个对应的第二数据区块最佳刻录功率。

8、如权利要求6所述的最佳刻录功率测定的方法，其特征在于，利用所得的最佳刻录功率与其对应的刻录功率测试区域与数据区块位置对该储存媒体的该数据刻录区域进行刻录的步骤采用所得的最佳刻录功率与其对应的刻录功率测试区域与数据区块位置找出一最佳刻录功率与位置关系来进行刻录。

9、如权利要求7所述的最佳刻录功率测定的方法，其特征在于，该特定刻录数据在做完刻录功率测定之后，呈现一清除状态，该清除状态在日后被读取时将不会被视为正常的数据。

10、如权利要求6所述的最佳刻录功率测定的方法，其特征在于，该特定刻录数据为符合sub Q mode 0格式的数据。