CN120928167B - 一种芯片调试系统与方法 - Google Patents

Abstract

本发明提出一种芯片调试系统与方法，平台调试控制器监测目标开发板的电源轨状态，在确定待测芯片上电成功后，监测中央处理器的状态，在确定中央处理器启动成功并完成操作系统加载后，向上位机反馈待测芯片启动成功；上位机在待测芯片启动成功后，向平台调试控制器发送第一类日志请求，其中，第一类日志请求包括第一类目标事件标识；平台调试控制器将第一类日志请求发送给中央处理器，并将中央处理器反馈的第一类目标日志反馈给上位机；上位机根据第一类目标日志对中央处理器进行调试分析，确定中央处理器是否通过调试。通过平台调试控制器自动对待测芯片的相关信息进行采集，并提供给上位机进行分析，降低人力成本，提升调试效率。

Description

一种芯片调试系统与方法

技术领域

本发明涉及芯片调试领域，具体而言，涉及一种芯片调试系统与方法。

背景技术

在芯片后端测试和交付客户的过程中，需要对芯片验证过程中遇到的问题进行分析和日志收集，包括对处理器进行硬件调试和日志收集，以确定问题出现的具体位置，并追踪问题的状态，为后续的问题分析和解决方案提供依据。

目前主要依赖人工手动收集和人工判定，这不仅耗费大量人力和时间，还可能导致判定误差。

发明内容

本发明的目的在于提供一种芯片调试系统与方法，以改善上述问题。

为了实现上述目的，本发明实施例采用的技术方案如下：

第一方面，本发明实施例提供一种芯片调试系统，所述芯片调试系统包括：平台调试控制器、上位机；

所述平台调试控制器的连接于目标开发板的输入输出端口，所述目标开发板的输入输出端口连接于所述目标开发板上的电源轨，所述目标开发板的第i电源轨与待测芯片的第i电源轨连接，所述平台调试控制器的第一UART串口连接于所述待测芯片的中央处理器；

所述平台调试控制器用于监测所述目标开发板的电源轨状态，在确定所述待测芯片上电成功后，监测所述中央处理器的状态，在确定所述中央处理器启动成功并完成操作系统加载后，向所述上位机反馈所述待测芯片启动成功；

所述上位机用于在所述待测芯片启动成功后，向所述平台调试控制器发送第一类日志请求，其中，所述第一类日志请求包括第一类目标事件标识；

所述平台调试控制器用于将所述第一类日志请求发送给所述中央处理器，并将所述中央处理器反馈的第一类目标日志反馈给所述上位机；

所述上位机用于根据所述第一类目标日志对所述中央处理器进行调试分析，确定所述中央处理器是否通过调试。

可选地，所述目标开发板的上设置有选择器，所述选择器包括N个输入端，所述选择器的第i输入端连接于所述目标开发板的第i电源轨，所述选择器的输出端通过所述目标开发板的输入输出端口连接于所述平台调试控制器，所述选择器的控制端也连接于所述平台调试控制器；

在调试开始后，所述平台调试控制器用于控制所述选择器的第1输入端与其输出端导通，以获取所述目标开发板的第1电源轨的电平状态，在所述目标开发板的第1电源轨跳变为高电平后，控制所述选择器的第N输入端与其输出端导通，以获取所述目标开发板的第N电源轨的电平状态，若在第1电源轨跳变后的预设时间长度范围内，第N电源轨跳变为高电平，则确定上电成功；

其中，所述目标开发板的第1电源轨为上电启动电源轨，所述目标开发板的第N电源轨为完成状态电源轨。

可选地，若在第1电源轨跳变后的预设时间长度范围内，第N电源轨未跳变为高电，所述平台调试控制器用于确定上电失败，并控制所述选择器切换其内部的导通关系，进而确定故障电源轨，所述故障电源轨为保持为低电平的第1条电源轨。

可选地，在确定上电失败时，所述平台调试控制器用于控制所述选择器的第X输入端与其输出端导通，以获取所述目标开发板的第X电源轨的电平状态；若第X电源轨为高电平，则控制所述选择器从第X+1输入端到第N-1输入端与其输出端导通，进而确定故障电源轨；若第X电源轨为低电平，则控制所述选择器从第X-1输入端到第2输入端与其输出端导通，进而确定故障电源轨，其中，X为N除以2的商。

可选地，所述平台调试控制器的第二UART串口连接于所述待测芯片的芯片控制单元；

在所述目标开发板的第1电源轨跳变为高电平后，所述平台调试控制器用于监测所述芯片控制单元的状态，以确定所述芯片控制单元是否启动成功，若所述芯片控制单元启动成功，确定所述芯片控制单元是否加载完成；

当所述芯片控制单元启动成功并完成加载时，确定所述芯片控制单元通过调试。

可选地，所述平台调试控制器的第三UART串口连接于所述待测芯片的电源分配单元；

在所述目标开发板的第1电源轨跳变为高电平后，所述平台调试控制器用于监测所述电源分配单元的状态，以确定所述电源分配单元是否启动成功，若所述电源分配单元启动成功，确定所述电源分配单元是否加载完成；

当所述电源分配单元启动成功并完成加载时，确定所述电源分配单元通过调试。

可选地，所述平台调试控制器的第四UART串口连接于所述待测芯片的目标处理器；

所述上位机还用于在所述待测芯片启动成功后，向所述平台调试控制器发送第二类日志请求，其中，所述第二类日志请求包括第二类目标事件标识；

所述平台调试控制器用于将所述第二类日志请求发送给所述目标处理器，并将所述目标处理器反馈的第二类目标日志反馈给所述上位机；

所述上位机用于根据所述第二类目标日志对所述目标处理器进行调试分析，确定所述目标处理器是否通过调试。

可选地，所述目标开发板还用于在检测到所述待测芯片的芯片温度高于目标温度时，将过温标识位调整为过温保护状态；

所述平台调试控制器用于监测所述目标开发板的过温标识位，以确定是否触发过温保护。

第二方面，本发明实施例提供一种芯片调试方法，应用于上述的芯片调试系统，所述方法包括：

平台调试控制器监测目标开发板的电源轨状态，在确定待测芯片上电成功后，监测中央处理器的状态，在确定所述中央处理器启动成功并完成操作系统加载后，向上位机反馈所述待测芯片启动成功；

所述上位机在所述待测芯片启动成功后，向所述平台调试控制器发送第一类日志请求，其中，所述第一类日志请求包括第一类目标事件标识；

所述平台调试控制器将所述第一类日志请求发送给所述中央处理器，并将所述中央处理器反馈的第一类目标日志反馈给所述上位机；

所述上位机根据所述第一类目标日志对所述中央处理器进行调试分析，确定所述中央处理器是否通过调试。

第三方面，本发明实施例提供一种芯片调试方法，应用于上述的芯片调试系统中的平台调试控制器，所述方法包括：

平台调试控制器监测目标开发板的电源轨状态，在确定待测芯片上电成功后，监测中央处理器的状态，在确定所述中央处理器启动成功并完成操作系统加载后，向上位机反馈所述待测芯片启动成功；

所述平台调试控制器将所述上位机传输的第一类日志请求发送给所述中央处理器，并将所述中央处理器反馈的第一类目标日志反馈给所述上位机，以使所述上位机根据所述第一类目标日志对所述中央处理器进行调试分析，确定所述中央处理器是否通过调试，其中，所述第一类日志请求包括第一类目标事件标识。

相对于现有技术，本发明实施例所提供的一种芯片调试系统与方法，平台调试控制器的连接于目标开发板的输入输出端口，目标开发板的输入输出端口连接于目标开发板上的电源轨，目标开发板的第i电源轨与待测芯片的第i电源轨连接，平台调试控制器的第一UART串口连接于待测芯片的中央处理器；平台调试控制器用于监测目标开发板的电源轨状态，在确定待测芯片上电成功后，监测中央处理器的状态，在确定中央处理器启动成功并完成操作系统加载后，向上位机反馈待测芯片启动成功；上位机用于在待测芯片启动成功后，向平台调试控制器发送第一类日志请求，其中，第一类日志请求包括第一类目标事件标识；平台调试控制器用于将第一类日志请求发送给中央处理器，并将中央处理器反馈的第一类目标日志反馈给上位机；上位机用于根据第一类目标日志对中央处理器进行调试分析，确定中央处理器是否通过调试。通过平台调试控制器自动对待测芯片的相关信息进行采集，并提供给上位机进行分析，降低人力成本，提升调试效率。

为使本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它相关的附图。

图1为本发明实施例提供的芯片调试系统的架构示意图之一。

图2为本发明实施例提供的芯片调试系统的架构示意图之二。

图3为本发明实施例提供的芯片调试方法的流程示意图之一。

图4为本发明实施例提供的芯片调试方法的流程示意图之二。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本发明实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。

因此，以下对在附图中提供的本发明的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本发明的范围，而是仅仅表示本发明的选定实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。同时，在本发明的描述中，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

在本发明的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该发明产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

在本发明的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

下面结合附图，对本发明的一些实施方式作详细说明。在不冲突的情况下，下述的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

本发明实施例提供了一种芯片调试系统，请参考图1，图1为本发明实施例提供的芯片调试系统的架构示意图之一。芯片调试系统包括：平台调试控制器（也称为PDC）、上位机，平台调试控制器与上位机有线通信连接或无线通信连接。

平台调试控制器的连接于目标开发板的输入输出端口（GPIO），目标开发板为部署有待测芯片的工程开发板（EVB）。

目标开发板的输入输出端口连接于目标开发板上的电源轨，目标开发板的第i电源轨与待测芯片的第i电源轨连接（1≤i≤N，N为待测芯片的电源轨总数），平台调试控制器的第一UART串口连接于待测芯片的中央处理器。

其中，UART的英文为Universal Asynchronous Receiver/Transmitter，中文为通用异步收发器。

平台调试控制器用于监测目标开发板的电源轨状态，在确定待测芯片上电成功后，监测中央处理器的状态，在确定中央处理器启动成功并完成操作系统加载后，向上位机反馈待测芯片启动成功。

可选地，平台调试控制器通过目标开发板的输入输出端口监测目标开发板的电源轨状态，平台调试控制器还可以根据中央处理器对应的寄存器状态确定是否中央处理器启动成功和加载成功。

上位机用于在待测芯片启动成功后，向平台调试控制器发送（中央处理器对应的）第一类日志请求，其中，第一类日志请求包括第一类目标事件标识。

平台调试控制器用于将第一类日志请求发送给中央处理器，并将中央处理器反馈的第一类目标日志反馈给上位机，第一类目标日志为第一类目标事件对应的日志记录。

上位机用于根据第一类目标日志对中央处理器进行调试分析，确定中央处理器是否通过调试，如果所有的第一类目标日志均未发现错误，则认为中央处理器通过调试。

在本发明实施例提供的芯片调试系统中，通过平台调试控制器自动对待测芯片的相关信息进行采集，并提供给上位机进行分析，降低人力成本，提升调试效率。

在前文的基础上，关于确定待测芯片是否上电成功的具体过程，本发明实施例还提供了一种可选的实施方式，请继续参考图1。

目标开发板的上设置有选择器，选择器包括N个输入端，选择器的第i输入端连接于目标开发板的第i电源轨，选择器的输出端通过目标开发板的输入输出端口连接于平台调试控制器，选择器的控制端也连接于平台调试控制器。

在调试开始后，平台调试控制器用于控制选择器的第1输入端与其输出端导通，以获取目标开发板的第1电源轨的电平状态，在目标开发板的第1电源轨跳变为高电平（开启上电状态）后，控制选择器的第N输入端与其输出端导通，以获取目标开发板的第N电源轨的电平状态，若在第1电源轨跳变后的预设时间长度范围内，第N电源轨跳变为高电平，则确定上电成功。

其中，目标开发板的第1电源轨为上电启动电源轨，目标开发板的第N电源轨为完成状态电源轨。

若在第1电源轨跳变后的预设时间长度范围内，第N电源轨未跳变为高电，平台调试控制器用于确定上电失败，并控制选择器切换其内部的导通关系，进而确定故障电源轨，故障电源轨为保持为低电平的第1条电源轨。

在前文的基础上，为了快速定位问题，本发明实施例还提供了一种可选的实施方式，请参考下文。

在确定上电失败时，平台调试控制器用于控制选择器的第X输入端与其输出端导通，以获取目标开发板的第X电源轨的电平状态；若第X电源轨为高电平，则控制选择器从第X+1输入端到第N-1输入端与其输出端导通，进而确定故障电源轨；若第X电源轨为低电平，则控制选择器从第X-1输入端到第2输入端与其输出端导通，进而确定故障电源轨，其中，X为N除以2的商。

请继续参考图1，在一种可选的实施方式中，平台调试控制器的第二UART串口连接于待测芯片的芯片控制单元，芯片控制单元可以但不限定采用微控制单元(Microcontroller Unit，MCU)。

在目标开发板的第1电源轨跳变为高电平后，平台调试控制器用于监测芯片控制单元的状态，以确定芯片控制单元是否启动成功，若芯片控制单元启动成功，确定芯片控制单元是否加载完成。

当芯片控制单元启动成功并完成加载时，确定芯片控制单元通过调试，当芯片控制单元未启动成功或未完成加载时，表示其调试未通过，生成芯片控制单元的错误报告。

请继续参考图1，在一种可选的实施方式中，平台调试控制器的第三UART串口连接于待测芯片的电源分配单元，电源分配单元可以但不限定采用微控制单元(Microcontroller Unit，MCU)。

在目标开发板的第1电源轨跳变为高电平后，平台调试控制器用于监测电源分配单元的状态，以确定电源分配单元是否启动成功，若电源分配单元启动成功，确定电源分配单元是否加载完成。

当电源分配单元启动成功并完成加载时，确定电源分配单元通过调试，当电源分配单元未启动成功或未完成加载时，表示其调试未通过，生成电源分配单元的错误报告。

请参考图2，图2为本发明实施例提供的芯片调试系统的架构示意图之二。平台调试控制器的第四UART串口连接于待测芯片的目标处理器，目标处理器可以但不限定显示处理单元（Display Processing Unit，DPU）、神经网络处理器（Neural network ProcessingUnit，NPU）、视频处理器 (Video Processing Unit，VPU）以及图形处理器（GraphicsProcessing Unit，GPU）。

上位机还用于在待测芯片启动成功后，向平台调试控制器发送（目标处理器对应的）第二类日志请求，其中，第二类日志请求包括第二类目标事件标识。

平台调试控制器用于将第二类日志请求发送给目标处理器，并将目标处理器反馈的第二类目标日志反馈给上位机，第二类目标日志为第二类目标事件对应的日志记录。

上位机用于根据第二类目标日志对目标处理器进行调试分析，确定目标处理器是否通过调试，如果所有的第二类目标日志均未发现错误，则认为其通过调试。

本发明实施例提供的芯片调试系统，支持扩展对应IP（目标处理器）的关键寄存器状态收集，从而确认子模块的健康状态。这有助于更全面地了解系统运行情况，为后续的快速迭代和需求扩充提供支持。不仅满足当前的需求，还具备良好的扩展性，能够适应未来可能出现的复杂场景和多样化需求。

请继续参考图2，目标开发板还用于在检测到待测芯片的芯片温度高于目标温度时，将过温标识位调整为过温保护状态。

平台调试控制器用于监测目标开发板的过温标识位，以确定是否触发过温保护。

以部署更多的GPIO控制器，用于收集板级的关键电平状态。例如，通过检测芯片是否触发过温保护等关键信号，进一步丰富问题诊断信息。

本发明实施例还提供了一种芯片调试方法，应用于上述的芯片调试系统，请参考图3，图3为本发明实施例提供的芯片调试方法的流程示意图之一。芯片调试方法包括：S11、S21、S12、S22，具体阐述如下。

S11，平台调试控制器监测目标开发板的电源轨状态，在确定待测芯片上电成功后，监测中央处理器的状态，在确定中央处理器启动成功并完成操作系统加载后，向上位机反馈待测芯片启动成功。

S21，上位机在待测芯片启动成功后，向平台调试控制器发送第一类日志请求，其中，第一类日志请求包括第一类目标事件标识。

S12，平台调试控制器将第一类日志请求发送给中央处理器，并将中央处理器反馈的第一类目标日志反馈给上位机。

S22，上位机根据第一类目标日志对中央处理器进行调试分析，确定中央处理器是否通过调试。

本发明实施例还提供了一种芯片调试方法，应用于上述的芯片调试系统中的平台调试控制器，请参考图4，图4为本发明实施例提供的芯片调试方法的流程示意图之二。芯片调试方法包括：S31和S32，具体如下。

S31，平台调试控制器监测目标开发板的电源轨状态，在确定待测芯片上电成功后，监测中央处理器的状态，在确定中央处理器启动成功并完成操作系统加载后，向上位机反馈待测芯片启动成功；

S32，平台调试控制器将上位机传输的第一类日志请求发送给中央处理器，并将中央处理器反馈的第一类目标日志反馈给上位机，以使上位机根据第一类目标日志对中央处理器进行调试分析，确定中央处理器是否通过调试，其中，第一类日志请求包括第一类目标事件标识。

综上所述，本发明实施例提供的一种芯片调试系统与方法，平台调试控制器的连接于目标开发板的输入输出端口，目标开发板的输入输出端口连接于目标开发板上的电源轨，目标开发板的第i电源轨与待测芯片的第i电源轨连接，平台调试控制器的第一UART串口连接于待测芯片的中央处理器；平台调试控制器用于监测目标开发板的电源轨状态，在确定待测芯片上电成功后，监测中央处理器的状态，在确定中央处理器启动成功并完成操作系统加载后，向上位机反馈待测芯片启动成功；上位机用于在待测芯片启动成功后，向平台调试控制器发送第一类日志请求，其中，第一类日志请求包括第一类目标事件标识；平台调试控制器用于将第一类日志请求发送给中央处理器，并将中央处理器反馈的第一类目标日志反馈给上位机；上位机用于根据第一类目标日志对中央处理器进行调试分析，确定中央处理器是否通过调试。通过平台调试控制器自动对待测芯片的相关信息进行采集，并提供给上位机进行分析，降低人力成本，提升调试效率。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

对于本领域技术人员而言，显然本发明不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本发明的精神或基本特征的情况下，能够以其它的具体形式实现本发明。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本发明的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本发明内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。

Claims (10)

1.一种芯片调试系统，其特征在于，所述芯片调试系统包括：平台调试控制器、上位机；

所述平台调试控制器的连接于目标开发板的输入输出端口，所述目标开发板的输入输出端口连接于所述目标开发板上的电源轨，所述目标开发板的第i电源轨与待测芯片的第i电源轨连接，所述平台调试控制器的第一UART串口连接于所述待测芯片的中央处理器；

所述平台调试控制器用于监测所述目标开发板的电源轨状态，在确定所述待测芯片上电成功后，监测所述中央处理器的状态，在确定所述中央处理器启动成功并完成操作系统加载后，向所述上位机反馈所述待测芯片启动成功；

所述上位机用于在所述待测芯片启动成功后，向所述平台调试控制器发送第一类日志请求，其中，所述第一类日志请求包括第一类目标事件标识；

所述平台调试控制器用于将所述第一类日志请求发送给所述中央处理器，并将所述中央处理器反馈的第一类目标日志反馈给所述上位机；

所述上位机用于根据所述第一类目标日志对所述中央处理器进行调试分析，确定所述中央处理器是否通过调试。

2.如权利要求1所述的芯片调试系统，其特征在于，所述目标开发板的上设置有选择器，所述选择器包括N个输入端，所述选择器的第i输入端连接于所述目标开发板的第i电源轨，所述选择器的输出端通过所述目标开发板的输入输出端口连接于所述平台调试控制器，所述选择器的控制端也连接于所述平台调试控制器；

在调试开始后，所述平台调试控制器用于控制所述选择器的第1输入端与其输出端导通，以获取所述目标开发板的第1电源轨的电平状态，在所述目标开发板的第1电源轨跳变为高电平后，控制所述选择器的第N输入端与其输出端导通，以获取所述目标开发板的第N电源轨的电平状态，若在第1电源轨跳变后的预设时间长度范围内，第N电源轨跳变为高电平，则确定上电成功；

其中，所述目标开发板的第1电源轨为上电启动电源轨，所述目标开发板的第N电源轨为完成状态电源轨。

3.如权利要求2所述的芯片调试系统，其特征在于，若在第1电源轨跳变后的预设时间长度范围内，第N电源轨未跳变为高电，所述平台调试控制器用于确定上电失败，并控制所述选择器切换其内部的导通关系，进而确定故障电源轨，所述故障电源轨为保持为低电平的第1条电源轨。

4.如权利要求3所述的芯片调试系统，其特征在于，在确定上电失败时，所述平台调试控制器用于控制所述选择器的第X输入端与其输出端导通，以获取所述目标开发板的第X电源轨的电平状态；若第X电源轨为高电平，则控制所述选择器从第X+1输入端到第N-1输入端与其输出端导通，进而确定故障电源轨；若第X电源轨为低电平，则控制所述选择器从第X-1输入端到第2输入端与其输出端导通，进而确定故障电源轨，其中，X为N除以2的商。

5.如权利要求1所述的芯片调试系统，其特征在于，所述平台调试控制器的第二UART串口连接于所述待测芯片的芯片控制单元；

在所述目标开发板的第1电源轨跳变为高电平后，所述平台调试控制器用于监测所述芯片控制单元的状态，以确定所述芯片控制单元是否启动成功，若所述芯片控制单元启动成功，确定所述芯片控制单元是否加载完成；

当所述芯片控制单元启动成功并完成加载时，确定所述芯片控制单元通过调试。

6.如权利要求1所述的芯片调试系统，其特征在于，所述平台调试控制器的第三UART串口连接于所述待测芯片的电源分配单元；

在所述目标开发板的第1电源轨跳变为高电平后，所述平台调试控制器用于监测所述电源分配单元的状态，以确定所述电源分配单元是否启动成功，若所述电源分配单元启动成功，确定所述电源分配单元是否加载完成；

当所述电源分配单元启动成功并完成加载时，确定所述电源分配单元通过调试。

7.如权利要求1所述的芯片调试系统，其特征在于，所述平台调试控制器的第四UART串口连接于所述待测芯片的目标处理器；

所述上位机还用于在所述待测芯片启动成功后，向所述平台调试控制器发送第二类日志请求，其中，所述第二类日志请求包括第二类目标事件标识；

所述平台调试控制器用于将所述第二类日志请求发送给所述目标处理器，并将所述目标处理器反馈的第二类目标日志反馈给所述上位机；

所述上位机用于根据所述第二类目标日志对所述目标处理器进行调试分析，确定所述目标处理器是否通过调试。

8.如权利要求1所述的芯片调试系统，其特征在于，

所述目标开发板还用于在检测到所述待测芯片的芯片温度高于目标温度时，将过温标识位调整为过温保护状态；

所述平台调试控制器用于监测所述目标开发板的过温标识位，以确定是否触发过温保护。

9.一种芯片调试方法，其特征在于，应用于权利要求1-8中任一项所述的芯片调试系统，所述方法包括：

平台调试控制器监测目标开发板的电源轨状态，在确定待测芯片上电成功后，监测中央处理器的状态，在确定所述中央处理器启动成功并完成操作系统加载后，向上位机反馈所述待测芯片启动成功；

所述上位机在所述待测芯片启动成功后，向所述平台调试控制器发送第一类日志请求，其中，所述第一类日志请求包括第一类目标事件标识；

所述平台调试控制器将所述第一类日志请求发送给所述中央处理器，并将所述中央处理器反馈的第一类目标日志反馈给所述上位机；

所述上位机根据所述第一类目标日志对所述中央处理器进行调试分析，确定所述中央处理器是否通过调试。

10.一种芯片调试方法，其特征在于，应用于权利要求1-8中任一项所述的芯片调试系统中的平台调试控制器，所述方法包括：

平台调试控制器监测目标开发板的电源轨状态，在确定待测芯片上电成功后，监测中央处理器的状态，在确定所述中央处理器启动成功并完成操作系统加载后，向上位机反馈所述待测芯片启动成功；

所述平台调试控制器将所述上位机传输的第一类日志请求发送给所述中央处理器，并将所述中央处理器反馈的第一类目标日志反馈给所述上位机，以使所述上位机根据所述第一类目标日志对所述中央处理器进行调试分析，确定所述中央处理器是否通过调试，其中，所述第一类日志请求包括第一类目标事件标识。