CN120085079A - 用于测试和/或测量系统的有源定向结构 - Google Patents

Abstract

本发明涉及用于测试和/或测量系统(60)的有源定向结构(10)，包括：发生器端口(P1)，所述发生器端口被配置为接收发生器信号；DUT端口(P2)，所述DUT端口被布置用于直接或间接连接DUT；测量端口(P3)，所述测量端口被配置为输出测量信号；以及参考端口(P4)，所述参考端口被配置为输出参考信号。该有源定向结构(10)还包括：第一转换器(11)，所述第一转换器被配置为基于所述发生器信号生成测试信号和所述参考信号；以及第二转换器(12)，所述第二转换器被配置为基于所述测试信号、来自所述DUT的反射信号、和所述参考信号生成所述测量信号；其中，所述第一转换器(11)和/或所述第二转换器(12)包括各自的晶体管电路。

Description

用于测试和/或测量系统的有源定向结构

技术领域

本发明涉及用于测试和/或测量系统(例如矢量网络分析仪)的有源定向结构。本发明还涉及包括这种有源定向结构的测试和/或测量系统。

背景技术

矢量网络分析仪(VNA)是一种测量仪器，可用于测量电网或被测设备(DUT)的网络参数。此类测量通常应在宽频率范围内执行。此外，为了进行这种测量，VNA通常需要用于从内部信号路径分离和耦合出不同的前向信号和返回信号的内部元件。

在传统VNA中，这通常通过VNA内的无源定向元件(例如，桥)的宽带系统来实现。虽然该方法允许宽带耦合，但是由于桥的架构，无源元件固有地遭受高噪声和低隔离(例如，生成信号与反射信号的隔离)的影响。

作为替选方案，可以使用无源定向元件(例如耦合器)的窄带系统。然而，这种方法常常受到无源定向元件的无源带宽限制的影响。

发明内容

因此，目的是提供一种用于测试和/或测量系统(诸如VNA)的有源定向结构，其避免了上述缺点。

通过本文提供的解决方案，实现了上述目的。在本文中进一步限定了本发明的有利实现方式。

根据第一方面，本发明涉及一种用于测试和/或测量系统的有源定向结构。所述有源定向结构包括：发生器端口，所述发生器端口被配置为接收发生器信号；DUT端口，所述DUT端口被布置用于直接或间接连接被测设备(DUT)；测量端口，所述测量端口被配置为输出测量信号；以及参考端口，所述参考端口被配置为输出参考信号。所述有源定向结构还包括第一转换器和第二转换器。

所述第一转换器被配置为：在连接到所述发生器端口的输入端接收所述发生器信号；基于所述发生器信号生成测试信号并在连接到所述DUT端口的第一输出端输出所述测试信号；以及基于所述发生器信号生成所述参考信号并在连接到所述参考端口的第二输出端输出所述参考信号。所述第二转换器被配置为：在第一输入端接收所述测试信号和来自所述DUT的反射信号；在第二输入端接收所述参考信号；以及并基于所述测试信号、所述反射信号和所述参考信号生成所述测量信号，并在连接到所述测量端口的输出端输出所述测量信号。所述第一转换器和/或所述第二转换器包括各自的晶体管电路。

这实现了以下优点：提供可在超宽带范围内操作的有源定向结构，这特别是由于在其至少一个转换器中使用快速开关晶体管而实现的。同时，与具有无源桥/电阻桥的结构相比，该有源定向结构通过了更低的噪声和更高的端口隔离度。

该测试和/或测量系统可以是测量仪器，例如矢量网络分析仪(VNA)。该有源定向结构可以是VNA的内部组件，用于组合、分离和/或转发各种RF信号(例如，用于测量连接到DUT端口的DUT的网络参数)。

例如，DUT可直接连接到DUT端口，然而，DUT也可连接到测试和/或测量系统的壳体上的另一端口(例如，VNA端口)，其中，该有源定向结构的DUT端口通过信号线连接到所述端口。

所述发生器信号、所述参考信号和所述测试信号可以是相应的RF信号(例如，在DC和mmWave之间的频率范围内的RF信号)。

所述发生器信号可以是由连接到所述发生器端口的信号发生器产生的连续波(CW)信号。

所述测试信号和/或所述参考信号可以是所述发生器信号的放大版本。所述测试信号和所述参考信号可以相互关联。例如，所述参考信号可以与所述测试信号相同，或者可以是所述测试信号的反转版本(例如，两个信号的幅度相等，但极性相反)，这取决于第一转换器的配置。

例如，所述第一转换器和所述第二转换器中仅一个转换器包括晶体管结构，而另一个转换器仅包括无源元件，例如电阻器。替选地，所述第一转换器和所述第二转换器两者都包括各自的晶体管结构。

所述第一转换器和所述第二转换器可以是相应的转换器结构或转换器单元。

在一个实施方式中，所述第一转换器是功率分配器。

所述功率分配器可以被配置为将单端输入端的信号拆分为具有相同相位和极性的两个输出信号。此外，两个输出信号的信号电平可以相同。在两个输出信号的信号电平不同的情况下，该不同是已知的。

例如，功率分配器输出的参考信号和测试信号可以对应于功率分配器接收的发生器信号，或者可以是发生器信号的放大版本。例如，参考信号和测试信号可以具有相同的频率、幅度和符号(即，相同的极性)。

在一个实施方式中，所述第二转换器被配置为计算在所述第一输入端接收的组合的测试信号和反射信号与在所述第二输入端接收的所述参考信号之间的差值，并基于所述差值输出所述测量信号。

因此，组合信号是指两个信号的和或者叠加。

所述测量信号可对应于在所述第二转换器的第一输入端和第二输入端接收的信号之间的差值。该差值可对应于来自DUT的反射信号。

在一个实施方式中，所述第一转换器是单端转差分转换器。

例如，参考信号和测试信号可以对应于发生器信号或者可以是发生器信号的放大版本，但是可以具有相反的符号。例如，参考信号和测试信号具有相同的频率和幅度，但符号相反(例如，它们是极性相反的信号)。

在一个实施方式中，所述第二转换器被配置为计算在所述第一输入端接收的组合的测试信号和反射信号与在所述第二输入端接收的所述参考信号的和，并基于所述和输出所述测量信号。

所述测量信号可以对应于在所述第二转换器的第一输入端和第二输入端接收的信号的和。由于参考信号和测试信号的极性不同，该和可以对应于来自DUT的反射信号。

在一个实施方式中，所述有源定向结构还包括：第一混频设备，所述第一混频设备连接在所述第二转换器的输出端与所述测量端口之间。这实现了以下优点：测量信号可下混频到基带以进行进一步处理。

在一个实施方式中，所述有源定向结构还包括：第二混频设备，所述第二混频设备连接在所述第一转换器的第二输出端与所述参考端口之间。这实现了以下优点：参考信号可以下混频到基带以进行进一步处理。

所述第一混频设备和/或所述第二混频设备包括连接到本地振荡器的至少一个混频器。

在一个实施方式中，所述有源定向结构还包括：第一衰减器单元，所述第一衰减器单元连接在所述第一转换器的第一输出端与所述DUT端口之间；和/或第二衰减器单元，所述第二衰减器单元连接在所述第一转换器的第二输出端与所述参考端口之间；和/或第三衰减器单元，所述第三衰减器单元连接在所述第二转换器的输出端与所述测量端口之间。

因此，衰减器单元可以布置在相应的混频设备之前。

衰减器单元和/或混频设备可以布置在有源定向结构内，例如分别布置在DUT端口、测量端口和参考端口之前。

在一个实施方式中，所述有源定向结构还包括：第四衰减器单元，所述第四衰减器单元直接连接在所述第二转换器的第一输入端的前面；和/或第五衰减器单元，所述第五衰减器单元直接连接在所述第二转换器的第二输入端的前面。

在一个实施方式中，所述有源定向结构还包括：放大器单元，所述放大器单元连接在所述发生器端口与所述第一转换器的输入端之间。这实现了以下优点：可以将发生器信号预放大到合适的信号电平。

在一个实施方式中，所述有源定向结构是芯片或管芯的一部分。芯片可以是单片芯片，其可以是测试和/或测量系统的内部组件，例如，它可以布置在VNA的电路板上。

芯片可以基于硅锗技术。然而，其他技术也是可能的。

例如，芯片可以包括混频设备和/或衰减器单元。

根据第二方面，本发明涉及一种测试和/或测量系统，包括：至少一个根据本发明的第一方面的有源定向结构；信号发生器，所述信号发生器被配置为生成所述发生器信号，其中，所述信号发生器的输出端连接到所述有源定向结构的所述发生器端口。

在一个实施方式中，所述测试和/或测量系统是矢量网络分析仪(VNA)。

在一个实施方式中，所述测试和/或测量系统还包括：连接到所述测量端口的第一模数转换器单元(ADC单元)。

在一个实施方式中，所述测试和/或测量系统还包括：连接到所述参考端口的第二模数转换器单元(ADC单元)。

借助于ADC单元，测量信号和参考信号可被数字化以供VNA进一步处理，例如用于基于这些信号执行所连接的DUT的S参数表征。

附图说明

在以下参考附图的实施方式的描述中解释上述方面和实现方式：

图1示出了根据一个实施方式的有源定向结构的示意图；

图2示出了根据一个实施方式的有源定向结构的示意图；

图2A示出了根据一个实施方式的有源定向结构的示意图；

图3示出了根据一个实施方式的有源定向结构的示意图；

图4示出了根据一个实施方式的有源定向结构的示意图；

图5示出了根据一个实施方式的有源定向结构的示意图；

图6示出了根据一个实施方式的测试和/或测量系统的示意图；以及

图7示出了根据一个实施方式的有源定向结构的实现方式。

具体实施方式

图1示出了根据一个实施方式地用于测试和/或测量系统的有源定向结构10的示意图。

有源定向结构10包括：发生器端口P1，其被配置为接收发生器信号；DUT端口P2，其被布置用于直接或间接连接被测设备(DUT)；测量端口P3，其被配置为输出测量信号；以及参考端口P4，其被配置为输出参考信号。

有源定向结构10包括第一转换器11，其被配置为：在连接到发生器端口P1的输入端11a接收发生器信号，基于发生器信号生成测试信号，在连接到DUT端口P2的第一输出端11b输出测试信号，基于发生器信号生成参考信号，以及在连接到参考端口P4的第二输出端11c输出参考信号。有源定向结构10还包括第二转换器12，其被配置为：在第一输入端12b接收测试信号和来自被测设备的反射信号，在第二输入端12c接收参考信号，基于测试信号、反射信号和参考信号生成测量信号，以及在连接到测量端口P3的输出端12a输出测量信号。

有源定向结构10的第一转换器11和/或第二转换器12包括各自的晶体管电路。

因此，两个端口之间的连接是指适于将RF信号从一个端口转发到另一个端口的连接(例如，经由信号路由线的连接)。

例如，第一转换器11是有源元件，第二转换器12是无源元件，或者反之。替选地，第一转换器11和第二转换器12都是包括各自的晶体管电路的有源元件。

晶体管电路可以是包括一个或多个晶体管的电路(例如，基于晶体管的有源电路)。

由于在转换器11、12中的至少一者中使用这种基于有源晶体管的电路，因此有源定向结构10可以提供比使用无源/电阻桥的类似测量系统更低的噪声和更高的端口隔离。同时，有源定向结构10可以在从DC到mmWave(毫米波)的超宽带上工作。

有源定向结构10可以是测试和/或测量系统(例如矢量网络分析仪(VNA))的内部组件。

发生器端口P1可以连接到信号发生器21，信号发生器21被配置为生成发生器信号，例如以CW信号的形式的发生器信号。

DUT可直接或间接连接到DUT端口P2。在图1中，示出了DUT阻抗ZDUT。DUT可以是射频设备或元件，例如电缆、滤波器或衰减器。

DUT端口P2可以布置在测试和/或测量系统的壳体上，或者可以连接到测试和/或测量系统的壳体上的端口。

第一转换器11的输入端11a和输出端11b、11c，以及第二转换器12的输入端12b、12c和输出端12a可以包括用于接收和/或转发RF信号的任何装置，例如端口、连接器或节点。

第一转换器11的第一输出端11b、DUT端口P2和第二转换器12的第一输入端12b可以通过一条或多条信号线连接。同样，第一转换器11的第二输出端11c、参考端口P4和第二转换器12的第二输入端12c可以通过一条或多条信号线连接。

第一转换器11和第二转换器12可以形成有源定向结构10的有源定向元件(activedirectional element，ADE)。

当发生器信号被馈送到发生器端口P1时，有源定向元件(即，第一转换器11和第二转换器12)可生成测试信号并将其转发到DUT端口P2，并将参考信号转发到参考端口P4。连接在DUT端口P2处的DUT可以反射测试信号的入射波。该反射波可经由第二转换器12转发到测量端口P3。

在图1所示的示例中，第一转换器是功率分配器。

图1中的第一转换器11可以将发生器信号从单端转换为差分信号对(测试信号和参考信号)。由第一输出端11b输出的测试信号和第二输出端11c输出的参考信号可以是相同的电压信号Vi，特别是具有相同符号(例如，具有相同极性)和相位的电压信号Vi。功率分配器还可以生成幅度相同的测试信号和参考信号。如果它们的幅度不同，则这种不同是已知的。

可以将测试信号Vi从第一输出端11b转发到连接到DUT端口P2的DUT。作为响应，可以在DUT端口P2处接收反射信号Vr。该反射信号Vr可以基于来自DUT的对测试信号Vi的反射(例如，DUT反射测试信号Vi的一部分)。第二转换器12的第一输入端12b可以接收组合的(例如，叠加的)测试信号和反射信号(Vi+Vr)。

参考信号(这里也是Vi)可以从第二输出端11c转发到参考端口P4和第二转换器12的第二输入端12c。参考阻抗ZREF(例如50Ω)可以连接到参考端口P4。

第二转换器12可以是有源减法元件。例如，第二转换器12被配置为计算在第二输入端12c接收的参考信号(Vi)与在第一输入端12b接收的组合的测试信号和反射信号(Vi+Vr)之间的差值。换句话说，第二转换器12可以被配置为从组合的测试信号和反射信号(Vi+Vr)中减去参考信号(Vi)。测量信号可以是该减法的结果，即：(Vi+Vr)–Vi＝Vr。

第二转换器12可以被配置为将测量信号输出到测量端口P3。

图2示出有源定向元件的替选实现方式，其中第一转换器是单端转差分转换器，第二转换器是求和元件。例如，图2中的第一转换器是单端转差分运算放大器(opp-amp)。

图2中的第一转换器11可以将发生器信号从单端转换为差分信号对。因此，由第一输出端11b输出的测试信号与由第二输出端11c输出的参考信号可以是具有相同幅度和相位但符号相反的反转电压信号Vi(例如，具有不同极性的信号)。例如，测试信号为+Vi，参考信号为-Vi。

第二转换器12可以被配置为计算在第二输入端12c接收的参考信号(-Vi)与在第一输入端12b接收的组合的测试信号和反射信号(Vi+Vr)之间的和。测量信号可以是该和的结果，即：(Vi+Vr)-Vi＝Vr。

图2A示出了图2中所示的有源定向结构10的示意图，其中相应的衰减器单元44、45分别直接连接在第二转换器12的第一输入端12b和第二输入端12c的前面。具体地，衰减器单元44、45布置在DUT端口P2和参考端口P4之前(从第二转换器12来看)。

这样的衰减器单元44、45也可以添加到图1所示的有源定向结构10中。此外，也可以仅添加衰减器单元44和45中的一者。

图3示出了根据一个实施方式的有源定向结构10的示意图。这里，第一转换器11和第二转换器12由有源定向元件ADE表示。第一转换器11和第二转换器12可以如图1和图2中的任一者所示配置。

有源定向结构10可以包括连接在第二转换器12的输出端12a与测量端口P3之间的第一混频设备31、和/或连接在第一转换器11的第二输出端11c与参考端口P4之间的第二混频设备32。

第一混频设备31和/或第二混频设备32可以包括可连接到本地振荡器LO的相应混频器。

第一混频设备31和第二混频设备32可以被配置为将测量信号或参考信号下变频到中频。例如，混频设备31、32可以将这些信号下变频到基带。

图4示出了根据另一实施方式的有源定向结构10的示意图。

图4中的有源定向结构10可以基于图3中所示的结构10，并且包括附加的衰减器单元41、42、43。

例如，第一衰减器单元41布置在第一转换器11的第一输出端11b与DUT端口P2之间的信号路径中，第二衰减器单元42布置在第一转换器11的第二输出端11c与参考端口P4之间的信号路径中，第三衰减器单元43布置在第二转换器12的输出端12a与测量端口P3之间的信号路径中。

衰减器单元41、42、43中的每一者可以包括可切换衰减器块。

根据需求，有源定向结构10可以包括第一衰减器单元41、第二衰减器单元42和第三衰减器单元43中的一者、两者或全部。例如，衰减器单元41、42、43布置在各个混频设备31、32的混频器之前。

有源定向结构10还可以包括衰减器单元41、42、43的任意组合，而不包括附加的混频设备31、32。

图5示出了根据另一实施方式的有源定向结构10的示意图。这里，该有源定向结构10包括连接在发生器端口P1与第一转换器11的输入端11a之间的附加放大器单元51。

放大器单元51可以被配置为在将发生器信号馈送到第一转换器11的输入端11a之前放大发生器信号。

图6示出了根据一个实施方式的测试和/或测量系统60的示意图。例如，测试和/或测量系统60可以是VNA。

测试和/或测量系统60包括至少一个如图1-图5中任一者所示的有源定向结构10以及被配置为生成发生器信号的信号发生器21。信号发生器21，特别是信号发生器21的输出端，连接到有源定向结构10的发生器端口P1。

如图6所示，测试和/或测量系统60可以包括至少两个有源定向结构10，其中每个结构10的发生器端口P1连接到信号发生器21，并且每个结构10的DUT端口P2经由各自的测量路径65、66连接到各自的VNA端口61、62。

DUT可以连接到第一VNA端口61和第二VNA端口62。

每个有源定向结构10还可以包括连接到测量端口P3的第一ADC单元63和/或连接到参考端口P4的第二ADC单元64。

ADC单元63、64可以被配置为将端口P3、P4输出的相应测量信号和参考信号数字化。

例如，可以在各个ADC单元63、64与端口P3、P4之间布置附加元件(诸如滤波器)。

测试和/或测量系统可包括以通信方式连接到测量端口P3和参考端口P4的处理单元。处理单元可以接收并进一步处理数字化后的测量信号和参考信号。

在此配置中，VNA 60可以使用DUT进行网络参数(例如S参数)测量。

有源定向结构10可以设计成测试和/或测量系统60的单片(单个)芯片的形式。例如，图5所示的所有元件(特别是混频器31、32和衰减器单元41-43)可以集成在芯片中。

该芯片可包括有源定向元件(第一转换器和第二转换器)、可选的混频设备31、32和可选的衰减器单元41-43。例如，芯片可以基于硅锗技术或其他技术。这样，结构10的尺寸/占用空间和系统60的PCB复杂度可以显著降低。同时，还可以提高如带宽、方向性和温度稳定性的性能参数。

图7示出了根据一个实施方式的有源定向结构10的可能实现方式。

在图7所示的结构10中，在发生器端口P1处接收的信号Vi可用于通过跨导放大器(TAA)81生成差分电流信号。TAA 81可以形成差分电流源(例如，根据图2中的第一转换器11)。例如，差分晶体管对可以用作TAA 81。

差分电流源81的一侧可连接至DUT端口P2。此外，终端电阻R也可以连接到端口P2。因此，端口P2处的阻抗可以是R。通常，R是50欧姆。

在外部，待由测试和/或测量系统测量的具有未知阻抗Zdut的DUT可连接到DUT端口P2。

差分电流源81的另一侧也可以连接到终端电阻R，但是代替未知阻抗Zdut，该侧还可以由已知且确切的参考电阻R加载。

代替将终端电阻器的另一端连接到地(或连接到恒定电源电压)，可以使用测量通过两个终端电阻器的电流之和的装置(例如，根据图2中的第二转换器12)。

如图7所示，有源定向结构10可以包括作为这样的装置的理想类型的II电流传输器(ccII)。该理想化元件的功能是将施加到端子Y的电压强制施加到端子X上。此外，流入端子X的电流被转移到高阻抗输出端子Z。特别是，ccII可以通过单个晶体管或运算放大器反馈电路实现。

假设Zdut正好为50欧姆，则差分电流可使电压信号Vi出现在端口P2上，并使电压信号-Vi(幅度相同但极性相反)出现在桥另一侧的参考电阻器上。流过终端电阻器的电流都可以具有Vi/R的幅度，但流向相反的方向。因此，流过ccII至端口P3的两个电流之和为零。

在Zdut不正好为50欧姆的情况下，除了Vi之外，反射电压Vr将出现在端口P2上。在这种情况下，通过两个终端电阻器的电流之和为Vr/R，这使得端口P3处的电压为反射电压Vr。这允许在测量端口P3处测量反射电压Vr。

除了桥的一侧由Zdut加载，而另一侧由R加载之外，结构10可以是完全对称的。在集成电路实现方式中，可以在两侧之间实现出色的匹配，这可以转化为出色的方向性。

不必直接测量两个终端电阻器电流之和，也可以单独测量通过每个电阻的电流，然后将两个电流相加。

如图1-图7中任一者所示的有源定向结构10可以设计为用于网络分析仪端口的小型宽带定向电路。结构10可以完全集成在单片芯片上。

与基于平衡转换器(有源或无源)的环行器设计相比，有源定向结构10具有以下优点：由电路产生的整个信号功率可以传输到DUT。这可以减轻对衰减信号的附加(片外)无源组件的需求。

与可能的基于运算放大器的有源环行器实现方式相比，有源定向结构10可以非常快地操作，因为它可以仅包括以前馈配置操作的少数晶体管。

有源定向结构10还可以实现非常高的方向性，因为它可以基于结构上相同的两个信号路径之间的匹配(例如，参见图1-图2和图7)。

除了上面讨论的在VNA中的用途之外，结构10还可用于在无线通信或雷达设备中分离发射路径和接收路径，其中两条路径使用公共天线。

Claims (15)

1.一种用于测试和/或测量系统(60)的有源定向结构(10)，包括：

发生器端口(P1)，所述发生器端口被配置为接收发生器信号；

DUT端口(P2)，所述DUT端口被布置用于直接或间接连接被测设备DUT；

测量端口(P3)，所述测量端口被配置为输出测量信号；

参考端口(P4)，所述参考端口被配置为输出参考信号；

第一转换器(11)，所述第一转换器被配置为：

-在连接到所述发生器端口(P1)的输入端(11a)接收所述发生器信号，

-基于所述发生器信号生成测试信号并在连接到所述DUT端口(P2)的第一输出端(11b)输出所述测试信号，以及

-基于所述发生器信号生成所述参考信号并在连接到所述参考端口(P4)的第二输出端(11c)输出所述参考信号；以及

第二转换器(12)，所述第二转换器被配置为：

-在第一输入端(12b)接收所述测试信号和来自所述DUT的反射信号，

-在第二输入端(12c)接收所述参考信号，以及

-基于所述测试信号、所述反射信号和所述参考信号生成所述测量信号，并在连接到所述测量端口(P3)的输出端(12a)输出所述测量信号；

其中，所述第一转换器(11)和/或所述第二转换器(12)包括各自的晶体管电路。

2.根据权利要求1所述的有源定向结构(10)，其中，所述第一转换器(11)是功率分配器。

3.根据权利要求2所述的有源定向结构(10)，其中，所述第二转换器(12)被配置为计算在所述第一输入端(12b)接收的组合的测试信号和反射信号与在所述第二输入端(12c)接收的所述参考信号之间的差值，并基于所述差值输出所述测量信号。

4.根据权利要求1所述的有源定向结构(10)，其中，所述第一转换器(11)是单端转差分转换器。

5.根据权利要求4所述的有源定向结构(10)，其中，所述第二转换器(12)被配置为计算在所述第一输入端(12b)接收的组合的测试信号和反射信号与在所述第二输入端(12c)接收的所述参考信号的和，并基于所述和输出所述测量信号。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的有源定向结构(10)，还包括：

第一混频设备(31)，所述第一混频设备连接在所述第二转换器(12)的输出端(12a)与所述测量端口(P3)之间。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的有源定向结构(10)，还包括：

第二混频设备(32)，所述第二混频设备连接在所述第一转换器(11)的第二输出端(11c)与所述参考端口(P4)之间。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的有源定向结构(10)，还包括：

第一衰减器单元(41)，所述第一衰减器单元连接在所述第一转换器(11)的第一输出端(11b)与所述DUT端口(P2)之间；和/或

第二衰减器单元(42)，所述第二衰减器单元连接在所述第一转换器(11)的第二输出端(11c)与所述参考端口(P4)之间；和/或

第三衰减器单元(43)，所述第三衰减器单元连接在所述第二转换器(12)的输出端(12a)与所述测量端口(P3)之间。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的有源定向结构(10)，还包括：

第四衰减器单元(44)，所述第四衰减器单元直接连接在所述第二转换器(12)的第一输入端(12b)的前面；和/或

第五衰减器单元(45)，所述第五衰减器单元直接连接在所述第二转换器(12)的第二输入端(12c)的前面。

10.根据权利要求1至9中任一项所述的有源定向结构(10)，还包括：

放大器单元(51)，所述放大器单元连接在所述发生器端口(P1)与所述第一转换器(11)的输入端(11a)之间。

11.根据权利要求1至10中任一项所述的有源定向结构(10)，其中，所述有源定向结构是芯片的一部分。

12.一种测试和/或测量系统(60)，包括：

至少一个根据权利要求1至11中任一项所述的有源定向结构(10)；

信号发生器(21)，所述信号发生器被配置为生成所述发生器信号，其中，所述信号发生器(21)的输出端连接到所述有源定向结构(10)的所述发生器端口(P1)。

13.根据权利要求12所述的测试和/或测量系统(60)，其中，所述测试和/或测量系统(60)是矢量网络分析仪。

14.根据权利要求12或13所述的测试和/或测量系统(60)，还包括：

连接到所述测量端口(P3)的第一模数转换器单元(63)。

15.根据权利要求12至14中任一项所述的测试和/或测量系统(60)，还包括：

连接到所述参考端口(P4)的第二模数转换器单元(64)。