CN1294572C - 光盘装置 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种光盘装置。在对未记录盘的聚焦平衡调整中，即使在光盘上未记录数据也进行聚焦平衡调整，记录高质量的数据。作为在重放信号以外通过光盘得到的信号，使用在照射的激光的焦点与光盘(1)吻合时可检测出的、焦点不吻合时不可检测出的道跟踪位置误差信号，设置检测生成的道跟踪位置误差信号的振幅电平的最大振幅测定设备(7)，使道跟踪位置误差信号的振幅成为最大那样进行未记录盘的聚焦平衡调整。
Description
技术领域
本发明涉及光盘装置，特别涉及图谋对于未记录的光盘的聚焦平衡调整的改善。
背景技术
在已经记录数据的光盘上，作为聚焦平衡调整的方法，通过利用使用光盘得到的重放信号等，进行高精度聚焦平衡调整。通过上述调整可以提高重放信号的信号质量。
但是，在未记录数据的光盘(未记录盘)中，因为不能使用光盘得到重放信号，因此不能进行上述平衡调整方法。因此作为对于未记录盘的聚焦平衡调整方法，考虑下述的方法。
在一般的未记录盘中，构成记录轨道的导槽以预定周期曲折延伸，从实验求得，该曲折延伸成分根据聚焦平衡值变动；以及记录信号的跳动成为最小值时的聚焦平衡值和曲折延伸周期成分成为最小值时的聚焦平衡值几乎一致，进行根据曲折延伸成分的聚焦平衡调整(例如参照特开2002-269773号公报)。
另外，作为不进行平衡调整、但对未记录盘进行聚焦调整的方法，考虑下述的方法。即通过检索聚焦过零点(聚焦一致点)进行聚焦调整的方法，为缩短检索聚焦过零点的时间，使用下述方法，首先以比较快的速度使光头运动，检测道跟踪误差信号，在其附近使光头缓慢运动、检索聚焦过零点(例如参照特开平5-325199号公报)。
现有的光盘装置如上述那样构成，在对未记录盘的聚焦平衡调整中，光盘上未记录数据，不能进行使用重放信号的聚焦平衡调整。因此，因为不能记录高质量的数据，所以通过使用根据上述专利文献1介绍的曲折延伸成分进行聚焦平衡调整的方法，可以对于未记录盘进行聚焦平衡调整，可以进行高质量的数据的记录，但是另外需要进行曲折延伸周期成分的检测的电路，存在电路规模增大这样的问题。
发明内容
本发明是为了解决上述问题而提出的，其目的是，提供一种不增大电路规模、而可以进行高精度的聚焦平衡调整的光盘装置。
本发明(方案1)涉及的光盘装置，具有：输出通过加或减从光盘反射的光量而生成的、在光盘的半径方向的控制中使用的第一反射光量信号的道跟踪位置误差信号生成设备；测定所述第一反射光量信号的振幅的振幅测定设备；使在所述振幅检测设备中得到的振幅成为最大那样、调整通过加或减从所述光盘反射的光量而生成的、在光盘的垂直方向的控制中使用的第二反射光量信号的平衡的设备。
本发明(方案2)涉及的光盘装置，在方案1所述的光盘装置中，所述振幅测定设备从所述光盘转动一周或者一周以上的转动中的最大值和最小值测定所述第一反射光量信号的最大振幅。
本发明(方案3)涉及的光盘装置，在方案1所述的光盘装置中，所述振幅测定设备在所述光盘转动一周或者一周以上的转动中，求光盘的每周转动中的最大值和最小值，根据各自的平均值测定所述第一反射光量信号的最大振幅。
本发明(方案4)涉及的光盘装置，在方案1所述的光盘装置中，具有根据来自所述光盘的反射光、生成在激光光点横切所述光盘的轨道时生成的轨道横断信号的轨道横断信号生成设备，所述振幅测定设备接收所述轨道横断信号生成设备的输出，根据横断一条或者一条以上的轨道时的最大值和最小值而测定所述第一反射光量信号的最大振幅。
本发明(方案5)涉及的光盘装置，在方案1所述的光盘装置中，具有根据来自所述光盘的反射光、生成在激光光点横切所述光盘的轨道时生成的轨道横断信号的轨道横断信号生成设备，所述振幅测定设备接收所述轨道横断信号生成设备的输出，求横断一条或者一条以上的轨道时按每一条轨道的最大值和最小值，根据各自的平均值测定所述第一反射光量信号的最大振幅。
本发明(方案6)涉及的光盘装置，在方案1所述的光盘装置中，具有根据来自所述光盘的反射光、生成在激光光点横切所述光盘的轨道时生成的轨道横断信号的轨道横断信号生成设备；检测所述轨道横断信号的频率的轨道横断信号频率检测设备；和设定在输出使用所述轨道横断信号频率检测设备检测出的轨道横断信号的检测频率时的预定频率范围的频率设定设备，所述振幅测定设备接收使用所述频率设定设备设定的预定频率范围中的轨道横断信号的检测频率，根据在处于该预定频率范围时的、所述第一反射光量信号的最大值和最小值，测定所述第一反射光量信号的最大振幅。
本发明(方案7)涉及的光盘装置，在方案1所述的光盘装置中，具有根据来自所述光盘的反射光、生成在激光光点横切所述光盘的轨道时生成的轨道横断信号的轨道横断信号生成设备；检测所述轨道横断信号的频率的轨道横断信号频率检测设备；和设定在输出使用所述轨道横断信号频率检测设备检测出的轨道横断信号的检测频率时的预定频率范围的频率设定设备，所述振幅测定设备接收使用所述频率设定设备设定的预定频率范围中的轨道横断信号的检测频率，多次求在处于该规定频率范围时的、所述第一反射光量信号的最大值和最小值，根据各自的平均值测定所述第一反射光量信号的最大振幅。
本发明(方案8)涉及的光盘装置，在方案1所述的光盘装置中，所述振幅测定设备根据在所设定的任意时间内的最大值和最小值而测定所述第一反射光量信号的最大振幅。
本发明(方案9)涉及的光盘装置，在方案1到8中任何一项所述的光盘装置中，具有通过相加从所述光盘反射的光量而生成全反射光量信号的全反射光量信号生成设备，所述振幅测定设备在所述全反射光量信号成为某一定电平或其以上时进行所述第一反射光量信号的振幅测定。
根据本发明(方案1)所涉及的光盘装置，具有输出通过加或减从光盘反射的光量而生成的、在光盘的半径方向的控制中使用的第一反射光量信号的道跟踪位置误差信号生成设备；测定所述第一反射光量信号的振幅的振幅测定设备；使在所述振幅检测设备中得到的振幅成为最大那样、调整通过加或减从所述光盘反射的光量而生成的、在光盘的垂直方向的控制中使用的第二反射光量信号的平衡的设备，因为利用道跟踪位置误差信号、检测该信号的振幅进行聚焦平衡调整，所以可以精度良好地进行对光盘的数据记录，另外，因为可以以简单的结构实现对未记录盘的聚焦平衡调整，所以能够得到可以抑制成本的效果。
另外，根据本发明(方案2)所涉及的光盘装置，因为在方案1所述的光盘装置中，所述振幅测定设备根据所述光盘转动一周或者一周以上的转动中的最大值和最小值而测定所述第一反射光量信号的最大振幅，所以根据盘转动信号检测道跟踪位置误差信号的振幅、进行聚焦平衡调整，可以精度良好地进行对光盘的数据记录，另外，因为可以以简单的结构实现对未记录盘的聚焦平衡调整，所以能够得到可以抑制成本的效果。
另外，根据本发明(方案3)所涉及的光盘装置，因为在方案1所述的光盘装置中，所述振幅测定设备在所述光盘转动一周或者一周以上的转动中，求光盘的每周转动中的最大值的平均值和最小值的平均值，根据各自的平均值测定所述第一反射光量信号的最大振幅，所以即使在道跟踪位置误差信号中加入噪声的场合也可以使难于受该噪声的影响，可以稳定地进行道跟踪位置误差信号的振幅的测定，因此可以得到能精度良好地进行聚焦平衡调整的效果。
另外，根据本发明(方案4)所涉及的光盘装置，因为在方案1所述的光盘装置中，具有根据来自所述光盘的反射光、生成在激光光点横切所述光盘的轨道时生成的轨道横断信号的轨道横断信号生成设备，所述振幅测定设备接收所述轨道横断信号生成设备的输出，根据横断一条或者一条以上的轨道时的最大值和最小值而测定所述第一反射光量信号的最大振幅，所以通过根据轨道横断信号检测道跟踪位置误差信号的振幅进行聚焦平衡调整，可以精度良好地进行对光盘的数据记录，另外，因为可以以简单的结构实现对未记录盘的聚焦平衡调整，所以能够得到抑制成本的效果。
另外，根据本发明(方案5)所涉及的光盘装置，因为在方案1所述的光盘装置中，具有根据来自所述光盘的反射光、生成在激光光点横切所述光盘的轨道时生成的轨道横断信号的轨道横断信号生成设备，所述振幅测定设备接收所述轨道横断信号生成设备的输出，求横断一条或者一条以上的轨道时按每一条轨道的最大值和最小值，根据各自的平均值测定所述第一反射光量信号的最大振幅，所以即使在道跟踪位置误差信号中加入噪声的场合也可以使难于受该噪声的影响，可以稳定地进行道跟踪位置误差信号的振幅的测定，因此可以得到能精度良好地进行聚焦平衡调整的效果。
另外，根据本发明(方案6)所涉及的光盘装置，因为在方案1所述的光盘装置中，具有根据来自所述光盘的反射光、生成在激光光点横切所述光盘的轨道时生成的轨道横断信号的轨道横断信号生成设备；检测所述轨道横断信号的频率的轨道横断信号频率检测设备；和设定在输出使用所述轨道横断信号频率检测设备检测出的轨道横断信号的检测频率时的预定频率范围的频率设定设备，所述振幅测定设备接收使用所述频率设定设备设定的预定频率范围中的轨道横断信号的检测频率，根据在处于该预定频率范围时的、所述第一反射光量信号的最大值和最小值，测定所述第一反射光量信号的最大振幅，所以通过根据轨道横断信号和该轨道横断信号的频率、在短时间内检测道跟踪位置误差信号的最大和最小振幅进行聚焦平衡调整，可以在短时间内精度良好地进行对光盘的数据记录，另外，因为可以以简单的结构实现对未记录盘的聚焦平衡调整，所以能够得到抑制成本的效果。
另外，根据本发明(方案7)所涉及的光盘装置，因为在方案1所述的光盘装置中，具有根据来自所述光盘的反射光、生成在激光光点横切所述光盘的轨道时生成的轨道横断信号的轨道横断信号生成设备；检测所述轨道横断信号的频率的轨道横断信号频率检测设备；和设定在输出使用所述轨道横断信号频率检测设备检测出的轨道横断信号的检测频率时的预定的频率范围的频率设定设备，所述振幅测定设备接收使用所述频率设定设备设定的预定频率范围中的轨道横断信号的检测频率，多次求在处于该规定频率范围时的、所述第一反射光量信号的最大值和最小值，根据各自的平均值测定所述第一反射光量信号的最大振幅，所以即使在道跟踪位置误差信号中加入噪声的场合也可以使难于受该噪声的影响，可以稳定地进行道跟踪位置误差信号的振幅的测定，因此可以得到能精度良好地进行聚焦平衡调整的效果。
另外，根据本发明(方案8)所涉及的光盘装置，因为在方案1所述的光盘装置中，所述振幅测定设备根据在所设定的任意时间内的最大值和最小值而测定所述第一反射光量信号的最大振幅，所以通过检测设定时间内的道跟踪位置误差信号的振幅进行聚焦平衡调整，可以精度良好地进行对光盘的数据记录，另外，因为可以以简单的结构实施对未记录盘的聚焦平衡调整，所以能够得到可以抑制成本的效果。
另外，根据本发明(方案9)所涉及的光盘装置，因为在方案1到8中任何一项所述的光盘装置中，具有通过相加从所述光盘反射的光量而生成全反射光量信号的全反射光量信号生成设备，所述振幅测定设备在所述全反射光量信号成为某一定电平或其以上时进行所述第一反射光量信号的振幅测定，所以可以得到防止道跟踪位置误差信号的振幅的误测定的效果。
附图说明
图1是本发明的第一实施例中的光盘装置的结构的示意图。
图2是上述第一实施例所涉及的光盘装置的信号波形图。
图3是本发明的第二实施例中的光盘装置的结构的示意图。
图4是上述第二实施例所涉及的光盘装置的信号波形图。
图5是本发明的第三实施例中的光盘装置的结构的示意图。
图6(a)是用于说明上述第三实施例所涉及的光盘装置的动作的信号波形图。
图6(b)是上述第三实施例所涉及的光盘装置的信号波形图。
图7是本发明的第四实施例中的光盘装置的结构的示意图。
图8是上述第四实施例所涉及的光盘装置的信号波形图。
图9是表示上述第一实施例所涉及的光盘装置的变形例的结构图。
图10是表示上述第二实施例所涉及的光盘装置的变形例的结构图。
图11是表示上述第三实施例所涉及的光盘装置的变形例的结构图。
图12是表示上述第四实施例所涉及的光盘装置的变形例的结构图。
具体实施方式
(第一实施例)
首先，参照附图说明本发明的第一实施例所涉及的光盘装置。
图1表示本发明的第一实施例所涉及的光盘装置的结构例。在图1中，1是盘，2是为转动盘1的主轴电动机，3是用于读写盘1表面的信息的捡波器，4是检测光拾取器3的信号的光检测器，5是以光检测器4的信号为基础、生成道跟踪位置的误差信号的道跟踪位置误差信号生成设备，6是以光检测器4的信号为基础、生成光拾取器3的聚焦位置的误差信号的聚焦位置误差信号生成设备，7是进行道跟踪位置误差信号的最大振幅的测定的根据盘转动信号的最大振幅测定设备，8是测定转速设定设备，9是接受聚焦位置误差信号生成设备6的输出进行聚焦控制的聚焦控制设备。
上述道跟踪位置误差信号是在照射的激光的焦点与光盘1吻合时被检测出而在焦点不吻合时检测不出该道跟踪位置误差信号。道跟踪位置误差信号以来自光盘1的反射光为基础生成，具有在焦点最佳吻合时其振幅电平成为最大的特性。在本发明中，利用这一性质，使用上述最大振幅测定设备7检测生成的道跟踪位置误差信号的振幅电平，使该振幅成为最大那样进行未记录盘的聚焦平衡调整。
上述盘1，由主轴电动机2转动，为了读取盘1上的数据从光拾取器3输出的激光的焦点在盘面上吻合、而且为了道跟踪在盘上螺旋状配置的轨道，进行聚焦控制、道跟踪控制。
在上述道跟踪控制中，用光检测器4检测来自盘1的反射光，用道跟踪位置误差信号生成设备5加或减检测出的反射光，生成作为第一反射光量信号的道跟踪位置误差信号，进行道跟踪控制。另外，在聚焦控制中，同样，通过使用聚焦位置误差信号生成设备6加或减检测出的反射光，生成作为第二反射光量信号的聚焦位置误差信号，进行聚焦控制。
在上述根据盘转动信号(参照图2上段)的最大振幅测定设备7中，输入使用道跟踪位置误差信号生成设备5生成的道跟踪位置误差信号和由主轴电动机2得到的盘转动信号，进行道跟踪位置误差信号的最大振幅的测定。具体说，使朝向盘1的焦点即使精度较粗也行地吻合的话，在盘1的转动期间，因为通过盘1的偏心等的影响激光光点横切轨道，所以道跟踪位置误差信号如图2中段那样输出。这样，因为输出道跟踪位置误差信号，所以根据盘转动信号，可以进行在盘1转动一次或一次以上的转动期间的道跟踪位置误差信号的最大值和最小值的测定。此外，测定转速的设定，可以通过测定转速设定设备8设定，在测定中把最大振幅使用于聚焦平衡调整。
使通过上述根据盘转动信号的最大振幅测定设备7得到的最大振幅成为最大那样在聚焦位置误差信号生成设备6中进行聚焦平衡值的设定，通过进行聚焦平衡调整，求得最合适的聚焦平衡值。在上述聚焦平衡调整后使用生成的聚焦位置误差信号通过聚焦控制设备9进行光拾取器3的控制。
另外，作为在该结构中改变最大振幅测定方法的变形例，如图2的下段，在盘1转动一次或一次以上的转动期间，求盘1的每次转动的最大值和最小值，通过每次转动的最大值的平均值，另外每次转动的最小值的平均值，也可以进行最大振幅的测定。
使通过上述根据盘转动信号的最大振幅测定设备7得到的最大振幅成为最大那样在聚焦位置误差信号生成设备6中进行聚焦平衡值的设定，进行求最佳聚焦平衡值这样的聚焦平衡调整。在上述聚焦平衡调整后，使用生成的聚焦位置误差信号通过聚焦控制设备9，进行光拾取器3的控制。
根据本实施例，因为设置在激光的焦点与光盘1吻合时检测检测出的道跟踪位置误差信号的振幅电平的最大振幅测定设备7，使该振幅成为最大那样控制聚焦控制设备9调整未记录盘的聚焦平衡，所以可以使用简单结构进行聚焦平衡调整，可以精度良好地进行向未记录盘的数据记录。
另外，作为最大振幅测定方法，因为在盘1转动一次或一次以上的转动期间，求盘1的每次转动的最大值和最小值，通过利用每次转动的最大值和最小值的平均值，即使在道跟踪位置误差信号上加入噪声的场合也难于受到影响，可以稳定地进行振幅的测定，可以实施聚焦平衡调整，所以可以精度良好地进行向未记录盘的数据记录。
此外，在第一实施例中，如图9所示，也可以设置通过相加来自光盘1的反射光量生成全反射光量信号的全反射光量信号生成设备19，在全反射光量信号的信号电平成为某一电平或其以上时，在根据盘转动信号的最大振幅测定设备7中测定最大振幅这样来构成。因为全反射光量信号通过相加来自光盘1的反射光量生成，其电平低的话道跟踪位置误差信号不能正常输出，因此，通过这样的构成，可以防止道跟踪位置误差信号的振幅的误测定。
(第二实施例)
下面，参照附图说明本发明的第二实施例所涉及的光盘装置。
图3表示本第二实施例所涉及的光盘装置的结构例，在图3中，与图1相同的符号表示相同或者相当的部分，与图1所示的结构的不同在于：新设置了以来自光检测器4的信号为基础生成轨道横断信号的轨道横断信号生成设备10；代替根据盘转动信号的最大振幅测定设备7设置求来自轨道横断信号的最大振幅的最大振幅测定设备11；以及代替测定转速设定设备8设置测定条数设定设备12。
在本实施例中，和第一实施例相同，进行道跟踪位置误差信号的最大振幅的测定，但是其特征在于使用通过轨道的反射光生成的轨道横断信号这一点与第一实施例不同。
具体说，使朝向盘的焦点即使精度较粗也行地吻合的话，在盘转动期间，因为通过盘的偏心等的影响激光光点横切轨道，所以道跟踪位置误差信号如图4中段那样输出。另外，因为同时横切轨道，轨道横断信号以和图4的上段那样的、和道跟踪位置误差信号的相位关系输出。在根据轨道横断信号的最大振幅测定设备11中，利用上述轨道横断信号，进行在横切预定条数的轨道期间的道跟踪位置误差信号的最大值和最小值的测定，进行最大振幅的测定。此外，测定的轨道条数的设定，可以通过测定条数设定设备12设定，在聚焦平衡调整中使用测定中的最大的振幅。
使使用上述根据轨道横断信号的最大振幅测定设备11得到的最大振幅成为最大那样在聚焦位置误差信号生成设备6中进行聚焦平衡值的设定，进行聚焦平衡调整，由此求最适合的聚焦平衡值。在上述聚焦平衡调整后，使用生成的聚焦位置误差信号，通过聚焦控制设备9进行光拾取器3的控制。
另外，作为该结构中改变最大振幅测定方法的变形例，如图4下段所示，在横切1条或1条以上的轨道期间，求每横断1条轨道的最大值和最小值，根据每一轨道横断的最大值的平均值、而且每一轨道横断的最小值的平均值，可以进行最大振幅的测定。
使使用上述根据轨道横断信号的最大振幅测定设备11得到的最大振幅成为最大那样在聚焦位置误差信号生成设备6中进行聚焦平衡值的设定，进行求最适合的聚焦平衡值这样的聚焦平衡调整。在上述聚焦平衡调整后，使用生成的聚焦位置误差信号，通过聚焦控制设备9进行光拾取器3的控制。
根据本第二实施例所涉及的光盘装置，因为设置以来自光检测器4的信号为基础生成轨道横断信号的轨道横断信号生成设备10、求来自轨道横断信号的最大振幅的最大振幅测定设备11、和测定条数设定设备12，从根据盘的反射光生成的轨道横断信号进行道跟踪位置误差信号的最大振幅的测定，因此可以以简单的结构进行聚焦平衡调整，可以精度良好地进行对未记录盘的数据记录。
另外，在横切1条或1条以上的轨道期间，求每横断1条轨道的最大值和最小值，通过利用每一轨道横断的最大值和最小值的平均值，即使在道跟踪位置误差信号上加入噪声的场合也难于受到影响，可以稳定地进行振幅的测定，可以实施聚焦平衡调整，所以可以精度良好地进行向未记录盘的数据记录。
此外，在本第二实施例中，如图10所示，也可以设置通过相加来自光盘1的反射光量生成全反射光量信号的全反射光量信号生成设备19，在全反射光量信号的信号电平成为某一电平或其以上时，可以在根据轨道横断信号的最大振幅测定设备11中测定最大振幅。因为全反射光量信号通过相加来自光盘的反射光量生成，其电平低的话道跟踪位置误差信号不能正常输出，因此，通过这样构成，可以防止道跟踪位置误差信号的振幅的误测定。
(第三实施例)
下面，参照附图说明本发明的第三实施例所涉及的光盘装置。
图5表示本第三实施例所涉及的光盘装置的结构例，在图5中，与图3相同的符号表示相同或者相当的部分，与图3所示第二实施例的不同点在于，具备把由轨道横断信号生成设备10生成的轨道横断信号作为输入、检测该轨道横断信号的频率是否进入由频率设定设备14所设定的频率范围的频率检测设备13，把使用频率检测设备13得到的频率检测信号输入到根据频率检测信号的最大振幅测定设备15中。
在本第三实施例中，和上述各实施例相同，进行道跟踪位置误差信号的最大振幅的测定，但是其特征在于使用轨道横断信号的频率这一点与各实施例不同。
具体说，使朝向盘1的焦点即使精度较粗也行地吻合的话，在盘1转动期间，因为通过盘1的偏心等的影响激光光点横切轨道，所以道跟踪位置误差信号如图6(b)中段那样输出。另外，因为同时横切轨道，轨道横断信号以和图6(b)的上段那样的、和道跟踪位置误差信号的相位关系输出。
使用频率检测设备13测定上述轨道横断信号的频率，如图6(a)所示，如果其频率进入以频率设定设备14所设定的频率范围内的话，则输出频率检测信号，在其定时进行道跟踪位置误差信号的最大值和最小值的测定，进行最大振幅的测定。
具体说，如图6(b)，进行从频率检测信号的定时开始最初的最大值和最小值的测定，在测定的设定次数中求最大振幅。此外，测定次数的设定，可以使用测定次数设定设备16设定，把在测定中的最大振幅用于聚焦平衡调整。
通过使使用根据上述频率检测信号的最大振幅测定设备15得到的最大振幅成为最大那样在聚焦位置误差信号生成设备6中进行聚焦平衡值的设定，进行聚焦平衡调整，求最合适的聚焦平衡值。在上述聚焦平衡调整后，使用生成的聚焦位置误差信号通过聚焦控制设备9，进行光拾取器3的控制。
另外，作为该结构中改变最大振幅测定方法的变形例，如图6(b)下段所示，在轨道横断信号的频率在设定的范围内时，每次，求最大值和最小值，根据各自的最大值的平均值，另外各自的最小值的平均值，也可以进行最大振幅的测定。
通过使使用根据上述频率检测信号的最大振幅测定设备15得到的最大振幅成为最大那样在聚焦位置误差信号生成设备6中进行聚焦平衡值的设定，进行求最合适的聚焦平衡值这样的聚焦平衡调整。在上述聚焦平衡调整后，使用生成的聚焦位置误差信号通过聚焦控制设备9，进行光拾取器3的控制。
这样，根据本实施例，因为设置频率检测设备13来进行对由轨道横断信号生成设备10生成的轨道横断信号是否进入使用频率设定设备14所设定的频率范围内的检测，把用频率检测设备13得到的频率检测信号作为根据频率检测信号的最大振幅测定设备15的输入，进行道跟踪位置误差信号的最大振幅的测定，因此在聚焦平衡调整开始后，如果轨道横断信号的频率立即成为所设定的频率范围内频率的话，则因为可以用短时间进行道跟踪位置误差信号的最大值和最小值的测定，因此可以用短的时间进行聚焦平衡调整，可以精度良好地进行对未记录盘的数据记录。
另外，在轨道横断信号的频率处于设定的范围内时，通过每次求最大值和最小值、利用平均值，即使在道跟踪位置误差信号中加入噪声的场合也难于受到影响，可以稳定地进行振幅的测定，可以实施聚焦平衡调整，所以可以精度良好地进行向未记录盘的数据记录。
此外，在本第三实施例中，是通过轨道横断信号的频率进行最大振幅的测定，但是，因为轨道横断信号的频率和道跟踪位置误差信号的频率是同频率，所以可以代替轨道横断信号使用道跟踪位置误差信号来进行最大振幅的测定。
另外，在本第三实施例中，如图11所示，也可以设置通过相加来自光盘的反射光量生成全反射光量信号的全反射光量信号生成设备19，在全反射光量信号的信号电平成为某一电平或其以上时，在根据频率检测信号的最大振幅测定设备15中测定最大振幅。因为全反射光量信号通过相加来自光盘的反射光量生成，其电平低的话道跟踪位置误差信号不能正常输出，因此，通过这样构成，可以防止道跟踪位置误差信号的振幅的误测定。
(第四实施例)
下面，参照附图说明本发明的第四实施例所涉及的光盘装置。
图7表示本第四实施例所涉及的光盘装置的结构例，在图7中，与图1相同的符号表示相同或者相当的部分，与图1所示的结构的不同点在于，代替测定转速设定设备8设置测定时间设定设备18、以及代替根据盘转动信号的最大振幅测定设备7设置根据测定时间设定的最大振幅测定设备17。
在本实施例中，和上述各实施例相同，进行道跟踪位置误差信号的最大振幅的测定，但是其特征在于使用测定时间设定这一点与各实施例不同。
具体说，使朝向盘的焦点即使精度较粗也行那样地吻合的话，在盘转动期间，因为通过盘的偏心等的影响激光光点横切轨道，所以道跟踪位置误差信号如图8那样输出。在根据测定时间设定的最大振幅测定设备17中，进行在使用测定时间设定设备18设定的测定时间期间的道跟踪位置误差信号的最大值和最小值的测定，进行最大振幅的测定。此外，在测定中在聚焦平衡调整中使用最大的振幅。
通过使使用根据上述测定时间设定的最大振幅测定设备17得到的最大振幅成为最大那样在聚焦位置误差信号生成设备6中进行聚焦平衡值的设定，通过进行聚焦平衡调整求最合适的聚焦平衡值。在上述聚焦平衡调整后，使用生成的聚焦位置误差信号通过聚焦控制设备9，进行光拾取器3的控制。
根据本第四实施例所涉及的光盘装置，因为设置了根据测定时间设定的最大振幅测定设备17、测定时间设定设备18，进行测定时间内的道跟踪位置误差信号的最大振幅的测定，因此可以用简单的结构进行聚焦平衡调整，可以精度良好地进行对未记录盘的数据记录。
另外，在本第四实施例中，如图12所示，也可以设置通过相加来自光盘的反射光量生成全反射光量信号的全反射光量信号生成设备19，在全反射光量信号的信号电平成为某一电平或其以上时，在根据测定时间设定的最大振幅测定设备17中测定最大振幅。因为全反射光量信号通过相加来自光盘的反射光量生成，其电平低的话道跟踪位置误差信号不能正常输出，因此，通过这样构成，可以防止道跟踪位置误差信号的振幅的误测定。
本发明所涉及的光盘装置，具有使用道跟踪位置误差信号的聚焦平衡调整功能，在进行对未记录盘的聚焦平衡调整的场合十分有用。另外也可以作为光盘整体的聚焦平衡调整应用。
Claims (9)
1.一种光盘装置，其特征在于，具有：输出通过加或减从光盘反射的光量而生成的、在光盘的半径方向的控制中使用的第一反射光量信号的道跟踪位置误差信号生成设备；测定所述第一反射光量信号的振幅的振幅测定设备；和使在所述振幅检测设备中得到的振幅成为最大那样、调整通过加或减从所述光盘反射的光量而生成的、在光盘的垂直方向的控制中使用的第二反射光量信号的平衡的设备。
2.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于，所述振幅测定设备根据所述光盘转动一周或者一周以上的转动中的最大值和最小值而测定所述第一反射光量信号的最大振幅。
3.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于，所述振幅测定设备在所述光盘转动一周或者一周以上的转动中，求光盘的每周转动中的最大值和最小值，根据各自的平均值测定所述第一反射光量信号的最大振幅。
4.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于，具有根据来自所述光盘的反射光、生成在激光光点横切所述光盘的轨道时生成的轨道横断信号的轨道横断信号生成设备，所述振幅测定设备接收所述轨道横断信号生成设备的输出，根据横断一条或者一条以上的轨道时的最大值和最小值而测定所述第一反射光量信号的最大振幅。
5.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于，具有根据来自所述光盘的反射光、生成在激光光点横切所述光盘的轨道时生成的轨道横断信号的轨道横断信号生成设备，所述振幅测定设备接收所述轨道横断信号生成设备的输出，求横断一条或者一条以上的轨道时按每一条轨道的最大值和最小值，根据各自的平均值测定所述第一反射光量信号的最大振幅。
6.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于，具有根据来自所述光盘的反射光、生成在激光光点横切所述光盘的轨道时生成的轨道横断信号的轨道横断信号生成设备；检测所述轨道横断信号的频率的轨道横断信号频率检测设备；和设定在输出使用所述轨道横断信号频率检测设备检测出的轨道横断信号的检测频率时的预定频率范围的频率设定设备，所述振幅测定设备接收使用所述频率设定设备设定的预定频率范围中的轨道横断信号的检测频率，从在处于该预定频率范围时的所述第一反射光量信号的最大值和最小值，测定所述第一反射光量信号的最大振幅。
7.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于，具有根据来自所述光盘的反射光、生成在激光光点横切所述光盘的轨道时生成的轨道横断信号的轨道横断信号生成设备；检测所述轨道横断信号的频率的轨道横断信号频率检测设备；和设定在输出使用所述轨道横断信号频率检测设备检测出的轨道横断信号的检测频率时的预定频率范围的频率设定设备，所述振幅测定设备接收使用所述频率设定设备设定的预定频率范围中的轨道横断信号的检测频率，多次求在处于该规定频率范围时的、所述第一反射光量信号的最大值和最小值，根据各自的平均值测定所述第一反射光量信号的最大振幅。
8.根据权利要求1所述的光盘装置，其特征在于，所述振幅测定设备根据在所设定的任意时间内的最大值和最小值而测定所述第一反射光量信号的最大振幅。
9.根据权利要求1到8中任何一项所述的光盘装置，其特征在于，具有通过相加从所述光盘反射的光量而生成全反射光量信号的全反射光量信号生成设备，所述振幅测定设备在所述全反射光量信号成为某一定电平或其以上时进行所述第一反射光量信号的振幅测定。
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