CN111960844A - 一种陶瓷连接件及其制备方法和应用 - Google Patents
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Abstract
本发明属于陶瓷连接技术领域,公开了一种陶瓷连接件及其制备方法和应用,所述陶瓷连接件是将陶瓷母材连接端面进行表面抛光,然后在800~1200℃进行预氧化处理,制得附有氧化层的陶瓷母材;将两块附有氧化层的陶瓷母材按照氧化层对接放置,在反应气氛下1300~1500℃反应进行连接,制得陶瓷连接件。该方法在无压条件下制得的陶瓷连接具有良好的抗腐蚀性能,室温下接头的剪切强度为80~150MPa,在1200℃下的剪切强度为100~200MPa,残余应力为50~100MPa,该方法通过陶瓷的预氧化,氧化层反应生成与母材成分一致成份,保证连接性能,同时降低陶瓷间接头的残余应力,实现了在无压条件下陶瓷的无痕连接。
Description
技术领域
本发明属于陶瓷连接技术领域,更具体地,涉及一种陶瓷连接件及其制备方法和应用。
背景技术
Si3N4、SiC等Si基结构陶瓷一般都具有高熔点、耐腐蚀、高强、高硬、耐高温等优良特性,在军工、海洋和航空航天等高温、高腐蚀应用领域具有广泛的用途。然而,由于以上材料具有优异的力学性能,其难加工性也限制了其在复杂结构件领域的应用。因此,需要通过陶瓷之间的连接技术来制取形状复杂的零部件。对于目前较成熟的NITE相连接、固相扩散连接、MAX相连接,虽然可实现高强连接,但是通常需要较大的连接压力,不利于复杂形状部件的连接。而且,陶瓷连接通常会在中间连接层引入其他相,可能极大程度上降低其抗高温和抗腐蚀性能;同时,中间层与母材之间的热膨胀系数不匹配使得接头产生热应力,进一步降低接头的可靠性;比如,虽然玻璃陶瓷可以实现无压条件下连接,但其接头的抗高温和抗腐蚀性能较差;对于在低温、无压条件下实现的钎焊连接,其接头处的金属与陶瓷间较大的残余应力极大地降低其接头质量;基于以上研究背景,急需开发一种连接技术,使其接头具有高强度、抗高温和抗腐蚀的同时,还可以降低其残余应力。
发明内容
为了解决上述现有技术存在的不足和缺点,提供一种陶瓷连接件的制备方法。该方法通过陶瓷材料的预氧化,在反应气氛下氧化层反应生成与母材成分一致材料,保证连接性能的同时,降低陶瓷之间接头的残余应力,实现了在无压条件下陶瓷的无痕连接。
本发明的另一目的在于提供上述方法制备的陶瓷连接件,该连接件具有可靠连接强度。
本发明的再一目的在于提供上述陶瓷连接件的应用。
本发明的目的通过下述技术方案来实现:
一种陶瓷连接件的制备方法,包括如下具体步骤:
S1.在陶瓷母材连接端面进行表面抛光,然后在800~1200℃进行预氧化处理,制得附有氧化层的陶瓷母材;
S2.将两块预氧化处理的陶瓷母材的氧化层对接放置,在反应气氛下1300~1500℃反应进行连接,制得陶瓷连接件。
优选地,步骤S1中所述陶瓷母材为氮化硅或碳化硅。
优选地,所述陶瓷母材的纯度为99~99.999%。
优选地,步骤S1中所述预氧化处理的时间为1~2h。
优选地,步骤S2中所述反应气氛为碳气或氮气。
优选地,步骤S2中所述连接的时间为1~4h。
一种陶瓷连接件,所述陶瓷连接件是由上述方法制得。
优选地,所述陶瓷连接件中接头在室温下的剪切强度为80~150MPa,在1200℃下的剪切强度为100~200MPa,接头的残余应力为50~100MPa。
所述的陶瓷连接件在高温环境或腐蚀环境下海洋、航空航天或核能领域中的应用。
与现有技术相比,本发明具有以下有益效果:
1.本发明通过陶瓷材料的预氧化,在反应气氛下氧化层反应生成与母材成分一致材料,保证连接性能的同时,降低陶瓷之间接头的残余应力,实现了在无压条件下陶瓷的无痕连接,极大减小因中间层与母材的热膨胀系数不匹配而引起的热应力,提高陶瓷连接件的可靠性。
2.本发明通过陶瓷母材表面预氧化进行连接,连接过程中无需使用连接材料,极大节省成本;同时可在低温、无压条件下进行,可满足复杂结构件的连接。
3.本发明连接层处材料与母材组成一致,具有良好的抗高温和抗腐蚀性能。室温下接头的的剪切强度为80~150MPa,在1200℃下的剪切强度为100~200MPa,接头的残余应力为50~100MPa。
附图说明
图1为本发明SiC陶瓷连接件在连接前后的示意图。
具体实施方式
下面结合具体实施例进一步说明本发明的内容,但不应理解为对本发明的限制。若未特别指明,实施例中所用的技术手段为本领域技术人员所熟知的常规手段。除非特别说明,本发明采用的试剂、方法和设备为本技术领域常规试剂、方法和设备。
实施例1
1.以纯度为99.99%的SiC陶瓷为连接母材;采用金刚石研磨膏抛光至表面粗糙度为0.1μm后,将SiC陶瓷的连接表面清洗后烘干,再将其在马弗炉中进行1200℃保温1h预氧化处理,制得氧化层/SiC陶瓷;
2.按照SiC陶瓷/氧化层/氧化层/SiC陶瓷堆叠成三明治结构,在1atm的碳气氛下加热到1450℃保温2h,从而,在无压条件下实现SiC无痕连接,连接过程如图1所示。
图1为本发明SiC陶瓷连接件在连接前后的示意图。(a)为连接前,(b)为连接后。图1中(a)的黑色箭头所指的浅灰色部分表示SiC表面的氧化层,虚线表示氧化层/SiC陶瓷的氧化层接触的界面;在碳气氛环境下,SiC表面的氧化层与碳反应生成SiC,即连接后如图1中(b)所示,在图1中(b)黑色箭头的虚线处为界面,从而实现了陶瓷的无痕连接。
本实施例所制得的SiC陶瓷连接件的接头处的连接层没有气孔缺陷,SiC陶瓷连接件的接头在室温下剪切强度为150MPa,在1200℃下的剪切强度为180MPa,接头的残余应力为70MPa。
实施例2
1.以纯度为99.99%的Si3N4陶瓷为母材,采用金刚石研磨膏抛光至表面粗糙度为0.1μm后,将连接表面清洗后烘干,再将其在马弗炉中进行1000℃保温2h预氧化处理;
2.采用实施例1方法进行连接,连接过程中连接气氛为1atm的氮气气氛,连接温度为1400℃,保温4h,实现Si3N4陶瓷材料的无痕连接,制得的Si3N4接头连接层无气孔缺陷。
本实施例制备的Si3N4陶瓷连接件的接头在室温下剪切强度为100MPa,在1200℃高温下的剪切强度为110MPa,接头的残余应力为50MPa。
实施例3
1.以纯度为99.9%的Si3N4陶瓷为母材,采用金刚石研磨膏抛光至表面粗糙度为0.1μm后,将连接表面清洗后烘干,再将其在马弗炉中进行800℃保温1h预氧化处理;
2.采用实施例1方法进行连接,连接过程中连接气氛为1atm的氮气气氛,连接温度为1300℃,保温1h,实现Si3N4陶瓷材料的无痕连接,制得的Si3N4接头连接层无气孔缺陷。
本实施例制备的Si3N4陶瓷连接件接头在的室温下剪切强度为80MPa,在1200℃高温下的剪切强度为100MPa,接头的残余应力为50MPa。
实施例4
1.以纯度为99.99%的SiC陶瓷为母材,采用金刚石研磨膏抛光至表面粗糙度为0.1μm后,将连接表面清洗后烘干,再将其在马弗炉中进行1000℃保温1h预氧化处理;
2.采用实施例1方法进行连接,连接过程中连接气氛为1atm的碳气气氛,连接温度为1450℃,保温1h,实现SiC陶瓷材料的无痕连接,制得的SiC接头连接层无气孔缺陷。
本实施例制备的SiC陶瓷连接件的接头在室温下剪切强度为110MPa,在1200℃高温下的剪切强度为130MPa,接头的残余应力为60MPa。
实施例5
1.以纯度为99.999%的SiC陶瓷为母材,采用金刚石研磨膏抛光至表面粗糙度为0.1μm后,将连接表面清洗后烘干,再将其在马弗炉中进行1200℃保温2h预氧化处理;
2.采用实施例1方法进行连接,连接过程中连接气氛为1atm的氮气气氛,连接温度为1350℃,保温2h,实现SiC陶瓷材料的无痕连接,制得的SiC接头连接层无气孔缺陷。
本实施例制备的SiC陶瓷连接件的接头在室温下剪切强度为120MPa,在1200℃高温下的剪切强度为140MPa,接头的残余应力为90MPa。
上述实施例为本发明较佳的实施方式,但本发明的实施方式并不受上述实施例的限制,其他的任何未背离本发明的精神实质与原理下所作的改变、修饰、替代、组合和简化,均应为等效的置换方式,都包含在本发明的保护范围之内。
Claims (9)
1.一种陶瓷连接件的制备方法,其特征在于,包括如下具体步骤:
S1.在陶瓷母材连接端面进行表面抛光,然后在800~1200℃进行预氧化处理,制得附有氧化层的陶瓷母材;
S2.将两块预氧化处理的陶瓷母材的氧化层对接放置,在反应气氛下1300~1500℃反应进行连接,制得陶瓷连接件。
2.根据权利要求1所述的陶瓷连接件的制备方法,其特征在于,步骤S1中所述陶瓷母材为氮化硅或碳化硅。
3.根据权利要求1所述的陶瓷连接件的制备方法,其特征在于,所述陶瓷母材的纯度为99~99.999%。
4.根据权利要求1所述的陶瓷连接件的制备方法,其特征在于,步骤S1中所述预氧化处理的时间为1~2h。
5.根据权利要求1所述的陶瓷连接件的制备方法,其特征在于,步骤S2中所述反应气氛为碳气或氮气。
6.根据权利要求1所述的陶瓷连接件的制备方法,其特征在于,步骤S2中所述连接的时间为1~4h。
7.一种陶瓷连接件,其特征在于,所述陶瓷连接件是由权利要求1-6任一项所述方法制得。
8.根据权利要求7所述的陶瓷连接件,其特征在于,所述陶瓷连接件中接头在室温下的剪切强度为80~150MPa,在1200℃下的剪切强度为100~200MPa;接头的残余应力为50~100MPa。
9.权利要求7或8所述的陶瓷连接件在高温环境或腐蚀环境下海洋、航空航天或核能领域中的应用。
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