CN111854606A - Aoi返修复判站及其定位方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了AOI返修复判站，包括投射设备，所述投射设备包括投影装置、反光装置、治具平台，所述投影装置的投影方向朝向反光装置，所述投射设备具有投影仪光路，所述投影仪光路由投影装置经反光装置反射至治具平台。本发明通过设置投影装置、反光装置、治具平台，利用反光装置在有限空间内延长投影仪光路，提高在治具平台投影的面积，可对多种尺寸板卡进行有效投射。同时，本发明的投影装置相比传统的激光投射，具有多点投射功能，可以将板卡上各个不良点进行同时投射，避免了xy移动机构的应用，降低使用难度。
Description
技术领域
本发明涉及一种返修复判结构，特别是涉及AOI返修复判站，应用的AOI维修领域。
背景技术
现在的技术是通过激光投影来实现的，现有方案的缺点是在同一时间，只能投射板卡上一个缺陷点。效率低下，并且投射下的点的大小无法改变，投射的颜色也无法改变。
因为激光头投射的就是只有一个点，并且要投射下一点的话，要通过xy运动到下一个位置在投射。
发明内容
本发明提供了AOI返修复判站，以实现对板卡图像的投影。
本发明提供了AOI返修复判站，包括投射设备，所述投射设备包括投影装置、反光装置、治具平台，所述投影装置的投影方向朝向反光装置，所述投射设备具有投影仪光路，所述投影仪光路由投影装置经反光装置反射至治具平台。
进一步地，所述AOI返修复判站还包括维修工站，所述维修工站与投射设备采用无线或有线电性相连。
进一步地，所述投影装置可选为投影机
进一步地，所述反光装置包括振镜。
进一步地，所述治具平台包括传送装置、治具，所述治具安装在传送装置上。
更进一步地，所述AOI返修复判站还包括人机交互装置，所述人机交互装置与投影装置电性相连。
更进一步地，所述人机交互装置包括显示器。
一种上述AOI返修复判站的定位方法，包括：
采集板卡尺寸信息，根据板卡尺寸信息选取定位点；
在板卡上投影定位点，校正板卡或定位点，使定位点在板卡上的实际位置与投影的定位点重合；
在板卡上投影板卡图像，并在板卡图像上选取标定点；
AOI返修复判站记录标定点位置信息，并在后续投影中将标定点位置信息添加至投影图像中，进行投影定位。
进一步地，所述定位方法具体包括：
采集板卡图像信息，根据板卡图像信息确定板卡的对角点；由板卡的对角点对图像中板卡的结构定位，采集板卡尺寸信息；在图像中板卡的结构上顺序选择若干个定位点，所述定位点不少于3个；
放置板卡，按照定位点的选择顺序在板卡上依次投影，在每次投影时，校正板卡或定位点，使该定位点在板卡上的实际位置与投影的定位点位置重合，完成板卡校正；
在板卡上投影板卡图像，并在板卡图像上选取若干个标定点，所述标定点不少于2个；
AOI返修复判站记录标定点在板卡图像中的位置信息，并在后续投影中将标定点位置信息添加至投影的板卡图像中，进行投影。
更进一步地，若AOI返修复判站投影的定位点之间距离与板卡上定位点之间的实际距离不符，则进行投影校正，所述校正方法如下：
按照定位点的选择顺序在板卡上依次投影，在每次投影时，调整定位点的投影位置，使该定位点在板卡上的实际位置与投影的定位点重合，实现定位点投影位置的校正，记录校正后定位点的投影位置信息；采集各个校正后定位点的投影位置信息，变换校正前板卡图像信息，使板卡图像上的定位点与校正后的定位点重合，完成投影校正。
本发明与现有技术相比，通过设置投影装置、反光装置、治具平台，利用反光装置在有限空间内延长投影仪光路，提高在治具平台投影的面积，可对多种尺寸板卡进行有效投射。同时，本发明的投影装置相比传统的激光投射，具有多点投射功能，可以将板卡上各个不良点进行同时投射，避免了xy移动机构的应用，降低使用难度。
附图说明
图1为本发明实施例结构示意图；
图2为本发明实施例爆炸结构示意图；
图3为本发明实施例传送带结构示意图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。
需要说明的是，本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。
本发明实施例公开了AOI返修复判站，如图1、图2所示，包括投射设备，所述投射设备包括投影装置1、反光装置2、治具平台3，所述投影装置1的投影方向朝向反光装置2，所述投射设备1具有投影仪光路6，所述投影仪光路6由投影装置1经反光装置2反射至治具平台3。
其中，如图1、图2所示，投影仪光路6由投影装置1起始，经反光装置2投射至治具平台 3上。
可选的，所述AOI返修复判站还包括维修工站，所述维修工站与投射设备采用无线或有线电性相连。
其中，投射设备还包括控制装置，控制装置与维修工站之间采用无线通讯，控制装置与投影装置1相连。
在工作时，由维修工站采集AOI设备所拍摄的板卡及不良点的图片信息，并发送给控制装置，控制装置将图片信息发送给投射设备1，进行投影展示，使实际的板卡与投影重合。投射设备1将板卡上不良点的位置投射出来，使用者可以根据投影的指示快速确定不良点位置，达到快速检修的效果。
本发明实施例通过采用投影装置，相比传统的激光投影，可采用图像投影方式，同时投射多个缺陷点，达到多点投射的效果，同时，可以根据需要改变投射的颜色，达到醒目的效果。此外，本发明实施例通过采用反光装置，延长投影仪光路，克服了投射装置需要一点距离才能产生足够尺寸成像的缺点，扩大治具平台上投影的可调范围，以适应不同尺寸的板卡需求。同时，投影装置相比简单的激光投影，可更改投射颜色，方便使用者根据需要选择醒目的颜色，可有效看清投射点。
可选的，所述投影装置1可选为投影机
其中，投影机可选为极米H2、暴风Max6等型号的投影机。
可选的，所述反光装置2包括振镜。
其中，反光装置2还包括振镜调节机构，振镜安装在振镜调节机构上，可进行振镜角度调节。
可选的，所述治具平台3包括传送装置、治具，所述治具安装在传送装置上。
其中，传送装置可选为传送带6，治具固定在传送带6上。如图3所示，传送带6为PCB板传送带，投射设备安装在传送带6的一侧，反光装置位于传送带6上方，使投影装置1可向传送带6上进行投影。
在工作时，治具承托PCB产品，由传送带将PCB产品带至反光装置下方，进行返修复判。
特别的，所述AOI返修复判站还包括人机交互装置，所述人机交互装置与投影装置电性相连。
其中，人机交互装置与控制装置相连。
特别的，所述人机交互装置包括显示器41。
其中，人机交互装置还包括键盘43、鼠标42。人机交互装置根据实际需要，也可采用触控显示器，实现显示、控制一体化。
在工作时，显示器41向工作人员展示AOI的判断信息图像，工作人员通过键盘43、鼠标 42对控制装置进行操作。
本发明实施例还公开一种上述AOI返修复判站的定位方法，包括：
采集板卡尺寸信息，根据板卡尺寸信息选取定位点；
在板卡上投影定位点，校正板卡或定位点，使定位点在板卡上的实际位置与投影的定位点重合；
在板卡上投影板卡图像，并在板卡图像上选取标定点；
AOI返修复判站记录标定点位置信息，并在后续投影中将标定点位置信息添加至投影图像中，进行投影定位。
本发明实施例定位方法的具体实施过程如下：
AOI设备拍摄板卡后，维修工站采集该板卡的图像信息，并发送给控制装置，由控制装置通过显示器对使用者进行板卡图像展示；使用者控制鼠标及键盘在板卡图像上确定板卡的对角点，由于板卡多为矩形，控制装置在采集到对角点信息后，自动形成矩形框，对图像中的板卡实际结构进行框选，得到板卡的尺寸信息；使用者对框选的板卡图像的4个角落依次选取4个点作为定位点；使用者将板卡放置在治具平台上，由控制装置控制投影装置按照之前定位点的选取顺序进行依次投影，在使用者调整板卡或定位点的投影位置，使定位点的投影位置与其在板卡上的实际位置重合后再进行下一定位点的投影；在确保各个定位点的投影位置与其在板卡上的实际位置重合后，控制装置控制投影装置进行板卡图像的投影，使用者可以根据板卡结构的特殊性，在板卡图像上选取2个易于对齐的标定点，控制装置记录标定点在板卡图像中的位置信息，并在后续投影中将标定点位置信息添加至需要投影的板卡图像中，进行投影。
在上述过程中，若投影的定位点之间距离与板卡上定位点之间的实际距离不符，则需要进行投影校正，此处介绍4点校正方法如下：
将板卡放置在投影区域中，控制装置按照4个定位点之前的选择顺序，控制投影装置进行依次投影，在每次投影时，使用者可以通过鼠标及键盘来调整定位点的投影位置，使该定位点的投影与其在板卡上的实际位置重合，实现定位点投影位置的校正，控制装置记录校正后该定位点的投影位置信息；重复上述操作，依次完成4个定位点的校正；控制装置采集各个校正后定位点的投影位置信息，并将校正前板卡图像信息进行变换，使新的板卡图像信息四角与4个定位点依次重合，使新的板卡图像在投影时，投影的定位点与定位点在板卡上的实际位置重合，完成投影校正。
本发明实施例通过采用多定位点校正法，具有操作简单，投影准确的效果，可以让使用者在 5分钟之内标定完一个板式，避免了不断调成像的图片，降低操作难度。同时，本发明实施例利用多定位点校正法，在成像平面倾斜时，也可快速有效的调整投影成像情况，可适用于不同类型的治具平台上。
最后应当说明的是，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非对其限制，尽管参照上述实施例对本发明进行了详细的说明，所属领域的普通技术人员应当理解，技术人员阅读本申请说明书后依然可以对本发明的具体实施方式进行修改或者等同替换，但这些修改或变更均未脱离本发明申请待批权利要求保护范围之内。
Claims (10)
1.AOI返修复判站，其特征在于，所述AOI返修复判站包括投射设备，所述投射设备包括投影装置、反光装置、治具平台，所述投影装置的投影方向朝向反光装置，所述投射设备具有投影仪光路，所述投影仪光路由投影装置经反光装置反射至治具平台。
2.根据权利要求1所述AOI返修复判站，其特征在于，所述AOI返修复判站还包括维修工站，所述维修工站与投射设备采用无线或有线电性相连。
3.根据权利要求1所述AOI返修复判站，其特征在于，所述投影装置可选为投影机。
4.根据权利要求1所述AOI返修复判站，其特征在于，所述反光装置包括振镜。
5.根据权利要求1所述AOI返修复判站，其特征在于，所述治具平台包括传送装置、治具，所述治具安装在传送装置上。
6.根据权利要求2所述AOI返修复判站，其特征在于，所述AOI返修复判站还包括人机交互装置，所述人机交互装置与投影装置电性相连。
7.根据权利要求6所述AOI返修复判站，其特征在于，所述人机交互装置包括显示器。
8.一种权利要求1-7任一所述AOI返修复判站的定位方法，其特征在于，所述定位方法包括：
采集板卡尺寸信息，根据板卡尺寸信息选取定位点；
在板卡上投影定位点，校正板卡或定位点，使定位点在板卡上的实际位置与投影的定位点重合；
在板卡上投影板卡图像，并在板卡图像上选取标定点。
9.根据权利要求8所述定位方法，其特征在于，所述定位方法具体包括：
采集板卡图像信息，根据板卡图像信息确定板卡的对角点；由板卡的对角点对图像中板卡的结构定位，采集板卡尺寸信息；在图像中板卡的结构上顺序选择若干个定位点，所述定位点不少于3个；
放置板卡，按照定位点的选择顺序在板卡上依次投影，在每次投影时，校正板卡或定位点，使该定位点在板卡上的实际位置与投影的定位点位置重合，完成板卡校正；
在板卡上投影板卡图像，并在板卡图像上选取若干个标定点，所述标定点不少于2个；
AOI返修复判站记录标定点在板卡图像中的位置信息，并在后续投影中将标定点位置信息添加至投影的板卡图像中，进行投影。
10.根据权利要求9所述显示方法，其特征在于，若AOI返修复判站投影的定位点之间距离与板卡上定位点之间的实际距离不符，则进行投影校正，所述校正方法如下：
按照定位点的选择顺序在板卡上依次投影，在每次投影时，调整定位点的投影位置，使该定位点在板卡上的实际位置与投影的定位点重合，实现定位点投影位置的校正，记录校正后定位点的投影位置信息；采集各个校正后定位点的投影位置信息，变换校正前板卡图像信息，使板卡图像上的定位点与校正后的定位点重合，完成投影校正。
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Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB1219167A (en) * | 1966-08-05 | 1971-01-13 | Plessey Co Ltd | Improvements relating to teaching machines |
| EP0027054A2 (en) * | 1979-10-09 | 1981-04-15 | Robert Fleming Trustee Co Limited | Indicating the required location of a component to be assembled on a workpiece |
| TWI585398B (zh) * | 2016-06-08 | 2017-06-01 | 皓琪科技股份有限公司 | Projection-type printed circuit board re-inspection system and methods, and marking the location of the defect |
| CN108007942A (zh) * | 2017-11-22 | 2018-05-08 | 牧德科技股份有限公司 | 投影式复检机及其校正方法 |
| CN109142380A (zh) * | 2018-09-19 | 2019-01-04 | 广州视源电子科技股份有限公司 | 电路板的故障检测方法、装置和系统 |
| CN110006903A (zh) * | 2018-01-05 | 2019-07-12 | 皓琪科技股份有限公司 | 印刷电路板复检系统、标示方法与复检方法 |
| CN110763703A (zh) * | 2018-07-27 | 2020-02-07 | 皓琪科技股份有限公司 | 一种辅助印刷电路板快速定位定点放大观察的投影式系统 |
| CN212658202U (zh) * | 2020-07-31 | 2021-03-05 | 广州镭晨智能科技有限公司 | Aoi返修复判站 |
-
2020
- 2020-07-31 CN CN202010755590.4A patent/CN111854606A/zh active Pending
Patent Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB1219167A (en) * | 1966-08-05 | 1971-01-13 | Plessey Co Ltd | Improvements relating to teaching machines |
| EP0027054A2 (en) * | 1979-10-09 | 1981-04-15 | Robert Fleming Trustee Co Limited | Indicating the required location of a component to be assembled on a workpiece |
| TWI585398B (zh) * | 2016-06-08 | 2017-06-01 | 皓琪科技股份有限公司 | Projection-type printed circuit board re-inspection system and methods, and marking the location of the defect |
| CN108007942A (zh) * | 2017-11-22 | 2018-05-08 | 牧德科技股份有限公司 | 投影式复检机及其校正方法 |
| CN110006903A (zh) * | 2018-01-05 | 2019-07-12 | 皓琪科技股份有限公司 | 印刷电路板复检系统、标示方法与复检方法 |
| CN110763703A (zh) * | 2018-07-27 | 2020-02-07 | 皓琪科技股份有限公司 | 一种辅助印刷电路板快速定位定点放大观察的投影式系统 |
| CN109142380A (zh) * | 2018-09-19 | 2019-01-04 | 广州视源电子科技股份有限公司 | 电路板的故障检测方法、装置和系统 |
| CN212658202U (zh) * | 2020-07-31 | 2021-03-05 | 广州镭晨智能科技有限公司 | Aoi返修复判站 |
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