CN111811566A - 一种智能测试平台及其测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种智能测试平台及其测试方法，包括上位机，所述的上位机通过以太网交换机分别与人机界面和PLC连接，所述的PLC与测试设备连接。所述的上位机、人机界面和PLC均通过以太网通讯与以太网交换机连接，所述的PLC通过CAMO通讯与测试设备连接。本发明通过自动化结构设计，提升了测试效率和产品质量。本发明通过测试平台提供的自动化能力，测试用例能够重复执行，无须人工参与，大大提升了测试效率。
Description
技术领域
本发明涉及测试系统领域，具体地说，特别涉及到一种智能测试平台及其测试方法。
背景技术
测试平台就是一种用来实现功能测试的体系。测试平台平台包括各种不同的元素，架构，流程，标准，机制和工具等。传统的测试平台是的自动化程度低，重复的工作多，导致测试效率低。
发明内容
本发明的目的在于针对现有技术中的不足，提供一种智能测试平台及其测试方法，以解决现有技术中存在的问题。
本发明所解决的技术问题可以采用以下技术方案来实现：
一种智能测试平台，包括上位机，所述的上位机通过以太网交换机分别与人机界面和PLC连接，所述的PLC与测试设备连接。
所述的上位机、人机界面和PLC均通过以太网通讯与以太网交换机连接，所述的PLC通过CAMO通讯与测试设备连接。
一种测试平台的测试方法，包括如下步骤：
上位机发出信息给PLC，PLC接收、分析和判断信息是否正确，
若信息判断结果为错误，则测试设备停止运行，并向上位机发出警告；
若信息判断结果为正确，则将分析完成的数据发送至变频器或交流接触器，并由变频器或交流接触器输出电流，使测试设备按上位机的信息运行；
激光测距仪、光电和极限开关将采集到距离的数值反馈至PLC进行判断；
若判断结果为错误，则测试设备报警，向PLC发送采集到的数据，PLC反馈并处理数据，然后PLC上位机反馈并由上位机记录问题；
若判断结果为正确，则将分析完成的数据发送给变频器或交流接触器，变频器或交流接触器输出电流，使测试平台运行到数据位置；
测试设备按上位机指令运行，记录测试次数；
若测试设备运行错误，则测试设备报警，向PLC发送采集到的数据，PLC反馈并处理数据，然后PLC上位机反馈并由上位机记录问题；
若测试设备运行正确，则将测试设备运行时产生的距离次数异常统计发送给上位机记录，测试设备测试完成。
进一步的，所述上位机具有界面刷新显示功能、单个命令按钮功能和连续运行功能。
进一步的，所述的界面刷新显示功能的流程为：从测试设备获取状态信息，将状态信息存入程序内存，最后从内存中异步取出状态信息，并更新到显示界面上。
进一步的，所述的单个命令按钮功能的流程为：按下上位机的人机界面上的单个命令按钮，向测试设备发送上升、下降或伸出的单个命令，测试设备按单个命令执行动作。
进一步的，所述的连续运行功能的流程为：向上位机输入要循环的次数，按下启动按钮，上位机向测试设备发送命令，测试设备开始动作的同时，向log记录档插入一行，并向运行内存新建数据表；当循环达到设定次数时，把数据表写入excel文档作为报表。
与现有技术相比，本发明的有益效果在于：
1.自动化结构设计，提升了测试效率和产品质量。
2.通过测试平台提供的自动化能力，测试用例能够重复执行，无须人工参与，大大提升了测试效率。
附图说明
图1为本发明所述的智能测试平台的结构示意图。
图2为本发明所述的智能测试平台测试流程图。
图3为本发明所述的上位机界面刷新显示功能流程图。
图4为本发明所述的上位机单个命令按钮功能流程图。
图5为本发明所述的上位机连续运行功能流程图。
具体实施方式
为使本发明实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本发明。
参见图1至图5，本发明所述的一种智能测试平台，包括上位机，所述的上位机通过以太网交换机分别与人机界面和PLC连接，所述的PLC与测试设备连接。
所述的上位机、人机界面和PLC均通过以太网通讯与以太网交换机连接，所述的PLC通过CAMO通讯与测试设备连接。
一种测试平台的测试方法，包括如下步骤：
上位机发出信息给PLC，PLC接收、分析和判断信息是否正确，
若信息判断结果为错误，则测试设备停止运行，并向上位机发出警告；
若信息判断结果为正确，则将分析完成的数据发送至变频器或交流接触器，并由变频器或交流接触器输出电流，使测试设备按上位机的信息运行；
激光测距仪、光电和极限开关将采集到距离的数值反馈至PLC进行判断；
若判断结果为错误，则测试设备报警，向PLC发送采集到的数据，PLC反馈并处理数据，然后PLC上位机反馈并由上位机记录问题；
若判断结果为正确，则将分析完成的数据发送给变频器或交流接触器，变频器或交流接触器输出电流，使测试平台运行到数据位置；
测试设备按上位机指令运行，记录测试次数；
若测试设备运行错误，则测试设备报警，向PLC发送采集到的数据，PLC反馈并处理数据，然后PLC上位机反馈并由上位机记录问题；
若测试设备运行正确，则将测试设备运行时产生的距离次数异常统计发送给上位机记录，测试设备测试完成。
所述上位机具有界面刷新显示功能、单个命令按钮功能和连续运行功能。
所述的界面刷新显示功能的流程为：从测试设备获取状态信息，将状态信息存入程序内存，最后从内存中异步取出状态信息，并更新到显示界面上。
所述的单个命令按钮功能的流程为：按下上位机的人机界面上的单个命令按钮，向测试设备发送上升、下降或伸出的单个命令，测试设备按单个命令执行动作。
所述的连续运行功能的流程为：向上位机输入要循环的次数，按下启动按钮，上位机向测试设备发送命令，测试设备开始动作的同时，向log记录档插入一行，并向运行内存新建数据表；当循环达到设定次数时，把数据表写入excel文档作为报表。
该测试方式主要完成以下功能：
a)多种类设备测试，由测试人员自行选择
b)与设备之间的通信
--与上位机的通信表单制作报表生成，
--与测距仪的通信，实现位置数据的传输
--与控制模块的通信，实现声光报警、输出控制信号及手自动控制。
c)控制电路
--集中等待服务流程控制
--对传感元件采集数据的接续流程控制
--对分站接口通信等待的接续流程控制
--对控制模块的接续流程控制
d)其他功能
--在上位电脑上下达设备部件命令和设备连续命令
--在上位电脑内生成命令发送记录和报表
e)其他功能
--过载跳闸保护
--电流电压异常保护
--相序确认保护
1.1测试系统内容
PLC控制程序——用于控制智能测试平台设备动作的标准程式。
触控屏画面程序——用于智能测试平台的下位监控画面标准程式。
电气系统电路图——电气系统硬件电路设计标准图纸。
1.2电气控制系统功能适用范围
1、智能有轨单巷道单伸堆垛机
2、链条滚筒式输送线
3、智能有轨穿梭车
4、油压单元
5、升降设备
6、栈板收集分配机
7、叉牙设备
1.3电气控制系统基本功能说明
参数化适用功能——通过软件参数设定的变更，该软件可适用于满足以上7项所述范围设备控制需求。
参数可视化调试功能——所有需要设定的控制参数均通过触控屏画面与设备调试工程师对话，完成设备设试工作。
设备学习功能——参数设定完成后，可启动学习功能，执行简单的设备动作验证参数的合理化及硬件系统稳定性。
设备操作权限控制——设备有严格的操作权限控制
A：状态查看——通过触控屏画面权可查阅设备当前的动作状态，不可执行任何控制操作。
B：监控——通过触控屏画面可查阅设备当前的动作状态和操作设备。
C：设备维护——通过触控屏画面可查阅设备当前的动作状态和操作设备，并可修改部分非关键性设备参数。
D：设备调试——通过触控屏画面可查阅设备当前的动作状态和操作设备，并可修改全部设备参数，执行设备调试作业。
手动功能——通过触控屏画面可就近操作设备的机械动作，执行异常维护和手动测试动作。
自动功能——通过触控屏画面可就近书写测试任务并启动执行。
电脑连线功能——通过管理电脑，直接下达测试任务，实施整体测试。
异常维护——设备发生任务异常，均以声光报警告知维护人员。并给出具体的异常代码，通过帮助页面得知异常简易说明，通过设备操作说明书异常维护的代码含义可便捷的得知处理方法。
1.4监控程序的数据输入数据和输出数据及状态转移图
1.4.1输出数据：
a)通过以太/网口光通讯发向分站连续传送实时数据及控制信息；
b)通过CAMO口向变频器发送动作信息；
c)通过IO口的控制数据(如声光报警、断电控制、看门狗脉冲输出等等)。
d)通过以太网口光通讯向上位机发送设备当前的状态及运行次数。
1.4.2输入数据：
a)通过CAMPOEN通讯接收镭射的回答信息数据；
统计升降和走形的距离
b)通过以太网口光通讯接收上位机的回答信息数据；
c)通过I0接收外部存储器的设置参数信息数据；
d)通过PLC上的高速计数模块统计升降和走形的距离
e)通过光电传感器及极限开关记录设备运行时的次数。
f)来自其他硬件的状态数据
这些数据信号按工程标准的状态转移图对各种状态进行控制。
1.5上位电脑的软件界面和命令发送
a)在界面上显示设备运行次数，设备当前连接情况，设备当前正在执行的命令等；
b)在界面上使用上升，下降，滚动，伸出等单个命令按钮来命令设备动作；
c)在界面上设定连续运行次数，使用连续运行按钮生成运行中记录和运行完毕报表。
1.6内存和进程时间分配
所有程序均在ROM中执行，输入的数据均为全局变量。所有程序入口均有位标志来判断本程序是否进入运行。大多很快(大约十几的机器周期)返回主循环调度程序，在进入的程序中有一定时间控制的部分均考虑对外来数据(如串口收处理、外部中断口通信及供电电压检测等)的及时处理。
大多数程序的进入一次最大执行时间均不超过10ms。
2.启动自检程序
设备各监控画面均有设备运行异常码的实时显示，另在自动任务数据、电脑任务数据下达时有数据异常码给出。异常码的异常说明均在人机上异常目录画面查阅，
设备异常种类介绍
3.1传感器系统异常：传感器的信号输入逻辑错误，传感器损坏或误动作。
2驱动系统异常：设备各元件自检有异常时，将输出异常信号。
3PLC硬件异常：PLC硬件自检异常。
4操作异常：人员执行了非正常的操作。
5保护系统异常：设备保护系统动作并报警输出。
6动作异常：设备动作执行时设备自检动作出现异常。
7任务命令异常：自动任务数据、电脑任务数据、当前任务数据错误，当前任务数据错误时设备将停止并给出声光报警。自动任务数据、电脑任务数据异常时仅在相关界面给出此异常码，而不会影响设备当前动作。
3.2接口设计
该设备以工业以太网的方式和电脑通讯，智能测试平台以％MW区(其中的一部分)作为基础电脑信息的交换区域，设备将自身的实时状态以％MW的各个位或字的状态呈现。电脑通过读取该％MW区得知设备的当前状态，并通过％MW区，电脑将设备的驱动命令写给设备，在正确的条件下设备安装电脑的命令开始动作。总之在电脑对设备的监控功能实现中，智能测试平台处于被动读写的状态。
以上显示和描述了本发明的基本原理和主要特征和本发明的优点。本行业的技术人员应该了解，本发明不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本发明的原理，在不脱离本发明精神和范围的前提下，本发明还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本发明范围内。本发明要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。
Claims (7)
1.一种智能测试平台，其特征在于：包括上位机，所述的上位机通过以太网交换机分别与人机界面和PLC连接，所述的PLC与测试设备连接。
2.根据权利要求1所述的智能测试平台，其特征在于，所述的上位机、人机界面和PLC均通过以太网通讯与以太网交换机连接，所述的PLC通过CAMO通讯与测试设备连接。
3.一种测试平台的测试方法，其特征在于：包括如下步骤：
上位机发出信息给PLC，PLC接收、分析和判断信息是否正确，
若信息判断结果为错误，则测试设备停止运行，并向上位机发出警告；
若信息判断结果为正确，则将分析完成的数据发送至变频器或交流接触器，并由变频器或交流接触器输出电流，使测试设备按上位机的信息运行；
激光测距仪、光电和极限开关将采集到距离的数值反馈至PLC进行判断；
若判断结果为错误，则测试设备报警，向PLC发送采集到的数据，PLC反馈并处理数据，然后PLC上位机反馈并由上位机记录问题；
若判断结果为正确，则将分析完成的数据发送给变频器或交流接触器，变频器或交流接触器输出电流，使测试平台运行到数据位置；
测试设备按上位机指令运行，记录测试次数；
若测试设备运行错误，则测试设备报警，向PLC发送采集到的数据，PLC反馈并处理数据，然后PLC上位机反馈并由上位机记录问题；
若测试设备运行正确，则将测试设备运行时产生的距离次数异常统计发送给上位机记录，测试设备测试完成。
4.根据权利要求3所述的测试平台的测试方法，其特征在于：所述上位机具有界面刷新显示功能、单个命令按钮功能和连续运行功能。
5.根据权利要求3所述的测试平台的测试方法，其特征在于：所述的界面刷新显示功能的流程为：从测试设备获取状态信息，将状态信息存入程序内存，最后从内存中异步取出状态信息，并更新到显示界面上。
6.根据权利要求3所述的测试平台的测试方法，其特征在于：所述的单个命令按钮功能的流程为：按下上位机的人机界面上的单个命令按钮，向测试设备发送上升、下降或伸出的单个命令，测试设备按单个命令执行动作。
7.根据权利要求3所述的测试平台的测试方法，其特征在于：所述的连续运行功能的流程为：向上位机输入要循环的次数，按下启动按钮，上位机向测试设备发送命令，测试设备开始动作的同时，向log记录档插入一行，并向运行内存新建数据表；当循环达到设定次数时，把数据表写入excel文档作为报表。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20201023 |
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| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |