CN111681701B - 测试进度指示方法、装置 - Google Patents

Abstract

本申请涉及一种测试进度指示方法、装置，该方法包括：设置多个采样阶段；通过采样获取固态硬盘上电测试后的工作电流，并基于工作电流的变化先后获取固态硬盘测试过程中每个采样阶段的特征电流，特征电流表征对应采样阶段的结束；当获取到最后一个采样阶段的特征电流时，指示固态硬盘测试完成。通过本申请实现了自动监测固态硬盘测试进度，自动提示测试是否完成，操作简便，节省人力，效率高。

Description

测试进度指示方法、装置

技术领域

本申请涉及固态硬盘技术领域，尤其涉及一种测试进度指示方法、装置。

背景技术

固态硬盘可靠性验证测试(Reliability Demonstration Testing)，简称RDT测试。RDT测试是固态硬盘内的自测程序测试闪存颗粒的过程。RDT测试是否完成可以依靠一颗位于固态硬盘的LED的闪烁状态来指示。但是由于固态硬盘的RDT测试时间较长(4-10小时)，现有技术主要依靠操作员工来回巡视，以查看RDT是否测试完毕，效率低下。且固态硬盘种类繁多，依靠经验设定闹钟时间，操作难度较高而且繁琐，不具有普遍适用性。

发明内容

为了解决上述固态硬盘测试需要依靠操作员工来回巡视以查看测试是否完成，效率低下的技术问题，本申请实施例提供了一种测试进度指示方法、装置。

第一方面，本申请实施例提供了一种测试进度指示方法，应用于固态硬盘，该方法包括：

设置多个采样阶段；

通过采样获取固态硬盘上电测试后的工作电流，并基于工作电流的变化先后获取固态硬盘测试过程中每个采样阶段的特征电流，特征电流表征对应采样阶段的结束；其中，所示工作电流为一种采样电流，通过采样电压获取；

当获取到最后一个采样阶段的特征电流时，指示固态硬盘测试完成。

可选地，基于工作电流的变化先后获取固态硬盘测试过程中每个采样阶段的特征电流，包括：

根据采样阶段的上一采样阶段的特征电流获取对应采样阶段的参考电流，其中，采样阶段的参考电流与对应采样阶段的上一采样阶段的特征电流之比小于1；

基于采样阶段获取到的工作电流的变化，并结合对应的参考电流获取对应采样阶段的特征电流。

可选地，在根据采样阶段的上一采样阶段的特征电流获取对应采样阶段的参考电流之前，基于工作电流的变化先后获取固态硬盘测试过程中每个采样阶段的特征电流，还包括：

设置每个采样阶段的电流系数，电流系数为采样阶段的参考电流与对应采样阶段的上一采样阶段的特征电流之比。

可选地，若采样阶段为第一采样阶段，基于采样阶段获取到的工作电流的变化，并结合对应的参考电流获取对应采样阶段的特征电流，包括：

基于第一采样阶段通过采样获取到的工作电流，通过电流值的比较获取第一预设数量的依次递增的第一工作电流，其中，依次递增的第一工作电流均大于第一采样阶段的参考电流；

将第一预设数量的依次递增的第一工作电流中的最大电流作为第一采样阶段的特征电流。

可选地，若采样阶段为非第一采样阶段，基于采样阶段获取到的工作电流的变化，并结合对应的参考电流获取对应采样阶段的特征电流，包括：

基于对应的非第一采样阶段通过采样获取到的工作电流，通过电流值的比较获取第二预设数量的连续递减的第二工作电流，其中，连续递减的第二工作电流均小于对应的非第一采样阶段的参考电流；

将第二预设数量的连续递减的第二工作电流中的最小电流作为对应的非第一采样阶段的特征电流。

可选地，多个采样阶段包括三个采样阶段。

可选地，指示固态硬盘测试完成，包括：

通过声音提示、灯光提示中的至少一种指示固态硬盘测试完成。

可选地，该方法还包括：

显示工作电流，

或，

显示第一工作电流、第二工作电流。

可选地，该方法还包括：

指示对应的采样阶段的特征电流已获取到。

第二方面，本申请实施例提供了一种测试进度指示装置，应用于固态硬盘，该装置包括：依次连接的采样电路、控制电路、指示电路；

采样电路与固态硬盘连接，用于采集固态硬盘测试过程中的工作电流；

控制电路用于设置多个采样阶段；

控制电路还用于通过采样电路通过采样获取固态硬盘上电测试后的工作电流，并基于工作电流的变化先后获取固态硬盘测试过程中每个采样阶段的特征电流，特征电流表征对应采样阶段的结束；

控制电路还用于当获取到最后一个采样阶段的特征电流时，输出控制信息以控制指示电路指示固态硬盘测试完成。

第三方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时，使得处理器执行如前面所述任一项的方法的步骤。

第四方面，本申请实施例提供了一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行程序时执行如前面所述任一项的方法的步骤。

本申请实施例提供的上述技术方案与现有技术相比具有如下优点：

本申请通过设置多个采样阶段，通过采样获取固态硬盘上电测试后的工作电流，并基于工作电流的变化先后获取固态硬盘测试过程中每个采样阶段的特征电流，特征电流表征对应采样阶段的结束；当获取到最后一个采样阶段的特征电流时，指示固态硬盘测试完成。通过本申请实现了自动监测固态硬盘测试进度，自动提示测试是否完成，操作简便，节省人力，效率高。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本发明的实施例，并与说明书一起用于解释本发明的原理。

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为一个实施例中测试进度指示方法的流程示意图；

图2为一个实施例中测试过程中电流的变化曲线图；

图3为一个实施例中测试进度指示装置的结构框图；

图4为一个实施例中测试进度指示装置的电路图；

图5为一个实施例中测试进度指示装置的电路图。

具体实施方式

为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

图1为一个实施例中测试进度指示方法的流程示意图。参考图1，该方法包括以下步骤：

S100：设置多个采样阶段。

具体地，固态硬盘的种类繁多，可以统一设置相同数量的采样阶段，也可以根据固态硬盘的种类设置各自的采样阶段的数量。例如，一个固态硬盘的测试可以设置3个采样阶段。通过接收用户的参数设置指令来设置多个采样阶段。

S200：通过采样获取固态硬盘上电测试后的工作电流，并基于工作电流的变化先后获取固态硬盘测试过程中每个采样阶段的特征电流，特征电流表征对应采样阶段的结束。

具体地，工作电流的变化即为固态硬盘可靠性验证测试(ReliabilityDemonstration Testing，以下简称RDT测试)运行过程的电流的变化，RDT测试的实际过程是主控单片机对存储IC的读写测试，读和写的电流是不同的，因此通过采集采样电阻的工作电压可以用来表征测试运行过程中固态硬盘工作电流的变化。工作电流的变化也表征了测试状态。获取到的工作电流是采样电阻的采样电压与采样电阻阻值的比值。RDT测试过程中有电流上升的阶段也有电流下降的阶段，通过对测试过程中电流的变化的监控实现了对测试进度的监控。测试过程采样阶段都得到了对应的特征电流，则代表该采样阶段完成，当最后一个采样阶段的特征电流获取到了，则代表整个RDT测试完成。工作电流为一种采样电流，通过采样电压获取。

S300：当获取到最后一个采样阶段的特征电流时，指示固态硬盘测试完成。

具体地，当获取到最后一个采样阶段的特征电流后，则代表整个RDT测试的完成，可以通过控制声音提示模块和/或灯光提示模块工作实现通过声音提示、灯光提示中的至少一种指示固态硬盘测试完成。

在一个实施例中，步骤S200中基于工作电流的变化先后获取固态硬盘测试过程中每个采样阶段的特征电流，包括：

根据采样阶段的上一采样阶段的特征电流获取对应采样阶段的参考电流，其中，采样阶段的参考电流与对应采样阶段的上一采样阶段的特征电流之比小于1；

基于采样阶段获取到的工作电流的变化，并结合对应的参考电流获取对应采样阶段的特征电流。

具体地，采样阶段的参考电流是该采样阶段电流的上限值或下限值，采样阶段获取到的工作电流小于该采样阶段的参考电流或大于该采样阶段的参考电流。当前采样阶段的参考电流小于上一采样阶段的特征电流，例如，可以取参考电流为上一采样阶段的特征电流的70％或80％等不局限于此；也可以根据实际情况对每个采样阶段与上一采样阶段的特征电流的比值进行单独约束，例如第二采样阶段的参考电流为第一采样阶段的特征电流的70％，第三采样阶段的参考电流为第二采样阶段的特征电流的80％等等不局限于此。

特征电流表征对应采样阶段的结束，特征电流小于对应的参考电流，或大于对应的参考电流；在电流上升的采样阶段，特征电流大于对应的参考电流；在电流下降的采样阶段，特征电流小于对应的参考电流。

在一个实施例中，在根据采样阶段的上一采样阶段的特征电流获取对应采样阶段的参考电流之前，步骤S200中基于工作电流的变化先后获取固态硬盘测试过程中每个采样阶段的特征电流，还包括：

设置每个阶段的电流系数，该电流系数为采样阶段的参考电流与对应采样阶段的上一采样阶段的特征电流之比。

具体地，可以预先设置每个采样阶段的电流系数，电流系数为采样阶段的参考电流与对应采样阶段的上一采样阶段的特征电流之比；即，电流系数小于1，每个采样阶段的电流系数可以相同，也可以独立设置为不同的值。例如：第一采样阶段的参考电流可以是预设的，也可以是0，第二采样阶段的电流系数可以是70％，第三采样阶段的电流系数可以是80％等等不局限于此。

在一个实施例中，若采样阶段为第一采样阶段，基于采样阶段获取到的工作电流的变化，并结合对应的参考电流获取对应采样阶段的特征电流，包括：

基于第一采样阶段通过采样获取到的工作电流，通过电流值的比较获取第一预设数量的依次递增的第一工作电流，其中，依次递增的第一工作电流均大于第一采样阶段的参考电流；

将第一预设数量的依次递增的第一工作电流中的最大电流作为第一采样阶段的特征电流。

具体地，第一采样阶段的参考电流可以是预设的，可以设为0或较小的电流值，第一采样阶段是电流上升的阶段，当电流上升使工作电流同步上升到大于第一采样阶段的参考电流时，将获取到的大于第一采样阶段的参考电流，且依次递增的工作电流作为第一工作电流，当获取到第一预设数量的第一工作电流后，表征该第一采样阶段结束。第一预设数量的第一工作电流中每个第一工作电流均大于第一采样阶段的参考电流，且先后获取到的第一工作电流的电流值是逐渐递增的。

例如：第二个获取到的第一工作电流大于第一个获取到的第一工作电流，第三个获取到的第一工作电流大于第二个获取到的第一工作电流，第四个获取到的第一工作电流大于第三个获取到的第一工作电流，以此类推。第一工作电流可以是连续获取到的，也可以不是连续获取到的。具体地，可以设置一个max变量，max变量的初始值为第一采样阶段的参考电流，获取到第一个工作电流后与max变量的初始值比较，若第一工作电流大于max变量的初始值，则将第一个工作电流作为第一工作电流赋值给max变量，若第一个工作电流小于max变量的初始值，则舍弃第一个工作电流，继续获取第二个工作电流；获取第二个工作电流，将第二个工作电流与max变量比较，若第二个工作电流大于max变量，则将第二个工作电流作为第一工作电流赋值给max变量，若第二个工作电流小于max变量，则舍弃第二个工作电流，继续获取第三个工作电流，直到max变量被更改第一预设数量次，即，得到第一预设数量的第一工作电流为止。得到的最后一个第一工作电流是这些第一工作电流中的最大电流，也是该第一采样阶段的特征电流，最后一个第一工作电流表征了第一采样阶段的结束。可选地，第一预设数量可以是6，即先后获取6个依次递增的第一工作电流，max变量被赋值更改6次。

在一个实施例中，采样阶段为非第一采样阶段，基于采样阶段获取到的工作电流的变化，并结合对应的参考电流获取对应采样阶段的特征电流，包括：

基于对应的非第一采样阶段通过采样获取到的工作电流，通过电流值的比较获取第二预设数量的连续递减的第二工作电流，其中，连续递减的第二工作电流均小于对应的非第一采样阶段的参考电流；

将第二预设数量的连续递减的第二工作电流中的最小电流作为对应的非第一采样阶段的特征电流。

具体地，当采样阶段为除第一采样阶段外的其他采样阶段时，则每个非第一采样阶段的参考电流为该非第一采样阶段的电流系数与其上一采样阶段的特征电流的乘积。

非第一采样阶段是电流连续下降或有升有降的阶段，当电流下降使工作电流同步下降到小于对应的非第一采样阶段的参考电流时，将获取到的小于非第一采样阶段的参考电流，且连续递减的工作电流作为第二工作电流，当获取到第二预设数量的第二工作电流后，表征该非第一采样阶段结束。第二预设数量的第二工作电流中每个第二工作电流均小于该非第一采样阶段的参考电流，且连续获取到的第二工作电流的电流值是逐渐递减的。

例如：第二个获取到的第二工作电流小于第一个获取到的第二工作电流，第三个获取到的第二工作电流小于第二个获取到的第二工作电流，第四个获取到的第二工作电流小于第三个获取到的第二工作电流，以此类推。第二工作电流是连续获取到的，在非第二采样阶段刚开始获取到的大于该非第二采样阶段的参考电流的工作电流舍弃，且重新连续获取第二预设数量的第二工作电流。

具体地，可以设置一个min变量，min变量的初始值为该非第一采样阶段的参考电流，获取到第一个工作电流后与min变量的初始值比较，若第一个工作电流小于min变量的初始值，则将第一个工作电流作为第二工作电流赋值给min变量，若第一个工作电流大于min变量的初始值，则舍弃第一个工作电流，继续获取第二个工作电流；获取第二个工作电流，将第二个工作电流与min变量比较，若第二个工作电流小于min变量，则将第二个工作电流作为第二工作电流赋值给min变量，若第二个工作电流大于min变量，则舍弃第二个工作电流，且将已获取到的第二工作电流的个数清零，重新累计，min变量重新赋值为初始值，继续获取第三个工作电流；获取第三个工作电流，若min变量为第二个工作电流，则将第三个工作电流与min变量比较，若第三个工作电流小于min变量，则将第三个工作电流作为第二工作电流赋值给min变量，若第三个工作电流大于min变量，则舍弃第三个工作电流，且将已获取到的第二工作电流的个数清零，重新累计，min变量重新赋值为初始值，继续获取第四个工作电流；若min变量为初始值，则将第三个工作电流与min变量比较，若第三个工作电流小于min变量，则将第三个工作电流作为第二工作电流赋值给min变量，若第三个工作电流大于min变量，则舍弃第三个工作电流，且将已获取到的第二工作电流的个数清零，重新累计，继续获取第四个工作电流；如此类推，直到min变量连续被更改第二预设数量次，即，得到第二预设数量的第二工作电流为止。得到的最后一个第二工作电流是这些第二工作电流中的最小电流，也是该非第一采样阶段的特征电流，最后一个第二工作电流表征了该非第一采样阶段的结束。可选地，第二预设数量可以是6，即先后获取6个连续递减的第二工作电流，min变量被连续赋值更改6次。

在一个实施例中，该方法还包括显示工作电流，或，显示第一工作电流、第二工作电流。

具体地，可以通过显示屏或数码管显示每个工作电流，或者，仅仅显示第一采样阶段的第一工作电流和/或其他采样阶段的第二工作电流。方便操作人员通过显示的工作电流的电流值初步判断固态硬盘测试是否正常或固态硬盘是否有重大缺陷而导致测试异常。

在一个实施例中，该方法还包括：指示对应的采样阶段的特征电流已获取到。

具体地，可以设置每个采样阶段对应一个发光二极管，当获取到特征电流后，通过控制发光二极管指示对应采样阶段的特征电流已获取到。方便操作人员随时了解测试过程中的中途进度。

应该理解的是，虽然图1的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，图1中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段，这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些子步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。

图2为一个实施例中测试过程中电流的变化曲线图；参考图2，设置3个采样阶段，第一特征电流为第一个采样阶段的特征电流，是第一个采样阶段获取到的工作电流中的最大电流值；第二特征电流为第二采样阶段的特征电流；从第二特征电流开始后面的都是第三采样阶段，由于第三采样阶段电流有上升有下降，因此，第三特征电流是在后面电流稳定下降阶段获取到的。本申请从该电流变化曲线图中按照一定的采样频率在每个采样阶段获取工作电流并从工作电流中获取到特征电流。

图3为一个实施例中测试进度指示装置的结构框图；参考图3，该装置包括：依次连接的采样电路100、控制电路200、指示电路300；

采样电路100与固态硬盘400连接，用于采集固态硬盘400测试过程中的工作电流；

控制电路200用于设置多个采样阶段；

控制电路200还用于通过采样电路100通过采样获取固态硬盘400上电测试后的工作电流，并基于工作电流的变化先后获取固态硬盘400测试过程中每个采样阶段的特征电流，特征电流表征对应采样阶段的结束；

控制电路200还用于当获取到最后一个采样阶段的特征电流时，输出第一控制信息以控制指示电路300指示固态硬盘400测试完成。

具体地，控制电路200内存储有实现上述测试进度指示方法的计算机程序，因此控制电路200可以通过算法计算得到每个采样阶段的特征电流。

采样电路100可以是一个与固态硬盘400串联的采样电阻，固态硬盘400在测试过程中工作电流的变化与该采样电阻的采样电压的变化是同步的，采样电阻的一端接地，另一端与固态硬盘400的一端、控制电路200的一端连接。控制电路200获取的工作电流即为该采样电阻的采样电压与该采样电阻的比值。控制电路200可以包括单片机及其外围电路，外围电路包括晶振，晶振用于控制控制电路200获取工作电流的频率。

在一个实施例中，该装置还包括与控制电路200连接的特征电流指示电路；

控制电路200还用于在获取到采样阶段的特征电流时输出第二控制信息；

特征电流指示电路用于接收第二控制信息，根据第二控制信息指示对应的采样阶段的特征电流已获取到。

具体地，特征电流指示电路包括多个发光二极管，每个发光二极管用于指示对应的采样阶段的特征电流是否已获取到。控制电路200先后获取到每个采样阶段的特征电流，当获取到第一个采样阶段的特征电流时，控制电路200输出第一个第二控制信息，以控制与第一个采样阶段对应的发光二极管发光，从而指示第一采样阶段完成；当获取到第二个采样阶段的特征电流时，控制电路200输出第二个第二控制信息，以控制与第二个采样阶段对应的发光二极管发光，从而指示第二采样阶段完成；以此类推，直到获取到最后一个采样阶段的特征电流，并点亮最后一个采样阶段对应的发光二极管。在此过程中，在点亮当前采样阶段的发光二极管后，前一采样阶段的发光二极管可以熄灭以省电，也可以全部保持点亮状态。

在一个实施例中，该装置还包括与控制电路200连接的电流显示电路；

控制电路200还用于在获取到工作电流和/或第一工作电流和/或第二工作电流时输出第三控制信息；

电流显示电路用于接收第三控制信息，根据第三控制信息显示工作电流，或者，显示第一工作电流和/第二工作电流。

具体地，电流显示电路为数码管显示电路或显示屏显示电路。工作电流或第一工作电流或第二工作电流通过数码管显示或通过显示屏显示。当然，也可以显示采样电压。

在一个实施例中，指示电路300包括开关模块、提示模块；

开关模块的一端与控制电路200连接，另一端与提示模块连接；

开关模块用于在接收控制电路200的第一控制信息时导通，在导通后控制提示模块导通以指示固态硬盘测试完成。

图4为一个实施例中测试进度指示装置的电路图；参考图4，控制电路200包括单片机U1，单片机U1的第8管脚(P17)与采样电阻R1的一端、固态硬盘的一端连接，采样电阻R1的另一端接地，固态硬盘通过VCC供电。单片机U1的第32-39管脚(P00-P07)可以配置为与数码管显示电路(图中未画出)的数码段对应的控制端连接，单片机U1的第1-4管脚(P10-P13)可以配置为与数码管显示电路的供电端连接，以输出多个第三控制信息以控制数码管显示电压或电流；单片机U1的第21-28管脚(P20-27)可以配置为与特征电流指示电路(图中未画出)中的发光二极管连接，以输出第二控制信息控制发光二极管的亮灭；单片机U1的第18-20管脚可以配置为连接晶振电路(图中未画出)；单片机U1第9管脚可以配置为连接复位电路(图中未画出)。

图5为一个实施例中测试进度指示装置的电路图；参考图5，图5为指示电路300的具体一个实施例。参照图4，图4的单片机U1的第5管脚(P14)与图5的指示电路300的电阻R5的一端连接，电阻R5的另一端接三极管Q2的基极，三极管Q2的发射极接电源VCC，集电极接继电器K1的线圈的一个引脚、二极管D4的阴极、电阻R6的一端，继电器K1的线圈的另一个引脚、二极管D4的阳极接地，电阻R6的另一端依次通过发光二极管D3的阳极、阴极接地，继电器K1的触点a与插接件JP3的接线点1连接、触点b与插接件JP3的接线点2连接、触点c与插接件JP3的接线点3连接，继电器K1的触点b与触点c为常闭开关，对应的接线点2、3悬空设置，当单片机U1的第5管脚(P14)输出第一控制信息给到电阻R5时，三极管导通，从而使继电器K1的线圈通电，进而使触点a、b连接，触点a、b连接使插接件JP3的接线点1、2连接，接线点1、2接提示装置的电路(图中未画出)，使提示装置的电路导通，提示装置工作发出提示信号。

提示装置可以是发光二极管或蜂鸣器或发光二极管、蜂鸣器的组合，但不局限于此。

单片机U1通过上电复位电路上电复位初始化后，重新设置参数初始值,保证单片机U1及其外围电路能正常工作；寄存器参数设置是设置各个关键寄存器，比如A/D转换通道寄存器，是为了单片机U1能够采集外部电压信号，其他寄存器各有其用途；单片机U1内还存储有数码管显示程序以控制数码管的显示工作电流或第一工作电流、第二工作电流。当然，数码管也可以动态显示工作电流对应的采样电压，采样电阻的阻值一定，工作电流与其采样电压也是对应的。通过扫描方式，每间隔一段时间扫描一次。数码管显示的字符的亮度及清晰度与每位点亮的停留时间和每位显示的时间内轮换导通次数有关。

在一个实施例中，本申请提供的测试进度指示方法可以实现为一种计算机程序的形式。

在一个实施例中，提供了一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行计算机程序时实现以下步骤：设置多个采样阶段；通过采样获取固态硬盘上电测试后的工作电流，并基于工作电流的变化先后获取固态硬盘测试过程中每个采样阶段的特征电流，特征电流表征对应采样阶段的结束；当获取到最后一个采样阶段的特征电流时，指示固态硬盘测试完成。

在一个实施例中，提供了一种可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：设置多个采样阶段；通过采样获取固态硬盘上电测试后的工作电流，并基于工作电流的变化先后获取固态硬盘测试过程中每个采样阶段的特征电流，特征电流表征对应采样阶段的结束；当获取到最后一个采样阶段的特征电流时，指示固态硬盘测试完成。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。

需要说明的是，在本文中，诸如“第一”和“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

以上所述仅是本发明的具体实施方式，使本领域技术人员能够理解或实现本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所申请的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (7)

1.一种测试进度指示方法，应用于固态硬盘，其特征在于，所述方法包括：

设置多个采样阶段；

通过采样获取所述固态硬盘上电测试后的工作电流，并基于所述工作电流的变化先后获取所述固态硬盘测试过程中每个采样阶段的特征电流，所述特征电流表征对应采样阶段的结束；

当获取到最后一个采样阶段的特征电流时，指示所述固态硬盘测试完成；

其中，所述基于所述工作电流的变化先后获取所述固态硬盘测试过程中每个采样阶段的特征电流，包括：

根据采样阶段的上一采样阶段的特征电流获取对应采样阶段的参考电流，其中，采样阶段的参考电流与对应采样阶段的上一采样阶段的特征电流之比小于1；

基于采样阶段获取到的工作电流的变化，并结合对应的参考电流获取对应采样阶段的特征电流；

若所述采样阶段为第一采样阶段，所述基于采样阶段获取到的工作电流的变化，并结合对应的参考电流获取对应采样阶段的特征电流，包括：

基于所述第一采样阶段通过采样获取到的工作电流，通过电流值的比较获取第一预设数量的依次递增的第一工作电流，其中，所述依次递增的第一工作电流均大于所述第一采样阶段的参考电流；

将所述第一预设数量的依次递增的第一工作电流中的最大电流作为所述第一采样阶段的特征电流；

若所述采样阶段为非第一采样阶段，所述基于采样阶段获取到的工作电流的变化，并结合对应的参考电流获取对应采样阶段的特征电流，包括：

基于对应的非第一采样阶段通过采样获取到的工作电流，通过电流值的比较获取第二预设数量的连续递减的第二工作电流，其中，所述连续递减的第二工作电流均小于对应的非第一采样阶段的参考电流；

将所述第二预设数量的连续递减的第二工作电流中的最小电流作为对应的非第一采样阶段的特征电流。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述根据采样阶段的上一采样阶段的特征电流获取对应采样阶段的参考电流之前，所述基于所述工作电流的变化先后获取所述固态硬盘测试过程中每个采样阶段的特征电流，还包括：

设置每个采样阶段的电流系数，所述电流系数为采样阶段的参考电流与对应采样阶段的上一采样阶段的特征电流之比。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述多个采样阶段包括三个采样阶段。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述指示所述固态硬盘测试完成，包括：

通过声音提示、灯光提示中的至少一种指示所述固态硬盘测试完成。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

显示所述工作电流，

或，

显示所述第一工作电流、第二工作电流。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

指示对应的采样阶段的特征电流已获取到。

7.一种测试进度指示装置，应用于固态硬盘，其特征在于，所述装置包括：依次连接的采样电路、控制电路、指示电路；

所述采样电路与所述固态硬盘连接，用于获取所述固态硬盘测试过程中的工作电流；

所述控制电路用于设置多个采样阶段；

所述控制电路还用于通过采样获取所述固态硬盘上电测试后的工作电流，并基于所述工作电流的变化先后获取所述固态硬盘测试过程中每个采样阶段的特征电流，所述特征电流表征对应采样阶段的结束；

所述控制电路还用于当获取到最后一个采样阶段的特征电流时，输出控制信息以控制所述指示电路指示所述固态硬盘测试完成；

其中，所述基于所述工作电流的变化先后获取所述固态硬盘测试过程中每个采样阶段的特征电流，包括：

根据采样阶段的上一采样阶段的特征电流获取对应采样阶段的参考电流，其中，采样阶段的参考电流与对应采样阶段的上一采样阶段的特征电流之比小于1；

基于采样阶段获取到的工作电流的变化，并结合对应的参考电流获取对应采样阶段的特征电流；

若所述采样阶段为第一采样阶段，所述基于采样阶段获取到的工作电流的变化，并结合对应的参考电流获取对应采样阶段的特征电流，包括：

基于所述第一采样阶段通过采样获取到的工作电流，通过电流值的比较获取第一预设数量的依次递增的第一工作电流，其中，所述依次递增的第一工作电流均大于所述第一采样阶段的参考电流；

将所述第一预设数量的依次递增的第一工作电流中的最大电流作为所述第一采样阶段的特征电流；

若所述采样阶段为非第一采样阶段，所述基于采样阶段获取到的工作电流的变化，并结合对应的参考电流获取对应采样阶段的特征电流，包括：

基于对应的非第一采样阶段通过采样获取到的工作电流，通过电流值的比较获取第二预设数量的连续递减的第二工作电流，其中，所述连续递减的第二工作电流均小于对应的非第一采样阶段的参考电流；

将所述第二预设数量的连续递减的第二工作电流中的最小电流作为对应的非第一采样阶段的特征电流。

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