CN111326089A

CN111326089A - 测试装置和测试系统

Info

Publication number: CN111326089A
Application number: CN201911264355.0A
Authority: CN
Inventors: 李一浩; 权相赫; 金荣彬; 卢赞植; 申垠澈; 崔相敃
Original assignee: Samsung Display Co Ltd
Current assignee: Samsung Display Co Ltd
Priority date: 2018-12-13
Filing date: 2019-12-11
Publication date: 2020-06-23
Anticipated expiration: 2039-12-11
Also published as: CN111326089B; US11409395B2; KR20200073342A; US20200192524A1; KR102581763B1

Abstract

提供了一种测试装置和一种测试系统。所述测试装置可以包括：触摸测试垫，电连接到显示模块的触摸垫；第一电力测试垫和第二电力测试垫，分别电连接到显示模块的第一电力垫和第二电力垫；电压产生器，将第一测试电力电压和第二测试电力电压分别提供到第一电力测试垫和第二电力测试垫；以及电容测量电路，测量第一电力测试垫与第二电力测试垫之间的电容。

Description

测试装置和测试系统

本申请要求于2018年12月13日提交的第10-2018-0161103号韩国专利申请的优先权和权益，该韩国专利申请出于所有目的通过引用包含于此，如在这里充分地阐述一样。

技术领域

发明的示例性实施例总体上涉及显示/触摸面板测试，更具体地，涉及可以在测试触摸感测单元的步骤中测量显示面板的电容的一种测试装置和一种测试系统。

背景技术

本公开涉及一种用于测试显示模块的装置，具体涉及一种用于测试具有触摸感测单元的显示模块的装置。

有机发光显示装置包括用于显示图像并作为自发光器件的有机发光二极管，并且由于有机发光显示装置的优异的亮度和颜色纯度特性，其正在成为下一代显示装置。有机发光显示装置包括构成显示面板并显示彩色图像的红色像素、绿色像素和蓝色像素。

有机发光显示装置包括用于显示图像的包含显示面板的显示模块和被构造为感测外部输入并输出关于外部输入的位置或强度的信息的触摸感测单元。制造有机发光显示装置的工艺包括测试有机发光显示装置的显示模块是否可以正常操作的步骤。

在此背景技术部分中公开的以上信息仅用于对发明构思的背景的理解，因此，其可能会包含不构成现有技术的信息。

发明内容

发明构思的实施例提供了可以在测试触摸感测单元的步骤中测量显示面板的电容的一种测试装置和一种测试系统。

发明构思的附加特征将在下面的描述中进行阐述，并且部分地将通过该描述而明显，或者可以通过发明构思的实践而被获知。

根据发明构思的示例性实施例，一种测试装置可以包括：触摸测试垫，电连接到显示模块的触摸垫；第一电力测试垫和第二电力测试垫，分别电连接到显示模块的第一电力垫和第二电力垫；电压产生器，将第一测试电力电压和第二测试电力电压分别提供到第一电力测试垫和第二电力测试垫；以及电容测量电路，测量第一电力测试垫与第二电力测试垫之间的电容。

电压产生器可以响应于电压控制信号而改变第一测试电力电压和第二测试电力电压中的至少一者的电压电平。

测试装置还可以包括：连接件，将触摸垫电连接到触摸测试垫并且将第一电力垫和第二电力垫分别电连接到第一电力测试垫和第二电力测试垫；以及接口，响应于从外部接收的测试控制信号而输出电压控制信号。

电容测量电路可以输出与测量的电容对应的电容感测信号。

测试装置还可以包括将触摸测试信号输出到触摸测试垫的触摸测试器。

触摸测试器输出触摸测试信号的操作和电压产生器输出第一测试电力电压和第二测试电力电压的操作可以并行地执行。

触摸测试垫、第一电力测试垫和第二电力测试垫、电压产生器以及电容测量电路可以设置为单个集成电路。

测试装置还可以包括将面板测试信号输出到显示模块的信号垫的面板测试电路。信号垫包括第一电力垫和第二电力垫。

面板测试电路可以包括：显示面板测试垫，电连接到显示模块的信号垫；以及测试信号产生电路，将面板测试信号输出到显示面板测试垫。显示面板测试垫包括第一电力测试垫和第二电力测试垫。

根据发明构思的示例性实施例，一种测试系统可以包括显示模块和测试装置。显示模块可以包括：显示面板，包括显示区域和与显示区域相邻的非显示区域；以及触摸感测单元，设置在显示面板上以感测施加到触摸感测单元的与显示区域叠置的感测区域的外部输入。显示面板可以包括：触摸垫，设置在非显示区域中并且电连接到触摸感测单元；以及第一电力垫和第二电力垫，设置在非显示区域中并且电连接到显示面板。测试装置可以包括：触摸测试垫，电连接到触摸垫；第一电力测试垫和第二电力测试垫，分别电连接到第一电力垫和第二电力垫；电压产生器，将第一测试电力电压和第二测试电力电压分别提供到第一电力测试垫和第二电力测试垫；以及电容测量电路，测量第一电力测试垫与第二电力测试垫之间的电容。

测试系统还可以包括：连接件，将触摸垫电连接到触摸测试垫并且将显示面板的第一电力垫和第二电力垫分别电连接到第一电力测试垫和第二电力测试垫；以及接口，响应于从外部接收的测试控制信号而输出电压控制信号。

电容测量电路可以输出与测量的电容对应的电容感测信号。

测试系统还可以包括将触摸测试信号输出到触摸测试垫的触摸测试器。

显示面板还可以包括：多个像素，布置在显示区域中并且连接到多条数据线和多条扫描线。多个像素中的至少一个像素可以包括：发光二极管，包括阳极和阴极；第一晶体管，包括接收第一电力电压的第一电极、电连接到发光二极管的阳极的第二电极和栅电极；电容器，包括连接到第一晶体管的第一电极的第一电极和连接到第一晶体管的栅电极的第二电极；以及第二晶体管，包括连接到多条数据线中的对应的一条数据线的第一电极、连接到电容器的第二电极的第二电极和接收第一扫描信号的栅电极。

第一晶体管的第一电极可以电连接到第一电力垫，并且发光二极管的阴极可以电连接到第二电力垫。

电容测量电路可以输出与第一晶体管的第一电极与发光二极管的阴极之间的电容对应的电容感测信号。

根据发明构思的示例性实施例，公开了一种使用测试装置的测试方法。测试装置可以包括：触摸测试垫，电连接到触摸感测单元的触摸垫；以及第一电力测试垫和第二电力测试垫，分别电连接到显示面板的第一电力垫和第二电力垫。测试方法可以包括：将第一测试电力电压和第二测试电力电压分别提供到第一电力测试垫和第二电力测试垫；以及测量第一电力测试垫与第二电力测试垫之间的电容。

测试方法还可以包括将触摸测试信号输出到触摸测试垫。

测试方法还可以包括输出与测量的电容对应的电容感测信号。

将理解的是，前面的总体描述和下面的详细描述两者是示例性的和说明性的并且意图提供对如要求保护的发明的进一步解释。

附图说明

附图示出了发明的示例性实施例，并且与描述一起用于解释发明构思，附图被包括以提供对发明的进一步理解，并且被并入本说明书中并构成本说明书的一部分。

图1是示出根据发明构思的示例性实施例的显示模块的透视图。

图2是示出根据示例性实施例的显示模块的剖视图。

图3是示出根据示例性实施例的显示面板的平面图。

图4是示出根据示例性实施例的像素的等效电路图。

图5是示出根据示例性实施例的触摸感测单元的平面图。

图6是示出根据示例性实施例的触摸测试装置的框图。

图7是示出图3中示出的显示面板与图6中示出的触摸测试装置之间的示例连接结构的框图。

图8A、图8B和图8C是均示出由图7中示出的第一电力垫与第二电力垫之间的电压差导致的电容的改变的曲线图。

图9是示出根据另一示例性实施例的触摸测试装置的框图。

图10是示出图9的触摸测试电路的结构的示例的图。

图11是示出根据另一示例性实施例的显示模块的透视图。

图12是示出图11中示出的显示面板与图6中示出的触摸测试装置之间的示例连接结构的图。

具体实施方式

在下面的描述中，为了解释的目的，阐述了许多特定细节，以提供对发明的各种示例性实施例或实施方式的彻底理解。如在这里使用的，“实施例”和“实施方式”是作为采用在这里公开的一个或更多个发明构思的装置或方法的非限制性示例的可互换词。然而，明显的是，各种示例性实施例可以在没有这些特定细节的情况下来实施或者用一个或更多个等同布置来实施。在其他情况下，公知结构和装置以框图形式示出，以避免使各种示例性实施例不必要地模糊。此外，各种示例性实施例可以是不同的，但不必是排他的。例如，在不脱离发明构思的情况下，示例性实施例的特定形状、构造和特性可以在另一示例性实施例中使用或实施。

除非另外说明，否则示出的示例性实施例将被理解为提供在实践中可以以其来实施发明构思的一些方式的变化的细节的示例性特征。因此，除非另外说明，否则在不脱离发明构思的情况下，可以对各种实施例的特征、组件、模块、层、膜、面板、区域和/或方面等(在下文中，单独地或共同地称为“元件”)进行另外组合、分离、互换和/或重新布置。

通常提供附图中的交叉阴影线和/或阴影的使用，以使相邻元件之间的边界清晰。如此，除非说明，否则交叉阴影线或阴影的存在或不存在都不表达或表示对元件的具体材料、材料性质、尺寸、比例、示出元件之间的共性和/或任何其他特性、属性、性质等的任何偏好或要求。此外，在附图中，为了清楚和/或描述性的目的，可以夸大元件的尺寸和相对尺寸。当示例性实施例可以不同地实施时，可以以不同于所描述的顺序来执行特定的工艺顺序。例如，可以基本同时执行或者以与所描述的顺序相反的顺序执行两个连续描述的工艺。此外，同样的附图标记表示同样的元件。

当元件或层被称为“在”另一元件或层“上”、“连接到”或“结合到”另一元件或层时，该元件或层可以直接在所述另一元件或层上、直接连接到或直接结合到所述另一元件或层，或者可以存在中间元件或中间层。然而，当元件或层被称为“直接在”另一元件或层“上”、“直接连接到”或“直接结合到”另一元件或层时，不存在中间元件或中间层。为此，术语“连接”可以指在存在或不存在中间元件的情况下的物理连接、电连接和/或流体连接。此外，DR1轴、DR2轴和DR3轴不限于诸如x轴、y轴和z轴的直角坐标系的三个轴，并且可以以更宽的含义进行解释。例如，DR1轴、DR2轴和DR3轴可以彼此垂直，或者可以表示彼此不垂直的不同方向。为了本公开的目的，“X、Y和Z中的至少一个(种/者)”和“从由X、Y和Z组成的组中选择的至少一个(种/者)”可以理解为仅X、仅Y、仅Z或者X、Y和Z中的两个(种/者)或更多个(种/者)的任何组合，诸如以XYZ、XYY、YZ和ZZ为例。如在这里使用的，术语“和/或”包括相关所列项中的一个或更多个的任何和全部组合。

尽管可以在这里使用术语“第一”、“第二”等来描述各种类型的元件，但是这些元件不应该受这些术语的限制。这些术语用来将一个元件与另一元件区分开来。因此，在不脱离公开的教导的情况下，以下讨论的第一元件可以被称为第二元件。

为了描述性目的，在这里可以使用诸如“在……之下”、“在……下方”、“在……下面”、“下”、“在……上方”、“上”、“在……之上”、“较高的”、“侧”(例如，如在“侧壁”中)等的空间相对术语，并且由此来描述如附图中示出的一个元件与另一(其他)元件的关系。空间相对术语意图包括除了附图中描绘的方位之外的设备在使用、操作和/或制造中的不同方位。例如，如果附图中的设备被翻转，则被描述为“在”其他元件或特征“下方”或“之下”的元件将随后被定位为“在”所述其他元件或特征“上方”。因此，示例性术语“在……下方”可以包括上方和下方两种方位。此外，设备可以被另外定位(例如，旋转90度或者在其他方位处)，如此，相应地解释在这里使用的空间相对描述语。

在这里使用的术语是出于描述具体实施例的目的，而不意图成为限制。如在这里所使用的，除非上下文另外清楚地指出，否则单数形式“一”、“一个(种/者)”和“所述(该)”也意图包括复数形式。此外，当在本说明书中使用术语“包括”和/或“包含”时，说明存在所陈述的特征、整体、步骤、操作、元件、组件和/或它们的组，但不排除存在或附加一个或更多个其他特征、整体、步骤、操作、元件、组件和/或它们的组。还要注意的是，如在这里使用的，术语“基本上”、“大约”和其他类似的术语被用作近似术语而不是用作程度术语，如此，它们被用来解释将由本领域普通技术人员认识到的测量值、计算值和/或提供值中的固有偏差。

在这里参照作为理想化示例性实施例和/或中间结构的示意图的剖视图来描述各种示例性实施例。如此，预计出现例如由制造技术和/或公差引起的图示的形状的变化。因此，这里公开的示例性实施例不应必然被解释为局限于区域的具体示出的形状，而包括由例如制造引起的形状偏差。以这种方式，图中示出的区域本质上可以是示意性的，且这些区域的形状可以不反映装置的区域的实际形状，如此，不必意图成为限制。

如本领域中惯常的，一些示例性实施例用功能块、单元和/或模块来描述并在附图中示出。本领域技术人员将理解的是，这些功能块、单元和/或模块通过诸如逻辑电路的电子(或光学)电路、离散组件、微处理器、硬线电路、存储器元件、布线连接等物理地实施，其可以利用基于半导体的制造技术或其他制造技术来形成。在通过微处理器或其他类似的硬件来实施功能块、单元和/或模块的情况下，可以利用软件(例如，微代码)对它们进行编程和控制，以执行在此所讨论的各种功能，并且可以可选地通过固件和/或软件来驱动它们。还想到的是，每个功能块、单元和/或模块可以通过专用硬件实施，或者作为执行一些功能的专用硬件和执行其他功能的处理器(例如，一个或更多个编程的微处理器和相关电路)的组合来实施。此外，在不脱离发明构思的范围的情况下，一些示例性实施例的每个功能块、单元和/或模块可以物理地分离成两个或更多个交互的且离散的功能块、单元和/或模块。此外，在不脱离发明构思的范围的情况下，一些示例性实施例的功能块、单元和/或模块可以物理地组合成更复杂的功能块、单元和/或模块。

除非另外定义，否则在这里使用的所有术语(包括技术术语和科学术语)具有与本公开是其一部分的领域的普通技术人员所通常理解的意思相同的意思。术语(诸如在通用字典中定义的术语)应该被解释为具有与相关领域的上下文中它们的意思一致的意思，而不应以理想化的或过于形式化的含义来解释，除非这里明确地如此定义。

图1是示出根据发明构思的示例性实施例的显示模块DM的透视图。图2是示出根据发明构思的示例性实施例的显示模块DM的剖视图。

如图1中所示，用于显示图像IM的显示表面IS可以与由第一方向轴DR1和第二方向轴DR2限定的平面平行。与显示表面IS正交的方向(即，显示模块DM的厚度方向)可以被称为第三方向轴DR3。第三方向轴DR3可以用作用于将每个元件的顶表面或前表面与底表面或后表面区分开来的标准。然而，由第一方向轴DR1、第二方向轴DR2和第三方向轴DR3表示的方向可以是相对的，在实施例中，它们可以改变为表示其他方向。在下文中，第一方向、第二方向和第三方向可以分别是由第一方向轴DR1、第二方向轴DR2和第三方向轴DR3表示的方向，并且将用相同的附图标记来标识。

在本示例性实施例中，显示模块DM可以是平坦的刚性显示模块。然而，发明构思不限于这样的示例，在实施例中，显示模块DM可以被构造为具有柔性性质。根据本实施例的显示模块DM可以用于大尺寸电子装置(例如，电视机和监视器)或者中小尺寸电子装置(例如，智能电话、平板、汽车导航系统、游戏机和智能手表)。

如图1中所示，显示模块DM可以包括其上显示图像IM的显示区域DM-DA和与显示区域DM-DA相邻的非显示区域DM-NDA。非显示区域DM-NDA可以不用于显示图像。在图1中，其中有花的花瓶被示出为图像IM的示例。显示区域DM-DA可以具有矩形或四边形形状。非显示区域DM-NDA可以围绕显示区域DM-DA。然而，发明构思不限于这样的示例，并且可以以相互影响的方式各种地改变显示区域DM-DA的形状和非显示区域DM-NDA的形状。

图2是示出根据发明构思的示例性实施例的显示模块DM的剖视图。图2示出了显示模块DM的与第一方向轴DR1和第三方向轴DR3平行的竖直剖面。

如图2中所示，显示模块DM可以包括显示面板DP和触摸感测单元TS(或触摸感测层)。尽管未被示出，但是显示模块DM还可以包括设置在显示面板DP的底表面上的保护构件以及设置在触摸感测单元TS的顶表面上的抗反射构件和/或窗构件。

显示面板DP可以是发光型显示面板，但发明构思不限于这样的示例。例如，显示面板DP可以是有机发光显示面板或量子点发光显示面板。对于有机发光显示面板，发光层可以包括有机发光材料。对于量子点发光显示面板，发光层可以包括量子点和量子棒。为了简单起见，下面的描述将参考其中显示面板DP是有机发光显示面板的示例。

显示面板DP可以包括基体层SUB以及设置在基体层SUB上的电路器件层DP-CL、显示元件层DP-OLED和薄封装层TFE。尽管未被示出，但是显示面板DP还可以包括诸如抗反射层和折射率控制层的功能层。

基体层SUB可以包括至少一个塑料膜。基体层SUB可以是柔性基底，并且可以包括塑料基底、玻璃基底、金属基底和由有机/无机复合材料制成的基底中的至少一者。参照图1描述的显示区域DM-DA和非显示区域DM-NDA可以以相同的方式被限定在基体层SUB中。

电路器件层DP-CL可以包括电路器件和至少一个中间绝缘层。中间绝缘层可以包括至少一个中间无机层和至少一个中间有机层。电路器件可以包括信号线、像素驱动电路等。这将在下面更详细地被描述。

显示元件层DP-OLED可以至少包括有机发光二极管。显示元件层DP-OLED还可以包括诸如像素限定层的有机层。

薄封装层TFE可以对显示元件层DP-OLED进行密封或封装。薄封装层TFE可以包括至少一个无机层(在下文中，无机封装层)。薄封装层TFE还可以包括至少一个有机层(在下文中，有机封装层)。无机封装层可以保护显示元件层DP-OLED不受湿气或氧的影响，并且有机封装层可以保护显示元件层DP-OLED不受诸如灰尘颗粒的污染物质的影响。无机封装层可以由氮化硅、氮氧化硅、氧化硅、氧化钛和氧化铝中的至少一种形成，或者可以包括氮化硅、氮氧化硅、氧化硅、氧化钛和氧化铝中的至少一种。有机封装层可以由丙烯酸类有机材料中的至少一种形成，或者可以包括丙烯酸类有机材料中的至少一种，但发明构思不限于此。

触摸感测单元TS可以被构造为获取关于施加到触摸感测单元TS的与显示面板DP的显示区域DP-DA(参见图3)叠置的感测区域的外部输入的坐标的信息。触摸感测单元TS可以直接设置在显示面板DP上。在本说明书中，表述“直接设置”用于表示一个层连续地形成在另一层上，而不形成另外的粘合层。

触摸感测单元TS可以具有多层结构。触摸感测单元TS可以包括一个或更多个导电层。触摸感测单元TS可以包括一个或更多个绝缘层。

触摸感测单元TS可以以电容感测方式感测外部输入。发明构思不限于触摸感测单元TS的特定感测方法，在示例性实施例中，触摸感测单元TS可以以电磁感应方式或压力感测方式感测外部输入。

图3是示出根据发明构思的示例性实施例的显示面板DP的平面图。

如图3中所示，当在平面图中观看时，显示面板DP可以包括显示区域DP-DA和非显示区域DP-NDA。在本实施例中，可以沿着显示区域DP-DA的边界限定非显示区域DP-NDA。显示面板DP的显示区域DP-DA和非显示区域DP-NDA可以分别与图1中示出的显示模块DM的显示区域DM-DA和非显示区域DM-NDA对应。显示面板DP的显示区域DP-DA和非显示区域DP-NDA可以不与显示模块DM的显示区域DM-DA和非显示区域DM-NDA相同，并且可以根据显示面板DP的结构或设计而改变。

显示面板DP可以包括扫描驱动电路SDC、多条信号线DL、CSL、SL和PL以及多个像素PX。像素PX可以设置在显示区域DP-DA中。像素PX中的每个可以包括有机发光二极管和连接到有机发光二极管的像素驱动电路。扫描驱动电路SDC、信号线DL、CSL、SL和PL以及像素驱动电路可以被包括在图2的电路器件层DP-CL中。

扫描驱动电路SDC可以产生多个扫描信号，并且可以将多个扫描信号顺序地输出到将在下面描述的多条扫描线SL。扫描驱动电路SDC还可以将其他控制信号输出到像素PX的像素驱动电路。

扫描驱动电路SDC可以包括由与用于像素PX的像素驱动电路的工艺相同的工艺(例如，由低温多晶硅(LTPS)工艺或低温多晶氧化物(LTPO)工艺)形成的多个薄膜晶体管。

扫描线SL中的每条可以连接到多个像素PX中的对应的像素PX，并且数据线DL中的每条可以连接到多个像素PX中的对应的像素PX。电力线PL可以连接到多个像素PX。控制信号线CSL可以将控制信号提供到扫描驱动电路SDC。

显示面板DP可以包括分别连接到信号线DL、CSL、SL和PL的端部的信号垫(pad，或称为“焊盘”)DP-PD。在实施例中，信号垫DP-PD中的每个可以是一种电路器件。非显示区域DP-NDA的其上设置有信号垫DP-PD的部分可以被限定为垫区域NDA-PD。连接到将在下面描述的触摸信号线的触摸垫TS-PD可以设置在垫区域NDA-PD上。

第一电力图案PP1和第二电力图案PP2可以设置在非显示区域DP-NDA中。第一电力图案PP1可以在第二方向轴DR2上延伸。第二电力图案PP2可以具有矩形形状，所述矩形形状具有在第一方向轴DR1上延伸的第一边和在第二方向轴DR2上延伸的第二边。当在平面图中观看时，第一电力图案PP1和第二电力图案PP2可以彼此间隔开。第一电力图案PP1和第二电力图案PP2的形状和布置可以从图5中的形状和布置进行各种改变。

第一电力图案PP1可以电连接到信号垫DP-PD的第一电力垫PDD，并且第二电力图案PP2可以电连接到信号垫DP-PD的第二电力垫PDS。在这样的实施例中，第一电力图案PP1和第二电力图案PP2中的每个可以连接到单个垫，但发明构思不限于这样的示例。例如，第一电力图案PP1和第二电力图案PP2中的每个可以电连接到两个或更多个垫。

图4是示出根据发明构思的示例性实施例的像素PX的等效电路图。

图4示例性地示出了连接到扫描线SL中的一条、数据线DL中的一条和电力线PL的一个像素PX。像素PX的结构不限于这样的示例并且可以采用其他形式。

有机发光二极管OLED可以是顶发射型二极管或底发射型二极管。像素PX可以包括用作用于驱动有机发光二极管OLED的像素驱动电路的第一晶体管或开关晶体管T1、第二晶体管或驱动晶体管T2以及电容器Cst。第一电力电压ELVDD可以提供到第二晶体管T2，并且第二电力电压ELVSS可以提供到有机发光二极管OLED。第二电力电压ELVSS可以比第一电力电压ELVDD低。

第一电力电压ELVDD可以通过图3中示出的第一电力垫PDD和第一电力图案PP1来接收。第二电力电压ELVSS可以通过图3中示出的第二电力垫PDS和第二电力图案PP2来接收。

如果扫描信号施加到扫描线SL，那么第一晶体管T1可以响应于扫描信号而输出施加到数据线DL的数据信号。电容器Cst可以被充电以具有与从第一晶体管T1传输的数据信号对应的电压。

第二晶体管T2可以连接到有机发光二极管OLED。第二晶体管T2可以根据储存在电容器Cst中的电荷的量来控制流过有机发光二极管OLED的驱动电流。当第二晶体管T2处于导通时段时，有机发光二极管OLED可以发光。

图5是示出根据发明构思的示例性实施例的触摸感测单元TS的平面图。

在图5中，示出了设置在显示面板DP中的第一电力图案PP1和第二电力图案PP2以清楚地示出第一电力图案PP1和第二电力图案PP2相对于触摸感测单元TS的位置。在本实施例中，第一触摸信号线SL1-1至SL1-5和第二触摸信号线SL2-1至SL2-4被示出为分别连接到第一触摸电极TE1-1至TE1-5和第二触摸电极TE2-1至TE2-4的端部，但在实施例中，可以设置更多的信号线。例如，还可以设置连接到第二触摸电极TE2-1至TE2-4的相对的端部的第三触摸信号线。连接到第三触摸信号线的触摸垫也可以并排地设置在图5中示出的触摸垫TS-PD旁边。此外，也可以改变第一触摸信号线SL1-1至SL1-5和第二触摸信号线SL2-1至SL2-4的布置。第一触摸电极TE1-1至TE1-5中的每个可以具有其中限定有多个触摸开口的网格形状。第一触摸电极TE1-1至TE1-5中的每个可以包括多个第一触摸传感器单元SP1和多个第一连接部CP1。第一触摸传感器单元SP1可以沿着第二方向轴DR2布置。第一连接部CP1中的每个可以将第一触摸传感器单元SP1中的相邻的两个彼此连接。尽管未被详细地示出，但是第一触摸信号线SL1-1至SL1-5可以具有网格形状。

第二触摸电极TE2-1至TE2-4可以以电断开的方式与第一触摸电极TE1-1至TE1-5交叉。第二触摸电极TE2-1至TE2-4中的每个可以具有其中限定有多个触摸开口的网格形状。第二触摸电极TE2-1至TE2-4中的每个可以包括多个第二触摸传感器单元SP2和多个第二连接部CP2。第二触摸传感器单元SP2可以沿着第一方向轴DR1布置。第二连接部CP2中的每个可以将第二触摸传感器单元SP2中的相邻的两个彼此连接。第二触摸信号线SL2-1至SL2-4也可以具有网格形状。

第一触摸电极TE1-1至TE1-5可以与第二触摸电极TE2-1至TE2-4电容耦合。施加到第一触摸电极TE1-1至TE1-5的触摸感测信号可以改变第一触摸传感器单元SP1与第二触摸传感器单元SP2之间的电容。

图5示出了触摸感测单元TS的其中第一连接部CP1和第二连接部CP2设置为彼此交叉的示例，但发明构思不限于这样的示例。例如，为了防止第二连接部CP2与第一连接部CP1叠置，可以将第二连接部CP2中的每个的形状改变为具有V形结构。在实施例中，即使第二连接部CP2具有V形结构，第二连接部CP2也可能会与第一触摸传感器单元SP1叠置。在本实施例中，第一触摸传感器单元SP1和第二触摸传感器单元SP2被示出为具有菱形或三角形形状，但发明构思不限于这些示例。

尽管未在图5中被示出，但是触摸感测单元TS可以是包括导电层和触摸绝缘层的单层触摸感测单元。单层触摸感测单元可以以自电容方式获取坐标信息。

图6是示出根据发明构思的示例性实施例的触摸测试装置100的框图。

参照图6，触摸测试装置100可以用于测试图5中示出的触摸感测单元TS的操作。触摸测试装置100可以响应于来自外部主机(例如，计算机系统105)的测试控制信号TEST_CTRL而测试触摸感测单元TS，并且可以将测试反馈信号TEST_FB提供到计算机系统105。

在发明构思的示例性实施例中，触摸测试装置100可以测量图3中示出的显示面板DP的第一电力垫PDD和第二电力垫PDS之间的电容，并且可以将关于所测量的电容的信息输出为测试反馈信号TEST_FB。

连接件110可以电连接到图3中示出的触摸垫TS-PD和信号垫DP-PD中的一些(例如，第一电力垫PDD和第二电力垫PDS)。

触摸测试装置100可以包括连接件110、触摸测试电路120和接口130。接口130可以响应于来自计算机系统105的测试控制信号TEST_CTRL而将用于测试显示面板DP的电压控制信号CTRL_V提供到触摸测试电路120。

触摸测试电路120可以响应于电压控制信号CTRL_V而通过连接件110感测显示面板DP的电容，并且可以将与所感测的电容对应的电容感测信号S_CAP输出到接口130。接口130可以将用作测试反馈信号TEST_FB的电容感测信号S_CAP提供到计算机系统105。

在示例性实施例中，触摸测试电路120可以以单个集成单路的形式来实现。

在示例性实施例中，连接件110可以设置在用于测试图1的显示模块DM的引脚板上。在实施例中，连接件110可以包括位于柔性印刷电路板(FPCB)上的垫，并且触摸测试电路120可以安装在FPCB上。如上所述，连接件110可以用于将图1中示出的显示模块DM连接到触摸测试电路120，但发明构思不限于这样的连接结构。可以各种地改变用于(例如，使用连接件110)将显示模块DM连接到触摸测试电路120的结构。

图7是示出图3中示出的显示面板DP与图6中示出的触摸测试装置100之间的示例连接结构的框图。

参照图7，连接件110可以包括连接到显示面板DP的触摸垫TS-PD的触摸测试垫TPD以及分别电连接到显示面板DP的第一电力垫PDD和第二电力垫PDS的第一电力测试垫TDD和第二电力测试垫TDS。

触摸测试电路120可以包括触摸测试器210、电容测量电路220和电压产生器230。触摸测试器210可以产生用于测试图5中示出的触摸感测单元TS的触摸测试信号TTS。触摸测试信号TTS可以通过触摸测试垫TPD提供到显示面板DP的触摸垫TS-PD。由于触摸垫TS-PD连接到图5的第一触摸信号线SL1-1至SL1-5和第二触摸信号线SL2-1至SL2-4，所以可以利用触摸测试信号TTS测试触摸感测单元TS。

电压产生器230可以产生第一电力电压ELVDD和第二电力电压ELVSS。在这样的实施例中，电压产生器230被描述为仅产生两种电压ELVDD和ELVSS，但发明构思不限于这样的示例。例如，电压产生器230可以产生测试图5的触摸感测单元TS所需的各种电压。电压产生器230可以响应于电压控制信号CTRL_V而控制第一电力电压ELVDD和第二电力电压ELVSS中的每个的电压电平。

由电压产生器230产生的第一电力电压ELVDD和第二电力电压ELVSS可以通过第一电力测试垫TDD和第二电力测试垫TDS分别提供到第一电力垫PDD和第二电力垫PDS。当触摸测试器210输出触摸测试信号TTS时，电压产生器230输出第一电力电压ELVDD和第二电力电压ELVSS。与此同时，第一电力电压ELVDD和第二电力电压ELVSS可以分别与第一测试电力电压和第二测试电力电压对应。

电容测量电路220可以测量第一电力测试垫TDD与第二电力测试垫TDS之间的电容。电容测量电路220可以输出与所测量的电容对应的电容感测信号S_CAP。

在示例性实施例中，电容测量电路220可以用于测量第一电力测试垫TDD与第二电力测试垫TDS之间的电容，但发明构思不限于这样的示例。电容测量电路220可以是设置为测试触摸感测单元TS的特性的器件。在这种情况下，由于利用设置为测试触摸感测单元TS的特性的电容测量电路220来测量显示面板DP的电容，所以不必提供用于测量显示面板DP的电容的专用电容测量电路。

参照图4和图7，第一电力电压ELVDD可以通过电力线PL传输至第二晶体管T2，并且第二电力电压ELVSS可以传输至有机发光二极管OLED的阴极端子。

可以测量有机发光二极管OLED的阳极端子和阴极端子之间的静电电容以检查有机发光二极管OLED是否劣化。有机发光二极管OLED的阳极端子可以通过第二晶体管T2供应有第一电力电压ELVDD，并且有机发光二极管OLED的阴极端子可以供应有第二电力电压ELVSS。通过利用第一电力电压ELVDD和第二电力电压ELVSS来测量第一电力垫PDD与第二电力垫PDS之间的电容，可以能够确定有机发光二极管OLED是否劣化。

图8A、图8B和图8C是均示出由图7中示出的第一电力垫PDD与第二电力垫PDS之间的电压差导致的电容的变化的曲线图。在图8A至图8C中，实线表示正常状态下的电容，并且虚线表示非正常状态下的电容。

图8A示出了蓝色有机发光二极管的电容特性，图8B示出了绿色有机发光二极管的电容特性，并且图8C示出了红色有机发光二极管的电容特性。

如图8A至图8C中所示，有机发光二极管的电容特性可以根据分别提供到第一电力测试垫TDD和第二电力测试垫TDS的第一电力电压ELVDD与第二电力电压ELVSS之间的差而变化。

此外，有机发光二极管的电容特性可以根据有机发光二极管是处于正常状态还是处于非正常(例如，劣化)状态而变化。如图8A至图8C中所示，蓝色有机发光二极管、绿色有机发光二极管和红色有机发光二极管中的全部在非正常状态下具有比在正常状态下高的电容。

图7中示出的电压产生器230可以响应于电压控制信号CTRL_V而控制第一电力电压ELVDD和第二电力电压ELVSS中的每个的电压电平。例如，电压产生器230可以固定第一电力电压ELVDD和第二电力电压ELVSS中的一个的电压电平并且可以改变第一电力电压ELVDD和第二电力电压ELVSS中的另一个的电压电平。在实施例中，电压产生器230可以同时改变第一电力电压ELVDD和第二电力电压ELVSS。例如，如图8A至图8C中所示，可以将第一电力电压ELVDD和第二电力电压ELVSS改变为具有在-5V至6V的范围内的电压差。

可以通过利用为触摸感测单元TS准备的电容测量电路220来测试显示面板DP的有机发光二极管OLED的电容。因此，不必提供仅用于测量显示面板DP的电容的另外的电容测量电路。

图9是示出根据发明构思的另一示例性实施例的触摸测试装置300的框图。图10是示出图9的触摸测试电路320的结构的示例的图。

如图9中所示，触摸测试装置300可以响应于来自外部主机(例如，计算机系统305)的测试控制信号TEST_CTRL而测试触摸感测单元TS，并且可以将测试反馈信号TEST_FB提供到计算机系统305。触摸测试装置300可以包括连接件310、触摸测试电路320、测试信号产生电路330和接口340。在图9中示出的实施例中，触摸测试电路320和接口340可以与参照图6描述的触摸测试电路120和接口130具有相同的电路结构和操作。

参照图9和图10，连接件310可以包括可分别电连接到图3中示出的触摸垫TS-PD和信号垫DP-PD的触摸测试垫TPD和显示面板测试垫DPD。显示面板测试垫DPD可以包括第一电力测试垫TDD和第二电力测试垫TDS。

电压产生器430可以响应于电压控制信号CTRL_V而产生第一电力电压ELVDD和第二电力电压ELVSS。第一电力电压ELVDD和第二电力电压ELVSS可以分别提供到第一电力测试垫TDD和第二电力测试垫TDS。

触摸测试器410可以产生用于测试图5中示出的触摸感测单元TS的触摸测试信号TTS。电容测量电路420可以测量第一电力测试垫TDD与第二电力测试垫TDS之间的电容。电容测量电路420可以输出与所测量的电容对应的电容感测信号S_CAP。

测试信号产生电路330和显示面板测试垫DPD一起可以被称为面板测试电路。测试信号产生电路330可以响应于来自接口340的测试信号TSIG而产生将提供到显示面板测试垫DPD的测试信号(或称为面板测试信号)。例如，测试信号可以包括将提供到图3中示出的显示面板DP的扫描驱动电路SDC的时钟信号和将提供到数据线DL的数据信号。

触摸测试装置300的测试信号产生电路330可以将时钟信号和数据信号提供到显示面板DP，并且电压产生器430可以将第一电力电压ELVDD和第二电力电压ELVSS提供到显示面板DP。

因此，当响应于第一电力电压ELVDD、第二电力电压ELVSS、时钟信号和数据信号而执行显示面板DP的操作时，电容测量电路420可以测量第一电力测试垫TDD与第二电力测试垫TDS之间的电容。

图11是示出根据发明构思的另一示例性实施例的显示模块DM2的透视图。

参照图11，显示模块DM2可以包括显示面板DP2、触摸感测单元TS2(或触摸感测层)、第一电路基底CF1、第二电路基底CF2和连接件CNT。

第一电路基底CF1可以电连接到显示面板DP2。第一电路基底CF1可以将显示面板DP2连接到连接件CNT。在本实施例中，第一电路基底CF1可以是柔性电路膜。然而，发明构思不限于这样的示例，在实施例中，第一电路基底CF1可以是刚性基底。

第二电路基底CF2可以电连接到触摸感测单元TS2。第二电路基底CF2可以将触摸感测单元TS2连接到连接件CNT。在本实施例中，第二电路基底CF2可以是柔性电路膜，但发明构思不限于这样的示例。例如，第二电路基底CF2可以是刚性基底。

图12是示出图11中示出的显示面板DP2与图6中示出的触摸测试装置100之间的示例连接结构的图。

在图12中示出的显示面板DP2和触摸测试电路120中，之前参照图3或图7描述的元件可以通过相同的附图标记来标识而不重复它们的重复描述。

图7的显示面板DP可以包括其上设置有信号垫DP-PD以及触摸垫TS-PD的垫区域NDA-PD。相比之下，仅信号垫DP-PD可以设置在图12的显示模块DM2的垫区域NDA-PD2上。

连接件CNT可以包括分别电连接到显示面板DP2的第一电力垫PDD和第二电力垫PDS的第一电力测试垫TDD和第二电力测试垫TDS。连接件CNT还可以包括可电连接到图11中示出的触摸感测单元TS2的触摸测试垫TPD。

如上所述，连接件CNT可以用于将图11的显示面板DP2和触摸感测单元TS2连接到触摸测试电路120，但发明构思不限于这样的连接结构。可以各种地改变用于(例如，利用连接件CNT)将图11的显示面板DP2和触摸感测单元TS2连接到触摸测试电路120的结构。

触摸测试电路120可以响应于电压控制信号CTRL_V而通过连接件CNT感测显示面板DP2的电容，并且可以输出与所感测的电容对应的电容感测信号S_CAP。

如图11和图12中所示，即使显示面板DP2的信号垫DP-PD布置在与用于触摸感测单元TS2的触摸垫(未示出)的层不同的层上，也可以利用触摸测试装置100来测量或测试显示面板DP2的有机发光二极管的电容。因此，不必提供用于仅测量显示面板DP2的电容的另外的电容测量电路。

根据发明构思的示例性实施例，测试装置可以用于在测试显示模块的触摸感测单元的步骤中测量显示面板的电容。因此，不必提供用于测量显示面板的电容的另外的测试装置。

尽管在这里已经描述了某些示例性实施例和实施方式，但是其他的实施例和修改通过该描述将是明显的。因此，发明构思不限于这样的实施例，而是限于所附权利要求以及如对本领域普通技术人员而言将明显的各种明显的修改和等同布置的更宽范围。

Claims

1.一种测试装置，所述测试装置包括：

触摸测试垫，被构造为电连接到显示模块的触摸垫；

第一电力测试垫和第二电力测试垫，被构造为分别电连接到所述显示模块的第一电力垫和第二电力垫；

电压产生器，被构造为将第一测试电力电压和第二测试电力电压分别提供到所述第一电力测试垫和所述第二电力测试垫；以及

电容测量电路，被构造为测量所述第一电力测试垫与所述第二电力测试垫之间的电容。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其中，所述电压产生器响应于电压控制信号而改变所述第一测试电力电压和所述第二测试电力电压中的至少一者的电压电平。

3.根据权利要求2所述的测试装置，所述测试装置还包括：

连接件，将所述触摸垫电连接到所述触摸测试垫并且将所述第一电力垫和所述第二电力垫分别电连接到所述第一电力测试垫和所述第二电力测试垫；以及

接口，被构造为响应于从外部接收的测试控制信号而输出所述电压控制信号。

4.根据权利要求1所述的测试装置，其中，所述电容测量电路被构造为输出与所述测量的电容对应的电容感测信号。

5.根据权利要求1所述的测试装置，所述测试装置还包括被构造为将触摸测试信号输出到所述触摸测试垫的触摸测试器。

6.根据权利要求5所述的测试装置，其中，所述触摸测试器输出所述触摸测试信号的操作和所述电压产生器输出所述第一测试电力电压和所述第二测试电力电压的操作被并行地执行。

7.根据权利要求6所述的测试装置，其中，所述触摸测试垫、所述第一电力测试垫和所述第二电力测试垫、所述电压产生器以及所述电容测量电路设置为单个集成电路。

8.根据权利要求1所述的测试装置，所述测试装置还包括将面板测试信号输出到所述显示模块的信号垫的面板测试电路，其中，所述信号垫包括所述第一电力垫和所述第二电力垫。

9.根据权利要求8所述的测试装置，其中，所述面板测试电路包括：

显示面板测试垫，电连接到所述显示模块的所述信号垫；以及

测试信号产生电路，被构造为将所述面板测试信号输出到所述显示面板测试垫，

其中，所述显示面板测试垫包括所述第一电力测试垫和所述第二电力测试垫。

10.一种测试系统，所述测试系统包括：

显示模块；以及

测试装置；

其中，所述显示模块包括：

显示面板，包括显示区域和与所述显示区域相邻的非显示区域；以及

触摸感测单元，设置在所述显示面板上并且被构造为感测施加到所述触摸感测单元的与所述显示区域叠置的感测区域的外部输入，

其中，所述显示面板包括：

触摸垫，设置在所述非显示区域中并且电连接到所述触摸感测单元；以及

第一电力垫和第二电力垫，设置在所述非显示区域中并且电连接到所述显示面板，并且

其中，所述测试装置包括：

触摸测试垫，电连接到所述触摸垫；

第一电力测试垫和第二电力测试垫，分别电连接到所述第一电力垫和所述第二电力垫；