[go: up one dir, main page]

CN111274070B - 一种硬盘检测的方法、装置和电子设备 - Google Patents

一种硬盘检测的方法、装置和电子设备 Download PDF

Info

Publication number
CN111274070B
CN111274070B CN202010055592.2A CN202010055592A CN111274070B CN 111274070 B CN111274070 B CN 111274070B CN 202010055592 A CN202010055592 A CN 202010055592A CN 111274070 B CN111274070 B CN 111274070B
Authority
CN
China
Prior art keywords
hard disk
storage
storage area
address
storage address
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202010055592.2A
Other languages
English (en)
Other versions
CN111274070A (zh
Inventor
侯宝臣
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Huawei Technologies Co Ltd
Original Assignee
Huawei Technologies Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Huawei Technologies Co Ltd filed Critical Huawei Technologies Co Ltd
Publication of CN111274070A publication Critical patent/CN111274070A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN111274070B publication Critical patent/CN111274070B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2273Test methods
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2205Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Debugging And Monitoring (AREA)

Abstract

本申请实施例公开了一种硬盘检测的方法、装置和电子设备,属于计算机技术领域。所述方法包括:对第一硬盘的第一存储区进行检测,得到第一检测结果,其中,第一硬盘的第一存储区是由第一硬盘中对应的存储地址在起始存储地址到第一存储地址之间的扇区组成的,第一存储地址与终止存储地址之间包括有多个存储地址。根据第一检测结果,确定第一硬盘的检测结果。采用本申请,可以提高硬盘检测效率。

Description

一种硬盘检测的方法、装置和电子设备
本申请要求于2019年11月04日提交的申请号为201911065668.3、发明名称为“一种硬盘检测方法及装置”的中国专利申请的优先权,其全部内容通过引用结合在本申请中。
技术领域
本申请涉及计算机技术领域,特别涉及一种硬盘检测的方法、装置和电子设备。
背景技术
机械硬盘由于成本较小且数据容量较大,在各类计算机设备中被广泛使用。为了保证机械硬盘可正常使用,通常在使用之前会对其进行检测。
目前,较为常见的检测的方法为长测试(long drive self test,Long DST)。即通过寻道测试、读写磁头检测、读写校验测试等常见测试项,对机械硬盘由最外侧的磁道向最内侧的磁道进行检测,检测需覆盖全盘所有扇区。
在实现本申请的过程中,发明人发现现有技术至少存在以下问题:
在Long DST中需要对机械硬盘的全盘所有扇区进行扫描检测,对于一些数据容量较大的机械硬盘,检测耗时较长,例如,对于6T容量的机械硬盘,一次Long DST需要近11个小时。可见,上述机械硬盘的检测方法,检测效率较低。
发明内容
为了解决相关技术中机械硬盘的检测效率低的问题,本申请实施例提供了一种硬盘检测的方法、装置和电子设备。所述技术方案如下:
第一方面,本申请提供了一种硬盘检测的方法,该方法包括:对第一硬盘的第一存储区进行检测,得到第一检测结果,其中,所述第一硬盘的第一存储区是由所述第一硬盘中对应的存储地址在起始存储地址到第一存储地址之间的扇区组成的,所述第一存储地址与终止存储地址之间包括有多个存储地址;根据所述第一检测结果,确定所述第一硬盘的检测结果。
在本申请实施例所示的方案中,第一硬盘可以为机械硬盘。存储区可以由对应的存储地址在一定范围内的扇区组成。硬盘中的每个扇区对应一个存储地址。存储地址可以为逻辑区块地址(logical block address,LBA)。起始存储地址指硬盘中柱面编号、磁头编号、扇区编号均为最小的扇区的对应的存储地址。对应于LBA的编址方式,起始存储地址为0,可以称为LBAmin,在硬盘中,起始存储地址对应的扇区处于盘片的最外侧,且越靠近盘片内侧的扇区其对应的存储地址的数值也就越大。
由于硬盘运行时,盘片会进行旋转,根据离心力公式可以分析得出,盘片中越外侧的扇区收到的离心力越大,那么,其出现故障的可能性也就越高。那么,在对硬盘进行检测时,可以只检测外侧的第一存储区。并将第一存储区的检测结果,作为硬盘的检测结果即可。这样无需对硬盘全盘进行检测,提高了硬盘检测效率。
在一种可能的实现方式中,该方法还包括:对所述第一硬盘的第二存储区进行检测,得到第二检测结果,其中,所述第一硬盘的第二存储区是由所述第一硬盘中对应的存储地址在第二存储地址到终止存储地址之间的扇区组成的,所述第一硬盘的第一存储区与所述第一硬盘的第二存储区无相同扇区;所述根据所述第一检测结果,确定所述第一硬盘的检测结果,包括:根据所述第一检测结果和所述第二检测结果,确定所述第一硬盘的检测结果。
在本申请实施例所示的方案中,终止存储地址指硬盘中柱面编号、磁头编号、扇区编号均为最大的扇区的对应的存储地址。对应于LBA的编址方式,终止存储地址可以称为LBAmax。在硬盘中,终止存储地址对应的扇区处于盘片的最内侧,其数值也是所有扇区对应的存储地址中最大的。根据采集的大量硬盘检测数据分析得出,硬盘中除外侧故障率较高外,内侧的故障率也相对较高。那么,在对硬盘检测时,除对第一存储区进行检测外,还可以对硬盘的第二存储区进行检测。
在一种可能的实现方式中,所述方法还包括:对所述第一硬盘的第三存储区进行检测,得到第三检测结果,其中,所述第一硬盘的第三存储区是由所述第一硬盘中对应的存储地址在所述第一存储地址到所述第二存储地址之间的部分扇区组成的;所述根据所述第一检测结果和所述第二检测结果,确定所述第一硬盘的检测结果,包括:据所述第一检测结果、所述第二检测结果和所述第三检测结果,确定所述第一硬盘的检测结果。
在本申请实施例所示的方案中,为了更全面的对硬盘进行检测,且节省检测时间,可以对硬盘中除第一存储区和第二存储区以外的第三存储区进行检测。第三存储区可以由第一存储区和第二存储区以外的部分扇区组成的。
在一种可能的实现方式中,所述方法还包括:对第二硬盘的第一存储区、第二存储区和第四存储区进行检测,得到第四检测结果,其中,第二硬盘与第一硬盘的容量相同,所述第二硬盘的第一存储区是由所述第二硬盘中对应的存储地址在所述起始存储地址到所述第一存储地址之间的扇区组成的,所述第二硬盘的第二存储区是由所述第二硬盘中对应的存储地址在所述第二存储地址到所述终止存储地址之间的扇区组成的,所述第二硬盘的第四存储区是由所述第二硬盘中对应的存储地址在所述第一存储地址到所述第二存储地址之间的部分扇区组成的。第三存储区包括的存储地址与所述第四存储区包括的存储地址均不相同;根据所述第四检测结果,确定所述第二硬盘的检测结果。
在本申请实施例所示的方案中,第一硬盘和第二硬盘的容量相同,具体的,第一硬盘和第二硬盘可以为同一批次生产的同一型号的硬盘,第一硬盘和第二硬盘中的扇区数目相同,每个扇区可存储的数据量相同。对于同一批次生成的硬盘,可以进行分组检测。对于每个硬盘中的第一存储区和第二存储区可以均进行检测。对于不同组的硬盘,需要检测的存储区中除第一存储区和第二存储区以外彼此之间均不相同。这样,可以避免出现由于工艺原因导致的同一批次生产的不同硬盘中有部分相同存储地址的扇区均存在故障的问题。
在一种可能的实现方式中,所述起始存储地址到所述第一存储地址之间的存储地址的数目占总存储地址的数目的百分之三十五到百分之四十五,所述第二存储地址到所述终止存储地址之间的存储地址的数目占总存储地址的数目的百分之五到百分之十五。
在本申请实施例所示的方案中,根据采集的大量硬盘检测数据所构建出的硬盘的故障率模型,可以分析得出,硬盘中在全部存储地址的大约前35%-45%的存储地址对应的存储区,以及在全部存储地址的大约后5%-15%的存储地址对应的存储区,出现故障的可能性较大。
第二方面,本申请提供了一种硬盘检测的装置,所述装置包括:检测模块,用于对第一硬盘的第一存储区进行检测,得到第一检测结果,其中,所述第一硬盘的第一存储区是由所述第一硬盘中对应的存储地址在起始存储地址到第一存储地址之间的扇区组成的,所述第一存储地址与终止存储地址之间包括有多个存储地址;确定模块,用于根据所述第一检测结果,确定所述第一硬盘的检测结果。
在一种可能的实现方式中,所述检测模块,还用于:对所述第一硬盘的第二存储区进行检测,得到第二检测结果,其中,所述第一硬盘的第二存储区是由所述第一硬盘中第二存储地址到终止存储地址之间的扇区组成的,所述第一硬盘的第一存储区与所述第一硬盘的第二存储区无相同扇区;所述确定模块,用于:根据所述第一检测结果和所述第二检测结果,确定所述第一硬盘的检测结果。
在一种可能的实现方式中,所述检测模块,还用于:对所述第一硬盘的第三存储区进行检测,得到第三检测结果,其中,所述第一硬盘的第三存储区是由所述第一硬盘中对应的存储地址在所述第一存储地址到所述第二存储地址之间的部分扇区组成的;所述确定模块,用于:据所述第一检测结果、所述第二检测结果和所述第三检测结果,确定所述第一硬盘的检测结果。
在一种可能的实现方式中,所述检测模块,还用于:对第二硬盘的第一存储区、第二存储区和第四存储区进行检测,得到第四检测结果,其中,第二硬盘与第一硬盘的容量相同所述第二硬盘的第一存储区是由所述第二硬盘中对应的存储地址在所述起始存储地址到所述第一存储地址之间的扇区组成的,所述第二硬盘的第二存储区是由所述第二硬盘中对应的存储地址在所述第二存储地址到所述终止存储地址之间的扇区组成的,所述第二硬盘的第四存储区是由所述第二硬盘中对应的存储地址在所述第一存储地址到所述第二存储地址之间的部分扇区组成的,所述第三存储区包括的存储地址与所述第四存储区包括的存储地址均不相同;确定模块还用于,根据所述第四检测结果,确定所述第二硬盘的检测结果。
在一种可能的实现方式中,所述起始存储地址到所述第一存储地址之间的存储地址的数目占总存储地址的数目的百分之三十五到百分之四十五,所述第二存储地址到所述终止存储地址之间的存储地址的数目占总存储地址的数目的百分之五到百分之十五。
第三方面,本申请提供了一种电子设备,所述电子设备包括:存储器,所述存储器包括计算机可读指令;处理器,所述处理器用于执行所述计算机可读指令,从而执行如上述第一方面所述的硬盘检测的方法。
第四方面,本申请提供了一种计算机可读存储介质,包括计算机可读指令,当所述计算机可读存储介质在电子设备上运行时,使得所述电子设备执行如上述第一方面所述的硬盘检测的方法。
第五方面,本申请提供了一种包含指令的计算机程序产品,当所述计算机程序产品在电子设备上运行时,使得所述电子设备执行如上述第一方面所述的硬盘检测的方法。
本申请实施例提供的技术方案带来的有益效果是:
在对硬盘进行检测时,可以只对第一存储区进行检测,该第一存储区是由硬盘中起始存储地址到第一存储地址之间的扇区组成的,而第一存储地址不是终止存储地址,第一存储地址和终止存储地址之间还包括有多个存储地址。在检测完成后,可以将该第一存储区对应的第一检测结果,作为硬盘的检测结果。可见,采用本申请实施例提供的方案,无需对硬盘进行全盘检测,可以提高硬盘的检测效率。
附图说明
图1是本申请实施例提供的一种硬盘检测的方法流程图;
图2是本申请实施例提供的一种故障率模型示意图;
图3是本申请实施例提供的一种存储区划分的示意图;
图4是本申请实施例提供的另一种存储区划分的示意图;
图5是本申请实施例提供的另一种存储区划分的示意图;
图6是本申请实施例提供的另一种存储区划分的示意图;
图7是本申请实施例提供的一种硬盘检测的装置结构示意图;
图8是本申请实施例提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
本申请实施例提供了一种硬盘检测的方法,采用本方法可以在多种场景下对硬盘进行检测。常见的场景可以由如下几种。
场景一、硬盘生产环节。
在硬盘生产完成后,在交付客户使用之前,可以采用本申请实施例提供的硬盘检测的方法,对生产的硬盘进行检测。以保证交付至客户的硬盘没有质量问题。
场景二、客户现场扩容或改配场景。
客户需要对设备容量进行扩容,则在配置更大容量的硬盘,完成扩容后,可以采用本申请实施例所提供的硬盘检测的方法,对扩容后硬盘进行检测。
场景三、现网场景下,对硬盘故障进行排查。
采用本申请实施例提供的硬盘检测的方法,对硬盘进行检测,可以无需对硬盘进行全盘检测,大大节省了检测时间,提高了检测效率。
为了便于对本申请实施例的理解,下面对本申请实施例中可能会涉及的硬盘相关的基本概念进行介绍。
一、扇区,盘片被分成许多扇形的区域,每个区域叫一个扇区。
二、磁道,盘片表面上以盘片中心为圆心,不同半径的同心圆称为磁道,一个磁道上含有多个扇区。
三、柱面,不同盘片相同半径的磁道所组成的圆柱称为柱面。
四、盘片,硬盘中磁性盘,用于存储数据。
五、逻辑区块地址(logical block address,LBA)
LBA为较为常用的一种用于描述数据所在存储区块的编址方式。对于一个存储数据的扇区来说,该扇区对应的LBA可以有如下计算方式。
LBA=磁头数×每磁道扇区数×当前所在柱面编号+每磁道扇区数×当前所在磁头编号+当前所在扇区编号–1。LBA最小可以为0,且越靠近盘片内侧,扇区对应的LBA也就越大。在本申请实施例中扇区对应的存储地址即可以为LBA。
六、起始存储地址
起始存储地址指硬盘中柱面编号、磁头编号、扇区编号均为最小的扇区的对应的存储地址。对应于上述LBA的编址方式,起始存储地址为0,可以称为LBAmin。在硬盘中,起始存储地址对应的扇区处于盘片的最外侧,且越靠近盘片内侧的扇区其对应的存储地址的数值也就越大。
七、终止存储地址
终止存储地址指硬盘中柱面编号、磁头编号、扇区编号均为最大的扇区的对应的存储地址。对应于上述LBA的编址方式,终止存储地址可以称为LBAmax。在硬盘中,终止存储地址对应的扇区处于盘片的最内侧,其数值也是所有扇区对应的存储地址中最大的。
下面将结合具体实施方式,对图1所示的处理流程进行详细的说明,内容可以如下:
步骤101、对第一硬盘的第一存储区进行检测,得到第一检测结果。
其中,第一硬盘的第一存储区是由第一硬盘中起始存储地址到第一存储地址之间的扇区组成的,且第一存储地址不为终止存储地址,第一存储地址与终止存储地址之间包括有多个存储地址。
在实施中,由于在对硬盘进行数据读取时,硬盘中的盘片会随转轴高速旋转。根据离心力公式可以得出,在盘片旋转过程中,盘片中越靠近外侧的存储区受到的离心力越大,那么,其故障率也会相对较高。因此,在对硬盘进行检测时,可以对硬盘中靠近外侧的存储区进行检测。
因此,在对硬盘进行检测时,可以只对起始存储地址到第一存储地址之间的扇区进行检测。例如,起始存储地址到第一存储地址之间的存储地址的数目可以占总存储地址的数目的40%,对于第一存储地址可以表示为40%*LBAmax。如果在计算第一存储地址时出现小数,则可以进行取整处理。
技术人员可以通过高技术配置(advanced technology attachment,ATA)规范定义的选择测试(Select Tests)命令模式,设定需要进行检测的扇区对应的存储地址。例如,设定指令可以为“smartctl-t select,0-X*LBAmax dev/sda”,其中,X*LBAmax为第一存储地址,X为起始存储地址到第一存储地址之间的存储地址的数目占总存储地址的数目的百分比。然后,执行预设的检测程序,对第一存储区进行检测。此处,预设的检测程序可以为较为常用的自检测(drive self test)程序,检测时涉及的检测项可以包括寻道测试、读写磁头检测、读写校验测试等。检测完成后,可以生产对于第一存储区的检测结果,检测结果中可以包括上述检测项的检测结果,检测起止时间等。
在一种可能的实现方式中,可以通过采集大量硬盘全盘检测数据,构建硬盘的故障率模型,得出硬盘的检测时间和故障率之间的对应关系,确定出故障率较高的至少一个检测时间范围。然后,将检测时间区域转化为对应的存储地址范围。然后,可以对该存储地址范围在第一硬盘中对应的存储区进行检测。
在实施中,技术人员可以采集大量硬盘检测数据,构建故障率模型。需要说明的是,为了分析出硬盘故障率较高的存储区,采集的硬盘检测数据可以为对硬盘进行全盘检测得到的硬盘检测数据。然后,可以根据构建的故障率模型,分析出硬盘的故障率较高的至少一个检测时间范围。然后,根据硬盘检测时硬盘的盘片转速,大致确定出上述至少一个检测时间范围对应的存储地址范围。那么,在对第一硬盘检测时,可以对上述确定出的至少一个存储地址范围对应的存储区进行检测。
如图2所示为一种根据采集的大量硬盘检测数据构建的硬盘的故障率模型,该故障率模型示出了硬盘故障率和检测时间的对应关系。在该故障率模型中,横轴为检测时间,纵轴为硬盘故障率。例如,对于该故障率模型中检测时间为3小时,硬盘故障率为0.05%这一数据点,所表示的含义为:在采集到的硬盘检测数据中,检测时间在开始时间之后2到3小时这一个小时内,检测到发生故障的硬盘的数目占总硬盘数目的0.05%。通过故障率模型,可以分析出硬盘故障率随检测时间呈现“U”型分布。从该故障率模型中可以看出,0到3.5小时这一检测时间范围内,硬盘的故障率较高。8.5到10小时这一检测时间范围内,硬盘的故障率次之。中间部分的检测时间范围内,硬盘的故障率相对较低。总检测时间以10小时为例,0到3.5小时对应总检测时间的前35%,8.5到10小时对应总检测时间的后15%。根据盘片转速,总检测时间的前35%的检测时间范围,对应于硬盘的存储地址范围大致为总存储地址的前43%。那么,在对第一硬盘进行检测之前,可以先计算出第一存储地址为43%*LBAmax。则第一存储区由存储地址为0到43%*LBAmax的扇区组成。然后,可以对确定出的第一硬盘的第一存储区进行检测。
在一种可能的实现方式中,根据对上述故障模型分析,为了更全面的对硬盘进行故障检测,在对硬盘进行检测时,可以对第一硬盘的第一存储区和第一硬盘的第二存储区均进行检测。其中,第一硬盘的第二存储区是由第一硬盘中第二存储地址到终止存储地址之间的扇区组成的,第一硬盘的第一存储区与第一硬盘的第二存储区无相同扇区。
在实施中,根据硬盘的故障率模型,可以分析出总检测时间中靠后的时间范围内,硬盘的故障率也相对较高。那么,在对硬盘进行检测时,还可以根据上述总检测时间中靠后的时间范围,确定出对应的存储地址范围。在对第一硬盘的第一存储区进行检测时,还可以对确定出的存储地址范围在第一硬盘中对应的第二存储区也进行检测。例如,故障率相应较高的时间范围为总检测时间的15%,根据盘片转速,总检测时间的后15%的检测时间范围,对应于硬盘的存储地址范围大致为总存储地址的后11%。然后,可以计算出第二存储地址为89%*LBAmax,则第二存储区由存储地址为89%*LBAmax到LBAmax的扇区组成。如图3所示,第一存储区为存储地址0到存储地址43%*LBAmax之间的扇区,第二存储区为存储地址89%*LBAmax到存储地址LBAmax之间的扇区。
在一种可能的实现方式中,在对第一硬盘进行检测时,除了对上述第一存储区和第二存储区进行检测,还可以在硬盘出除上述第一存储区和第二存储区以外存储区中部分扇区进行检测。
在实施中,根据采集到的硬盘检测数据,分析可以在第一存储区和第二存储区之外,确定出第三存储区。例如,第三存储区可以由存储地址54%*LBAmax到存储地址64%*LBAmax之间的扇区组成。此外,还可以确定出第四存储区。如图4所示,第一存储区由存储地址0到存储地址43%*LBAmax之间的扇区组成,第二存储区由存储地址89%*LBAmax到存储地址LBAmax之间的扇区组成,第三存储区由存储地址54%*LBAmax到存储地址64%*LBAmax之间的扇区组成,第四存储区由存储地址73%*LBAmax到存储地址82%*LBAmax之间的扇区组成。那么,在对硬盘进行检测时,可以对第一硬盘的第一存储区、第二存储区、第三存储区和第四存储区进行检测。
在一种可能的实现方式中,在对同批次的硬盘进行检测时,可以对该同一批次的硬盘进行分组检测。此处,同一批次的硬盘可以为型号相同,容量相同,具有相同扇区数目的硬盘。通过上述分析可知,硬盘中的第一存储区和第二存储区出现故障的可能性较高。那么,对于每组硬盘均可以对其各自的第一存储区和第二存储区进行检测,而其余存储区可以选择部分检测。为了便于说明,本申请实施例中可以对第一存储区和第二存储区之外的存储区中选择检测的存储区统称为可选存储区。在可选存储区中的组成不同存储区的扇区对应的存储地址均不相同。此外,组成可选存储区的扇区对应的存储地址可以包括:起始存储地址到终止存储地址中除组成第一存储区的扇区对应的存储地址与组成第二存储区的扇区对应的存储地址之外的全部存储地址。下面列举几种可能的分组检测检测方式进行说明。
分组检测方式一、
对该批次的硬盘可以分为数目相近的两组,其中一组中的硬盘可以称为第一硬盘,另一组中的硬盘可以称为第二硬盘。那么,在对该批次硬盘进行检测时,可以对第一硬盘和第二硬盘中各自的第一存储区和第二存储区均进行检测。对于第一硬盘还可以对第一硬盘中的第三存储区进行检测,对于第二硬盘还可以对第二硬盘的第四存储区进行检测。那么,第三存储区和第四存储区可以统称为可选存储区。
如图5所示,第一存储区可以由存储地址0到存储地址43%*LBAmax之间的扇区组成,第二存储区由存储地址89%*LBAmax到存储地址LBAmax之间的扇区组成。第一硬盘的第三存储区可以由第一硬盘中存储地址为43%*LBAmax到存储地址为65%*LBAmax的扇区组成,第二硬盘的第四存储区可以由第二硬盘中存储地址为66%*LBAmax到存储地址为88%*LBAmax的扇区组成。
分组检测方式二、
对该批次的硬盘可以分为数目相近的三组,三组硬盘可以分别称为第一硬盘、第二硬盘和第三硬盘。在对该批次硬盘进行检测时,可以对第一硬盘、第二硬盘和第三硬盘中各自的第一存储区和第二存储区均进行检测。对于第一硬盘还可以对第一硬盘中的第三存储区和第五存储区进行检测。对于第二硬盘还可以对第二硬盘的第四存储区和第六存储区进行检测。对于第三硬盘还可以对第三硬盘的第七存储区和第八存储区进行检测。其中,第三存储区、第四存储区、第五存储区、第六存储区、第七存储区和第八存储区可以统称为可选存储区。
如图6所示,第一存储区可以由存储地址0到存储地址43%*LBAmax之间的扇区组成,第二存储区由存储地址89%*LBAmax到存储地址LBAmax之间的扇区组成。第一硬盘的第三存储区可以由第一硬盘中存储地址为53%*LBAmax到存储地址为60%*LBAmax的扇区组成。第一硬盘的第五存储区可以由第一硬盘中存储地址为76%*LBAmax到存储地址为83%*LBAmax的扇区组成。第二硬盘的第四存储区可以由第二硬盘中存储地址为44%*LBAmax到存储地址为52%*LBAmax的扇区组成。第二硬盘的第六存储区可以由第二硬盘中存储地址为69%*LBAmax到存储地址为75%*LBAmax的扇区组成。第三硬盘的第六存储区可以由第三硬盘中存储地址为61%*LBAmax到存储地址为68%*LBAmax的扇区组成。第三硬盘的第六存储区可以由第三硬盘中存储地址为84%*LBAmax到存储地址为88%*LBAmax的扇区组成。
在一种可能的实现方式中,可以先对第一硬盘进行检测时,可以先对其进行短检测(short DST),如果短检测通过,则再对其第一存储区、第二存储区以及可选存储区进行检测。
步骤102、根据第一检测结果,确定第一硬盘的检测结果。
在实施中,可以将第一存储区对应的第一检测结果,作为第一硬盘的检测结果。在对第一硬盘中的第一存储区、第二存储区均进行检测的情况,则将第一存储区对应的第一检测结果和第二存储区对应的第二检测结果,作为该第一硬盘的检测结果。在对第一硬盘中的第一存储区、第二存储区以及可选存储区均进行检测的情况,则将第一存储区对应的第一检测结果、第二存储区对应的第二检测结果以及可选存储区对应的检测结果,作为该第一硬盘的检测结果。
通过本申请实施例,在对硬盘进行检测时,可以无需对硬盘进行全盘检测,有效提高了硬盘的检测效率。
基于相同的技术构思,本申请实施例还提供了一种硬盘检测的装置,如图7所示,该装置包括:检测模块710和确定模块720,其中:
检测模块710,用于对第一硬盘的第一存储区进行检测,得到第一检测结果,其中,所述第一硬盘的第一存储区是由所述第一硬盘中起始存储地址到第一存储地址之间的扇区组成的,所述第一存储地址与终止存储地址之间包括有多个存储地址。具体可以实现上述步骤101中的检测功能,以及其他隐含步骤。
确定模块720,用于根据所述第一检测结果,确定所述第一硬盘的检测结果。具体可以实现上述步骤102中的确定功能,以及其他隐含步骤。
在一种可能的实现方式中,所述检测模块,还用于:
对所述第一硬盘的第二存储区进行检测,得到第二检测结果,其中,所述第一硬盘的第二存储区是由所述第一硬盘中第二存储地址到终止存储地址之间的扇区组成的,所述第一硬盘的第一存储区与所述第一硬盘的第二存储区无相同扇区;
所述确定模块720,用于:
根据所述第一检测结果和所述第二检测结果,确定所述第一硬盘的检测结果。
在一种可能的实现方式中,所述检测模块,还用于:
对所述第一硬盘的第三存储区进行检测,得到第三检测结果,其中,所述第一硬盘的第三存储区是由所述第一硬盘中所述第一存储地址到所述第二存储地址之间的部分扇区组成的;
所述确定模块720,用于:
据所述第一检测结果、所述第二检测结果和所述第三检测结果,确定所述第一硬盘的检测结果。
在一种可能的实现方式中,所述检测模块710,还用于:
对第二硬盘的第一存储区、第二存储区和第四存储区进行检测,得到第四检测结果,其中,所述第二硬盘与所述第一硬盘的容量相同,所述第二硬盘的第一存储区是由所述第二硬盘中所述起始存储地址到所述第一存储地址之间的扇区组成的,所述第二硬盘的第二存储区是由所述第二硬盘中所述第二存储地址到所述终止存储地址之间的扇区组成的,所述第二硬盘的第四存储区是由所述第二硬盘中所述第一存储地址到所述第二存储地址之间的部分扇区组成的,组成所述第三存储区包括的存储地址与组成所述第四存储区包括的存储地址均不相同;
根据所述第四检测结果,确定所述第二硬盘的检测结果。
在一种可能的实现方式中,所述起始存储地址到所述第一存储地址之间的存储地址的数目占总存储地址的数目的百分之三十五到百分之四十五,所述第二存储地址到所述终止存储地址之间的存储地址的数目占总存储地址的数目的百分之五到百分之十五。
在实施中,可以采用上述硬盘检测方法中采集大量硬盘检测数据,构建硬盘的故障率模型,进一步分析得到起始存储地址到所述第一存储地址之间的存储地址的数目占总存储地址的数目的35%到45%,第二存储地址到所述终止存储地址之间的存储地址的数目占总存储地址的数目的5%到15%。
需要说明的是:上述实施例提供的硬盘检测的装置在进行硬盘检测时,仅以上述各功能模块的划分进行举例说明,实际应用中,可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能模块完成,即将电子设备的内部结构划分成不同的功能模块,以完成以上描述的全部或者部分功能。另外,上述实施例提供的硬盘检测的装置与硬盘检测的方法实施例属于同一构思,其具体实现过程详见方法实施例,这里不再赘述。
图8是本申请实施例提供的一种电子设备的结构示意图,该电子设备800可因配置或性能不同而产生比较大的差异,可以包括一个或一个以上处理器(central processingunits,CPU)801和一个或一个以上的存储器802,其中,所述存储器802中存储有至少一条指令,所述至少一条指令由所述处理器801加载并执行以实现上述各个方法实施例提供的方法。当然,该电子设备还可以具有有线或无线网络接口、键盘以及输入输出接口等部件,以便进行输入输出,该电子设备还可以包括其他用于实现设备功能的部件,在此不做赘述。
在上述实施例中,可以全部或部分地通过软件、硬件、固件或者其任意组合来实现,当使用软件实现时,可以全部或部分地以计算机程序产品的形式实现。所述计算机程序产品包括一个或多个计算机指令,在设备上加载和执行所述计算机程序指令时,全部或部分地产生按照本申请实施例所述的流程或功能。所述计算机指令可以存储在计算机可读存储介质中,或者从一个计算机可读存储介质向另一个计算机可读存储介质传输,例如,所述计算机指令可以从一个网站站点、计算机、服务器或数据中心通过有线(例如同轴光缆、光纤、数字用户线)或无线(例如红外、无线、微波等)方式向另一个网站站点、计算机、服务器或数据中心进行传输。所述计算机可读存储介质可以是设备能够存取的任何可用介质或者是包含一个或多个可用介质集成的服务器、数据中心等数据存储设备。所述可用介质可以是磁性介质(如软盘、硬盘和磁带等),也可以是光介质(如数字视盘(digital video disk,DVD)等),或者半导体介质(如固态硬盘等)。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分步骤可以通过硬件来完成,也可以通过程序来指令相关的硬件完成,所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中,上述提到的存储介质可以是只读存储器,磁盘或光盘等。
以上所述仅为本申请一个实施例,并不用以限制本申请,凡在本申请的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种硬盘检测的方法,其特征在于,所述方法包括:
对第一硬盘的第一存储区进行检测,得到第一检测结果,其中,所述第一硬盘的第一存储区是由所述第一硬盘中对应的存储地址在起始存储地址到第一存储地址之间的扇区组成的,所述第一存储地址与终止存储地址之间包括有多个存储地址;
对所述第一硬盘的第二存储区进行检测,得到第二检测结果,其中,所述第一硬盘的第二存储区是由所述第一硬盘中对应的存储地址在第二存储地址到终止存储地址之间的扇区组成的,所述第一硬盘的第一存储区与所述第一硬盘的第二存储区无相同扇区;
对所述第一硬盘的第三存储区进行检测,得到第三检测结果,其中,所述第一硬盘的第三存储区是由所述第一硬盘中对应的存储地址在所述第一存储地址到所述第二存储地址之间的部分扇区组成的;
对第二硬盘的第一存储区、第二存储区和第四存储区进行检测,得到第四检测结果,其中,所述第二硬盘与所述第一硬盘的容量相同,所述第二硬盘的第一存储区是由所述第二硬盘中对应的存储地址在所述起始存储地址到所述第一存储地址之间的扇区组成的,所述第二硬盘的第二存储区是由所述第二硬盘中对应的存储地址在所述第二存储地址到所述终止存储地址之间的扇区组成的,所述第二硬盘的第四存储区是由所述第二硬盘中对应的存储地址在所述第一存储地址到所述第二存储地址之间的部分扇区组成的,所述第三存储区包括的存储地址与所述第四存储区包括的存储地址均不相同;
根据所述第四检测结果,确定所述第二硬盘的检测结果;
根据所述第一检测结果、所述第二检测结果和所述第三检测结果,确定所述第一硬盘的检测结果。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述起始存储地址到所述第一存储地址之间的存储地址的数目占总存储地址的数目的百分之三十五到百分之四十五,所述第二存储地址到所述终止存储地址之间的存储地址的数目占总存储地址的数目的百分之五到百分之十五。
3.一种硬盘检测的装置,其特征在于,所述装置包括:
检测模块,用于对第一硬盘的第一存储区进行检测,得到第一检测结果,其中,所述第一硬盘的第一存储区是由对应的存储地址在所述第一硬盘中起始存储地址到第一存储地址之间的扇区组成的,所述第一存储地址与终止存储地址之间包括有多个存储地址;
对所述第一硬盘的第二存储区进行检测,得到第二检测结果,其中,所述第一硬盘的第二存储区是由所述第一硬盘中对应的存储地址在第二存储地址到终止存储地址之间的扇区组成的,所述第一硬盘的第一存储区与所述第一硬盘的第二存储区无相同扇区;
对所述第一硬盘的第三存储区进行检测,得到第三检测结果,其中,所述第一硬盘的第三存储区是由所述第一硬盘中对应的存储地址在所述第一存储地址到所述第二存储地址之间的部分扇区组成的;
对第二硬盘的第一存储区、第二存储区和第四存储区进行检测,得到第四检测结果,其中,所述第二硬盘与所述第一硬盘的容量相同,所述第二硬盘的第一存储区是由所述第二硬盘中对应的存储地址在所述起始存储地址到所述第一存储地址之间的扇区组成的,所述第二硬盘的第二存储区是由所述第二硬盘中对应的存储地址在所述第二存储地址到所述终止存储地址之间的扇区组成的,所述第二硬盘的第四存储区是由所述第二硬盘中对应的存储地址在所述第一存储地址到所述第二存储地址之间的部分扇区组成的,所述第三存储区包括的存储地址与所述第四存储区包括的存储地址均不相同;
确定模块,用于:根据所述第四检测结果,确定所述第二硬盘的检测结果;
根据所述第一检测结果、所述第二检测结果和所述第三检测结果,确定所述第一硬盘的检测结果。
4.根据权利要求3所述的装置,其特征在于,所述起始存储地址到所述第一存储地址之间的存储地址的数目占总存储地址的数目的百分之三十五到百分之四十五,所述第二存储地址到所述终止存储地址之间的存储地址的数目占总存储地址的数目的百分之五到百分之十五。
5.一种电子设备,其特征在于,所述电子设备包括:
存储器,所述存储器包括计算机可读指令;
处理器,所述处理器用于执行所述计算机可读指令,从而执行如权利要求1或2所述的硬盘检测的方法。
6.一种计算机可读存储介质,包括计算机可读指令,当所述计算机可读存储介质在电子设备上运行时,使得所述电子设备执行权利要求1或2所述的硬盘检测的方法。
CN202010055592.2A 2019-11-04 2020-01-17 一种硬盘检测的方法、装置和电子设备 Active CN111274070B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201911065668 2019-11-04
CN2019110656683 2019-11-04

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN111274070A CN111274070A (zh) 2020-06-12
CN111274070B true CN111274070B (zh) 2021-10-15

Family

ID=71000737

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202010055592.2A Active CN111274070B (zh) 2019-11-04 2020-01-17 一种硬盘检测的方法、装置和电子设备

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN111274070B (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114023371B (zh) * 2021-11-02 2025-04-29 深圳宏芯宇电子股份有限公司 状态检测方法与状态检测装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102495777A (zh) * 2011-12-13 2012-06-13 百度在线网络技术(北京)有限公司 硬盘故障处理方法及处理装置
CN104484251A (zh) * 2014-12-11 2015-04-01 华为技术有限公司 一种硬盘故障的处理方法及装置
CN106959912A (zh) * 2017-03-07 2017-07-18 杭州宏杉科技股份有限公司 磁盘检测方法及装置
CN107145412A (zh) * 2017-04-18 2017-09-08 曙光信息产业(北京)有限公司 一种硬盘状态的检测方法及检测装置
CN107632778A (zh) * 2017-08-07 2018-01-26 深圳芯邦科技股份有限公司 一种Nand Flash扫描检测方法和系统

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20070028041A1 (en) * 2005-07-26 2007-02-01 Lsi Logic Corporation Extended failure analysis in RAID environments
US8527720B2 (en) * 2008-12-03 2013-09-03 Lsi Corporation Methods of capturing and naming dynamic storage tiering configurations to support data pre-staging
CN106407051B (zh) * 2015-07-31 2019-01-11 华为技术有限公司 一种检测慢盘的方法及装置
JP2018191218A (ja) * 2017-05-10 2018-11-29 富士通株式会社 バースト検出プログラム、バースト検出方法、および情報処理装置
JP6867591B2 (ja) * 2017-06-16 2021-04-28 富士通株式会社 ストレージ制御装置、ストレージ制御方法およびストレージ制御プログラム
CN109460336A (zh) * 2018-11-02 2019-03-12 郑州云海信息技术有限公司 一种批量验证硬盘dst功能的方法及系统
CN109739702A (zh) * 2018-12-18 2019-05-10 曙光信息产业股份有限公司 硬盘自动化检测方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102495777A (zh) * 2011-12-13 2012-06-13 百度在线网络技术(北京)有限公司 硬盘故障处理方法及处理装置
CN104484251A (zh) * 2014-12-11 2015-04-01 华为技术有限公司 一种硬盘故障的处理方法及装置
CN106959912A (zh) * 2017-03-07 2017-07-18 杭州宏杉科技股份有限公司 磁盘检测方法及装置
CN107145412A (zh) * 2017-04-18 2017-09-08 曙光信息产业(北京)有限公司 一种硬盘状态的检测方法及检测装置
CN107632778A (zh) * 2017-08-07 2018-01-26 深圳芯邦科技股份有限公司 一种Nand Flash扫描检测方法和系统

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
DIG: Rapid Characterization of Modern Hard Disk Drive and Its Performance Implication;Jongmin Gim;《2008 Fifth IEEE International Workshop on Storage Network Architecture and Parallel I/Os》;20081121;全文 *
启动型恶意代码分析与检测综述;罗雨青;《计算机应用与软件》;20150930;全文 *

Also Published As

Publication number Publication date
CN111274070A (zh) 2020-06-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2017129032A1 (zh) 磁盘的故障预测方法和装置
CN107391333B (zh) 一种osd磁盘故障测试方法及系统
CN104850480A (zh) 高密度存储服务器硬盘性能测试的方法及装置
CN112416670B (zh) 硬盘测试方法、装置、服务器和存储介质
CN105893230A (zh) 一种检测硬盘iops性能的方法及装置
CN104317684A (zh) 一种同步自动测试多个usb接口带宽及传输速率的方法
CN112466382A (zh) 一种raid阵列的巡检方法和装置
CN110213258A (zh) 车辆can总线的异常监测方法、装置和计算机设备
CN111274078A (zh) 一种硬盘性能测试方法、系统及装置
CN110008074B (zh) 自动化测试查询硬件信息上层接口的方法、装置及设备
CN111274070B (zh) 一种硬盘检测的方法、装置和电子设备
KR101976629B1 (ko) 커미트 민감도 테스트들
US20130036334A1 (en) Computing device and method for testing serial attached scsi ports of servers
CN110737578A (zh) 一种测试应用方法和装置
CN112579382A (zh) 一种NVMe固态硬盘坏块解析方法、装置、终端及存储介质
CN111352783A (zh) 一种自动化控制硬盘识别、测试的方法及系统
CN107301109B (zh) 一种硬盘质量筛选方法及装置
CN107544759B (zh) 一种磁盘阵列io分配系统及方法
JP2021114064A (ja) データ補間方法、およびデータ補間プログラム
CN106610883B (zh) 一种检测方法及装置
JP3238040B2 (ja) 補助記憶装置の動作試験方法および装置
TWI470422B (zh) 多硬碟的讀寫管理方法與系統、電子裝置
US9582410B2 (en) Testing software on a computer system
CN115700549A (zh) 模型训练方法、故障确定方法、电子设备和程序产品
CN116248543B (zh) 一种区块链性能测试方法、装置、电子设备及存储介质

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant