CN111007955A - 显示装置 - Google Patents
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Abstract
一种显示装置。显示装置包括第一与第二切换电路、数据信号选择电路以及检测信号选择电路。第一切换电路接收多个控制信号,并依据显示状态信号以及检测状态信号以提供多个数据控制信号。数据信号选择电路在显示时间区间,依据数据控制信号以传输多个显示数据至触控面板。第二切换电路接收控制信号,并依据显示状态信号以及该检测状态信号以提供多个检测控制信号。检测信号选择电路在检测时间区间,依据检测控制信号以传输检测信号至触控面板。
Description
技术领域
本发明是有关于一种显示装置,且特别是有关于一种能够使数据信号选择电路以及检测信号选择电路共用相同的控制信号以进行操作的显示装置。
背景技术
在习知技术中,具有触控功能的显示装置可以通过数据信号选择电路来依据第一控制信号的时序状态,以对应的提供显示数据至触控面板。并且,显示装置也可以通过检测信号选择电路来依据不同于第一控制信号的第二控制信号的时序状态,以对应的提供检测信号至所述触控面板,藉以检测所述触控面板的触控状态。值得一提的是,在习知技术中,所述数据信号选择电路与所述检测信号选择电路通常会受控于不同的控制信号(或者连接至不同的控制线)。
在此情况下,用以产生所述第一控制信号以及所述第二控制信的相关电路的接脚(Pin)数量,将会因为数据信号选择电路以及检测信号选择电路的不同设计需求而受到影响,使得所述接脚数量增加,且提升了显示装置整体的成本。
发明内容
本发明提供一种能够使数据信号选择电路以及检测信号选择电路共用相同的控制信号的显示装置,藉以有效地降低接脚数量以及显示装置整体的成本。
本发明的显示装置包括第一切换电路、数据信号选择电路、第二切换电路以及检测信号选择电路。第一切换电路耦接至多条控制线,以分别接收多个控制信号,第一切换电路依据显示状态信号以及检测状态信号以提供多个数据控制信号。数据信号选择电路耦接至第一切换电路,并在显示时间区间,数据信号选择电路依据数据控制信号以传输多个显示数据至触控面板。第二切换电路耦接至控制线,以分别接收控制信号,第二切换电路依据显示状态信号以及检测状态信号以提供多个检测控制信号。检测信号选择电路耦接至第二切换电路,并在检测时间区间,检测信号选择电路依据检测控制信号以传输检测信号至触控面板。
基于上述,本发明的显示装置的数据信号选择电路以及检测信号选择电路,分别可以通过各自对应的切换电路来共同耦接至相同的控制线,以接收相同的控制信号。如此一来,本发明的显示装置可以仅通过这些控制信号即可同时控制所述数据信号选择电路以及检测信号选择电路的操作动作,藉以有效的降低接脚数量以及显示装置整体的成本。
以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述,但不作为对本发明的限定。
附图说明
图1是依照本发明一实施例的显示装置的电路方块(Circuit Block)示意图。
图2是依照本发明一实施例的显示装置的电路图。
图3是依照本发明一实施例说明图2所示显示装置的时序图。
图4是依照本发明另一实施例的显示装置的电路图。
图5是依照本发明再一实施例的显示装置的电路图。
图6是依照本发明再一实施例说明图5所示显示装置的时序图。
其中,附图标记:
100、200、400、500:显示装置
110、120、210、220、410、420、510、520:切换电路
130、230、430、530:数据信号选择电路
140、240、440、540:检测信号选择电路
150、250、450、550:触控面板
160、260、460、560:检测电路
CL1~CL3:控制线
CS1~CS3:控制信号
DCS1~DCSN:数据控制信号
DS1~DSN:显示数据
FVS:电压电位信号
GOFF:检测状态信号
INV1~INV3:反向器
M11~M16、M21~M26、M31~M33、M41~M46:晶体管
TPSW:显示状态信号
TCS11~TCS1N:检测控制信号
TS:检测信号
T1:显示时间区间
T2:检测时间区间
VGH:栅极高电压
VGL:栅极低电压
VGUARD:参考电压
具体实施方式
下面结合附图对本发明的结构原理和工作原理作具体的描述:
在本案说明书全文(包括申请专利范围)中所使用的「耦接(或连接)」一词可指任何直接或间接的连接手段。举例而言,若文中描述第一装置耦接(或连接)于第二装置,则应该被解释成该第一装置可以直接连接于该第二装置,或者该第一装置可以通过其他装置或某种连接手段而间接地连接至该第二装置。另外,凡可能之处,在附图及实施方式中使用相同标号的元件/构件/步骤代表相同或类似部分。不同实施例中使用相同标号或使用相同用语的元件/构件/步骤可以相互参照相关说明。
图1是依照本发明一实施例的显示装置100的电路方块示意图。请参照图1,显示装置100包括切换电路110、切换电路120、数据信号选择电路130、检测信号选择电路140、触控面板150以及检测电路160。切换电路110以及切换电路120可以共同的耦接至控制线CL1~CL3,以共同的接收控制信号CS1~CS3。并且,切换电路110以及切换电路120亦可共同的接收显示状态信号TPSW、检测状态信号GOFF以及电压电位信号FVS。其中,在本实施例中,显示状态信号TPSW可用以指示显示装置100操作于显示时间区间,检测状态信号GOFF可用以指示显示装置100操作于检测时间区间,电压电位信号FVS可用以提供具有栅极高电压或栅极低电压的电压电位。
在本实施例中,切换电路110可用以依据显示状态信号TPSW以及检测状态信号GOFF来提供多个数据控制信号DCS1~DCSN。切换电路120可用以依据显示状态信号TPSW以及检测状态信号GOFF来提供多个检测控制信号TCS11~TCS1N。
数据信号选择电路130耦接于切换电路110以及触控面板150之间。数据信号选择电路130接收由切换电路110所提供的数据控制信号DCS1~DCSN,并且,数据信号选择电路130亦可接收由源极驱动电路(未示出)所提供的多个显示数据DS1~DSN。其中,数据信号选择电路130可以依据数据控制信号DCS1~DCSN的时序状态,以依序的提供显示数据DS1~DSN至后端的触控面板150。
另一方面,检测信号选择电路140耦接于切换电路120、触控面板150以及检测电路160之间。其中,检测电路160可用以提供检测信号TS至检测信号选择电路140。具体而言,在本实施例中,检测信号选择电路140可以接收检测控制信号TCS11~TCS1N以及检测信号TS。并且,检测信号选择电路140可以依据检测控制信号TCS11~TCS1N的时序状态,以提供检测信号TS至后端的触控面板150。
触控面板150耦接至数据信号选择电路130以及检测信号选择电路140,以分别接收显示数据DS1~DSN以及检测信号TS。其中,触控面板150具有多个触控区域,且各个触控区域是由多个像素阵列所组成。进一步来说,当显示装置100操作于显示时间区间时,触控面板150可以接收显示数据DS1~DSN,并依据这些显示数据DS1~DSN来进行显示画面的操作。相对的,当显示装置100操作于检测时间区间时,触控面板150可以接收检测信号TS,以使检测电路160可以依据检测信号TS来对各个触控区域的触控状态进行检测。
需注意到的是,本领域所属技术人员可以根据显示装置100的设计需求来决定上述控制线、数据控制信号、检测控制信号以及显示数据的数量,本实施例并不局限于上述所举例的数量。其中,上述的N为正整数。
关于显示装置100的操作细节,详细来说,本实施例的显示装置100可以操作于显示时间区间以及检测时间区间。其中,当显示装置100操作于显示时间区间时,显示装置100可以依据显示状态信号TPSW以及检测状态信号GOFF来致能(Enable)切换电路110且禁能(Disable)切换电路120,以使切换电路110可以启动数据信号选择电路130的操作动作,并促使触控面板150可以进行显示画面的操作。相对的,当显示装置100操作于检测时间区间时,显示装置100可以依据显示状态信号TPSW以及检测状态信号GOFF来致能切换电路120且禁能切换电路110,以使切换电路120可以启动检测信号选择电路140的操作动作,并促使检测电路160可以开始对触控面版150中的各个触控区域的触控状态进行检测。
举例来说,当显示装置100操作于显示时间区间时,显示状态信号TPSW可以被设定为致能状态且检测状态信号GOFF可以被设定为禁能状态。并且,此时的电压电位信号FVS可以具有栅极高电压的电压电位。在此情况下,切换电路110可以依据显示状态信号TPSW而依序的接收控制信号CS1~CS3,并将控制信号CS1~CS3作为数据控制信号(亦即,数据控制信号DCS1~DCS3),以提供至数据信号选择电路130。接着,数据信号选择电路130可以依据这些数据控制信号DCS1~DCS3的时序状态,来依序的提供显示数据DS1~DSN至触控面板150。
值得一提的是,在显示装置100操作于显示时间区间的情况下,切换电路120可以依据显示状态信号TPSW而接收电压电位信号FVS,并将具有栅极高电压的电压电位的电压电位信号FVS作为检测控制信号,以提供至检测信号选择电路140。藉此,显示装置100可以避免检测信号选择电路140在显示时间区间时发生浮接或误动作的情况发生。
另一方面,当显示装置100操作于检测时间区间时,显示状态信号TPSW可以被设定为禁能状态且检测状态信号GOFF可以被设定为致能状态。并且,此时的电压电位信号FVS可以具有栅极低电压的电压电位。在此情况下,切换电路120可以依据检测状态信号GOFF而依序的接收控制信号CS1~CS3,并将控制信号CS1~CS3作为检测控制信号(亦即,检测控制信号TCS11~TCS13),以提供至检测信号选择电路140。接着,检测信号选择电路140可以依据这些检测控制信号TCS11~TCS13的时序状态,以将检测电路160所提供的检测信号TS传送至触控面板150,进而使检测电路160依据检测信号TS来对触控面板150中的各个触控区域的触控状态进行检测。
值得一提的是,在显示装置100操作于检测时间区间的情况下,切换电路110可以依据检测状态信号GOFF而接收电压电位信号FVS,并将具有栅极高电压的电压电位的电压电位信号FVS作为数据控制信号,以提供至数据信号选择电路130。藉此,显示装置100可以避免数据信号选择电路130在检测时间区间时发生浮接或误动作的情况发生。
依据上述图1实施例的说明内容可以得知,在本实施例的显示装置100的数据信号选择电路130以及检测信号选择电路140中,分别可以通过切换电路110以及切换电路120来共同耦接至相同的控制线CL1~CL3,以接收相同的控制信号CS1~CS3。如此一来,显示装置100可以仅通过这些控制信号CS1~CS3即可同时控制数据信号选择电路130以及检测信号选择电路140的操作动作,藉以有效的降低接脚数量以及显示装置100整体的成本。
图2是依照本发明一实施例的显示装置200的电路图。请参照图2,显示装置200包括切换电路210、切换电路220、数据信号选择电路230、检测信号选择电路240、触控面板250以及检测电路260。其中,图2所示的显示装置200、切换电路210、切换电路220、数据信号选择电路230、检测信号选择电路240、触控面板250以及检测电路260大致可以相同或相似于图1所示的显示装置100、切换电路110、切换电路120、数据信号选择电路130、检测信号选择电路140、触控面板150以及检测电路160,并且相同或相似的元件使用相同或相似的标号。
在图2的显示装置200中,切换电路210包括晶体管M11~M16。晶体管M11的第一端接收电压电位信号FVS,晶体管M11的控制端接收检测状态信号GOFF。晶体管M12的第一端接收控制信号CS1,晶体管M12的第二端耦接至晶体管M11的第二端,晶体管M12的控制端接收显示状态信号TPSW。晶体管M13的第一端接收电压电位信号FVS,晶体管M13的控制端接收检测状态信号GOFF。晶体管M14的第一端接收控制信号CS2,晶体管M14的第二端耦接至晶体管M13的第二端,晶体管M14的控制端接收显示状态信号TPSW。晶体管M15的第一端接收电压电位信号FVS,晶体管M15的控制端接收检测状态信号GOFF。晶体管M16的第一端接收控制信号CS3,晶体管M16的第二端耦接至晶体管M15的第二端,晶体管M16的控制端接收显示状态信号TPSW。
切换电路220包括晶体管M21~M26。晶体管M21的第一端接收电压电位信号FVS,晶体管M21的控制端接收显示状态信号TPSW。晶体管M22的第一端接收控制信号CS1,晶体管M22的第二端耦接至晶体M21的第二端,晶体管M22的控制端接收检测状态信号GOFF。晶体管M23的第一端接收电压电位信号FVS,晶体管M23的控制端接收显示状态信号TPSW。晶体管M24的第一端接收控制信号CS2,晶体管M24的第二端耦接至晶体管M23的第二端,晶体管M24的控制端接收检测状态信号GOFF。晶体管M25的第一端接收电压电位信号FVS,晶体管M25的控制端接收显示状态信号TPSW。晶体管M26的第一端接收控制信号CS3,晶体管M26的第二端耦接至晶体管M25的第二端,晶体管M26的控制端接收检测状态信号GOFF。
另一方面,数据信号选择电路230包括晶体管M31~M33。晶体管M31的第一端耦接至触控面板250,晶体管M31的第二端接收显示数据DS1,晶体管M31的控制端耦接至晶体管M15、M16的第二端,以接收数据控制信号DCS1。晶体管M32的第一端耦接至触控面板250,晶体管M32的第二端接收显示数据DS2,晶体管M32的控制端耦接至晶体管M13、M14的第二端,以接收数据控制信号DCS2。晶体管M33的第一端耦接至触控面板250,晶体管M33的第二端接收显示数据DS3,晶体管M33的控制端耦接至晶体管M11、M12的第二端,以接收数据控制信号DCS3。
检测信号选择电路240包括晶体管M41~M46。晶体管M41的第一端耦接至检测电路260,晶体管M41的第二端耦接至触控面板250,晶体管M41的控制端耦接至晶体管M21、M22的第二端,以接收检测控制信号TCS11。晶体管M42的第一端耦接至检测电路260,晶体管M42的第二端耦接至触控面板250,晶体管M42的控制端耦接至晶体管M23、M24的第二端,以接收检测控制信号TCS12。晶体管M43的第一端耦接至检测电路260,晶体管M43的第二端耦接至触控面板250,晶体管M43的控制端耦接至晶体管M25、M26的第二端,以接收检测控制信号TCS13。
晶体管M44的第一端接收参考电压VGUARD,晶体管M44的第二端耦接至晶体管M41的第二端,晶体管M44的控制端耦接至反向器INV1的输出端,且所述反向器INV1的输入端耦接至晶体管M21、M22的第二端。晶体管M45的第一端接收参考电压VGUARD,晶体管M45的第二端耦接至晶体管M42的第二端,晶体管M45的控制端耦接至反向器INV2的输出端,且所述反向器INV2的输入端耦接至晶体管M23、M24的第二端。晶体管M46的第一端接收参考电压VGUARD,晶体管M46的第二端耦接至晶体管M43的第二端,晶体管M46的控制端耦接至反向器INV3的输出端,且所述反向器INV3的输入端耦接至晶体管M25、M26的第二端。
特别一提的是,在检测信号选择电路240中,当晶体管M44~M46为断开状态时,检测信号选择电路240可以通过接收参考电压VGUARD的方式,以避免晶体管M44~M46因发生浮接状态而导致误动作的情况。
图3是依照本发明一实施例说明图2所示显示装置200的时序图。关于显示装置200的操作细节,请同时参照图2以及图3,详细来说,当显示装置200操作于显示时间区间T1时,显示状态信号TPSW可以被设定为致能状态(例如是高电压电位)且检测状态信号GOFF可以被设定为禁能状态(例如是低电压电位)。并且,此时的电压电位信号FVS可以具有栅极高电压VGH的电压电位。在此情况下,切换电路210的晶体管M12、M14、M16可依据显示状态信号TPSW而被导通,且这些晶体管M12、M14、M16可依序的接收控制信号CS1~CS3,并将控制信号CS1~CS3作为数据控制信号DCS1~DCS3,以分别提供至数据信号选择电路230的晶体管M31~M33。
接着,晶体管M31~M33可以依据数据控制信号DCS1~DCS3(或控制信号CS1~CS3)的时序状态而依序的被导通。并且,数据信号选择电路230可以依据这些数据控制信号DCS1~DCS3的时序状态,来依序的提供显示数据DS1~DS3至触控面板250,以使触控面板250依据显示数据DS1~DS3来显示画面。
在此同时,切换电路220的晶体管M21、M23、M25可以依据显示状态信号TPSW而被导通,且这些晶体管M21、M23、M25可接收电压电位信号FVS,以将具有栅极高电压VGH的电压电位的电压电位信号FVS作为检测控制信号TCS11~TCS13,以提供至检测信号选择电路240的晶体管M41~M43。需注意到的是,显示装置200可以通过反向器INV1~INV3来分别对检测控制信号TCS11~TCS13执行反向动作,以对应的提供检测控制信号TCS14~TCS16至晶体管M44~M46。藉此,显示装置200可以避免检测信号选择电路240在显示时间区间T1时发生浮接或误动作的情况发生。
另一方面,当显示装置200操作于检测时间区间T2时,显示状态信号TPSW可以被设定为禁能状态(例如是低电压电位)且检测状态信号GOFF可以被设定为致能状态(例如是高电压电位)。并且,此时的电压电位信号FVS可以具有栅极低电压VGL的电压电位。在此情况下,切换电路220的晶体管M22、M24、M26可依据检测状态信号GOFF而被导通,且这些晶体管M22、M24、M26可依序的接收控制信号CS1~CS3,并将控制信号CS1~CS3作为检测控制信号TCS11~TCS13,以分别提供至检测信号选择电路240的晶体管M41~M43。并且,显示装置200可以通过反向器INV1~INV3来分别依据检测控制信号TCS11~TCS13以提供检测控制信号TCS14~TCS16至晶体管M44~M46。
接着,检测信号选择电路240的晶体管M41~M43可以依据检测控制信号TCS11~TCS13(或控制信号CS1~CS3)的时序状态而依序的被导通,并且晶体管M44~M46可以依据检测控制信号TCS14~TCS16的时序状态而依序的被断开。在此情况下,检测电路260可以将检测信号TS通过晶体管M41~M43提供至触控面板250,以使检测电路260可以依据检测信号TS来对触控面板250中的各个触控区域的触控状态进行检测。
在此同时,切换电路210的晶体管M11、M13、M15可以依据检测状态信号GOFF而被导通,且这些晶体管M11、M13、M15可接收电压电位信号FVS,以将具有栅极低电压VGL的电压电位的电压电位信号FVS作为数据控制信号DCS1~DCS3,以提供至数据信号选择电路230。藉此,显示装置200可以避免数据信号选择电路230在检测时间区间T2时发生浮接或误动作的情况发生。
图4是依照本发明另一实施例的显示装置400的电路图。请参照图4,显示装置400包括切换电路410、切换电路420、数据信号选择电路430、检测信号选择电路440、触控面板450以及检测电路460。其中,图4所示的显示装置400、切换电路410、切换电路420、数据信号选择电路430、检测信号选择电路440、触控面板450以及检测电路460大致可以相同或相似于图2所示的显示装置200、切换电路210、切换电路220、数据信号选择电路230、检测信号选择电路240、触控面板250以及检测电路260,并且相同或相似的元件使用相同或相似的标号。不同于图2实施例的是,在本实施例中,显示装置400可不需要通过反向器INV1~INV3来依据检测控制信号TCS11~TCS13以提供检测控制信号TCS14~TCS16至检测信号选择电路440。换言之,检测信号选择电路440可以直接通过外部装置来接收这些检测控制信号TCS14~TCS16。其中,图4所示的显示装置400、切换电路410、切换电路420、数据信号选择电路430、检测信号选择电路440、触控面板450以及检测电路460可以参照图2所提及的显示装置200、切换电路210、切换电路220、数据信号选择电路230、检测信号选择电路240、触控面板250以及检测电路260的相关说明来类推,故不再赘述。
图5是依照本发明再一实施例的显示装置500的电路图。请参照图5,显示装置500包括切换电路510、切换电路520、数据信号选择电路530、检测信号选择电路540、触控面板550以及检测电路560。其中,图5所示的显示装置500、切换电路510、切换电路520、数据信号选择电路530、检测信号选择电路540、触控面板550以及检测电路560大致相同或相似于图2所示的显示装置200、切换电路210、切换电路220、数据信号选择电路230、检测信号选择电路240、触控面板250以及检测电路260。并且相同或相似的元件使用相同或相似的标号。不同于图2实施例的是,在本实施例中,显示装置500的切换电路510、520可以不需要接收电压电位信号FVS。
具体而言,切换电路510包括晶体管M11~M16。晶体管M11的第一端接收显示状态信号TPSW,晶体管M11的控制端接收检测状态信号GOFF。晶体管M12的第一端接收控制信号CS1,晶体管M12的第二端耦接至晶体管M11的第二端,晶体管M12的控制端接收显示状态信号TPSW。晶体管M13的第一端接收显示状态信号TPSW,晶体管M13的控制端接收检测状态信号GOFF。晶体管M14的第一端接收控制信号CS2,晶体管M14的第二端耦接至晶体管M13的第二端,晶体管M14的控制端接收显示状态信号TPSW。晶体管M15的第一端接收显示状态信号TPSW,晶体管M15的控制端接收检测状态信号GOFF。晶体管M16的第一端接收控制信号CS3,晶体管M16的第二端耦接至晶体管M15的第二端,晶体管M16的控制端接收显示状态信号TPSW。
另一方面,切换电路520包括晶体管M21~M26。晶体管M21的第一端与控制端共同接收显示状态信号TPSW。晶体管M22的第一端接收控制信号CS1,晶体管M22的第二端耦接至晶体管M21的第二端,晶体管M22的控制端接收检测状态信号GOFF。晶体管M23的第一端与控制端共同接收显示状态信号TPSW。晶体管M24的第一端接收控制信号CS2,晶体管M24的第二端耦接至晶体管M23的第二端,晶体管M24的控制端接收检测状态信号GOFF。晶体管M25的第一端与控制端共同接收显示状态信号TPSW。晶体管M26的第一端接收控制信号CS3,晶体管M26的第二端耦接至晶体管M25的第二端,晶体管M26的控制端接收检测状态信号GOFF。
图6是依照本发明再一实施例说明图5所示显示装置500的时序图。请参照图5以及图6,在本实施例中,当显示装置500操作于显示时间区间T1时,切换电路520的晶体管M21、M23、M25可以依据被设定为致能状态(例如是高电压电位)的显示状态信号TPSW而被导通,且这些晶体管M21、M23、M25可接收显示状态信号TPSW,以将具有高电压电位的显示状态信号TPSW作为检测控制信号TCS11~TCS13,并提供至检测信号选择电路540的晶体管M41~M43。并且,显示装置500可以通过反向器INV1~INV3来分别对检测控制信号TCS11~TCS13执行反向动作,以对应的提供检测控制信号TCS14~TCS16至晶体管M44~M46。藉此,显示装置500可以在没有接收电压电位信号FVS的情况下,亦可避免检测信号选择电路540在显示时间区间T1时发生浮接或误动作的情况发生。
相对的,当显示装置500操作于检测时间区间T2时,切换电路510的晶体管M11、M13、M15可以依据被设定为致能状态(例如是高电压电位)的检测状态信号GOFF而被导通,且这些晶体管M11、M13、M15可接收显示状态信号TPSW,以将具有低电压电位的显示状态信号TPSW作为数据控制信号DCS1~DCS3,并提供至数据信号选择电路530。藉此,显示装置500可以在没有接收电压电位信号FVS的情况下,亦可避免数据信号选择电路530在检测时间区间T2时发生浮接或误动作的情况发生。
需注意到的是,关于在显示时间区间T1以及检测时间区间T2中,显示装置500的切换电路510、切换电路520、数据信号选择电路530、检测信号选择电路540、触控面板550以及检测电路560的操作细节,皆可参照图1、图2以及/或是图4所提及的切换电路、数据信号选择电路、检测信号选择电路、触控面板以及检测电路的相关说明来类推,故不再赘述。
综上所述,本发明的显示装置的数据信号选择电路以及检测信号选择电路,分别可以通过各自对应的切换电路来共同耦接至相同的控制线,以接收相同的控制信号。如此一来,本发明的显示装置可以仅通过这些控制信号即可同时控制所述数据信号选择电路以及检测信号选择电路的操作动作,藉以有效的降低接脚数量以及显示装置整体的成本。
当然,本发明还可有其它多种实施例,在不背离本发明精神及其实质的情况下,熟悉本领域的技术人员当可根据本发明作出各种相应的改变和变形,但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。
Claims (11)
1.一种显示装置,其特征在于,包括:
一第一切换电路,耦接至多条控制线,以分别接收多个控制信号,并且该第一切换电路依据一显示状态信号以及一检测状态信号以提供多个数据控制信号;
一数据信号选择电路,耦接至该第一切换电路,并在一显示时间区间,该数据信号选择电路依据该些数据控制信号以传输多个显示数据至一触控面板;
一第二切换电路,耦接至该些控制线,以分别接收该些控制信号,该第二切换电路依据该显示状态信号以及该检测状态信号以提供多个检测控制信号;以及
一检测信号选择电路,耦接至该第二切换电路,并在一检测时间区间,该检测信号选择电路依据该些检测控制信号以传输一检测信号至该触控面板。
2.如申请专利范围第1项所述的显示装置,其特征在于,在该显示时间区间,该第一切换电路依据该显示状态信号以及该检测状态信号使该些控制信号作为该些数据控制信号,并提供该些数据控制信号至该数据信号选择电路,以及在该检测时间区间,该第二切换电路依据该显示状态信号以及该检测状态信号使该些控制信号作为该些检测控制信号,并提供该些检测控制信号至该检测信号选择电路。
3.如申请专利范围第1项所述的显示装置,其特征在于,该第一切换电路以及该第二切换电路接收具有一栅极高电压或一栅极低电压的一电压电位信号,其中,
在该显示时间区间,该第二切换电路依据该显示状态信号以及该检测状态信号使具有该栅极高电压的该电压电位信号作为该些检测控制信号,并提供该些检测控制信号至该检测信号选择电路,并且
在该检测时间区间,该第一切换电路依据该显示状态信号以及该检测状态信号使具有该栅极低电压的该电压电位信号作为该些数据控制信号,并提供该些数据控制信号至该数据信号选择电路。
4.如申请专利范围第1项所述的显示装置,其特征在于,该显示装置更包括:
一检测电路,耦接至该检测信号选择电路,并在该检测时间区间,该检测电路产生该检测信号且经由该检测信号选择电路传输至该触控面板。
5.如申请专利范围第1项所述的显示装置,其特征在于,在该显示时间区间,该显示状态信号被设定为致能状态且该检测状态信号被设定为禁能状态,以及在该检测时间区间,该显示状态信号被设定为禁能状态且该检测状态信号被设定为致能状态。
6.如申请专利范围第1项所述的显示装置,其特征在于,该些控制信号包括一第一控制信号、一第二控制信号以及一第三控制信号,其中该第一切换电路包括:
一第一晶体管,其第一端接收该显示状态信号,其控制端接收该检测状态信号;
一第二晶体管,其第一端接收该第一控制信号,其第二端耦接至该第一晶体管的第二端,其控制端接收该显示状态信号;
一第三晶体管,其第一端接收该显示状态信号,其控制端接收该检测状态信号;
一第四晶体管,其第一端接收该第二控制信号,其第二端耦接至该第三晶体管的第二端,其控制端接收该显示状态信号;
一第五晶体管,其第一端接收该显示状态信号,其控制端接收该检测状态信号;以及
一第六晶体管,其第一端接收该第三控制信号,其第二端耦接至该第五晶体管的第二端,其控制端接收该显示状态信号。
7.如申请专利范围第6项所述的显示装置,其特征在于,该第二切换电路包括:
一第七晶体管,其第一端与控制端共同接收该显示状态信号;
一第八晶体管,其第一端接收该第一控制信号,其第二端耦接至该第七晶体管的第二端,其控制端接收该检测状态信号;
一第九晶体管,其第一端与控制端共同接收该显示状态信号;
一第十晶体管,其第一端接收该第二控制信号,其第二端耦接至该第九晶体管的第二端,其控制端接收该检测状态信号;
一第十一晶体管,其第一端与控制端共同接收该显示状态信号;以及
一第十二晶体管,其第一端接收该第三控制信号,其第二端耦接至该第十一晶体管的第二端,其控制端接收该检测状态信号。
8.如申请专利范围第3项所述的显示装置,其特征在于,该些控制信号包括一第一控制信号、一第二控制信号以及一第三控制信号,其中该第一切换电路包括:
一第一晶体管,其第一端接收该电压电位信号,其控制端接收该检测状态信号;
一第二晶体管,其第一端接收该第一控制信号,其第二端耦接至该第一晶体管的第二端,其控制端接收该显示状态信号;
一第三晶体管,其第一端接收该电压电位信号,其控制端接收该检测状态信号;
一第四晶体管,其第一端接收该第二控制信号,其第二端耦接至该第三晶体管的第二端,其控制端接收该显示状态信号;
一第五晶体管,其第一端接收该电压电位信号,其控制端接收该检测状态信号;以及
一第六晶体管,其第一端接收该第三控制信号,其第二端耦接至该第五晶体管的第二端,其控制端接收该显示状态信号。
9.如申请专利范围第8项所述的显示装置,其特征在于,该第二切换电路包括:
一第七晶体管,其第一端接收该电压电位信号,其控制端接收该显示状态信号;
一第八晶体管,其第一端接收该第一控制信号,其第二端耦接至该第七晶体管的第二端,其控制端接收该检测状态信号;
一第九晶体管,其第一端接收该电压电位信号,其控制端接收该显示状态信号;
一第十晶体管,其第一端接收该第二控制信号,其第二端耦接至该第九晶体管的第二端,其控制端接收该检测状态信号;
一第十一晶体管,其第一端接收该电压电位信号,其控制端接收该显示状态信号;以及
一第十二晶体管,其第一端接收该第三控制信号,其第二端耦接至该第十一晶体管的第二端,其控制端接收该检测状态信号。
10.如申请专利范围第1项所述的显示装置,其特征在于,该些显示数据包括一第一显示数据、一第二显示数据以及一第三显示数据,其中该数据信号选择电路包括:
一第一晶体管,其第一端耦接至该触控面板,其第二端接收该第一显示数据,其控制端耦接至该第一切换电路;
一第二晶体管,其第一端耦接至该触控面板,其第二端接收该第二显示数据,其控制端耦接至该第一切换电路;以及
一第三晶体管,其第一端耦接至该触控面板,其第二端接收该第三显示数据,其控制端耦接至该第一切换电路。
11.如申请专利范围第4项所述的显示装置,其特征在于,该检测信号选择电路包括:
一第一晶体管,其第一端耦接至该检测电路,其第二端耦接至该触控面板,其控制端耦接至该第二切换电路;
一第二晶体管,其第一端耦接至该检测电路,其第二端耦接至该触控面板,其控制端耦接至该第二切换电路;
一第三晶体管,其第一端耦接至该检测电路,其第二端耦接至该触控面板,其控制端耦接至该第二切换电路;
一第四晶体管,其第一端接收一参考电压,其第二端耦接至该第一晶体管的第二端,其控制端耦接至该第二切换电路;
一第五晶体管,其第一端接收该参考电压,其第二端耦接至该第二晶体管的第二端,其控制端耦接至该第二切换电路;以及
一第六晶体管,其第一端接收该参考电压,其第二端耦接至该第三晶体管的第二端,其控制端耦接至该第二切换电路。
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