CN110701978A - 一种锥面厚度尺寸测量装置和方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种锥面厚度尺寸测量装置和方法，该测量装置包括匚形定位框架和同轴设置在定位框架两臂上的两根活动测量杆，所述匚形定位框架的中段为定位段，所述匚形定位框架定位段的内侧面可与锥度零件的基准面贴合，所述活动测量杆的主体为圆柱形，所述两根活动测量杆的相对端均设置为半球形，所述活动测量杆的轴线与匚形定位框架定位段的内侧面距离相同于锥度零件待测部与其基准面的距离。本发明减少了使用专用仪器设备检测的时间和成本，同时结构简单、测量方便，可以在加工过程中使用其对零件进行检测，有效减少因多次装夹导致的质量问题，从而保证提高加工质量和提升加工效率。

Description

一种锥面厚度尺寸测量装置和方法

技术领域

本发明涉及一种尺寸测量装置和方法，特别涉及一种锥面厚度尺寸测量装置和方法。

背景技术

在机械加工中常见锥面加工，大部分锥度零件的锥面角度和厚度尺寸都可以采用圆锥量规和千分尺进行测量，但部分零件形状复杂，对于其锥面尺寸的测量非常不便，使用常规的千分尺难于准确测量，既保证不了质量，且效率也不高。若将每一件产品在磨削过程中在大型工具显微镜或三坐标上检测又太繁琐，非常不经济，给大批量生产造成了一定的困难，而且在未加工到位的情况下再次加工由于重复装夹对精度影响较大。

如现有锥度零件（见图1），为了保证加工精度，加工过程需要保证锥面角度α、β及锥面厚度D尺寸（两锥面距离基准面H尺寸处的截面尺寸）的精度，其中锥面角度α、β可以采用圆锥量规进行测量，且加工角度由机床保证，同一批次非特殊情况下一般不会发生变化，只需要测量一次，或者在加工一定数量后再进行复验，不需要每件都测量，而对于锥面厚度D尺寸则需要使用专业设备进行测量，过程繁琐复杂，不利于大批量生产加工。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种锥面厚度尺寸测量装置，其易于操作、检测成本低、检测效率高。本发明还提供一种采用该锥面厚度尺寸测量装置的锥面厚度尺寸测量方法，其操作便捷且有利于提高产品加工质量和效率。

为了解决上述技术问题，本发明提供了以下技术方案：

一种锥面厚度尺寸测量装置，包括匚形定位框架和同轴设置在定位框架两臂上的两根活动测量杆，所述匚形定位框架的中段为定位段，所述匚形定位框架定位段的内侧面可与锥度零件的基准面贴合，所述活动测量杆的主体为圆柱形，所述两根活动测量杆的相对端均设置为半球形，所述活动测量杆的轴线与匚形定位框架定位段的内侧面距离相同于锥度零件待测部与其基准面的距离。

本发明一种锥面厚度尺寸测量装置，通过匚形定位框架可以进行快速定位，通过两根活动测量杆可以进行快速辅助测量，配合千分尺可以快速测量计算出锥度零件锥面上某一截面处的厚度尺寸，解决了复杂锥面大端尺寸不方便测量的问题，减少了使用专用仪器设备检测的时间和成本，同时本测量装置结构简单、测量方便，可以在加工过程中使用其对零件进行检测，有效减少因多次装夹导致的质量问题，从而保证提高加工质量和提升加工效率。

作为优选，所述匚形定位框架定位段的外侧通过螺纹孔连接有固定螺杆，可通过旋转固定螺杆使其杆头端面与零件接触，便于对定位好的匚形定位框架进行固定。

作为优选，所述匚形定位框架两臂上开设有与活动测量杆配合的通孔，采用通孔结构与活动测量杆配合，易于加工制造和测量操控。

作为优选，所述匚形定位框架两臂上的通孔与活动测量杆间隙配合，即可方便拨动活动测量杆，又有利于保证测量精度。

作为优选，所述活动测量杆的半球形端部半径与主体部半径相同，易于加工制造和节约材料。

作为优选，所述两活动测量杆的大小尺寸均相同，有利于加工制造和提高零件互换性。

一种采用上述锥面厚度尺寸测量装置的锥面厚度尺寸测量方法，包括以下步骤：A、将锥面厚度尺寸测量装置的匚形定位框架定位段的内侧面与锥度零件的基准面贴合并进行固定；B、拨动两根活动测量杆使其与锥度零件的锥面接触并采用千分尺测量两活动测量杆两外端面间的距离尺寸S；C、通过公式D=S-b1-b2-（R/cosα-R）-（R/cosβ- R）计算得到锥度零件某一截面处的厚度尺寸D，其中b1、b2为两活动测量杆的长度尺寸，R为两活动测量杆半球形端部的半径尺寸，α、β为锥度零件的两锥面角度。

本发明一种锥面厚度尺寸测量方法，检测测量操作便捷，无需大型专用仪器设备，且可以在零件加工过程中进行，有利于提高产品加工质量和效率。

作为优选，所述步骤A中采用固定螺杆对匚形定位框架进行固定。

与现有技术相比，本发明一种锥面厚度尺寸测量装置和方法的有益效果：通过采用特制工装测量锥度零件锥面上某一截面处的厚度尺寸，减少了使用专用仪器设备检测的时间和成本，同时本测量装置结构简单、测量方便，可以在加工过程中使用其对零件进行检测，有效减少因多次装夹导致的质量问题，从而保证提高加工质量和提升加工效率。

附图说明：

图1为锥度零件的结构示意图。

图2为本发明的结构示意图。

图3为本发明的使用示意图。

图4为本发明中计算尺寸D的示意图。

其中，图中标记：1为匚形定位框架，2为活动测量杆，3为锥度零件，4为基准面，5为固定螺杆。

具体实施方式

下面结合试验例及具体实施方式对本发明作进一步的详细描述。但不应将此理解为本发明上述主题的范围仅限于以下的实施例，凡基于本发明内容所实现的技术均属于本发明的范围。

本说明书中公开的所有特征，或公开的所有方法或过程中的步骤，除了互相排斥的特征和/或步骤以外，均可以以任何方式组合。

本说明书中公开的任一特征，除非特别叙述，均可被其他等效或具有类似目的的替代特征加以替换。即，除非特别叙述，每个特征只是一系列等效或类似特征中的一个例子而已。

如图1至图3所示，本发明一种锥面厚度尺寸测量装置，包括匚形定位框架1和同轴设置在定位框架1两臂上的两根活动测量杆2，所述匚形定位框架1的中段为定位段，所述匚形定位框架1定位段的内侧面可与锥度零件3的基准面4贴合，所述活动测量杆2的主体为圆柱形，所述两根活动测量杆2的相对端均设置为半球形，所述活动测量杆2的轴线与匚形定位框架1定位段的内侧面距离相同于锥度零件3待测部与其基准面4的距离。

其中，所述匚形定位框架1定位段的外侧通过螺纹孔连接有固定螺杆5。

其中，所述匚形定位框架1两臂上开设有与活动测量杆2配合的通孔。

其中，所述匚形定位框架1两臂上的通孔与活动测量杆2间隙配合。

其中，所述活动测量杆2的半球形端部半径与主体部半径相同。

其中，所述两活动测量杆2的大小尺寸均相同。

如图1至图4所示，本发明一种采用上述锥面厚度尺寸测量装置的锥面厚度尺寸测量方法，包括以下步骤：A、将锥面厚度尺寸测量装置的匚形定位框架1定位段的内侧面与锥度零件3的基准面4贴合并进行固定；B、拨动两根活动测量杆2使其与锥度零件3的锥面接触并采用千分尺测量两活动测量杆2两外端面间的距离尺寸S；C、通过公式D=S-b1-b2-（R/cosα-R）-（R/cosβ- R）计算得到锥度零件3某一截面处的厚度尺寸D，其中b1、b2为两活动测量杆2的长度尺寸，R为两活动测量杆2半球形端部的半径尺寸，α、β为锥度零件3的两锥面角度。

其中，所述步骤A中采用固定螺杆5对匚形定位框架1进行固定。

其中，所述步骤C中b1、b2尺寸相同。

Claims (9)

1.一种锥面厚度尺寸测量装置，其特征在于：包括匚形定位框架（1）和同轴设置在定位框架（1）两臂上的两根活动测量杆（2），所述匚形定位框架（1）的中段为定位段，所述匚形定位框架（1）定位段的内侧面可与锥度零件（3）的基准面（4）贴合，所述活动测量杆（2）的主体为圆柱形，所述两根活动测量杆（2）的相对端均设置为半球形，所述活动测量杆（2）的轴线与匚形定位框架（1）定位段的内侧面距离相同于锥度零件（3）待测部与其基准面（4）的距离。

2.根据权利要求1所述的一种锥面厚度尺寸测量装置，其特征在于：所述匚形定位框架（1）定位段的外侧通过螺纹孔连接有固定螺杆（5）。

3.根据权利要求1或2所述的一种锥面厚度尺寸测量装置，其特征在于：所述匚形定位框架（1）两臂上开设有与活动测量杆（2）配合的通孔。

4.根据权利要求3所述的一种锥面厚度尺寸测量装置，其特征在于：所述匚形定位框架（1）两臂上的通孔与活动测量杆（2）间隙配合。

5.根据权利要求1所述的一种锥面厚度尺寸测量装置，其特征在于：所述活动测量杆（2）的半球形端部半径与主体部半径相同。

6.根据权利要求5所述的一种锥面厚度尺寸测量装置，其特征在于：所述两活动测量杆（2）的大小尺寸均相同。

7.一种采用如权利要求1-6任一项所述的锥面厚度尺寸测量装置的锥面厚度尺寸测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

A、将锥面厚度尺寸测量装置的匚形定位框架（1）定位段的内侧面与锥度零件（3）的基准面（4）贴合并进行固定；

B、拨动两根活动测量杆（2）使其与锥度零件（3）的锥面接触并采用千分尺测量两活动测量杆（2）两外端面间的距离尺寸S；

C、通过公式D=S-b1-b2-（R/cosα-R）-（R/cosβ- R）计算得到锥度零件（3）某一截面处的厚度尺寸D，其中b1、b2为两活动测量杆（2）的长度尺寸，R为两活动测量杆（2）半球形端部的半径尺寸，α、β为锥度零件（3）的两锥面角度。

8.根据权利要求7所述的一种锥面厚度尺寸测量方法，其特征在于：所述步骤A中采用固定螺杆（5）对匚形定位框架（1）进行固定。

9.根据权利要求7所述的一种锥面厚度尺寸测量方法，其特征在于：所述步骤C中b1、b2尺寸相同。

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