CN119845164B - 一种传感器敏感元件测试装置及其测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及敏感元件测试技术领域,提出了一种传感器敏感元件测试装置及其测试方法,其中,一种传感器敏感元件测试装置,包括底座,所述底座上固定设置有连接盘,所述连接盘上转动安装有转动组件,所述连接盘上安装有第一输送带和第二输送带,所述第一输送带的内侧设置有导向组件,所述转动组件的两侧分别安装有第一升降组件和第二升降组件,所述第一升降组件的四周安装有限位板,所述限位板上转动安装有螺柱,所述螺柱与所述第一升降组件之间为螺纹连接。通过上述技术方案,解决了现有的敏感元件测试装置不能够精确检测敏感元件不同部分的高度差,并且不能够根据需要检测的位置调节激光测距传感器检测的位置和检测角度的问题。
Description
技术领域
本发明涉及敏感元件测试技术领域,具体的,涉及一种传感器敏感元件测试装置及其测试方法。
背景技术
传感器作为一种重要的测量工具,广泛应用于工业、医疗、环境监测、汽车、航空航天等多个领域。其主要作用是将被测对象的参数转换为电信号或其他信号形式,以便进行进一步的处理和分析,传感器敏感元件是传感器的核心部分,在生产完成后需要进行性能测试,现有的测试装置还存在一些缺陷。
例如公开号为CN119022799A的发明专利,其公开了一种位移传感器测试装置及测试设备,其中位移传感器测试装置的激光式位移传感器安装组件和电感式位移传感器安装组件共用一套设置于二者之间的轨道组件和测试组件,从而减少了测试装置的制造成本以及占用空间;测试组件包括激光反射结构和电磁感应结构,二者在轨道组件的带动下可以同时测试,使得测试效率较高;激光反射结构包括朝向激光式位移传感器设置的激光反射单元,激光反射单元用于模拟实际工况下的被测物体的反射面,并且在所述测试组件的移动过程中能够模拟出至少一种带有干扰效果的反射面,从而测试干扰工况下激光式位移传感器测距情况;测试设备为位移传感器测试装置提供载体以及电控,以便位移传感器测试装置的稳定工作。上述装置虽然能够测试干扰工况下激光式位移传感器测距情况,但在使用时,不能够精确检测敏感元件不同部分的高度差,并且不能够根据需要检测的位置调节激光测距传感器检测的位置和检测角度,不能够根据敏感元件的尺寸精确调节装置的测试范围。
发明内容
本发明提出一种传感器敏感元件测试装置及其测试方法,解决了现有的敏感元件测试装置不能够精确检测敏感元件不同部分的高度差,并且不能够根据需要检测的位置调节激光测距传感器检测的位置和检测角度的问题。
本发明的技术方案如下:
一种传感器敏感元件测试装置,包括底座,所述底座上固定设置有连接盘,所述连接盘上转动安装有转动组件,所述连接盘上安装有第一输送带和第二输送带,所述第一输送带的内侧设置有导向组件,所述转动组件的两侧分别安装有第一升降组件和第二升降组件,所述第一升降组件的四周安装有限位板,所述限位板上转动安装有螺柱,所述螺柱与所述第一升降组件之间为螺纹连接,所述螺柱的顶部固定连接有第三固定块,所述第一升降组件和所述第二升降组件之间安装有调节组件,所述调节组件上安装有衔接块,所述衔接块的底部设置有激光测距传感器,所述底座内安装有支撑组件。
作为本发明的一种优先方案,所述转动组件包括转动安装于所述连接盘上的连接环,所述连接环的两侧分别固定连接有第一支撑板和第二支撑板,所述第一支撑板与所述底座之间存在空隙,所述第一支撑板和所述第二支撑板的上表面均与所述连接盘的上表面平齐。
作为本发明的一种优先方案,所述导向组件包括固定连接于所述连接盘上的支撑块,所述支撑块上固定安装有第一电动推杆,所述第一电动推杆上固定设置有导向板。
作为本发明的一种优先方案,所述第一升降组件包括固定连接于所述第一支撑板上的第一固定块,所述第一固定块内转动安装有第一转动块,所述第一转动块上固定连接有第一连接杆,所述第一连接杆上固定连接有第一连接块,所述第一连接块的外侧转动设置有第一调节块,所述第一调节块的上方焊接有固定柱,所述固定柱的上方焊接有固定板,所述螺柱与所述固定板之间为螺纹连接,所述第一调节块的四周均固定连接有凸块,所述限位板上开设有供所述凸块滑动的第一安装槽。
作为本发明的一种优先方案,所述第二升降组件包括固定连接于所述第二支撑板上的第二固定块,所述第二固定块上固定连接有第二转动块,所述第二转动块上固定连接有第二连接杆,所述第二连接杆上固定设置有第二连接块,所述第二连接块的外侧转动安装有第二调节块。
作为本发明的一种优先方案,所述第二调节块上开设有移动槽,所述移动槽内贴合设置有第一滑杆,所述第一滑杆上固定连接有活动板,所述第二支撑板上安装有用于支撑所述活动板的第二电动推杆和第三电动推杆。
作为本发明的一种优先方案,所述限位板的底部开设有底槽,所述底槽内贴合设置有第二滑杆,所述第二滑杆的下方固定连接有延伸板,所述延伸板的长度大于所述限位板的宽度,同一个所述限位板上的所述底槽和所述第一安装槽之间互相垂直。
作为本发明的一种优先方案,所述调节组件包括固定连接于所述第二调节块上的第四电动推杆,所述第四电动推杆上固定连接有外框,所述第一调节块和所述第二调节块之间固定连接有第一导杆,所述第一导杆贯穿于所述外框的内部,所述外框上安装有电机,所述电机的输出轴上固定连接有双向螺杆,所述双向螺杆与所述衔接块之间为螺纹连接,所述衔接块的两侧均贯穿设置有第二导杆,所述第二导杆与所述外框之间为固定连接,所述双向螺杆两侧的螺纹旋向相反。
作为本发明的一种优先方案,所述支撑组件包括开设于所述底座内的第二安装槽,所述第二安装槽内滑动安装有支撑台,所述支撑台的上方贴合设置有支撑球,所述支撑台的底部固定连接有弹簧,所述支撑台上开设有凹槽,所述支撑球沿所述底座的周向均布设置。
一种传感器敏感元件测试装置的测试方法,包括如下步骤:
S1:底座用于支撑装置整体,转动组件能够在连接盘上转动,当转动组件旋转时,支撑组件用于支撑转动组件的两侧并降低转动组件的转动阻力;
S2:将传感器敏感元件放置于第一输送带上移动至检测区域,在检测时,根据所需检测的角度,调节转动组件整体角度,通过调节组件调节衔接块和激光测距传感器的初始位置,并改变相邻两激光测距传感器的间距,以适应不同的检测位置,对传感器敏感元件上不同部分的高度差进行检测;
S3:在检测时,通过第一升降组件和第二升降组件改变调节组件和激光测距传感器的初始高度和初始位置,在升降的同时对激光测距传感器左右位置进行调节时,将限位板安装于第一升降组件的前后两侧,在升降的同时对激光测距传感器前后调节时,将限位板安装于第一升降组件的左右两侧;
S4:检测完成后,根据检测误差是否在允许范围内,通过导向组件将检测后的传感器敏感元件推至第二输送带上,或直接通过第一输送带继续输送。
本发明的工作原理及有益效果为:
1、通过设置的连接盘和转动组件,使得装置能够改变敏感元件的测试角度,第一支撑板和第二支撑板能够通过连接环在连接盘上转动,从而改变调节组件与两个输送带之间的角度差,进而根据敏感元件上不同检测位置,改变装置的检测角度,增强了装置的适用范围,通过设置的激光测距传感器,使得装置能够在调节至合适检测角度后,对敏感元件上两个部分的平整度进行测试或高度差进行检测。装置上还设置有导向组件,装置可根据测试结果,将传感器敏感元件输送至不同的输送带上,增强了装置使用时的便捷性。
2、通过装置上的第一升降组件和第二升降组件,使得装置能够调节检测前后位置或左右位置的同时改变检测高度,当限位板安装于第一调节块的前后两侧时,限位板能够贴合第一固定块的前后表面,此时可在调节组件左右移动的同时对调节组件进行升降,当限位板安装于第一调节块的左右两侧时,限位板能够贴合第一固定块的左右表面,从而使得调节组件带动激光测距传感器进行升降的同时进行前后移动,进而使得装置能够根据所需检测的位置和检测的高度精确调节激光测距传感器的位置和高度,增强了装置的适用性。该装置可通过转动螺柱调节相应位置限位板的初始高度,从而限制激光测距传感器的左右移动范围或前后移动范围,装置上还设置有调节组件,使得装置能够改变相邻两组衔接块和激光测距传感器的间距,进而根据敏感元件的尺寸精确调节装置的测试范围。
附图说明
下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。
图1是本发明一种传感器敏感元件测试装置整体结构示意图;
图2是图1中A处结构的放大示意图;
图3是本发明底座和连接盘连接结构示意图;
图4是图3中B处结构的放大示意图;
图5是图3中C处结构的放大示意图;
图6是本发明俯视结构示意图;
图7是图6中D处结构的放大示意图;
图8是本发明底座和支撑组件连接结构示意图;
图9是本发明底座和第一支撑板连接结构示意图;
图10是图9中E处结构的放大示意图;
图11是本发明第一升降组件和第二升降组件连接结构示意图。
附图标记:1、底座;2、连接盘;3、转动组件;301、第一支撑板;302、第二支撑板;303、连接环;4、第一输送带;5、第二输送带;6、导向组件;601、支撑块;602、第一电动推杆;603、导向板;7、第一升降组件;701、第一固定块;702、第一转动块;703、第一连接杆;704、第一连接块;705、第一调节块;706、固定柱;707、固定板;8、第二升降组件;801、第二固定块;802、第二转动块;803、第二连接杆;804、第二连接块;805、第二调节块;9、移动槽;10、第一滑杆;11、活动板;12、第二电动推杆;13、第三电动推杆;14、凸块;15、限位板;16、第一安装槽;17、螺柱;18、第三固定块;19、底槽;20、第二滑杆;21、延伸板;22、调节组件;2201、第四电动推杆;2202、外框;2203、第一导杆;2204、电机;2205、双向螺杆;2206、第二导杆;23、衔接块;24、激光测距传感器;25、支撑组件;2501、第二安装槽;2502、支撑球;2503、支撑台;2504、弹簧;2505、凹槽。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都涉及本发明保护的范围。
实施例1,如图1-图11所示,本实施例提出了一种传感器敏感元件测试装置,包括底座1,底座1上固定设置有连接盘2,连接盘2上转动安装有转动组件3,连接盘2上安装有第一输送带4和第二输送带5,第一输送带4的内侧设置有导向组件6,导向组件6配合第一输送带4和第二输送带5,使得装置能够对不同检测结果的传感器敏感元件进行分类输送,转动组件3的两侧分别安装有第一升降组件7和第二升降组件8,第一升降组件7的四周安装有限位板15,通过将限位板15安装于第一升降组件7的不同位置,从而限制限位板15的移动方向,当限位板15位于第一升降组件7的左右两侧时,可使得装置在升降的同时进行前后移动,当限位板15位于第一升降组件7的前后位置时,装置在升降的同时可进行左右移动,限位板15上转动安装有螺柱17。螺柱17与第一升降组件7之间为螺纹连接,螺柱17的顶部固定连接有第三固定块18,第一升降组件7和第二升降组件8之间安装有调节组件22,调节组件22上安装有衔接块23,衔接块23的底部设置有激光测距传感器24,底座1内安装有支撑组件25。螺柱17可调节限位板15的初始高度,配合第一升降组件7和第二升降组件8。可限制激光测距传感器24左右移动或前后移动时的移动范围,进而对不同尺寸的敏感元件测试时,改变测试范围,使得装置的测试结果更加精确。
实施例2,如图1-图11所示,基于与上述实施例1相同的构思,本实施例还提出了一种传感器敏感元件测试装置。
本实施例中,转动组件3包括转动安装于连接盘2上的连接环303,连接环303的两侧分别固定连接有第一支撑板301和第二支撑板302,第一支撑板301与底座1之间存在空隙,第一支撑板301和第二支撑板302的上表面均与连接盘2的上表面平齐,第一支撑板301和第二支撑板302可通过连接环303在连接盘2上旋转,进而改变装置上传感器敏感元件的放置角度,从而改变装置测试角度。
本实施例中,导向组件6包括固定连接于连接盘2上的支撑块601,支撑块601上固定安装有第一电动推杆602,第一电动推杆602上固定设置有导向板603,通过伸长支撑块601上的第一电动推杆602,从而使得导向板603将敏感元件导向至不同的输送带上(如图1、图3和图5所示),装置可将测试误差较大的敏感元件向装置的后侧导向,从而对不同的敏感元件进行分类。
本实施例中,第一升降组件7包括固定连接于第一支撑板301上的第一固定块701,第一固定块701内转动安装有第一转动块702,第一转动块702上固定连接有第一连接杆703,第一连接杆703上固定连接有第一连接块704,第一连接块704的外侧转动设置有第一调节块705,第一调节块705的上方焊接有固定柱706,固定柱706的上方焊接有固定板707,螺柱17与固定板707之间为螺纹连接,第一调节块705的四周均固定连接有凸块14,限位板15上开设有供凸块14滑动的第一安装槽16,可通过转动螺柱17,改变相应位置限位板15的位置,第一安装槽16和凸块14使限位板15能够稳定上下移动,通过升降不同位置的限位板15,使第一连接杆703上下两侧的第一连接块704和第一转动块702朝不同方向进行旋转,从而改变装置的调节方式。
本实施例中,第二升降组件8包括固定连接于第二支撑板302上的第二固定块801,第二固定块801上固定连接有第二转动块802,第二转动块802上固定连接有第二连接杆803,第二连接杆803上固定设置有第二连接块804,第二连接块804的外侧转动安装有第二调节块805,第二调节块805在被向右推动时,第二连接杆803上下两侧的第二连接块804和第二转动块802会分别在第二调节块805和第二固定块801的内部旋转,从而改变装置检测高度的同时改变检测的初始位置。
本实施例中,第二调节块805上开设有移动槽9,移动槽9内贴合设置有第一滑杆10,第一滑杆10上固定连接有活动板11,第二支撑板302上安装有用于支撑活动板11的第二电动推杆12和第三电动推杆13,该装置可通过移动槽9和第一滑杆10将活动板11安装于第二调节块805上的不同位置,第二电动推杆12和第三电动推杆13在伸长或缩短时能够支撑相应位置的活动板11,从而使得装置能够调节和固定第二调节块805的位置,进而改变检测高度以及检测的前后位置或左右位置。
本实施例中,限位板15的底部开设有底槽19,底槽19内贴合设置有第二滑杆20,第二滑杆20的下方固定连接有延伸板21,延伸板21的长度大于限位板15的宽度,同一个限位板15上的底槽19和第一安装槽16之间互相垂直,底槽19使得第二滑杆20能够稳定安装于不同的限位板15上,当第二滑杆20和延伸板21安装于限位板15上时,可延伸装置检测时的活动范围,以适应尺寸较大的敏感元件进行测试。
本实施例中,调节组件22包括固定连接于第二调节块805上的第四电动推杆2201,第四电动推杆2201上固定连接有外框2202,第一调节块705和第二调节块805之间固定连接有第一导杆2203,第一导杆2203贯穿于外框2202的内部,外框2202上安装有电机2204,电机2204的输出轴上固定连接有双向螺杆2205,双向螺杆2205与衔接块23之间为螺纹连接,衔接块23的两侧均贯穿设置有第二导杆2206,第二导杆2206与外框2202之间为固定连接,双向螺杆2205两侧的螺纹旋向相反,装置上的第四电动推杆2201用于调节外框2202的左右位置,外框2202能够在第一导杆2203上左右滑动,通过电机2204驱动双向螺杆2205转动,带动相邻两衔接块23相向移动或者背向移动,从而改变两个衔接块23的间距,从而检测同一敏感元件上两个不同位置的起伏程度,或检测两个敏感元件上的同一位置的高度是否相同。
本实施例中,支撑组件25包括开设于底座1内的第二安装槽2501,第二安装槽2501内滑动安装有支撑台2503,支撑台2503的上方贴合设置有支撑球2502,支撑台2503的底部固定连接有弹簧2504,支撑台2503上开设有凹槽2505,支撑球2502沿底座1的周向均布设置,支撑球2502的顶部与第一支撑板301抵接,装置在调节检测角度时,如图8所示,第一支撑板301在转动时由支撑球2502对其进行支撑,弹簧2504能够提供支撑力,支撑球2502能够在支撑台2503上的凹槽2505中转动,从而降低第一支撑板301的转动阻力。
具体的,本发明为一种传感器敏感元件测试装置及其测试方法,首先,如图1-图10所示,底座1用于支撑装置整体,转动组件3能够在连接盘2上转动,当转动组件3旋转时,支撑组件25用于支撑转动组件3的两侧并降低转动组件3的转动阻力,第一支撑板301和第二支撑板302可通过连接环303在连接盘2上旋转,进而改变装置上传感器敏感元件的放置角度,从而改变装置测试角度,由于第一支撑板301与底座1之间存在空隙,如图8所示,弹簧2504能够向上撑紧支撑台2503和第二安装槽2501内的支撑球2502,支撑球2502用于支撑转动过程中的第一支撑板301,弹簧2504能够提供支撑力,支撑球2502能够在支撑台2503上的凹槽2505中转动,从而降低第一支撑板301的转动阻力。将传感器敏感元件放置于第一输送带4上移动至检测区域,在检测时,根据所需检测的角度,调节转动组件3整体角度,通过调节组件22调节衔接块23和激光测距传感器24的初始位置,并改变相邻两激光测距传感器24的间距,以适应不同的检测位置,对传感器敏感元件上不同部分的高度差进行检测,在调节时,如图7所示,第四电动推杆2201用于调节外框2202的左右位置,外框2202能够通过第一导杆2203平直滑动,电机2204驱动双向螺杆2205转动,带动相邻两衔接块23相向移动或者背向移动,改变两个衔接块23混合激光测距传感器24的间距,从而检测同一敏感元件上两个不同位置的起伏程度,或检测两个敏感元件上的同一位置的高度是否相同。
如图1-图7、图9和图11所示,通过第一升降组件7和第二升降组件8改变调节组件22和激光测距传感器24的初始高度和初始位置,在升降的同时对激光测距传感器24左右位置进行调节时,将限位板15安装于第一升降组件7上第一调节块705的前后两侧,在升降的同时对激光测距传感器24前后调节时,将限位板15安装于第一升降组件7上第一调节块705的左右两侧,通过转动螺柱17,改变相应位置限位板15的位置,第一安装槽16和凸块14使限位板15能够稳定上下移动,通过升降不同位置的限位板15,使第一连接杆703上下两侧的第一连接块704和第一转动块702朝不同方向进行旋转,从而改变装置的调节方式,底槽19和第二滑杆20使延伸板21能够稳定安装在相应的限位板15上,当第二滑杆20和延伸板21安装于限位板15上时,可延伸装置检测时的活动范围,以适应尺寸较大的敏感元件进行测试。当第一调节块705左右移动或前后移动时,可通过第一导杆2203带动第二调节块805左右移动或前后移动,第二连接杆803上下两侧的第二连接块804和第二转动块802会分别在第二调节块805和第二固定块801的内部旋转,从而改变装置检测高度的同时改变检测的初始位置。通过移动槽9和第一滑杆10将活动板11安装于第二调节块805上的不同位置,第二电动推杆12和第三电动推杆13在伸长或缩短时能够支撑相应位置的活动板11,从而使得装置能够调节和固定第二调节块805的位置,进而改变检测高度以及检测的前后位置或左右位置。
当第二滑杆20和延伸板21安装于限位板15上时,可延伸装置检测时的活动范围,延伸板21可代替限位板15与第一固定块701保持抵接状态,以适应尺寸较大的敏感元件进行测试。检测完成后,根据检测误差是否在允许范围内,通过导向组件6将检测后的传感器敏感元件推至第二输送带5上,或直接通过第一输送带4继续输送,通过伸长支撑块601上的第一电动推杆602,导向板603将敏感元件导向至第二输送带5上,将测试误差较大的敏感元件向装置的后侧导向,从而对不同的敏感元件进行分类。
以上仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (8)
1.一种传感器敏感元件测试装置,包括底座,其特征在于:所述底座上固定设置有连接盘,所述连接盘上转动安装有转动组件,所述连接盘上安装有第一输送带和第二输送带,所述第一输送带的内侧设置有导向组件,所述转动组件的两侧分别安装有第一升降组件和第二升降组件,所述第一升降组件的四周安装有限位板,所述限位板上转动安装有螺柱,所述螺柱与所述第一升降组件之间为螺纹连接,所述螺柱的顶部固定连接有第三固定块,所述第一升降组件和所述第二升降组件之间安装有调节组件,所述调节组件上安装有衔接块,所述衔接块的底部设置有激光测距传感器,所述底座内安装有支撑组件;
所述转动组件包括转动安装于所述连接盘上的连接环,所述连接环的两侧分别固定连接有第一支撑板和第二支撑板,所述第一支撑板与所述底座之间存在空隙,所述第一支撑板和所述第二支撑板的上表面均与所述连接盘的上表面平齐;
所述第一升降组件包括固定连接于所述第一支撑板上的第一固定块,所述第一固定块内转动安装有第一转动块,所述第一转动块上固定连接有第一连接杆,所述第一连接杆上固定连接有第一连接块,所述第一连接块的外侧转动设置有第一调节块,所述第一调节块的上方焊接有固定柱,所述固定柱的上方焊接有固定板,所述螺柱与所述固定板之间为螺纹连接,所述第一调节块的四周均固定连接有凸块,所述限位板上开设有供所述凸块滑动的第一安装槽。
2.根据权利要求1所述的一种传感器敏感元件测试装置,其特征在于,所述导向组件包括固定连接于所述连接盘上的支撑块,所述支撑块上固定安装有第一电动推杆,所述第一电动推杆上固定设置有导向板。
3.根据权利要求1所述的一种传感器敏感元件测试装置,其特征在于,所述第二升降组件包括固定连接于所述第二支撑板上的第二固定块,所述第二固定块上固定连接有第二转动块,所述第二转动块上固定连接有第二连接杆,所述第二连接杆上固定设置有第二连接块,所述第二连接块的外侧转动安装有第二调节块。
4.根据权利要求3所述的一种传感器敏感元件测试装置,其特征在于,所述第二调节块上开设有移动槽,所述移动槽内贴合设置有第一滑杆,所述第一滑杆上固定连接有活动板,所述第二支撑板上安装有用于支撑所述活动板的第二电动推杆和第三电动推杆。
5.根据权利要求3所述的一种传感器敏感元件测试装置,其特征在于,所述限位板的底部开设有底槽,所述底槽内贴合设置有第二滑杆,所述第二滑杆的下方固定连接有延伸板,所述延伸板的长度大于所述限位板的宽度,同一个所述限位板上的所述底槽和所述第一安装槽之间互相垂直。
6.根据权利要求4所述的一种传感器敏感元件测试装置,其特征在于,所述调节组件包括固定连接于所述第二调节块上的第四电动推杆,所述第四电动推杆上固定连接有外框,所述第一调节块和所述第二调节块之间固定连接有第一导杆,所述第一导杆贯穿于所述外框的内部,所述外框上安装有电机,所述电机的输出轴上固定连接有双向螺杆,所述双向螺杆与所述衔接块之间为螺纹连接,所述衔接块的两侧均贯穿设置有第二导杆,所述第二导杆与所述外框之间为固定连接,所述双向螺杆两侧的螺纹旋向相反。
7.根据权利要求1所述的一种传感器敏感元件测试装置,其特征在于,所述支撑组件包括开设于所述底座内的第二安装槽,所述第二安装槽内滑动安装有支撑台,所述支撑台的上方贴合设置有支撑球,所述支撑台的底部固定连接有弹簧,所述支撑台上开设有凹槽,所述支撑球沿所述底座的周向均布设置。
8.一种传感器敏感元件测试装置的测试方法,采用权利要求6所述的一种传感器敏感元件测试装置,其特征在于,包括如下步骤:
S1:底座用于支撑装置整体,转动组件能够在连接盘上转动,当转动组件旋转时,支撑组件用于支撑转动组件的两侧并降低转动组件的转动阻力;
S2:将传感器敏感元件放置于第一输送带上移动至检测区域,在检测时,根据所需检测的角度,调节转动组件整体角度,第一支撑板和第二支撑板可通过连接环在连接盘上旋转,进而改变装置上传感器敏感元件的放置角度,从而改变装置测试角度,通过调节组件调节衔接块和激光测距传感器的初始位置,并改变相邻两激光测距传感器的间距,第四电动推杆用于调节外框的左右位置,外框能够在第一导杆上左右滑动,通过电机驱动双向螺杆转动,带动相邻两衔接块相向移动或者背向移动,从而改变两个衔接块的间距,从而检测同一敏感元件上两个不同位置的起伏程度,或检测两个敏感元件上的同一位置的高度是否相同,以适应不同的检测位置,对传感器敏感元件上不同部分的高度差进行检测;
S3:在检测时,通过第一升降组件和第二升降组件改变调节组件和激光测距传感器的初始高度和初始位置,在升降的同时对激光测距传感器左右位置进行调节时,将限位板安装于第一升降组件的前后两侧,在升降的同时对激光测距传感器前后调节时,将限位板安装于第一升降组件的左右两侧;
S4:检测完成后,根据检测误差是否在允许范围内,通过导向组件将检测后的传感器敏感元件推至第二输送带上,或直接通过第一输送带继续输送。
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