CN119158803B - 一种芯片测试筛选设备 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种芯片测试筛选设备，包括支撑座，其呈矩形结构设置，在其顶端设置有通过支撑架连接的储存主体，用于进行芯片的储存堆积工作；还包括；旋转梳理辊，其设置在储存主体的内部，用于对储存主体内部的大量芯片进行梳理工作，保证大量堆积的芯片可以梳理后整齐的到达输送主体的上方进行输送测试工作。该芯片测试筛选设备；旋转梳理辊在储存主体的内部进行旋转的时候，其可以对储存主体内部堆积的芯片进行旋转翻动工作，随着抓板的继续旋转，其便会使得芯片顺着2个抓板之间的弧形结构到达导料机构的顶端，故而保证芯片可以整齐的到达输送主体的上方，被三维扫描测试主体进行测试工作，故而达到对测试的精准度进行保证的效果。

Description

一种芯片测试筛选设备

技术领域

本发明涉及芯片测试相关技术领域，具体为一种芯片测试筛选设备。

背景技术

芯片尺寸测试是一个关键的环节，它确保了芯片的尺寸精度和质量，通过芯片测试，首先可以对芯片的性能和可靠性进行保证，通过通过对尺寸的测试，还可以有助于检测和预防制造过程中的缺陷，确保芯片符合设计规格，满足客户和行业标准，并且精确的尺寸控制可以减少制造过程中的废品率，提高良品率，故而在芯片批量制造完成后，必须要通过筛选设备来进行芯片的测试工作，现有市场上的测试设备，在进行测试的时候，仅仅通过将芯片大量的放置在传送机构的上方进行传送，之后，使得芯片到达三维扫描测试主体的底部进行测试工作；

经检索，申请号为202222011607.2一种芯片测试筛选平台，涉及芯片生产设备技术领域，包括输送设备和三维扫描设备，所述输送设备前端一侧设置有筛选架，所述三维扫描设备安装于筛选架上，且所述筛选架内设置有拨条块。本发明设置的芯片测试筛选平台，设置三维扫描设备，先对外形进行扫描，若发现芯片外部已损坏，直接剔除，减轻后续芯片功能以及性能的测试压力，同时减去包装的成本，设置的筛选平台，通过输送设备进行芯片输送，在输送过程中，传动前侧上芯片结构，将待测定的芯片依次输送经过扫描设备，无需测试人员手动上芯片和分类，极大提高了筛选效率；

但是上述的筛选装置，在芯片批量到达传送机构上方的时候，均是批量的进行芯片的放置工作，而在批量的芯片到达传送机构上的时候，不能对芯片进行整理的排列工作，故而也就导致在通过三维扫描测试主体下方进行检测的时候，经常会出现芯片检测不全面，以及通过外界的拨动机构进行芯片收集的时候，会出现收集误差大的现象发生。

发明内容

本发明的目的在于提供一种芯片测试筛选设备，以解决上述背景技术提出的目前市场上的筛选装置，在芯片批量到达传送机构上方的时候，均是批量的进行芯片的放置工作，而在批量的芯片到达传送机构上的时候，不能对芯片进行整理的排列工作，故而也就导致在通过三维扫描测试主体下方进行检测的时候，经常会出现芯片检测不全面，以及通过外界的拨动机构进行芯片收集的时候，会出现收集误差大的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种芯片测试筛选设备，包括支撑座，其呈矩形结构设置，在其顶端设置有通过支撑架连接的储存主体，用于进行芯片的储存堆积工作；

输送主体，其设置在储存主体的底部，用于对储存主体内部下落的芯片进行输送工作；

三维扫描测试主体，其设置在输送主体的上方，用于对输送主体上输送的芯片进行测试工作；

筛选主体，其设置在三维扫描测试主体的外侧位置，用于对三维扫描测试主体扫描后的芯片进行挑选工作；

还包括；

旋转梳理辊，其设置在储存主体的内部，用于对储存主体内部的大量芯片进行梳理工作，保证大量堆积的芯片可以梳理后整齐的到达输送主体的上方进行输送测试工作。

优选的，所述储存主体呈圆柱形结构，且其外部被支撑架进行支撑限位，并且储存主体的外侧还设置有旋转电机，且其顶端与旋转梳理辊的外侧进行连接。

优选的，所述储存主体的上方顶端开设有预留口，用于批量的芯片的下落工作，在所述储存主体的外侧还设置有下料槽口，且下料槽口的内部设置有初始呈倾斜状态的导料机构，用于对储存主体内部的芯片进行导料工作。

优选的，所述导料机构包括固定轴、扭簧、导料板和导料槽，所述固定轴的两侧固定在下料槽口的内侧，且其外侧设置有扭簧和导料板相连接，所述导料板的表面等间距的设置有导料槽，且导料槽的内侧为光滑表面。

优选的，所述输送主体的一侧顶端设置在导料机构的内侧底部，且其包括固定杆、驱动电机、旋转辊和输送带，所述固定杆设置有4个，且其两两对称设置，横向对称设置的2个固定杆之间设置有旋转辊，且一个所述旋转辊的顶端同轴连接有驱动电机，2个所述旋转辊的外部缠绕有输送带，且偏向输送主体底部的旋转辊的外侧设置有拨动机构，用于拨动导料机构进行晃动工作，保证导料机构内部的芯片顺利下落。

优选的，所述输送带的表面等间距的设置有输送槽，且输送槽的内部也为光滑表面，并且输送槽的位置与导料槽之间相对应。

优选的，所述筛选主体设置在固定架的底部，且筛选主体包括旋转板 、伺服电机和吸附机构，所述伺服电机设置在固定架的顶端中间位置，且伺服电机的底部与旋转板的中心位置相连接，并且旋转板呈圆形结构。

优选的，所述旋转板的偏外侧位置设置有吸附机构，且吸附机构包括控制电机、旋转轴、旋转杆、伸缩气缸和吸附盘，所述控制电机设置在旋转板的偏外侧位置，且其顶端同轴连接有旋转轴，所述旋转轴轴承贯穿设置在旋转板的底部，在所述旋转轴的外侧连接有旋转杆，所述旋转杆的顶端偏下方位置安装有伸缩气缸，且伸缩气缸的底部安装有吸附盘，所述旋转杆的尺寸大于旋转板的长度的三分之二。

优选的，所述拨动机构包括固定块、活动块、复位弹簧和连接弹簧，所述固定块的外侧通过连接弹簧与储存主体的外侧底部相连接，在所述固定块的内部设置有凹槽，且凹槽的内部通过复位弹簧与活动块相连接，所述活动块的顶端与导料机构的底部相接触；

所述拨动机构的底部被旋转凸轮进行驱动，所述旋转凸轮同轴连接在偏向输送主体底部的旋转辊的外部两侧位置。

优选的，所述旋转梳理辊包括4个等角度分布的抓板，且相邻的抓板之间的角度为90度，且其连接位置之间呈圆弧形结构，所述抓板的顶端与储存主体的内壁相接触，且其顶端呈弧形结构设置，在所述抓板的表面均匀的分布有卡合槽，且卡合槽的位置与导料槽的位置相对应，所述导料机构初始呈向下倾斜状态，且其向下倾斜角度为-35°-75°，相邻的所述卡合槽之间的抓板上设置有上下贯穿的下落口，用于对多余未到达卡合槽内部的芯片进行下落工作。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：该芯片测试筛选设备；

在储存主体的内部设置有旋转梳理辊，旋转梳理辊在储存主体的内部进行旋转的时候，其可以对储存主体内部堆积的芯片进行旋转翻动工作，而在进行翻动的时候，由于旋转梳理辊外侧的抓板的表面上均匀的分布有卡合槽，故而其在翻动的时候，会将芯片卡合到卡合槽的内部，随着抓板的继续旋转，其便会使得芯片顺着2个抓板之间的弧形结构到达导料机构的顶端，之后随着导料机构下落到达输送主体上的输送槽的内部，故而保证芯片可以整齐的到达输送主体的上方，被三维扫描测试主体进行测试工作，故而达到对测试的精准度进行保证的效果；

导料槽、输送槽和卡合槽之间相互对应，且其内部均为光滑表面，同时，由于导料机构的底部设置有拨动机构，其可以在输送主体进行旋转的时候，通过其外部的旋转凸轮的旋转工作，可以使得拨动机构不断的对导料机构进行拨动，故而使得处于导料机构内部的芯片可以顺利的下落，不会出现卡顿的现象发生，保证芯片可以进行连续的进行测试工作，使得整个设备的工作效率更高；

吸附机构设置在旋转板的底部，不仅可以随着旋转板进行旋转工作，达到可以对输送主体上任意位置上的芯片均进行吸附工作，故而也就可以及时的对不合格的芯片进行吸附回收工作，由此就可以进行精准的筛选工作，使得整个设备的筛选精准度更高。

附图说明

图1为本发明主视结构示意图；

图2为本发明俯视结构示意图；

图3为本发明输送主体俯视结构示意图；

图4为本发明导料机构与拨动机构连接局部放大结构示意图；

图5为本发明输送主体顶端局部放大结构示意图；

图6为本发明旋转输送辊在储存主体内部结构示意图；

图7为本发明导料机构与下料槽口连接局部放大结构示意图；

图8为本发明导料机构半剖结构示意图；

图9为本发明筛选主体俯视结构示意图；

图10为本发明筛选主体仰视结构示意图。

图中：1、支撑座；2、支撑架；3、储存主体；31、旋转电机；32、预留口；33、导料机构；331、固定轴；332、扭簧；333、导料板；334、导料槽；34、下料槽口；4、输送主体；41、固定杆；42、驱动电机；43、旋转辊；44、输送带；441、输送槽；5、三维扫描测试主体；6、固定架；7、筛选主体；71、旋转板；72、伺服电机；73、吸附机构；731、控制电机；732、旋转轴；733、旋转杆；734、伸缩气缸；735、吸附盘；8、旋转凸轮；9、拨动机构；91、固定块；92、活动块；93、复位弹簧；94、连接弹簧；10、旋转梳理辊；101、卡合槽。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1-10，本发明提供一种技术方案：一种芯片测试筛选设备，包括支撑座1，其呈矩形结构设置，在其顶端设置有通过支撑架2连接的储存主体3，用于进行芯片的储存堆积工作；

输送主体4，其设置在储存主体3的底部，用于对储存主体3内部下落的芯片进行输送工作；

三维扫描测试主体5，其设置在输送主体4的上方，用于对输送主体4上输送的芯片进行测试工作；

筛选主体7，其设置在三维扫描测试主体5的外侧位置，用于对三维扫描测试主体5扫描后的芯片进行挑选工作；

还包括；

旋转梳理辊10，其设置在储存主体3的内部，用于对储存主体3内部的大量芯片进行梳理工作，保证大量堆积的芯片可以梳理后整齐的到达输送主体4的上方进行输送测试工作；

本申请提供了一种带有旋转梳理辊10的芯片测试筛选设备，首先批量生产完成后的芯片到达储存主体3的内部进行储存，此时，需要控制旋转梳理辊10朝输送主体4的反向进行旋转，保证芯片大量的堆积在储存主体3的内部之后，当芯片下落完成后，便可以使得旋转梳理辊10朝输送主体4的方向旋转，使得其对芯片进行梳理工作之后，使得芯片到达输送主体4的上方，被整理后的芯片随着输送主体4到达三维扫描测试主体5底部，被三维扫描测试主体5进行检测工作，检测完成后的芯片到达筛选主体7的底部，进而将不合格的产品筛选出来，随着筛选主体7到达外界的收集装置的内部进行收集。

其中，根据图6所示，储存主体3呈圆柱形结构，且其外部被支撑架2进行支撑限位，并且储存主体3的外侧还设置有旋转电机31，且其顶端与旋转梳理辊10的外侧进行连接；

具体的，在控制旋转梳理辊10旋转的时候，需要启动旋转电机31，使得其带动其顶端的旋转梳理辊10进行旋转即可。

其中，根据图1-2所示，储存主体3的上方顶端开设有预留口32，用于批量的芯片的下落工作，在储存主体3的外侧还设置有下料槽口34，且下料槽口34的内部设置有初始呈倾斜状态的导料机构33，用于对储存主体3内部的芯片进行导料工作。

在本申请中，根据图3、图6、图7和图8所示，导料机构33包括固定轴331、扭簧332、导料板333和导料槽334，固定轴331的两侧固定在下料槽口34的内侧，且其外侧设置有扭簧332和导料板333相连接，导料板333的表面等间距的设置有导料槽334，且导料槽334的内侧为光滑表面；

具体的，芯片随着旋转梳理辊10梳理旋转的时候，倾斜到达导料机构33的上方的时候，便会使得芯片到达导料机构33上的导料槽334的内部，进而随着导料槽334到达输送主体4的上方。

作为本实施例的进一步优选的，根据图3和图5所示，输送主体4的一侧顶端设置在导料机构33的内侧底部，且其包括固定杆41、驱动电机42、旋转辊43和输送带44，固定杆41设置有4个，且其两两对称设置，横向对称设置的2个固定杆41之间设置有旋转辊43，且一个旋转辊43的顶端同轴连接有驱动电机42，2个旋转辊43的外部缠绕有输送带44，且偏向输送主体4底部的旋转辊43的外侧设置有拨动机构9，用于拨动导料机构33进行晃动工作，保证导料机构33内部的芯片顺利下落。

输送带44的表面等间距的设置有输送槽441，且输送槽441的内部也为光滑表面，并且输送槽441的位置与导料槽334之间相对应；

具体的，在进行输送的时候，需要启动驱动电机42，使得其带动旋转辊43进行旋转，旋转辊43进行旋转的时候，会使得整个输送带44进行传送，进而使得输送带44上输送槽441内部的芯片随着输送带44一起进行输送，完成输送工作。

作为本实施例的进一步优选的，在进行筛选的时候，根据图9和图10所示，筛选主体7设置在固定架6的底部，且筛选主体7包括旋转板 71、伺服电机72和吸附机构73，伺服电机72设置在固定架6的顶端中间位置，且伺服电机72的底部与旋转板71的中心位置相连接，并且旋转板71呈圆形结构。

旋转板71的偏外侧位置设置有吸附机构73，且吸附机构73包括控制电机731、旋转轴732、旋转杆733、伸缩气缸734和吸附盘735，控制电机731设置在旋转板71的偏外侧位置，且其顶端同轴连接有旋转轴732，旋转轴732轴承贯穿设置在旋转板71的底部，在旋转轴732的外侧连接有旋转杆733，旋转杆733的顶端偏下方位置安装有伸缩气缸734，且伸缩气缸734的底部安装有吸附盘735，旋转杆733的尺寸大于旋转板71的长度的三分之二；

具体的，当芯片经过三维扫描测试主体5的底部测试完成后，便需要通过筛选主体7进行不合格产品的筛选工作，在进行挑选的时候，首先根据不合格产品的位置不同，启动伺服电机72，使得伺服电机72带动其底部的旋转板71进行旋转，旋转板71进行旋转的时候，便会带动其底部的吸附机构73进行位置变化，达到合适的位置后，便需要启动控制电机731，使得其带动其顶端的旋转轴732进行旋转，旋转轴732进行旋转的时候，会带动旋转杆733进行旋转，旋转杆733进行旋转的时候，便会带动其顶端伸缩气缸734到达固定的位置，之后，便需要启动伸缩气缸734，使得其带动其底部的吸附盘735向下移动，与不合格的芯片进行吸附，之后，再次的通过旋转杆733和旋转板71的旋转工作，将芯片下落到外界的收集装置的内部进行收集，在本申请中，吸附盘735为现有市场上公开的真空吸附盘735。

作为本实施例的进一步优选的，根据图4、图5和图7所示，拨动机构9包括固定块91、活动块92、复位弹簧93和连接弹簧94，固定块91的外侧通过连接弹簧94与储存主体3的外侧底部相连接，在固定块91的内部设置有凹槽，且凹槽的内部通过复位弹簧93与活动块92相连接，活动块92的顶端与导料机构33的底部相接触；

拨动机构9的底部被旋转凸轮8进行驱动，旋转凸轮8同轴连接在偏向输送主体4底部的旋转辊43的外部两侧位置；

具体的，为了保证芯片在导料的时候，不会出现卡顿的现象，由于旋转辊43旋转的时候，会使得旋转凸轮8进行旋转，进而使得其顶端不断的对固定块91的底部进行拨动，进而使得固定块91在连接弹簧94的作用下进行晃动，在晃动的时候，会使得活动块92在复位弹簧93的作用下进行移动，由此使得活动块92不断的对导料板333进行挤压，使得导料板333在扭簧332的作用下不断的进行晃动，由此保证导料板333内部的导料槽334的内部并不会出现芯片卡顿的现象发生。

作为本实施例的进一步优选的，根据图6所示，旋转梳理辊10包括4个等角度分布的抓板，且相邻的抓板之间的角度为90度，且其连接位置之间呈圆弧形结构，抓板的顶端与储存主体3的内壁相接触，且其顶端呈弧形结构设置，在抓板的表面均匀的分布有卡合槽101，且卡合槽101的位置与导料槽334的位置相对应，导料机构33初始呈向下倾斜状态，且其向下倾斜角度为-35°-75°，相邻的卡合槽101之间的抓板上设置有上下贯穿的下落口，用于对多余未到达卡合槽101内部的芯片进行下落工作；

在本申请中，整个旋转梳理辊10不断的朝输送主体4的方向进行旋转的时候，其外侧的抓板便会对堆积在储存主体3底部的芯片进行翻动，进而使得芯片可以卡合到卡合槽101的内部，而未卡合到卡合槽101内部的芯片便会随着整个抓板的旋转，在抓板中间贯穿的下落口的重新下落到储存主体3的底部进行堆积，而卡合在卡合槽101内部的芯片随着抓板的旋转，其会通过相邻的抓板之间的弧形结构，到达另一个抓板的顶端，进而当另一个抓板的顶端与导料机构33的顶端相互对应的时候，卡合槽101内部的芯片便会下落到导料机构33的上方，随着导料机构33到达输送主体4的上方，进行输送测试工作，本说明书中未作详细描述的内容属于本领域专业技术人员公知的现有技术。

以上显示和描述了本发明的基本原理和主要特征和本发明的优点，对于本领域技术人员而言，显然本发明不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本发明的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本发明。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本发明的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本发明内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。

尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种芯片测试筛选设备，包括；

支撑座（1），其呈矩形结构设置，在其顶端设置有通过支撑架（2）连接的储存主体（3），用于进行芯片的储存堆积工作；

输送主体（4），其设置在储存主体（3）的底部，用于对储存主体（3）内部下落的芯片进行输送工作；

三维扫描测试主体（5），其设置在输送主体（4）的上方，用于对输送主体（4）上输送的芯片进行测试工作；

筛选主体（7），其设置在三维扫描测试主体（5）的外侧位置，用于对三维扫描测试主体（5）扫描后的芯片进行挑选工作；

其特征在于，还包括；

旋转梳理辊（10），其设置在储存主体（3）的内部，用于对储存主体（3）内部的大量芯片进行梳理工作，保证大量堆积的芯片可以梳理后整齐的到达输送主体（4）的上方进行输送测试工作；

所述储存主体（3）呈圆柱形结构，且其外部被支撑架（2）进行支撑限位，并且储存主体（3）的外侧还设置有旋转电机（31），且其顶端与旋转梳理辊（10）的外侧进行连接；

所述储存主体（3）的上方顶端开设有预留口（32），用于批量的芯片的下落工作，在所述储存主体（3）的外侧还设置有下料槽口（34），且下料槽口（34）的内部设置有初始呈倾斜状态的导料机构（33），用于对储存主体（3）内部的芯片进行导料工作；

所述导料机构（33）包括固定轴（331）、扭簧（332）、导料板（333）和导料槽（334），所述固定轴（331）的两侧固定在下料槽口（34）的内侧，且其外侧设置有扭簧（332）和导料板（333）相连接，所述导料板（333）的表面等间距的设置有导料槽（334），且导料槽（334）的内侧为光滑表面；

所述旋转梳理辊（10）包括4个等角度分布的抓板，且相邻的抓板之间的角度为90度，且其连接位置之间呈圆弧形结构，所述抓板的顶端与储存主体（3）的内壁相接触，且其顶端呈弧形结构设置，在所述抓板的表面均匀的分布有卡合槽（101），且卡合槽（101）的位置与导料槽（334）的位置相对应，所述导料机构（33）初始呈向下倾斜状态，且其向下倾斜角度为-35°-75°，相邻的所述卡合槽（101）之间的抓板上设置有上下贯穿的下落口，用于对多余未到达卡合槽（101）内部的芯片进行下落工作。

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试筛选设备，其特征在于：所述输送主体（4）的一侧顶端设置在导料机构（33）的内侧底部，且其包括固定杆（41）、驱动电机（42）、旋转辊（43）和输送带（44），所述固定杆（41）设置有4个，且其两两对称设置，横向对称设置的2个固定杆（41）之间设置有旋转辊（43），且一个所述旋转辊（43）的顶端同轴连接有驱动电机（42），2个所述旋转辊（43）的外部缠绕有输送带（44），且偏向输送主体（4）底部的旋转辊（43）的外侧设置有拨动机构（9），用于拨动导料机构（33）进行晃动工作，保证导料机构（33）内部的芯片顺利下落。

3.根据权利要求2所述的一种芯片测试筛选设备，其特征在于：所述输送带（44）的表面等间距的设置有输送槽（441），且输送槽（441）的内部也为光滑表面，并且输送槽（441）的位置与导料槽（334）之间相对应。

4.根据权利要求1所述的一种芯片测试筛选设备，其特征在于：所述筛选主体（7）设置在固定架（6）的底部，且筛选主体（7）包括旋转板 （71）、伺服电机（72）和吸附机构（73），所述伺服电机（72）设置在固定架（6）的顶端中间位置，且伺服电机（72）的底部与旋转板（71）的中心位置相连接，并且旋转板（71）呈圆形结构。

5.根据权利要求4所述的一种芯片测试筛选设备，其特征在于：所述旋转板（71）的偏外侧位置设置有吸附机构（73），且吸附机构（73）包括控制电机（731）、旋转轴（732）、旋转杆（733）、伸缩气缸（734）和吸附盘（735），所述控制电机（731）设置在旋转板（71）的偏外侧位置，且其顶端同轴连接有旋转轴（732），所述旋转轴（732）轴承贯穿设置在旋转板（71）的底部，在所述旋转轴（732）的外侧连接有旋转杆（733），所述旋转杆（733）的顶端偏下方位置安装有伸缩气缸（734），且伸缩气缸（734）的底部安装有吸附盘（735），所述旋转杆（733）的尺寸大于旋转板（71）的长度的三分之二。

6.根据权利要求2所述的一种芯片测试筛选设备，其特征在于：所述拨动机构（9）包括固定块（91）、活动块（92）、复位弹簧（93）和连接弹簧（94），所述固定块（91）的外侧通过连接弹簧（94）与储存主体（3）的外侧底部相连接，在所述固定块（91）的内部设置有凹槽，且凹槽的内部通过复位弹簧（93）与活动块（92）相连接，所述活动块（92）的顶端与导料机构（33）的底部相接触；

所述拨动机构（9）的底部被旋转凸轮（8）进行驱动，所述旋转凸轮（8）同轴连接在偏向输送主体（4）底部的旋转辊（43）的外部两侧位置。