CN118937848A - 测试装置和测试系统 - Google Patents

Abstract

本申请提供一种测试装置和测试系统。测试装置包括：包括：电源模块、测试安装部以及放电模块；测试安装部具有连接器，连接器用于安装主板；连接器具有供电端子，当主板安装至连接器时，主板的供电端与供电端子对应电连接；电源模块与供电端子连接，形成至少一个供电回路；电源模块用于在对安装至测试安装部的主板进行测试时输出电源信号，以通过供电回路向主板供电；放电模块连接至供电回路，用于当电源模块停止输出电源信号时，对供电回路中的电荷进行放电，以对主板进行放电。本申请的测试装置，提高了主板存储的电荷的放电效率，提高了测试效率。

Description

测试装置和测试系统

技术领域

本申请涉及测试装置，尤其涉及一种测试装置和测试系统。

背景技术

主板是计算机系统的核心组件，其性能和稳定性直接影响整个系统的运行。在主板生产完成后，出厂之前对主板进行测试，是确保主板质量和性能的重要步骤。

目前，通常使用测试夹具对主板进行测试。测试人员将待测主板放置到测试夹具上，安装好测试CPU和测试内存条。对待测主板进行测试时，导通测试夹具的开关，测试夹具为主板和CPU提供工作电源，开机启动以对主板进行测试。在完成该待测主板的测试之后，断开测试夹具的开关，以断开主板的工作电源，等待主板上存储的电荷放电完成后，从测试夹具上移走该主板，并取走测试CPU和测试内存条。接下来，测试人员将新的一个待测主板放置到测试夹具上，重复上述步骤以对新的待测主板进行测试。

使用该测试夹具对主板进行测试时，在测试结束、断开主板的工作电源后，主板上存储的电荷放电时间较长，存在测试效率较低的问题。

发明内容

本申请提供一种测试装置和测试系统，用以解决对主板进行测试时，测试效率较低的问题。

第一方面，本申请提供一种测试装置，包括：电源模块、测试安装部以及放电模块；

所述测试安装部具有连接器，所述连接器用于安装主板；所述连接器具有供电端子，当主板安装至所述连接器时，所述主板的供电端与所述供电端子对应电连接；

所述电源模块与所述供电端子连接，形成至少一个供电回路；所述电源模块用于在对安装至所述测试安装部的主板进行测试时输出电源信号，以通过所述供电回路向所述主板供电；

所述放电模块连接至所述供电回路，用于当所述电源模块停止输出电源信号时，对所述供电回路中的电荷进行放电，以对所述主板进行放电。

可选地，所述放电模块包括：至少一个电阻，所述电阻的一端连接所述供电回路的正极侧，所述电阻的另一端连接所述供电回路的负极侧。

可选地，所述主板对应两个供电回路，每个供电回路对应两个供电端子。

可选地，所述两个供电回路中，其中一个供电回路用于向所述主板的内存电源集成电路供电，另一供电回路用于向安装至所述主板的CPU供电。

可选地，所述测试安装部具有多个连接器，所述多个连接器中的每个连接器用于安装主板。

可选地，所述供电端子为顶针。

可选地，还包括：开关；所述开关的一端接收外部电源，所述开关的另一端与所述电源模块连接，所述开关用于在进行测试时导通，以使所述外部电源传输至所述电源模块；以及，在测试结束后断开；所述电源模块，用于根据所述外部电源，输出所述电源信号。

可选地，还包括：控制模块；所述控制模块与所述电源模块连接，所述控制模块用于在进行测试时向所述电源模块提供使能信号；以及，在测试结束后停止向所述电源模块提供使能信号；所述电源模块，用于在所述使能信号的使能下，输出所述电源信号。

可选地，所述电源模块包括：电压转换模块；所述电压转换模块用于接收外部电源，对所述外部电源进行电压转换，输出所述电源信号。

第二方面，本申请提供一种测试系统，包括：如第一方面任一项所述的测试装置、以及主板。

本申请提供的测试装置和测试系统，通过新增放电模块，在对主板进行测试时，电源模块可以通过供电回路向主板供电；以及，在测试结束后，放电模块对供电回路中的电荷进行放电，以对主板进行放电，提高了主板存储的电荷的放电效率，减少了前一个主板测试结束后至下一个主板开始测试的等待时间，提高了测试效率。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本申请的实施例，并与说明书一起用于解释本申请的原理。

图1为本申请实施例涉及的一种应用场景的示意图；

图2为本申请实施例提出的第一种测试装置的结构示意图；

图3为本申请实施例提供的第二种测试装置的结构示意图；

图4为本申请实施例提供的第三种测试装置的结构示意图；

图5为本申请实施例提供的一种测试装置工作模式的状态示意图；

图6为本申请实施例提供的另一种测试装置工作模式的状态示意图。

附图标记说明：

1：电源模块；2：测试安装部；3：放电模块；4：连接器；5：供电端子；6：开关；7：电源接口；8：控制模块。

通过上述附图，已示出本申请明确的实施例，后文中将有更详细的描述。这些附图和文字描述并不是为了通过任何方式限制本申请构思的范围，而是通过参考特定实施例为本领域技术人员说明本申请的概念。

具体实施方式

这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本申请相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本申请的一些方面相一致的装置和方法的例子。

主板是计算机系统的核心组件，其性能和稳定性直接影响整个系统的运行。在主板生产完成后，出厂之前对主板进行测试，是确保主板质量和性能的重要步骤。在对主板进行测试时，该主板也称为待测主板。测试时需要在主板上安装CPU和内存条以辅助对主板进行系统测试，该CPU也称为测试CPU，该内存条也称为测试内存条。

图1为本申请实施例涉及的一种应用场景的示意图。如图1所示，本申请提供的测试装置应用于测试主板的场景中。一示例下，在对主板进行测试时，首先，测试人员将待测主板放置到测试装置上，安装好测试CPU和测试内存条。接下来，测试人员可以按下测试装置的开关，开始对主板进行测试，电源模块为主板提供两路12伏(voltage，V)的工作电源，其中，一路12V电源为主板上的内存电源集成电路(Memory Power IC)进行供电，另一路12V电源为安装到主板上的CPU进行供电。主板和CPU通电后开机启动，以对主板的功能进行测试。最后，在完成该待测主板的测试之后，测试人员可以按下测试装置的开关，以断开主板的工作电源，等待主板上存储的12V电压的电荷放电完成后，从测试装置上移走该主板，并取走测试CPU和测试内存条。接下来，测试人员将新的一个待测主板放置到测试装置上，重复上述步骤以对新的待测主板进行测试。

经测算，在断开主板的工作电源后，主板上存储的12V电压大概经过30s左右下降到5V，经过2分30秒下降到0.5V，经过4分45秒下降到0.1V，完全下降到0V需7分钟以上。若在主板上存储的电荷放电未完成之前，测试人员取走测试CPU和测试内存条，测试CPU和测试内存条在带电情况下插拔可能会产生电弧，引起瞬间电流变化可能会烧毁待测主板上的电路，或者损坏测试CPU和测试内存条。

使用该测试工具对主板进行测试时，在测试结束、断开主板的工作电源后，因主板上存储的电荷放电时间较长，等待主板上存储的电荷释放完毕，再进行下一个主板测试，间隔时间较长。存在测试效率较低的问题。

综上，测试人员在使用测试装置对主板进行测试时，如何提高测试效率，是亟待解决的问题。

有鉴于此，本申请提出一种新的测试装置，通过在电源模块为主板提供的供电回路上，新增放电模块。断开电源模块向主板提供的工作电源后，放电模块对供电回路中的电荷进行放电，以对主板存储的电荷进行放电。

应理解，本申请提供的测试装置可以应用于对主板进行测试的场景中，也可以应用于对任一电子设备进行测试的场景。以下实施例均以应用于主板测试为例进行说明。

下面以具体的实施例对本申请的技术方案以及本申请的技术方案如何解决上述技术问题进行详细说明。下面这几个具体的实施例可以相互结合，对于相同或相似的概念或过程可能在某些实施例中不再赘述。下面将结合附图，对本申请的实施例进行描述。

图2为本申请实施例提出的第一种测试装置的结构示意图。如图2所示，测试装置包括：电源模块1、测试安装部2以及放电模块3。

测试安装部2例如可以为任一可以固定主板的部件。例如可以为测试夹具、测试台、固定框架、防滑垫等任一种。测试安装部2具有连接器4，连接器4例如可以为任一可以安装主板的器件。例如可以为弹簧针连接器、磁性固定器等任一种。连接器4具有供电端子5，例如，供电端子5可以为顶针、弹簧端子、插针端子、导电触点等任一种。当主板安装至连接器4时，主板的供电端与供电端子5对应电连接。

电源模块1例如可以为任一可以输出电源信号的模块。电源模块1例如可以为电池模块、电源转换模块等任一种。电源模块1与供电端子5连接，形成至少一个供电回路。电源模块1与供电端子5例如可以通过电源线连接。电源模块1用于在对安装至测试安装部2的主板进行测试时输出电源信号，以通过供电回路向主板供电。在测试结束后，电源模块1停止输出电源信号。

一示例下，电源模块1可以为电池模块。电池模块，例如可以为可充电电池或一次性电池等任一种，电池模块可以输出与主板工作电压匹配的电源信号。电池模块可以不连接外部电源，直接使用，在外部电源断电时，电池模块可以作为备用电源，确保测试装置持续运行。

另一示例下，电源模块1可以为电压转换模块。电压转换模块例如可以为任一可以将一种电压转换为另一种电压的模块，例如可以为线性稳压电源、开关电源(Switch ModePower Supply，SMPS)等任一种。电压转换模块可以用于接收外部电源，对外部电源进行电压转换，输出电源信号。例如接收的外部电源为220V、48V等任一种，通过电压转换模块转换为与主板工作电压相匹配的电源信号，例如12V。电压转换模块可以实现对输出电源信号的电压调节和稳定输出。以下实施例均以电源模块1为电压转换模块为例进行示意说明。

其中，电压转换模块可以为开关电源，例如可以为交流-直流电压转换器(Alternating Current to Direct Current Converter，AC-DC)、直流-直流电压转换器(Direct Current to Direct Current Converter，DC-DC)任一种。在外部电源为交流电时，可以使用交流-直流电压转换器(Alternating Current to Direct CurrentConverter，AC-DC)进行电压转换，在外部电源为直流电时，可以使用直流-直流电压转换器(Direct Current to Direct Current Converter，DC-DC)进行电压转换，具体和输入的外部电源的类型有关，本申请实施例对此不进行限定。开关电源是通过开关元件高速开关动作来调节和稳定输出电压的电源转换器，具有效率高、体积小等优点，应用更加方便。

可选地，电压转换模块可以直接连接外部电源，也可以通过电源接口7连接外部电源。一示例下，测试装置还包括电源接口7。电源接口7例如可以为直流电源插头，交流电源插头、排插等任一种。电源接口7与电压转换模块连接，电源接口7用于接入外部电源。例如可以通过直流电源插头接入48V的直流电源、通过交流电源插头接入220V的交流电源，使用排插接入220V的交流电源等。通过电源接口7可以方便连接外部电源，以及，断开与外部电源的连接。其中，电源接口7为排插时，排插可以包括多个插孔，通过排插可以将一个电源插座扩展为多个插座，可以同时为多台测试装置提供电源。一示例下，测试装置包括开关6时，电源接口7还可以通过开关6与电压转换模块连接。在开关6导通时，电源接口7将接入的外部电源传输至电压转换模块，在开关6断开时，电源接口7停止将接入的外部电源传输至电压转换模块。

放电模块3例如可以为任一可以导电的模块，例如可以为电阻。放电模块3连接至供电回路，用于当电源模块1停止输出电源信号时，对供电回路中的电荷进行放电，以对主板进行放电。测试装置在设置一个供电回路时，该供电回路连接一个放电模块3，测试装置在设置多个供电回路时，每一个供电回路对应连接一个放电模块3。

当主板安装至连接器4时，主板的供电端与供电端子5对应电连接，同时，电源模块1与供电端子5连接，形成至少一个供电回路。因此当主板安装至连接器4时，电源模块1与主板之间可以形成至少一个供电回路。对主板进行测试时，电源模块1输出电源信号，通过供电回路向主板供电；以及，在测试结束后，停止输出电源信号，停止向主板供电。放电模块3在电源模块1停止输出电源信号时，对供电回路中的电荷进行放电，以对主板进行放电，提高主板存储的电荷的放电效率，减少主板的放电时间。测试人员等待主板存储的电荷放电完成，可以开始对下一个主板进行测试。

综上所述，本实施例提供的测试装置通过新增放电模块，在对主板进行测试时，电源模块可以通过供电回路向主板供电；以及，在测试结束后，放电模块对供电回路中的电荷进行放电，以对主板进行放电，提高了主板存储的电荷的放电效率，减少了前一个主板测试结束后至下一个主板开始测试的等待时间，提高了测试效率。

应理解，图2仅示例性的给出了测试装置中与本申请相关的单元，本申请实施例仅对与本申请相关的功能进行示例性说明，具体实现时，测试装置是否还具有其他的单元以及其他的功能，本申请实施例对此不进行限定。

图3为本申请实施例提供的第二种测试装置的结构示意图。如图3所示，放电模块3包括至少一个电阻，电阻的一端连接供电回路的正极侧，电阻的另一端连接供电回路的负极侧。当设置多个电阻时，多个电阻可以串联或者并联，以进一步提高放电效率。

进一步地，主板对应两个供电回路，每个供电回路对应两个供电端子5。其中，一个供电端子5可以为正供电端，另一个供电端子5可以为地，正供电端对应供电回路的正极侧，地对应供电回路的负极侧。电源模块1的正极侧输出的电源信号输入主板的正供电端，通过地流回电源模块1的负极侧，以形成供电回路。两个供电回路可以为主板提供两路相互独立的供电电源，两个供电回路分开供电可以减少安装至主板上的不同组件之间的电力干扰和波动。

应理解，在主板对应两个供电回路时，测试装置也需要相应设置两个放电模块3，一个供电回路对应连接一个放电模块3。这两个放电模块3的阻值可以相同也可以不同，本申请实施例对此不进行限定。

一示例下，通常情况下，几乎所有现代计算机主板都配备了内存电源集成电路memory power IC，以确保内存条获得稳定的电力供应，并且主板上使用一个独立的供电回路专门用于CPU供电。因此，在主板上安装CPU和内存条以辅助对主板进行测试时，两个供电回路中，其中一个供电回路可以用于向主板的内存电源集成电路供电，以向安装至主板的内存条供电，另一供电回路可以用于向安装至主板的CPU供电。例如，两个供电回路的电压可以均为12V。内存电源集成电路将一路12V的输入电压降压到内存条所需的较低电压，例如1.2V、1.35V、1.5V等内存条所需的特定电压，使内存条有足够的稳定的电力可以正常运行。主板上的另一路12V的输入电压用于CPU供电，通过电压调节模块(VRM)将12V的输入电压转换为CPU所需的较低电压，例如1.2V到1.5V之间，具体的电压值与CPU的型号有关，使CPU有足够的稳定的电力可以正常运行。两个供电回路分别为不同的模块供电，有助于提供更稳定的电力供应。每个供电回路可以独立调节电压和电流，以满足不同模块的需求，从而提高整体系统的稳定性，有助于更精细的电源管理，可以满足内存条以及CPU的用电需求。

应理解，在现有的主板供电电路的架构中，通常需要使用两路12V电源进行供电，因此测试装置的电源模块1与供电端子5连接，形成两个12V的供电回路，如果以后主板的供电电路中出现另外的需要单独进行供电的模块，电源模块1也可以为另外的需要单独进行供电的模块提供单独的供电回路。如果以后主板的供电电路所需的供电电压为另外的电压，例如5V等，测试装置的电源模块1也可以提供另外的电压的供电回路，以满足主板及安装在主板上的模块的用电需求。

进一步地，测试安装部2具有多个连接器4，多个连接器4中的每个连接器4用于安装主板。测试装置可以一次对一块主板进行测试，也可以一次对多块主板进行测试。在对一块主板进行测试的场景下，测试装置的连接器4的数量可以为一个，主板安装至该连接器4，主板的供电端与连接器4的供电端子5电连接，电源模块1通过连接器4的供电端子5为该主板提供电源信号，以及在测试结束后，停止输出电源信号。在对多块主板进行测试的场景下，测试装置的连接器4的数量可以为多个，主板分别安装至对应的连接器4，主板的供电端与对应的连接器4的供电端子5连接。电源模块1通过对应的连接器4的供电端子5分别为多个主板提供电源信号，以及在测试结束后，停止输出电源信号。测试装置可以应用于更加丰富的测试场景，满足不同的用户需求。

进一步地，供电端子5为顶针。顶针通常由一个弹簧加载的针头和一个外壳组成。针头受弹簧的压力作用可以在外壳内移动。主板的供电端例如可以为金属触点。当主板安装至连接器4时，主板因自身重量可以按压顶针，使顶针与金属触点之间对应建立稳定的电连接，以使主板的供电端与连接器4的供电端子5建立稳定的电连接。顶针可以是圆柱形的，根据主板上金属触点的接触面形状不同，针头部分可以是尖的、平的或其他形状，以适应不同的金属接触面。顶针应用于连接器4的供电端子5，对主板进行测试时，可以提供低接触电阻和稳定的电气连接，适用于高频率插拔。

进一步地，测试装置还包括开关6。开关6的一端接收外部电源，开关6的另一端与电源模块1连接。开关6用于在进行测试时导通，以使外部电源传输至电源模块1；以及，在测试结束后断开；电源模块1，用于根据外部电源，输出电源信号。开关6例如可以为任一在导通时连接开关6两端的线路以及在断开时断开开关6两端的线路的器件。例如可以为船型开关、按钮开关、旋转开关、双按键开关等任一种。其中，双按键开关通常有两个独立的按钮或按键，一次只能有一个按钮或按键按下，其中，表征“开”的按钮按下时，连接开关6两端的线路，表征“关”的按钮按下时，断开开关6两端的线路。通过两个独立的按钮或按键，可以明确知道当前开关6的状态，避免误操作。通过控制开关6的状态，可以控制是否允许外部电源传输至电源模块1。

继续在图3的示例下，以主板m安装至连接器m为例进行示意说明。放电模块3分别为电阻R1和电阻R2。主板的供电端a和供电端b为第一个供电回路，对应连接器m的供电端子a和供电端子b；主板m的供电端c和供电端d为第二个供电回路，对应连接器m的供电端子c和供电端子d。电阻R1连接至第一个供电回路，电阻R2连接至第二个供电回路。一示例下，主板m的供电端a和连接器m的供电端子a为正供电端，主板m的供电端b和连接器m的供电端子b为地。主板m的供电端c和连接器m的供电端子c为正供电端，主板m的供电端d和连接器m的供电端子d为地。

应理解，在对主板n安装至连接器n时，各部件如何连接，可以参照前述说明，此处不再赘述。

在对主板m进行测试时，导通开关6，外部电源通过电源接口7输入电压转换模块，电压转换模块对外部电源进行电压转换后输出电源信号，通过供电端子a、供电端a、供电端b、供电端子b形成一个供电回路，为主板m提供第一路电源信号；通过供电端子c、供电端c、供电端d、供电端子d形成另一个供电回路，为主板m提供第二路电源信号。在对主板m测试结束后，断开开关6，电压转换模块停止输出电源信号。主板m通过供电端a、供电端子a、电阻R1、供电端子b、供电端b对主板m对应的第一个供电回路中的电荷进行放电；主板m通过供电端c、供电端子c、电阻R2、供电端子d、供电端d对主板m对应的第二个供电回路中的电荷进行放电。从而实现对主板存储的电荷进行放电。

应理解，在对主板n进行测试时，如何为主板n提供电源信号，以及在对主板n测试结束后，如何释放主板n存储的电荷进行放电，可以参照前述说明，此处不再赘述。

进一步地，测试装置还包括控制模块8。控制模块8例如可以为任一可以输出高电平或低电平的控制信号的模块，例如可以为单片机、嵌入式处理器、可编程逻辑器件等任一处理单元。可选地，除处理单元之外，还可以包括处理单元的外围电路单元。控制模块8与电源模块1连接，控制模块8用于在进行测试时向电源模块1提供使能信号；以及，在测试结束后停止向电源模块1提供使能信号；电源模块1，用于在使能信号的使能下，输出电源信号。通过使能信号，可以精确控制电源模块1的开关，确保在测试过程中提供稳定的电力。

综上所述，本实施例提供的测试装置在对主板进行测试时，电源模块可以通过供电回路向主板供电；以及，在测试结束后，放电模块对供电回路中的电荷进行放电，以对主板进行放电，提高了主板存储的电荷的放电效率，减少了主板的放电时间，可以提高测试效率。

图4为本申请实施例提供的第三种测试装置的结构示意图。如图4所示，测试装置包括：电源模块1、测试安装部2、放电模块3、开关S1、电源接口7；电源模块1为开关电源，例如为AC-DC转换器。测试安装部2包括一个连接器4，连接器4包括四个供电端子5，四个供电端子5均为顶针，例如分别为顶针a、顶针b、顶针c、顶针d。放电模块3包括电阻R1、电阻R2。主板具有四个供电端，分别为供电端12V_1、供电端GND_1、供电端12V_2、供电端GND_2。电源接口7为220V排插。

主板通过连接器4安装至测试安装部2；供电端12V_1电连接顶针a、供电端GND_1电连接顶针b、供电端12V_2电连接顶针c、供电端GND_2电连接顶针d；开关电源通过12V_1电源线电连接顶针a、通过GND_1电源线电连接顶针b、通过12V_2电源线电连接顶针c、通过GND_2电源线电连接顶针d；电阻R1的一端电连接12V_1电源线、电阻R1的另一端电连接GND_1电源线；电阻R2的一端电连接12V_2电源线、电阻R2的另一端电连接GND_2电源线；开关S1的一端电连接220V排插，开关S1的另一端电连接开关电源；220V排插接入外部220V电源。

本申请实施例的测试装置的工作模式可以为任一种：供电模式、放电模式。下面对应图4示例的测试装置进行示例说明。

图5为本申请实施例提供的一种测试装置工作模式的状态示意图。如图5所示，测试装置工作在供电模式，图中的箭头方向示意供电回路。

在对主板进行测试时，将主板通过连接器4安装至测试安装部2，在主板上安装CPU和内存条。导通开关S1，220V排插将外部的220V电源输入开关电源，开关电源对输入的220V电源进行电压转换输出两路12V的电源信号。其中，一路12V的电源信号通过12V_1电源线输入顶针a，开关电源通过12V_1电源线、顶针a、主板的供电端12V_1、主板的供电端GND_1、顶针b、GND_1电源线形成一个供电回路，为主板提供第一路12V的电源信号，以向主板的内存电源集成电路供电，从而向安装至主板的内存条供电；另一路12V的电源信号通过12V_2电源线输入顶针c，开关电源通过12V_2电源线、顶针c、主板的供电端12V_2、主板的供电端GND_2、顶针d、GND_2电源线形成另一个供电回路，为主板提供第二路12V的电源信号，以向安装至主板的CPU供电。主板、CPU、内存条通电运行，可以开机对主板进行测试。

图6为本申请实施例提供的另一种测试装置工作模式的状态示意图。如图6所示，测试装置工作在放电模式，图中的箭头方向示意放电回路。

在对主板结束测试时，断开开关S1，220V排插停止向开关电源输入220V电源，开关电源停止输出12V的电源信号。此时，主板中因包含电容等储能元件，主板中存储12V的电荷。其中，主板中一路12V的电源信号通过主板的供电端12V_1、顶针a、电阻R1、顶针b、主板的供电端GND_1形成一个放电回路，主板的第一路12V电源的电荷通过该放电回路释放到地；主板中另一路12V的电源信号通过主板的供电端12V_2、顶针c、电阻R2、顶针d、主板的供电端GND_2形成另一个放电回路，主板的第二路12V电源的电荷通过该放电回路释放到地。

测试人员等待主板存储的12V电源的电荷放电完毕，取下主板上安装的CPU和内存条，将主板从测试安装部2取下，以断开供电端12V_1与顶针a的电连接、断开供电端GND_1与顶针b的电连接、断开供电端12V_2与顶针c的电连接、断开供电端GND_4与顶针d的电连接。

接下来可以对新的一个主板进行测试。测试人员将新的主板通过连接器4安装至测试安装部2后，测试装置继续按照图5所示的流程进行供电，以及在测试结束后按照图6所示的流程进行放电。

一示例下，电阻R1和电阻R2的电阻值均为300欧姆时，主板存储的12V电源的电荷放电时间约为10s-15s之间。另一示例下，电阻R1和电阻R2的电阻值均为100欧姆时，主板存储的12V电源的电荷放电时间为10s以内。现有技术中，在主板测试结束后，断开开关，开关电源停止输出12V的电源信号，主板存储的12V电源的电荷放电时间约为7分钟。

本申请实施例提供的测试装置相比现有技术，提高了主板存储的电荷的放电效率，减少了一个主板测试结束至另一个主板开始测试之间的时长，提高了测试效率。

本申请实施例还提供一种测试系统，包括测试装置，以及主板。

可选地，主板具有第一连接器和第二连接器；第一连接器例如可以为任一可以与CPU电连接的连接器，例如可以为CPU插座或卡槽，具体与主板支持的CPU的型号和接口有关。第二连接器例如可以为任一可以与内存条电连接的连接器，例如可以为内存插槽，例如可以为双倍数据速率第三代同步动态随机存取存储器(Double Data Rate 3SynchronousDynamic Random-Access Memory，DDR3 SDRAM)插槽、双倍数据速率第四代同步动态随机存取存储器(Double Data Rate 4Synchronous Dynamic Random-Access Memory，DDR4SDRAM)插槽、双倍数据速率第五代同步动态随机存取存储器(Double Data Rate5Synchronous Dynamic Random-Access Memory，DDR5 SDRAM)插槽等任一种。具体与主板支持的内存条的型号和接口有关。第一连接器和第二连接器与主板的供电端对应连接；第一连接器用于安装CPU，第二连接器用于安装内存条。

本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后，将容易想到本申请的其它实施方案。本申请旨在涵盖本申请的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本申请的一般性原理并包括本申请未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本申请的真正范围和精神由下面的权利要求书指出。

应当理解的是，本申请并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本申请的范围仅由所附的权利要求书来限制。

Claims (10)

1.一种测试装置，其特征在于，包括：电源模块、测试安装部以及放电模块；

所述测试安装部具有连接器，所述连接器用于安装主板；所述连接器具有供电端子，当主板安装至所述连接器时，所述主板的供电端与所述供电端子对应电连接；

所述电源模块与所述供电端子连接，形成至少一个供电回路；所述电源模块用于在对安装至所述测试安装部的主板进行测试时输出电源信号，以通过所述供电回路向所述主板供电；

所述放电模块连接至所述供电回路，用于当所述电源模块停止输出电源信号时，对所述供电回路中的电荷进行放电，以对所述主板进行放电。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述放电模块包括：

至少一个电阻，所述电阻的一端连接所述供电回路的正极侧，所述电阻的另一端连接所述供电回路的负极侧。

3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述主板对应两个供电回路，每个供电回路对应两个供电端子。

4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述两个供电回路中，其中一个供电回路用于向所述主板的内存电源集成电路供电，另一供电回路用于向安装至所述主板的CPU供电。

5.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试安装部具有多个连接器，所述多个连接器中的每个连接器用于安装主板。

6.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述供电端子为顶针。

7.根据权利要求1至6任一项所述的测试装置，其特征在于，还包括：开关；

所述开关的一端接收外部电源，所述开关的另一端与所述电源模块连接，所述开关用于在进行测试时导通，以使所述外部电源传输至所述电源模块；以及，在测试结束后断开；

所述电源模块，用于根据所述外部电源，输出所述电源信号。

8.根据权利要求7所述的测试装置，其特征在于，还包括：控制模块；

所述控制模块与所述电源模块连接，所述控制模块用于在进行测试时向所述电源模块提供使能信号；以及，在测试结束后停止向所述电源模块提供使能信号；

所述电源模块，用于在所述使能信号的使能下，输出所述电源信号。

9.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述电源模块包括：电压转换模块；

所述电压转换模块用于接收外部电源，对所述外部电源进行电压转换，输出所述电源信号。

10.一种测试系统，其特征在于，包括：如权利要求1至9任一项所述的测试装置、以及主板。