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CN118858829B - 一种负载类型检测电路 - Google Patents

一种负载类型检测电路 Download PDF

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CN118858829B
CN118858829B CN202411347989.3A CN202411347989A CN118858829B CN 118858829 B CN118858829 B CN 118858829B CN 202411347989 A CN202411347989 A CN 202411347989A CN 118858829 B CN118858829 B CN 118858829B
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Abstract

本发明涉及检测电路技术领域,具体公开了一种负载类型检测电路。在该电路中,包括启动模块和检测模块;在电路上电后,启动模块的电流生成支路中生成目标电流;目标电流依次通过第四开关管以及第五开关管传输至负载连接端;在检测模块中包括第一目标电路、第二目标电路、第三目标电路以及D触发器;第一目标电路的输入端连接至第四开关管的输出端;第三目标电路的输出端与D触发器的第一输入端连接;D触发器的输出端连接至控制模块,以控制功率电路的工作状态;D触发器的第二输入端、第四开关管的控制端以及第五开关管的控制端分别接入控制电压。上述方案提供了一种可靠的负载类型检测电路,使得集成电路控制芯片可以实现小型化或多功能化。

Description

一种负载类型检测电路
技术领域
本发明涉及检测电路技术领域,具体涉及一种负载类型检测电路。
背景技术
小型化和多功能化是现有集成电路领域的发展趋势,即现有的集成电路控制芯片通常具有多种工作模式,使得其所控制的功率电路通常可以适用于不同类型的电路负载,从而实现多功能化。故此时,需要通过对功率电路所接的电路负载类型进行检测,从而调节芯片的工作模式。同时,现有的集成电路控制芯片还需要尽量减少芯片引脚,从而实现小型化,故此时,需要通过对芯片所接的引脚负载类型进行检测,从而实现芯片引脚的复用。
因此,如何得到一种可靠的负载类型检测电路是本领域亟需解决的问题。
发明内容
有鉴于此,本发明提供了一种负载类型检测电路,应用于集成电路控制芯片时,使得集成电路控制芯片可以实现小型化或多功能化。该技术方案如下:
一方面,本申请提供了一种负载类型检测电路,所述负载类型检测电路中包括启动模块和检测模块;
在所述负载类型检测电路上电后,所述启动模块的电流生成支路中生成目标电流;在所述电流生成支路中包括第四开关管以及第五开关管;所述目标电流依次通过所述第四开关管以及所述第五开关管传输至负载连接端;
在所述检测模块中包括第一目标电路、第二目标电路、第三目标电路以及D触发器;所述第一目标电路的输入端连接至所述第四开关管的输出端;所述第一目标电路的输出端连接至所述第二目标电路的输入端;所述第二目标电路的输出端连接至所述第三目标电路的输入端;所述第三目标电路的输出端与所述D触发器的第一输入端连接;所述D触发器的输出端连接至控制模块,以控制外部电路的工作状态;
所述D触发器的第二输入端、第四开关管的控制端以及第五开关管的控制端分别接入控制电压。
在一种可选的实施方式中,在所述负载类型检测电路上电后,所述控制电压为高电平,且在目标时间段后变为低电平。
在一种可选的实施方式中,所述第一目标电路包括第二运算放大器;所述第二运算放大器的同相输入端连接至所述第四开关管的输出端;所述第二运算放大器的反相输入端连接至所述第二运算放大器的输出端。
在一种可选的实施方式中,所述第二目标电路包括第一电容、第三运算放大器以及第四电阻,所述第二目标电路的输入端通过第一电容连接至第三运算放大器的反相输入端;所述第三运算放大器的反相输入端通过第四电阻连接至所述第三运算放大器的输出端;所述第三运算放大器的同相输入端接地。
在一种可选的实施方式中,所述第三目标电路包括第五电阻、第六电阻以及第四运算放大器;所述第三目标电路的输入端通过第五电阻连接至所述第四运算放大器的反相输入端;所述第四运算放大器的反相输入端通过第六电阻连接至所述第四运算放大器的输出端;所述第四运算放大器的同相输入端接地。
在一种可选的实施方式中,所述第五电阻的电阻值与所述第六电阻的电阻值相等。
在一种可选的实施方式中,所述启动模块包括第一电流镜;所述第一电流镜包括第一支路、第二支路以及所述电流生成支路;
所述第一电流镜的第一支路连接至第一节点;所述第一节点连接至第一运算放大器的同相输入端;所述第一节点还依次通过第一电阻以及第一三极管接地;所述第一节点还通过第二电阻接地;
所述第一电流镜的第二支路连接至第二节点;所述第二节点连接至所述第一运算放大器的反相输入端;所述第二节点通过第二三极管接地;所述第二节点还通过第三电阻接地;
所述第一运算放大器的输出端用于控制所述第一电流镜的工作状态。
在一种可选的实施方式中,所述第二电阻的电阻值与所述第三电阻的电阻值相等。
在一种可选的实施方式中,所述第一三极管的控制端接地;所述第二三极管的控制端接地;所述第一三极管与所述第二三极管的个数比为N:1。
在一种可选的实施方式中,所述第一电流镜的第一支路包括第一开关管;所述第一电流镜的第二支路包括第二开关管;所述电流生成支路包括第三开关管;所述第一运算放大器的输出端分别连接第一开关管的控制端、第二开关管的控制端以及第三开关管的控制端。
在一种可选的实施方式中,所述第三开关管的输出端与所述第四开关管的输入端连接。
又一方面,本申请提供了一种集成电路控制芯片,所述集成电路控制芯片中包括上述负载类型检测电路与控制模块。
在一种可选的实施方式中,所述集成电路控制芯片上具有负载引脚;所述负载引脚与集成电路控制芯片内部的负载类型检测电路中的负载连接端相连;
当所述集成电路控制芯片用于检测功率电路所连接的电路负载类型时,所述负载引脚与电路负载连接;所述集成电路控制芯片中的控制模块根据所述功率电路的电路负载类型控制所述功率电路的工作状态。
在一种可选的实施方式中,所述集成电路控制芯片中还包括引脚切换电路;
当所述集成电路控制芯片用于检测引脚负载类型时,所述集成电路控制芯片的负载引脚与外部引脚负载相连;
所述控制模块与所述引脚切换电路相连,以根据外部引脚负载的负载类型控制引脚切换电路切换负载引脚的功能。
本申请提供的技术方案可以包括以下有益效果:
本申请提供的一种负载类型检测电路,当电阻负载接入负载类型检测电路后,该负载类型检测电路输出低电平,当电容负载接入负载类型检测电路后,该负载类型检测电路输出高电平,从而实现对所接入负载的负载类型进行检测。在该负载类型检测电路和控制模块应用于集成电路控制芯片时,控制模块根据该负载类型检测电路输出的电平高低对芯片的工作模式或引脚进行调节,从而实现集成电路控制芯片的多功能化或小型化。
本申请提供的一种负载类型检测电路,能够产生零温度系数的目标电流,从而确保负载类型检测电路可靠输出低电平或高电平,大大提高了负载类型检测电路的安全可靠性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案,下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本发明的一些实施方式,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是根据本发明实施例的负载类型检测电路的结构示意图;
图2示出了本申请实施例涉及的控制电压的波形图;
图3示出了本申请实施例涉及的接入电阻负载时的负载类型检测电路的结构示意图;
图4示出了本申请实施例涉及的接入电容负载时的负载类型检测电路的结构示意图;
图5是根据本发明实施例的对功率电路所接的电路负载类型进行检测时的电路结构示意图;
图6是根据本发明实施例的对集成电路控制芯片所接的引脚负载类型进行检测时的电路结构示意图。
具体实施方式
下面将结合附图对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
在本发明的描述中,需要说明的是,术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。此外,术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
在本发明的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
此外,下面所描述的本发明不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。
图1是根据本发明实施例的负载类型检测电路的结构示意图。如图1所示,该负载类型检测电路中包括启动模块和检测模块;
在该负载类型检测电路上电后,该启动模块的电流生成支路中生成目标电流;在该电流生成支路中包括第四开关管M4以及第五开关管M5;该目标电流依次通过该第四开关管M4以及该第五开关管M5传输至负载连接端VL;
在该检测模块中包括第一目标电路、第二目标电路、第三目标电路以及D触发器;该第一目标电路的输入端连接至该第四开关管M4的输出端;该第一目标电路的输出端连接至该第二目标电路的输入端;该第二目标电路的输出端连接至该第三目标电路的输入端;该第三目标电路的输出端与该D触发器的第一输入端连接;该D触发器的输出端连接至控制模块,以控制外部电路的工作状态;
该D触发器的第二输入端、第四开关管M4的控制端以及第五开关管M5的控制端分别接入控制电压。
在一种可选的实施方式中,在该负载类型检测电路上电后,该控制电压为高电平,且在目标时间段后变为低电平。
在一种可选的实施方式中,该控制电压为高电平时,第四开关管M4、第五开关管M5以及D触发器导通;该控制电压为低电平时,第四开关管M4、第五开关管M5以及D触发器关断。
在一种可选的实施方式中,该第一目标电路包括第二运算放大器A2;该第二运算放大器A2的同相输入端连接至该第四开关管M4的输出端;该第二运算放大器A2的反相输入端连接至该第二运算放大器A2的输出端。
在一种可选的实施方式中,该第二目标电路包括第一电容C1、第三运算放大器A3以及第四电阻R4,该第二目标电路的输入端通过第一电容C1连接至第三运算放大器A3的反相输入端;该第三运算放大器A3的反相输入端通过第四电阻R4连接至该第三运算放大器A3的输出端;该第三运算放大器A3的同相输入端接地。
在一种可选的实施方式中,该第三目标电路包括第五电阻R5、第六电阻R6以及第四运算放大器A4;该第三目标电路的输入端通过第五电阻R5连接至该第四运算放大器A4的反相输入端;该第四运算放大器A4的反相输入端通过第六电阻R6连接至该第四运算放大器A4的输出端;该第四运算放大器A4的同相输入端接地。
在一种可选的实施方式中,该第五电阻R5的电阻值与该第六电阻R6的电阻值相等。
在一种可选的实施方式中,该启动模块包括第一电流镜;该第一电流镜包括第一支路、第二支路以及该电流生成支路;
该第一电流镜的第一支路连接至第一节点;该第一节点连接至第一运算放大器A1的同相输入端;该第一节点还依次通过第一电阻R1以及第一三极管Q1接地;该第一节点还通过第二电阻R2接地;
该第一电流镜的第二支路连接至第二节点;该第二节点连接至该第一运算放大器A1的反相输入端;该第二节点通过第二三极管Q2接地;该第二节点还通过第三电阻R3接地;
该第一运算放大器A1的输出端用于控制该第一电流镜的工作状态。
在一种可选的实施方式中,该第二电阻R2的电阻值与该第三电阻R3的电阻值相等。
在一种可选的实施方式中,该第一三极管Q1的控制端接地;该第二三极管Q2的控制端接地;该第一三极管Q1与该第二三极管Q2的个数比为N:1。
在一种可选的实施方式中,该第一电流镜的第一支路包括第一开关管M1;该第一电流镜的第二支路包括第二开关管M2;该电流生成支路包括第三开关管M3;该第一运算放大器A1的输出端分别连接第一开关管M1的控制端、第二开关管M2的控制端以及第三开关管M3的控制端。
在一种可选的实施方式中,该第三开关管M3的输出端与该第四开关管M4的输入端连接。
在一种可选的实施方式中,该第一开关管M1、第二开关管M2以及第三开关管M3构成1:1:1的电流镜。
在一种可选的实施方式中,该第一开关管M1、第二开关管M2、第三开关管M3为PMOS管;该第四开关管M4和第五开关管M5为NMOS管。
在一种可选的实施方式中,该第一三极管Q1和第二三极管Q2为PNP三极管。
图1示出的负载类型检测电路的工作原理如下:
在该负载类型检测电路上电后,第一运算放大器A1的同相输入端和反相输入端均通过电阻接地,因此第一运算放大器A1输出低电平,即第一运算放大器的输出端为低电平,该低电平拉低第一开关管M1的控制端、第二开关管M2的控制端以及第三开关管M3的控制端的电压,第一开关管M1、第二开关管M2以及第三开关管M3均导通。同时,第一三极管Q1的控制端接地,第二三极管Q2的控制端接地,第一三极管Q1、第二三极管Q2均导通。此时,该负载类型检测电路中产生流过第一开关管M1的电流值为i1的第一电流、流过第二开关管M2电流值为i2的第二电流、流过第二电阻R2的电流值为i3的第三电流、流过第一电阻R1和第一三极管Q1的电流值为i4的第四电流、流过第二三极管Q2的电流值为i5的第五电流、流过第三电阻R3的电流值为i6的第六电流以及流过电流生成支路的电流值为i7的目标电流。
此时,负载类型检测电路在第一运算放大器A1的调节下,使得第一节点的电压值v1与第二节点的电压值v2相等。根据图1中的电路结构可知,,其中,VEB1为第一三极管Q1的发射极和基极之间的电压差,VR1为第一电阻R1上的电压,is为第二三极管Q2的反向饱和电流,VEB2为第二三极管Q2的发射极和基极之间的电压差,,k为玻尔兹曼常数,T为绝对温度,q为单位电荷量。同时,由于第一开关管M1、第二开关管M2和第三开关管M3构成1:1:1的电流镜结构,因此i1=i2=i7。又因为v1=v2,R2=R3,因此i3=i6。此时,由于第一运算放大器A1的输入端不流过电流,可得i1=i3+i4,i2=i6+i5,进而可得i4= i5。由上文记载可知,,因此。由图1可知,,因此,,其中,vt属于正温度系数参数,VEB2属于负温度系数参数。
故此时,可通过调节第一电阻R1的电阻值、第三电阻R3的电阻值以及N的数值,使得第一电流的电流值i1、第二电流的电流值i2和目标电流的电流值i7的计算公式中的正负温度系数抵消,此时,当控制电压为高电平时,第四开关管M4和第五开关管M5导通,零温度系数的电流值为i7的目标电流流入第四开关管M4和第五开关管M5中。
图2示出了本申请实施例涉及的控制电压的波形图,如图2所示,负载类型检测电路刚上电时,控制电压的电压值vx为高电平,并在维持目标时间段后自动切换为低电平。该目标时间段可以根据实际需求进行设置。
在一种可选的实施方式中,该负载类型检测电路还包括负载引脚,该负载引脚与负载连接端VL相连,用于接入外部负载,负载类型检测电路即可对接入的外部负载进行负载类型检测。
图3示出了本申请实施例涉及的接入电阻负载时的负载类型检测电路的结构示意图。当电阻负载接入负载引脚后,由于控制电压为高电平,因此第四开关管M4和第五开关管M5导通,零温度系数的目标电流通过第四开关管M4和第五开关管M5流向电阻负载。此时,第二运算放大器A2同相输入端的电压值v3=i7×RL,其中,RL为电阻负载的电阻值。由图3电路结构可知,最终,第二运算放大器A2将其输出端的电压值v4调节为等于其同相输入端的电压值v3。并且,由于目标电流为零温度系数电流,因此,目标电流的电流值i7不受温度影响,是一个可靠的固定值。故此时,第二运算放大器A2输出端的电压值v4和第二运算放大器A2同相输入端的电压值v3均为一个可靠的固定值。又由于第三运算放大器A3的同相输入端和第四运算放大器A4的同相输入端均接地,因此,由运算放大器的虚短特性可得,第三运算放大器A3反相输入端的电压值v5和第四运算放大器A4的反相输入端的电压值v7均为0V,再根据运算放大器虚断特性可得,第一电容C1和第四电阻R4中流过的电流的电流值相等,均为第八电流的电流值i8,第五电阻R5和第六电阻R6中流过的电流的电流值相等,均为第九电流的电流值i9。同时,由于第二运算放大器A2输出端的电压值v4为固定值,而第二运算放大器A2的输出端与第三运算放大器A3的反相输入端之间设置有第一电容C1,故此时,第一电容C1可以看作开路,第三运算放大器A3的反相输入端的电压值v5始终为0V,因此,i8=i9=0A,第四运算放大器A4的反相输入端的电压值v7也始终为0V,故此时可得,第四运算放大器A4输出端的电压值v8为0V,即第四运算放大器A4输出低电平。
因此,负载类型检测电路上电之后,当电阻负载接入负载引脚时,高电平的控制电压和低电平的第四运算放大器A4输出端电压输入D触发器,D触发器的输出电压的电压值v9跟随低电平的第四运算放大器A4输出端电压切换为低电平,之后,当控制电压由高电平切换为低电平后,D触发器的输出电压的电压值v9的状态被锁定,不随第四运算放大器A4输出端电压的电压值v8变化,从而可得,当电阻负载接入负载引脚后,该负载类型检测电路输出低电平。
图4示出了本申请实施例涉及的接入电容负载时的负载类型检测电路的结构示意图。当电容负载接入负载引脚后,由于控制电压为高电平,因此第四开关管M4和第五开关管M5导通,零温度系数的目标电流通过第四开关管M4和第五开关管M5流向电容负载。此时,目标电流给电容负载充电,第二运算放大器A2同相输入端的电压值v3逐渐升高,由电容充电公式可知,,其中,t为时间变量,CL为电容负载的电容值。此时,由图4电路结构可知,最终,第二运算放大器A2将其输出端的电压值v4调节为等于其同相输入端的电压值v3,并且由于目标电流为零温度系数电流,因此,目标电流的电流值i7是一个不受温度影响的可靠电流。又由于第三运算放大器A3的同相输入端和第四运算放大器A4的同相输入端均接地,因此,由运算放大器虚短特性可得,第三运算放大器A3的反相输入端的电压值v5和第四运算放大器A4的反相输入端的电压值v7均为0V,再根据运算放大器虚断特性可得,第一电容C1和第四电阻R4中流过的电流的电流值相等,均为第八电流的电流值i8,第五电阻R5和第六电阻R6中流过的电流的电流值相等,均为第九电流的电流值i9。同时,由于第二运算放大器A2输出端的电压值,且电压值v4为一个逐渐增大的电压,故此时,第一电容C1中产生第八电流,且由于第三运算放大器A3反相输入端的电压值v5为0V,从而可得第八电流的电流值,第三运算放大器A3输出端的电压值,又由于第四运算放大器A4反相输入端的电压值v7也为0V,因此,第九电流的电流值,从而可得。此时,由于第六电阻R6的电阻值等于第五电阻R5的电阻值,可得,又由于,因此,,从而可得。因此,可以通过调整第四电阻R4的电阻值、第一电容C1的电容值以及目标电流的电流值i7的大小,确保第四运算放大器A4输出端的电压值v8为一个较高的值,且由于目标电流是一个不受温度影响的可靠电流,从而确保第四运算放大器A4可靠输出高电平。
因此,负载类型检测电路上电之后,当电容负载接入负载引脚时,高电平的控制电压和高电平的第四运算放大器A4输出端电压输入D触发器,此时,D触发器的输出电压的电压值v9跟随高电平的第四运算放大器A4输出端电压切换为高电平。之后,当控制电压由高电平切换为低电平后,D触发器的输出电压的电压值v9的状态被锁定,不随第四运算放大器A4输出端的电压值v8变化,从而可得,当电容负载接入负载引脚后,该负载类型检测电路输出高电平。
由此可知,当电阻负载接入负载类型检测电路中的负载引脚后,该负载类型检测电路输出低电平;当电容负载接入负载类型检测电路中的负载引脚后,该负载类型检测电路输出高电平。同时,负载类型检测电路中产生零温度系数的电流,从而确保负载类型检测电路可靠输出低电平或高电平。
图5是根据本发明实施例的对功率电路所接的电路负载类型进行检测时的电路结构示意图。如图5所示,集成电路控制芯片U1中包括前述负载类型检测电路与控制模块。该集成电路控制芯片U1上具有负载引脚,该负载引脚与集成电路控制芯片内部的负载类型检测电路中的负载连接端VL相连。
当集成电路控制芯片U1用于检测功率电路所连接的电路负载类型时,该负载引脚与电路负载连接。该集成电路控制芯片中的控制模块根据该功率电路的电路负载类型控制该功率电路的工作状态。
具体的,负载类型检测电路和控制模块位于集成电路控制芯片U1内部,功率电路和电路负载位于集成电路控制芯片U1外部,电路负载与集成电路控制芯片U1的负载引脚相连。当电路负载为电阻负载时,负载类型检测电路输出低电平,低电平的输出电压输入控制模块中,控制模块控制功率电路工作于相应的工作模式;当电路负载为电容负载时,负载类型检测电路输出高电平,高电平的输出电压输入控制模块中,控制模块控制功率电路工作于相应的工作模式。
图6是根据本发明实施例的对集成电路控制芯片所接的引脚负载类型进行检测时的电路结构示意图。该集成电路控制芯片U1中还包括引脚切换电路。
当集成电路控制芯片U1用于检测引脚负载类型时,该集成电路控制芯片的负载引脚与外部引脚负载相连,该控制模块与该引脚切换电路相连,以根据外部引脚负载的负载类型控制引脚切换电路切换负载引脚的功能。
具体的,负载类型检测电路、控制模块和引脚切换电路位于集成电路控制芯片U1内部,引脚负载位于集成电路控制芯片U1外部,引脚负载与集成电路控制芯片U1的负载引脚相连。当引脚负载为电阻负载时,负载类型检测电路输出低电平,低电平的输出电压输入控制模块中,控制模块控制引脚切换电路切换负载引脚所实现的功能;当引脚负载为电容负载时,负载类型检测电路输出高电平,高电平的输出电压输入控制模块中,控制模块控制引脚切换电路切换负载引脚所实现的功能。
综上所述,当电阻负载接入负载类型检测电路后,该负载类型检测电路输出低电平,当电容负载接入负载类型检测电路后,该负载类型检测电路输出高电平,从而实现对所接入负载的负载类型进行检测。在该负载类型检测电路和控制模块应用于集成电路控制芯片时,控制模块根据该负载类型检测电路输出的电平高低对芯片的工作模式或引脚进行调节,从而实现集成电路控制芯片的多功能化或小型化。
并且,该负载类型检测电路能够产生零温度系数的目标电流,从而确保负载类型检测电路可靠输出低电平或高电平,大大提高了负载类型检测电路的安全可靠性。
显然,上述实施例仅仅是为清楚地说明所作的举例,而并非对实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说,在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本发明创造的保护范围之中。

Claims (13)

1.一种负载类型检测电路,其特征在于,所述负载类型检测电路中包括启动模块和检测模块;
在所述负载类型检测电路上电后,所述启动模块的电流生成支路中生成目标电流;在所述电流生成支路中包括第四开关管以及第五开关管;所述目标电流依次通过所述第四开关管以及所述第五开关管传输至负载连接端;
在所述检测模块中包括第一目标电路、第二目标电路、第三目标电路以及D触发器;所述第一目标电路的输入端连接至所述第四开关管的输出端;所述第一目标电路的输出端连接至所述第二目标电路的输入端;所述第二目标电路的输出端连接至所述第三目标电路的输入端;所述第三目标电路的输出端与所述D触发器的第一输入端连接;所述D触发器的输出端连接至控制模块,以控制外部电路的工作状态;
所述D触发器的第二输入端、第四开关管的控制端以及第五开关管的控制端分别接入控制电压;其中,在所述负载类型检测电路上电后,所述控制电压为高电平,且在目标时间段后变为低电平;
在所述负载类型检测电路上电后,当电阻负载接入负载连接端时,所述第三目标电路的输出端电压为低电平,所述D触发器的输出电压为低电平,当经过目标时间段,控制电压由高电平切换为低电平后,所述D触发器的输出电压被锁定为低电平;当电容负载接入负载连接端时,所述第三目标电路的输出端电压为高电平,所述D触发器的输出电压为高电平,当经过目标时间段,控制电压由高电平切换为低电平后,所述D触发器的输出电压被锁定为高电平。
2.根据权利要求1所述的负载类型检测电路,其特征在于,所述第一目标电路包括第二运算放大器;所述第二运算放大器的同相输入端连接至所述第四开关管的输出端;所述第二运算放大器的反相输入端连接至所述第二运算放大器的输出端。
3.根据权利要求1所述的负载类型检测电路,其特征在于,所述第二目标电路包括第一电容、第三运算放大器以及第四电阻,所述第二目标电路的输入端通过第一电容连接至第三运算放大器的反相输入端;所述第三运算放大器的反相输入端通过第四电阻连接至所述第三运算放大器的输出端;所述第三运算放大器的同相输入端接地。
4.根据权利要求1所述的负载类型检测电路,其特征在于,所述第三目标电路包括第五电阻、第六电阻以及第四运算放大器;所述第三目标电路的输入端通过第五电阻连接至所述第四运算放大器的反相输入端;所述第四运算放大器的反相输入端通过第六电阻连接至所述第四运算放大器的输出端;所述第四运算放大器的同相输入端接地。
5.根据权利要求4所述的负载类型检测电路,其特征在于,所述第五电阻的电阻值与所述第六电阻的电阻值相等。
6.根据权利要求1至5任一所述的负载类型检测电路,其特征在于,所述启动模块包括第一电流镜;所述第一电流镜包括第一支路、第二支路以及所述电流生成支路;
所述第一电流镜的第一支路连接至第一节点;所述第一节点连接至第一运算放大器的同相输入端;所述第一节点还依次通过第一电阻以及第一三极管接地;所述第一节点还通过第二电阻接地;
所述第一电流镜的第二支路连接至第二节点;所述第二节点连接至所述第一运算放大器的反相输入端;所述第二节点通过第二三极管接地;所述第二节点还通过第三电阻接地;
所述第一运算放大器的输出端用于控制所述第一电流镜的工作状态。
7.根据权利要求6所述的负载类型检测电路,其特征在于,所述第二电阻的电阻值与所述第三电阻的电阻值相等。
8.根据权利要求6所述的负载类型检测电路,其特征在于,所述第一三极管的控制端接地;所述第二三极管的控制端接地;所述第一三极管与所述第二三极管的个数比为N:1。
9.根据权利要求6所述的负载类型检测电路,其特征在于,所述第一电流镜的第一支路包括第一开关管;所述第一电流镜的第二支路包括第二开关管;所述电流生成支路包括第三开关管;所述第一运算放大器的输出端分别连接第一开关管的控制端、第二开关管的控制端以及第三开关管的控制端。
10.根据权利要求9所述的负载类型检测电路,其特征在于,所述第三开关管的输出端与所述第四开关管的输入端连接。
11.一种集成电路控制芯片,其特征在于,所述集成电路控制芯片中包括如权利要求1至10任一所述的负载类型检测电路与控制模块。
12.根据权利要求11所述的集成电路控制芯片,其特征在于,所述集成电路控制芯片上具有负载引脚;所述负载引脚与集成电路控制芯片内部的负载类型检测电路中的负载连接端相连;
当所述集成电路控制芯片用于检测功率电路所连接的电路负载类型时,所述负载引脚与电路负载连接;所述集成电路控制芯片中的控制模块根据所述功率电路的电路负载类型控制所述功率电路的工作状态。
13.根据权利要求11所述的集成电路控制芯片,其特征在于,所述集成电路控制芯片中还包括引脚切换电路;
当所述集成电路控制芯片用于检测引脚负载类型时,所述集成电路控制芯片的负载引脚与外部引脚负载相连;
所述控制模块与所述引脚切换电路相连,以根据外部引脚负载的负载类型控制引脚切换电路切换负载引脚的功能。
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