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CN117409849A - 一种便携式串行存储器测试装置及其测试方法 - Google Patents

一种便携式串行存储器测试装置及其测试方法 Download PDF

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Publication number
CN117409849A
CN117409849A CN202311106678.3A CN202311106678A CN117409849A CN 117409849 A CN117409849 A CN 117409849A CN 202311106678 A CN202311106678 A CN 202311106678A CN 117409849 A CN117409849 A CN 117409849A
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CN
China
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memory
testing
liquid crystal
crystal display
display screen
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202311106678.3A
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English (en)
Inventor
谢玉巧
郑宇�
师浩伟
赵晓雷
王坤
周玉柱
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
No 214 Institute of China North Industries Group Corp
Original Assignee
No 214 Institute of China North Industries Group Corp
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Publication date
Application filed by No 214 Institute of China North Industries Group Corp filed Critical No 214 Institute of China North Industries Group Corp
Priority to CN202311106678.3A priority Critical patent/CN117409849A/zh
Publication of CN117409849A publication Critical patent/CN117409849A/zh
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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/56External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment [ATE]; Interfaces therefor
    • G11C29/56016Apparatus features
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/56External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment [ATE]; Interfaces therefor
    • G11C2029/5602Interface to device under test

Landscapes

  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)

Abstract

本发明涉及一种便携式串行存储器测试装置,主要由单片机控制电路、液晶显示屏,存储器夹具构成,单片机中设有SPI协议通信模块、读取对比模块和结果分析模块组成的测试系统,存储器夹具通过SPI接口与SPI协议通信模块相连,通过按键对测试系统进行操作,液晶显示屏接受结果分析模块的信号实时显示储存器测试状态。测试时系统状态由液晶显示屏显示,通过按键控制测试系统,当存储器被放置在夹具中,系统识别其IP显示其信息,通过对存储器芯片进行存储与读数操作,数据读出后系统自动与存取的数据进行对比,结果显示在液晶显示屏上。本发明的有益效果是,结构简单,可以快速便捷的对存储器的功能进行验证,为各类相关产品研发时错误分析提供排查手段。

Description

一种便携式串行存储器测试装置及其测试方法
技术领域
本发明属于存储器测试领域,涉及一种低成本便携式存储器测试装置及其测试方法。
背景技术
在各类数字模块产品开发时,存储器作为电子元器件使用频率很高,产品开发时会遇到焊接错误,元器件故障、电路设计错误等各种问题导致功能无法实现,其中对于存储器芯片调试时,存储读数时掉电、连接错误等原因都可能造成其功能无法实现。为了更好的完成产品的开发,就需要一种可以对存储器功能快速便捷测试的装置。
经过对现有专利检索,中国专利《一种存储器测试方法、存储器芯片及存储器系统》(专利号CN112164416 A),主要是针对存储器的不同特性的测试。但是其测试时间长,测试步骤复杂,无法满足便捷、快速的测试要求。
发明内容
本发明的目的在于提供一种可以便捷、快速的对存储器功能测试的设备及其测试方法,修改电路成本低,且可以快速对不同型号的存储器储存、读取功能验证,为产品开发时的错误排查提供支持。
一种便携式串行存储器测试装置,主要由单片机控制电路、液晶显示屏,存储器夹具构成,单片机控制电路由单片机STM32F103RCT6、基础外设和按键组成,单片机中设有SPI协议通信模块、读取对比模块和结果分析模块组成的测试系统,存储器夹具通过SPI接口与SPI协议通信模块相连,通过按键对测试系统进行操作,液晶显示屏接受结果分析模块的信号实时显示储存器测试状态;
SPI接口使用4条线通信, MISO主设备数据输入,从设备数据输出; MOSI主设备数据输出,从设备数据输入;SCLK 时钟信号,由主设备产生,CS从设备片选信号,由主设备控制,以25Q系列存储器为例,将其SI、SO、CS、CLK引脚与主控芯片SPI接口连接。
本发明还提供了一种便携式串行存储器测试装置的测试方法,对存储器的测试主要为验证其读写功能是否正常,对存储器读写操作的实现由主控芯片对其发送相关命令完成,通过矩阵键盘输入写入测试、读取测试命令控制单片机对被测存储器的测试,串行存储器与主控芯片之间的通信通过异步串行通信的方式完成,通信协议为SPI协议,主机为STM32单片机,从机为被测存储器芯片,时钟由单片机产生;
测试时系统状态由液晶显示屏显示,通过按键控制测试系统,当存储器被放置在夹具中,系统识别其IP显示其信息,通过对存储器芯片进行存储与读数操作,数据读出后系统自动与存取的数据进行对比,结果显示在液晶显示屏上。
本发明主要针对存储器功能进行测试,存储器测试装置主控芯片为STM32单片机,针对不同类型存储区将其读写命令写入单片机测试程序中,主控芯片通过spi协议采用异步串行通信的方式对存储器进行读写操作。产品开发时对存储器的验证主要是功能验证,可以正常完成读写操作。测试时分别对其写入十六进制数55与AA,即二进制数10101010与01010101,以保证存储器每个单元都可以正常写0与写1,每次写入后对其进行读取,比较读取结果与写入数据以保证其功能正确,读取后对其擦除,由此可对存储器功能快速验证。本系统配置有液晶显示屏与按键,操作简单便捷。
本发明的有益效果是,设计简单,可以快速便捷的对存储器的功能进行验证,为各类相关产品研发时错误分析提供排查手段。
附图说明
图1 便携式串行存储器测试装置原理框图;
图2 便携式串行存储器测试装置工作流程图;
图3 SPI通信协议结构图;
图4 SPI通信协议时序图;
具体实施方式
1、硬件结构
便携式串行存储器测试装置主要由STM32F103RCT6单片机控制电路、液晶显示屏,存储器夹具构成,其中单片机控制电路由单片机、基础外设、按键组成,通过按键对测试系统进行操作,液晶显示屏实时显示储存器测试状态,该装置原理图和结构示意图分别如图1和图2所示。存储器夹具与测试系统SPI协议通信模块相连,可便捷的更换存储器芯片。
2、测试方式
对存储器的测试主要为验证其读写功能是否正常,如图2所示,对存储器读写操作的实现由主控芯片对其发送相关命令完成,通过矩阵键盘输入写入测试、读取测试等命令控制单片机对被测存储器的测试。串行存储器与主控芯片之间的通信通过异步串行通信的方式完成,通信协议为SPI协议。SPI协议结构如图3所示,主机为STM32单片机,从机为被测存储器芯片,时钟由单片机产生。
SPI接口一般使用4条线通信。 MISO主设备数据输入,从设备数据输出; MOSI主设备数据输出,从设备数据输入;SCLK 时钟信号,由主设备产生。CS从设备片选信号,由主设备控制。以25Q系列存储器为例,将其SI、SO、CS、CLK引脚与主控芯片SPI接口连接。
SPI 总线四种工作方式,存储器芯片通信一般被固定为模式0或模式3,其不同通信模式传输时序图如图4所示,本系统采用模式3工作。
测试时系统状态由液晶显示屏显示,通过按键控制测试系统,当存储器被放置在夹具中,系统识别其IP显示其信息,通过对存储器芯片进行存储与读数操作,数据读出后系统自动与存取的数据进行对比,结果显示在液晶显示屏上。

Claims (2)

1.一种便携式串行存储器测试装置,其特征在于主要由单片机控制电路、液晶显示屏,存储器夹具构成,单片机控制电路由单片机STM32F103RCT6、基础外设和按键组成,单片机中设有SPI协议通信模块、读取对比模块和结果分析模块组成的测试系统,存储器夹具通过SPI接口与SPI协议通信模块相连,通过按键对测试系统进行操作,液晶显示屏接受结果分析模块的信号实时显示储存器测试状态;
SPI接口使用4条线通信, MISO主设备数据输入,从设备数据输出; MOSI主设备数据输出,从设备数据输入;SCLK 时钟信号,由主设备产生,CS从设备片选信号,由主设备控制,以25Q系列存储器为例,将其SI、SO、CS、CLK引脚与主控芯片SPI接口连接。
2.如权利要求1所述的一种便携式串行存储器测试装置的测试方法,其特征在于,对存储器的测试主要为验证其读写功能是否正常,对存储器读写操作的实现由主控芯片对其发送相关命令完成,通过矩阵键盘输入写入测试、读取测试命令控制单片机对被测存储器的测试,串行存储器与主控芯片之间的通信通过异步串行通信的方式完成,通信协议为SPI协议,主机为STM32单片机,从机为被测存储器芯片,时钟由单片机产生;
测试时系统状态由液晶显示屏显示,通过按键控制测试系统,当存储器被放置在夹具中,系统识别其IP显示其信息,通过对存储器芯片进行存储与读数操作,数据读出后系统自动与存取的数据进行对比,结果显示在液晶显示屏上。
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