CN117409849A - 一种便携式串行存储器测试装置及其测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种便携式串行存储器测试装置,主要由单片机控制电路、液晶显示屏,存储器夹具构成,单片机中设有SPI协议通信模块、读取对比模块和结果分析模块组成的测试系统,存储器夹具通过SPI接口与SPI协议通信模块相连,通过按键对测试系统进行操作,液晶显示屏接受结果分析模块的信号实时显示储存器测试状态。测试时系统状态由液晶显示屏显示,通过按键控制测试系统,当存储器被放置在夹具中,系统识别其IP显示其信息,通过对存储器芯片进行存储与读数操作,数据读出后系统自动与存取的数据进行对比,结果显示在液晶显示屏上。本发明的有益效果是,结构简单,可以快速便捷的对存储器的功能进行验证,为各类相关产品研发时错误分析提供排查手段。
Description
技术领域
本发明属于存储器测试领域,涉及一种低成本便携式存储器测试装置及其测试方法。
背景技术
在各类数字模块产品开发时,存储器作为电子元器件使用频率很高,产品开发时会遇到焊接错误,元器件故障、电路设计错误等各种问题导致功能无法实现,其中对于存储器芯片调试时,存储读数时掉电、连接错误等原因都可能造成其功能无法实现。为了更好的完成产品的开发,就需要一种可以对存储器功能快速便捷测试的装置。
经过对现有专利检索,中国专利《一种存储器测试方法、存储器芯片及存储器系统》(专利号CN112164416 A),主要是针对存储器的不同特性的测试。但是其测试时间长,测试步骤复杂,无法满足便捷、快速的测试要求。
发明内容
本发明的目的在于提供一种可以便捷、快速的对存储器功能测试的设备及其测试方法,修改电路成本低,且可以快速对不同型号的存储器储存、读取功能验证,为产品开发时的错误排查提供支持。
一种便携式串行存储器测试装置,主要由单片机控制电路、液晶显示屏,存储器夹具构成,单片机控制电路由单片机STM32F103RCT6、基础外设和按键组成,单片机中设有SPI协议通信模块、读取对比模块和结果分析模块组成的测试系统,存储器夹具通过SPI接口与SPI协议通信模块相连,通过按键对测试系统进行操作,液晶显示屏接受结果分析模块的信号实时显示储存器测试状态;
SPI接口使用4条线通信, MISO主设备数据输入,从设备数据输出; MOSI主设备数据输出,从设备数据输入;SCLK 时钟信号,由主设备产生,CS从设备片选信号,由主设备控制,以25Q系列存储器为例,将其SI、SO、CS、CLK引脚与主控芯片SPI接口连接。
本发明还提供了一种便携式串行存储器测试装置的测试方法,对存储器的测试主要为验证其读写功能是否正常,对存储器读写操作的实现由主控芯片对其发送相关命令完成,通过矩阵键盘输入写入测试、读取测试命令控制单片机对被测存储器的测试,串行存储器与主控芯片之间的通信通过异步串行通信的方式完成,通信协议为SPI协议,主机为STM32单片机,从机为被测存储器芯片,时钟由单片机产生;
测试时系统状态由液晶显示屏显示,通过按键控制测试系统,当存储器被放置在夹具中,系统识别其IP显示其信息,通过对存储器芯片进行存储与读数操作,数据读出后系统自动与存取的数据进行对比,结果显示在液晶显示屏上。
本发明主要针对存储器功能进行测试,存储器测试装置主控芯片为STM32单片机,针对不同类型存储区将其读写命令写入单片机测试程序中,主控芯片通过spi协议采用异步串行通信的方式对存储器进行读写操作。产品开发时对存储器的验证主要是功能验证,可以正常完成读写操作。测试时分别对其写入十六进制数55与AA,即二进制数10101010与01010101,以保证存储器每个单元都可以正常写0与写1,每次写入后对其进行读取,比较读取结果与写入数据以保证其功能正确,读取后对其擦除,由此可对存储器功能快速验证。本系统配置有液晶显示屏与按键,操作简单便捷。
本发明的有益效果是,设计简单,可以快速便捷的对存储器的功能进行验证,为各类相关产品研发时错误分析提供排查手段。
附图说明
图1 便携式串行存储器测试装置原理框图;
图2 便携式串行存储器测试装置工作流程图;
图3 SPI通信协议结构图;
图4 SPI通信协议时序图;
具体实施方式
1、硬件结构
便携式串行存储器测试装置主要由STM32F103RCT6单片机控制电路、液晶显示屏,存储器夹具构成,其中单片机控制电路由单片机、基础外设、按键组成,通过按键对测试系统进行操作,液晶显示屏实时显示储存器测试状态,该装置原理图和结构示意图分别如图1和图2所示。存储器夹具与测试系统SPI协议通信模块相连,可便捷的更换存储器芯片。
2、测试方式
对存储器的测试主要为验证其读写功能是否正常,如图2所示,对存储器读写操作的实现由主控芯片对其发送相关命令完成,通过矩阵键盘输入写入测试、读取测试等命令控制单片机对被测存储器的测试。串行存储器与主控芯片之间的通信通过异步串行通信的方式完成,通信协议为SPI协议。SPI协议结构如图3所示,主机为STM32单片机,从机为被测存储器芯片,时钟由单片机产生。
SPI接口一般使用4条线通信。 MISO主设备数据输入,从设备数据输出; MOSI主设备数据输出,从设备数据输入;SCLK 时钟信号,由主设备产生。CS从设备片选信号,由主设备控制。以25Q系列存储器为例,将其SI、SO、CS、CLK引脚与主控芯片SPI接口连接。
SPI 总线四种工作方式,存储器芯片通信一般被固定为模式0或模式3,其不同通信模式传输时序图如图4所示,本系统采用模式3工作。
测试时系统状态由液晶显示屏显示,通过按键控制测试系统,当存储器被放置在夹具中,系统识别其IP显示其信息,通过对存储器芯片进行存储与读数操作,数据读出后系统自动与存取的数据进行对比,结果显示在液晶显示屏上。
Claims (2)
1.一种便携式串行存储器测试装置,其特征在于主要由单片机控制电路、液晶显示屏,存储器夹具构成,单片机控制电路由单片机STM32F103RCT6、基础外设和按键组成,单片机中设有SPI协议通信模块、读取对比模块和结果分析模块组成的测试系统,存储器夹具通过SPI接口与SPI协议通信模块相连,通过按键对测试系统进行操作,液晶显示屏接受结果分析模块的信号实时显示储存器测试状态;
SPI接口使用4条线通信, MISO主设备数据输入,从设备数据输出; MOSI主设备数据输出,从设备数据输入;SCLK 时钟信号,由主设备产生,CS从设备片选信号,由主设备控制,以25Q系列存储器为例,将其SI、SO、CS、CLK引脚与主控芯片SPI接口连接。
2.如权利要求1所述的一种便携式串行存储器测试装置的测试方法,其特征在于,对存储器的测试主要为验证其读写功能是否正常,对存储器读写操作的实现由主控芯片对其发送相关命令完成,通过矩阵键盘输入写入测试、读取测试命令控制单片机对被测存储器的测试,串行存储器与主控芯片之间的通信通过异步串行通信的方式完成,通信协议为SPI协议,主机为STM32单片机,从机为被测存储器芯片,时钟由单片机产生;
测试时系统状态由液晶显示屏显示,通过按键控制测试系统,当存储器被放置在夹具中,系统识别其IP显示其信息,通过对存储器芯片进行存储与读数操作,数据读出后系统自动与存取的数据进行对比,结果显示在液晶显示屏上。
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2023
- 2023-08-30 CN CN202311106678.3A patent/CN117409849A/zh active Pending
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