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CN117015703A - 杂质检测辅助装置及杂质检测辅助方法 - Google Patents

杂质检测辅助装置及杂质检测辅助方法 Download PDF

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CN117015703A
CN117015703A CN202180095177.2A CN202180095177A CN117015703A CN 117015703 A CN117015703 A CN 117015703A CN 202180095177 A CN202180095177 A CN 202180095177A CN 117015703 A CN117015703 A CN 117015703A
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liquid
pipe
voltage
current
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CN202180095177.2A
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中井美有纪
小川裕子
久米俊郎
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Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd
Original Assignee
Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd
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Abstract

杂质检测辅助装置(100)包括：配管(102)，其供被检查液流动；第1电极及第2电极，其被配置在配管(102)内，并被配置为能够对在配管(102)的延伸方向上相互错开的第1位置与第2位置之间扩展的空间内的被检查液施加交流电压，或叠加交流电流；电源部(106)，其一对电极间施加交流电压或叠加交流电流；测定部(108)，其对因交流电压的施加而在一对电极间产生的电流进行测定，或对因交流电流的叠加而在一对电极间产生的电压进行测定；以及算出部(110)，其用测定部(108)的测定结果来算出被检查液的电阻，该被检查液的电阻为被检查液中是否包含导电性杂质的判定指标。

Description

杂质检测辅助装置及杂质检测辅助方法
技术领域
本公开涉及一种杂质检测辅助装置及杂质检测辅助方法。
背景技术
在制作具有电子传导性的固液混合物时，金属颗粒等导电性颗粒有时会作为杂质混入。在将含导电性杂质的固液混合物用于电子设备的情况下，由于杂质的原因，存在招致电子设备的不良的风险。例如，作为电子设备，可举出锂离子电池、锂离子二次电池、碱干电池、双电层电容器、电化学电容器等蓄电装置。此外，作为固液混合物，可举出被用于这些蓄电装置的电极浆料。在电极浆料中混入了导电性杂质的情况下，导电性杂质可能会成为正负极间的短路等的原因。对此，例如在专利文献1中，公开了一种方法，其通过磁对金属异物进行检测，该金属异物被包含于含电极活性物质及颗粒状粘结剂的水系浆料。
[现有技术文献]
[专利文献]
专利文献1：国际公开第2014/142045号
发明内容
[发明要解决的课题]
在利用磁性来检测导电性杂质的现有的方法中，无法对由非磁性体构成的导电性杂质进行检测。因此，在现有的方法中，导电性杂质的检测率不足。
本公开鉴于这样的状况来完成，其目的在于提供一种提高被检查液中的导电性杂质的检测率的技术。
[用于解决技术课题的技术方案]
本公开的一个方案为一种杂质检测辅助装置。该装置包括：配管，其供被检查液流动；第1电极及第2电极，其被配置在配管内，并被配置为能够对在配管的第1位置与第2位置之间扩展的空间内的被检查液施加交流电压，或能够对其叠加交流电流，该第2位置在配管的延伸方向上偏离第1位置；电源部，其对第1电极及第2电极之间施加交流电压或叠加交流电流；测定部，其对因交流电压的施加而在第1电极及第2电极之间产生的电流进行测定，或对因交流电流的叠加而在第1电极及第2电极之间产生的电压进行测定；以及算出部，其用测定部的测定结果来算出被检查液的电阻，该被检查液的电阻为被检查液中是否包含导电性杂质的判定指标。
本公开的另一方案为一种杂质检测辅助方法。该方法包含：使被检查液流向配管，对在配管的第1位置与在配管的延伸方向上偏离第1位置的第2位置之间扩展的空间内的被检查液施加交流电压或叠加交流电流，对因交流电压的施加而产生的电流进行测定，或对因交流电流的叠加而产生的电压进行测定，并用测定的结果来算出被检查液的电阻，该被检查液的电阻为被检查液中是否包含导电性杂质的判定指标。
以上构成要素的任意组合、以及将本公开的表达方式在方法、装置、系统等之间转换后的结果，作为本公开的方案也是有效的。
发明效果
根据本公开，能够提高被检查液中的导电性杂质的检测率。
附图说明
图1是设置有实施方式1的杂质检测辅助装置的涂布装置的示意图。
图2的(A)～图2的(C)是电极部的示意图。
图3是表示实施方式1的杂质检测辅助方法的一例的流程图。
图4的(A)～图4的(C)是实施方式2的杂质检测辅助装置所具备的电极部的示意图。
具体实施方式
以下，参照附图，基于优选的实施方式来对本公开进行说明。实施方式并不对本公开进行限定，仅为例示，实施方式所记述的一切特征及其组合不都是本公开的实质性内容。对于各附图所示的相同或等同的构成要素、构件、以及处理，标注相同的附图标记，并适当省略重复的说明。此外，各图所示的各部分的比例尺或形状是为了易于说明而便宜设定的，除非特别提及，否则并不被限定性地解释。此外，在本说明书或权利要求中使用“第1”、“第2”等用语的情况下，除非特别提及，否则该用语并不表示任何顺序或重要度，仅用于区别某一构成与其他构成。此外，在各附图中，在对实施方式进行说明上并不重要的构件的一部分会省略显示。
(实施方式1)
图1是设置有实施方式1的杂质检测辅助装置100的涂布装置1的示意图。在图1中，将各装置的构成要素的一部分描绘为功能框。关于这些功能框，作为硬件构成，由以计算机的CPU或存储器为代表的元件或电路来实现，作为软件构成，通过计算机程序等来实现。本领域技术人员应理解的是，这些功能框能够通过硬件及软件的组合来以各种形式实现。
涂布装置1包括涂布用模头2、阀4、罐6、泵8、输送配管10、返回配管12、以及模头供给配管14。
涂布用模头2是对被涂布体16涂布涂料18的器具。作为一例，本实施方式的涂布装置1用于制造二次电池的电极板。二次电池的电极板是对集电体涂布电极用浆料，并使其干燥得到的片状的电极原材料。因此，在本实施方式中，被涂布体16为二次电池的集电体，涂料18为二次电池的电极用浆料。集电体例如为金属箔。电极用浆料为电子传导性的固液混合物，该电子传导性的固液混合物含有溶剂与电极活性物质及导电助剂中的至少一者。在一般的锂离子二次电池的情况下，正极的电极板通过在铝箔上涂布电极用浆料来制作，该电极用浆料包含钴酸锂或磷酸铁锂等正极活性物质。另外，在正极用的浆料中，也可以包含石墨等导电助剂。此外，负极的电极板通过在铜箔上涂布电极用浆料来制作，该电极用浆料包含石墨等负极活性物质(或导电助剂)。
涂布用模头2被配置为：喷出口22与支承辊20的周面隔开预定的间隔地相对。通过支承辊20的旋转，被涂布体16被连续地输送到支承辊20与喷出口22相对的位置。
在涂布用模头2，介由模头供给配管14连接有阀4。阀4能够对涂料18向涂布用模头2的供给与非供给进行切换。涂布装置1能够在涂料18被供给到涂布用模头2的期间，从涂布用模头2向被涂布体16喷出涂料18。在阀4，介由输送配管10及返回配管12连接有罐6。
罐6储存涂料18。在输送配管10，设置有泵8，通过泵8的驱动，涂料18被从罐6送到阀4。阀4将从罐6供给的涂料18介由模头供给配管14供给到涂布用模头2。或者，阀4使从罐6供给的涂料18介由返回配管12回到罐6。
由于阀4将涂料18供给到涂布用模头2，因而能够从涂布用模头2喷出涂料18，从而在被涂布体16形成涂料18的涂布部18a。此外，由于阀4使涂料18回到罐6，因而能够使来自涂布用模头2的涂料18的涂布停止，从而能够在被涂布体16形成涂料18的未涂布部16a。即，通过阀4，能够针对被涂布体16间歇涂布涂料18。未涂布部16a被用于电极的中心引线的粘贴等。另外，涂布装置1的各部分的构成不被限定于上述构成。
在涂布装置1，设置有本实施方式的杂质检测辅助装置100。杂质检测辅助装置100包括配管102、电极部104、电源部106、测定部108、算出部110、以及判定部112。
配管102为供被检查液流动的流路，该被检查液为是否含有导电性杂质的检查对象。导电性杂质例如为金属。在本实施方式中，输送配管10中的罐6与泵8之间的区域构成配管102。即，杂质检测辅助装置100被设置于输送配管10。此外，涂料18，换言之，电极用浆料相当于被检查液。
另外，也可以是，杂质检测辅助装置100被设置于输送配管10中的泵8与阀4之间的区域。此外，杂质检测辅助装置100也可以被设置于返回配管12或模头供给配管14等。此外，涂布装置1也能够解释为包含涂料18的循环装置或输送装置，该涂料18的循环装置或输送装置由罐6、泵8、输送配管10、以及返回配管12构成。在该情况下，被设置于输送配管10或返回配管12的杂质检测辅助装置100也能够解释为被设置于循环装置或输送装置。此外，涂布装置1不被限定于二次电池的电极板制造用，被涂布体16及涂料18也可以不为电极板及电极用浆料。此外，杂质检测辅助装置100也可以被设置于涂布装置1以外的装置，例如被检查液的制造装置等。
电极部104包含第1电极114及第2电极116。以下，有时会适当将第1电极114及第2电极116统称为一对电极。图2的(A)～图2的(C)是电极部104的示意图。图2的(A)为电极部104的第1例，图2的(B)为电极部104的第2例，图2的(C)为电极部104的第3例。另外，在图2的(B)及图2的(C)中，省略了电源部106的图示。
一对电极被配置在配管102内。此外，本实施方式的电极部104具有棒状体118，该棒状体118被插通于配管102内，且被与配管102隔开间隔地配置。并且，第1电极114被设置于配管102，第2电极116被设置于棒状体118。第1电极114及第2电极116被相互绝缘。第1电极114及第2电极116由具有导电性的材料构成。关于该材料，例如体积电阻率为0.1Ω·cm以下。作为构成第1电极114及第2电极116的材料的具体例，可举出不锈钢、钛、铂、金、铌、钌等不溶性金属或碳等。这些材料也能够适当组合。
第1电极114至少被设置于配管102的内壁(内周面)。第1电极114既可以被设置于配管102的整个内壁，也可以被设置于一部分。在第1电极114被设置于内壁的一部分的情况下，既可以是被检查液所流动的方向上的一部分区域，也可以是配管102的周向上的一部分区域。此外，也可以是，配管102的整体由不溶性金属等构成，配管102的整体构成第1电极114。即，第1电极114既可以仅被设置于配管102的内壁的表面，也可以被设置到内壁的内部。
第2电极116至少被设置于棒状体118的外壁(外周面)。第2电极116既可以被设置于棒状体118的整个外壁，也可以被设置于一部分。在第2电极116被设置于外壁的一部分的情况下，既可以是被检查液所流动的方向上的一部分区域，也可以是棒状体118的周向上的一部分区域。此外，也可以是，棒状体118的整体由不溶性金属等构成，棒状体118的整体构成第2电极116。即，第2电极116既可以仅被设置于棒状体118的外壁的表面，也可以被设置到外壁的内部。
第1电极114及第2电极116被配置为能够对在配管102的任意的第1位置102a与在配管102的延伸方向上偏离第1位置102a的第2位置102b之间扩展的空间内的被检查液施加交流电压，或能够对其叠加交流电流。本实施方式的第1电极114及第2电极116为在配管102的延伸方向上延伸的长条状。因此，一对电极沿配管102的径向隔开间隔地，相对于配管102的轴心平行地延伸。优选的是，一对电极被配置为：在配管102的延伸方向的任一位置处，一对电极间距离都相等。
由此，能够针对被检查液的整体，施加交流电压或叠加交流电流，该被检查液在第1位置102a与第2位置102b之间沿配管102的延伸方向、换言之、被检查液的流动方向扩展。第1位置102a与第2位置102b的距离、换言之、配管102的延伸方向上的第1电极114及第2电极116的长度例如为一对电极间距离以上，此外，例如为配管102的直径以上。
此外，棒状体118被配置为：在配管102的延伸方向上的各位置处，与配管102的内壁的距离实质上相等。即，棒状体118相对于配管102的轴心平行地延伸。由此，能够在配管102的延伸方向上，使一对电极间的距离(配管102的径向的距离)实质上相等。结果，能够提高杂质检测辅助装置100对导电性杂质的检测精度。此外，棒状体118被配置为：在棒状体118的周向上的各位置处，与配管102的内壁的距离实质上相等。即，配管102与棒状体118被配置在同轴上。由此，能够在棒状体118的周向上，使一对电极间的距离实质上相等。结果，能够提高杂质检测辅助装置100对导电性杂质的检测精度。换言之，构成第2电极116的棒状体118由于被插过配管102的中央，因而不向配管102的径向偏离地，且相对于配管102的延伸方向平行地、不倾斜地延伸。
在图2的(A)所示的第1例中，棒状体118为中空体。棒状体118的内部被密封，被检查液不流动。在图2的(B)所示的第2例中，棒状体118为实心体。能够通过使用中空或实心的棒状体118来抑制以下情况：被检查液从配管102通过时的压力损失因棒状体118而增大。另一方面，在图2的(C)所示的第3例中，棒状体118为筒状网。被检查液能够一边在配管102内流动，一边介由网的开口，在棒状体118的内外往来。通过使用筒状网的棒状体118，能够增加第2电极116与被检查液的接触面积，从而提高杂质检测辅助装置100对导电性杂质的检测精度。
电源部106对第1电极114及第2电极116之间施加交流电压或叠加交流电流。电源部106能够由公知的AC/DC转换器、逆变器、控制电路等构成。例如，第1电极114被连接于电源部106的负极输出端子，第2电极116被连接于电源部106的正极输出端子。因此，第1电极114为负极，第2电极116为正极。另外，也可以是，第1电极114为正极，第2电极116为负极。控制电路例如由微型计算机构成，能够对电源部106的各开关元件进行控制，使得电流或电压根据测定部108的测定结果来维持目标值。
测定部108对电流进行测定，该电流因交流电压的施加而在第1电极114及第2电极116之间产生。或者，测定部108对电压进行测定，该电压因交流电流的叠加而在第1电极114及第2电极116之间产生。在对一对电极间产生的电流进行测定的情况下，测定部108能够由被电连接于一对电极的公知的电流计或FRA(Frequency Response Analyzer：频率响应分析仪)等构成。在对一对电极间产生的电压进行测定的情况下，测定部108能够由被电连接于一对电极的公知的电压计或FRA等构成。
算出部110用测定部108的测定结果来算出被检查液的电阻。作为一例，算出部110通过交流阻抗法来算出被检查液的电阻。
在电源部106对一对电极间施加交流电压的情况下，在一对电极间产生的电流由测定部108介由被检查液来测定。在该情况下，算出部110能够根据该电流的值和施加在一对电极间的交流电压的值来算出被检查液的电阻成分。被施加的交流电压的大小能够根据电极面积、电极间距离、被检查液的种类等来适当选择，但优选为1～100mV，更优选的是，为5～50mV。交流电压的施加时间不被特别地限制。另外，也可以对交流电压施加偏压。
此外，在电源部106对一对电极间叠加交流电流的情况下，在一对电极间产生的电压由测定部108介由被检查液来测定。在该情况下，算出部110能够根据该电压的值和对一对电极间叠加的交流电流的值来算出被检查液的电阻成分。被叠加的交流电流的大小能够根据电极面积、电极间距离、被检查液的种类等来适当选择，但优选为5nA～5A，更优选的是，为50nA～500mA。交流电流的叠加时间不被特别地限制。另外，也可以对交流电流施加偏压。
尤其优选的是，对一对电极间施加交流电压，并通过交流阻抗法来算出被检查液的电阻。交流的频率能够根据电极面积、电极间距离、被检查液的种类等来适当选择，但优选为1Hz～1000000Hz，更优选的是，为10000Hz～1000000Hz。由此，能够缩短到算出电阻所需的时间，并且能够进一步提高电阻的算出精度。
在金属等导电性杂质混入到作为被检查液的固液混合物中的情况下，杂质为磁性体、非磁性体中的哪一个被检查液的电阻都会降低。即，被检查液的电阻会成为在被检查液中是否包含导电性杂质的判定指标。因此，能够通过基于交流阻抗法的电阻测定来捕捉在配管102内流动的被检查液的电阻的变化，由此检知导电性杂质的混入。
判定部112根据算出部110所算出的电阻，对被检查液中是否包含导电性杂质进行判定。例如，判定部112将不含有导电性杂质的被检查液的电阻的值作为基准值预先存储。判定部112将算出部110所算出的电阻与基准值进行比较。然后，判定部112在算出的电阻与基准值之差超过预定的阈值时，判定为在被检查液中包含导电性杂质。该阈值能够基于设计者的实验或仿真等适当设定。例如，阈值也可以为零。
此外，判定部112也能够以如下方式对被检查液中是否包含导电性杂质进行判定。即，本实施方式的电极部104在空间内的被检查液中生成电场，该空间在第1位置102a与第2位置102b之间扩展。由此，能够针对被检查液持续施加交流电压，或持续叠加交流电流预定的连续时间而非瞬间。因此，电源部106使施加于被检查液的交流电压或交流电流的频率连续地或阶段性地变化。然后，测定部108在多个不同的频率下，对在一对电极间产生的电流或电压进行测定。由此，算出部110能够算出各频率下的被检查液的电阻。判定部112根据算出部110所算出的多个电阻，对有无导电性杂质进行判定。例如，判定部112针对各频率下的电阻值，对与对应的基准值之差是否超过阈值进行判定。然后，综合它们的判定结果，例如根据判定超过阈值的数量等，对有无导电性杂质进行判定。由此，能够提高导电性杂质的检测精度。
另外，判定部112也能够基于通过交流阻抗法得到的等价电路模型中的圆弧的大小，对有无导电性杂质进行判定。进而，也可以是，除了被检查液的电阻以外，判定部112还根据被检查液的电容(静电电容)，对有无导电性杂质进行判定。
作为一例，判定部112的判定结果被发送到控制装置24。控制装置24也可以将判定部112的判定结果显示于监视器(未图示)。此外，也可以是，控制装置24在由判定部112判定为被检查液包含导电性杂质的情况下，通过公知的报知方法向杂质检测辅助装置100的使用者报知判定结果。报知方法不被特别地限定，能够采用产生报知声或点亮报知灯等公知的方法。由此，使用者能够实施地监视有无导电性杂质。此外，使用者能够更为迅速地掌握导电性杂质的混入。
此外，也可以是，由测定部108测定的电压或电流的值被发送到控制装置24。控制装置24也可以将电压值或电流值的波形显示于示波器(未图示)。此外，也可以是，由算出部110算出的电阻的值被发送到控制装置24。控制装置24也可以将电阻值显示于监视器。也可以是，被显示于监视器的电阻值为使交流电压或交流电流的频率变化而得到的多个电阻值。在该情况下，使用者能够根据被显示于监视器的电阻值来判定有无导电性杂质。在电阻值自身被用于使用者的情况下，判定部112也能够省略。
作为一例，关于杂质检测处理的执行，使用者能够介由控制装置24，或通过控制装置24内的运行程序来进行指示。针对杂质检测处理的设定变更也是同样。此外，控制装置24也可以对阀4或泵8进行控制。
图3是表示实施方式1的杂质检测辅助方法的一例的流程图。该流程例如以预定的定时反复执行。
首先，对第1电极114及第2电极116之间施加交流电压或叠加交流电流(S101)。接着，对因交流电压的施加而在第1电极114及第2电极116之间产生的电流进行测定，或对因交流电流的叠加而在第1电极114及第2电极116之间产生的电压进行测定(S102)。接着，基于被测定的电流或电压，算出被检查液的电阻(S103)。然后，对被算出的电阻值与基准值之差是否超过阈值进行判断(S104)。
在电阻值与基准值之差超过阈值的情况下(S104中的“是”)，被检查液中是否包含杂质被向使用者报知(S105)，本例程结束。在电阻值与基准值之差为阈值以下的情况下(S104中的“否”)，向使用者的报知不会被进行，本例程结束。另外，在步骤S104中，将1个电阻值与基准值之差是否超过阈值的判断作为了被检查液中是否包含导电性杂质的判断。然而，不限于此，也可以是，针对使交流电压或交流电流的频率变化而得到的多个电阻值，对与基准值之差是否超过阈值进行判定，并综合多个判定结果来判断是否包含导电性杂质。
如以上说明的那样，本实施方式的杂质检测辅助装置100包括：配管102，其供被检查液流动；第1电极114及第2电极116，其被配置在配管102内，并被配置为能够对在配管102的第1位置102a与第2位置102b之间扩展的空间内的被检查液，即对在该空间内扩展的被检查液的整体施加交流电压，或叠加交流电流，该第2位置102b在配管102的延伸方向上偏离第1位置102a；电源部106，其对这一对电极间施加交流电压或叠加交流电流；测定部108，其对因交流电压的施加而在一对电极间产生的电流进行测定，或对因交流电流的叠加而在一对电极间产生的电压进行测定；以及算出部110，其用测定部108的测定结果来算出被检查液的电阻，该被检查液的电阻为被检查液中是否包含导电性杂质的判定指标。
本实施方式的杂质检测辅助装置100通过对被检查液施加交流电压或叠加交流电流，对作为有无导电性杂质的判定指标的电阻进行了测定。因此，即使使得杂质为非磁性体，也能够取得可靠性较高的判定指标。因此，能够提高被检查液中的导电性杂质的检测率。此外，为了在配管102内流动的被检查液中生成电场，能够一边输送被检查液一边进行导电性杂质的检测。即，能够实现直线式的杂质检测处理。此外，因为不需要样本采集等操作，所以能够容易地实现被检查液的总量检查。因此，能够抑制异物向下一工序的带入。
此外，对在配管102的第1位置102a与第2位置102b之间扩展的空间内的被检查液施加了交流电压，或叠加了交流电流，该第2位置102b在配管的延伸方向上偏离第1位置102a。由此，因为能够将导电性杂质被通电的区域扩大到被检查液的流动方向，所以能够提高导电性杂质的检测效率。
作为一例，被检查液为电极用浆料，该电极用浆料包含溶剂与电极活性物质及导电助剂中的至少一者。在该情况下，由于能够高精度地对导电性杂质进行检测，因而能够抑制因导电性杂质自身而引起正负极间的短路的情况。此外，在电解液介于正负极间的蓄电装置中，当正极用浆料包含导电性杂质(尤其是金属杂质)时，在蓄电装置的充电时，导电性杂质可能会溶出到电解液内，在负极的表面被还原并析出。当该析出被重复时，导电性杂质会枝晶状地生长，穿过间隔件到达正极，成为短路的原因。因此，也能够通过提高导电性杂质的检测率来抑制以下情况：引起枝晶所导致的短路。
此外，作为一例，配管102被设置于包括罐6的涂布装置1，该罐6储存对被涂布体16涂布被检查液的涂布用模头2及被检查液。或者，配管102被设置于被检查液的循环装置或输送装置。由此，能够在将被检查液从罐6输送到涂布用模头2的过程中，实施杂质检测处理。此外，能够通过将杂质检测辅助装置100配置于涂布装置1的输送配管10或模头供给配管14，从而到即将将被检查液涂布于被涂布体16之前为止，对被检查液实施杂质检测处理。由此，能够进一步降低向电子设备的异物混入的风险，并能够进一步提高电子设备的性能。
此外，杂质检测辅助装置100能够仅通过将现有的装置中的配管的一部分作为配管102来利用，或将配管的一部分置换为杂质检测辅助装置100的配管102，从而安装于现有的装置。因此，杂质检测辅助装置100的设置及更换、维修较为容易。
此外，本实施方式的杂质检测辅助装置100包括判定部112，其根据算出部110所算出的电阻，对被检查液中是否包含导电性杂质进行判定。由此，使用者能够更为迅速地掌握导电性杂质的混入。
此外，作为是否包含导电性杂质的判定的一例，电源部106使施加的交流电压或叠加的交流电流的频率连续地或阶段性地变化，测定部108对不同频率下的电流或电压进行测定，算出部110根据各频率下的电流或电压算出多个电阻，判定部112根据多个电阻对是否包含导电性杂质进行判定。由此，能够进一步提高导电性杂质的检测精度。
此外，本实施方式的第1电极114及第2电极116为沿配管102的延伸方向延伸的长条状。由此，能够使生成电场的区域沿配管102的延伸方向更为简单地扩大。此外，第1电极114被设置于配管102，第2电极116被设置于插过配管102内的棒状体118。棒状体118被与配管102隔开间隔地配置。此外，相对于配管102的轴心平行地延伸。由此，即使在使生成电场的区域沿配管102的延伸方向扩大的情况下，也能够使在整个区域中均匀地确保一对电极间距离变得容易，并能够在整个区域中更均匀地生成电场。此外，棒状体118为中空体、实心体或筒状网。在棒状体118为中空体或实心体的情况下，能够抑制被检查液通过配管102时的压力损失的增大。在棒状体118为筒状网的情况下，能够使第2电极116与被检查液的接触面积增加，从而提高杂质的检测率。
(实施方式2)
除第1电极114及第2电极116的形状及配置外，实施方式2具有与实施方式1共通的构成。以下，针对本实施方式，以与实施方式1不同的构成为中心进行说明，针对共通的构成，简单说明或省略说明。
图4的(A)～图4的(C)是实施方式2的杂质检测辅助装置100所具备的电极部104的示意图。图4的(A)是电极部104的第4例，图4的(B)是电极部104的第5例，图4的(C)是电极部104的第6例。另外，在图4的(B)及图4的(C)中，省略了电源部106的图示。
在本实施方式中，第1电极114在第1位置102a处沿与配管102的延伸方向相交的方向扩展。此外，第2电极116在第2位置102b处沿与配管102的延伸方向相交的方向扩展。即，一对电极分别为过滤器状，沿配管102的径向延伸。由此，因为能够使导电性杂质被通电的区域沿与被检查液的流动方向相交的方向扩大，所以能够提高导电性杂质的检测效率。
第1电极114及第2电极116例如被固定于配管102。在配管102为金属制的情况下，对各电极与配管102之间实施绝缘处理。在配管102为非金属制的情况下，各电极与配管102之间的绝缘处理能够省略，也可以彼此直接接触。
在图4的(A)所示的第4例中，第1电极114及第2电极116为网片。在图4的(B)所示的第5例中，第1电极114及第2电极116为狭缝片。在图4的(C)所示的第6例中，第1电极114及第2电极116为多孔片。在配管102内流动的被检查液能够通过各电极的网眼前进到比各电极靠下游侧。通过将各电极设为过滤器状，能够使各电极与被检查液的接触面积增加，从而提高杂质检测辅助装置100对导电性杂质的检测精度。
以上，针对本公开的实施方式详细进行了说明。前述实施方式并不仅仅表示在实施本公开时的具体例。实施方式的内容并不对本公开的技术范围进行限定，能够在不脱离权利要求书所规定的本公开的思想范围内，进行构成要素的变更、追加、删除等多种设计变更。加以设计变更的新实施方式兼具被组合的实施方式及变形各自的效果。在前述实施方式中，关于能够进行这种设计变更的内容，添加了“本实施方式的”、“在本实施方式中”等记载以进行强调，但即使在没有该种记载的内容中，也容许进行设计变更。以上的构成要素的任意组合作为本公开的方案也是有效的。附图的截面上所附的阴影并不对附有阴影的对象的材质进行限定。
上述实施方式的发明也可以通过以下记载的项目来确定。
[项目1]
一种杂质检测辅助装置(100)，包括：
配管(102)，其供被检查液流动，
第1电极(114)及第2电极(116)，其被配置在配管(102)内，并被配置为能够对在配管(102)的第1位置(102a)与第2位置(102b)之间扩展的空间内的被检查液施加交流电压，或能够对其叠加交流电流，该第2位置(102b)在配管(102)的延伸方向上偏离第1位置(102a)，
电源部(106)，其对第1电极(114)及第2电极(116)之间施加交流电压或叠加交流电流，
测定部(108)，其对因交流电压的施加而在第1电极(114)及第2电极(116)之间产生的电流进行测定，或对因交流电流的叠加而在第1电极(114)及第2电极(116)之间产生的电压进行测定，以及
算出部(110)，其用测定部(108)的测定结果，算出被检查液的电阻，该被检查液的电阻为被检查液中是否包含导电性杂质的判定指标。
[项目2]
如项目1所述的杂质检测辅助装置(100)，包括：
判定部(112)，其根据算出部(110)所算出的电阻，对被检查液中是否包含导电性杂质进行判定。
[项目3]
如项目2所述的杂质检测辅助装置，其中，
电源部(106)使施加的电压或叠加的电流的频率连续地或阶段性地变化；
测定部(108)对不同频率下的电流或电压进行测定；
算出部(110)根据各频率下的电流或电压来算出多个电阻；
判定部(112)根据多个电阻，对是否包含导电性杂质进行判定。
[项目4]
如项目1～3的任意一项所述的杂质检测辅助装置(100)，其中，
第1电极(114)及第2电极(116)为沿延伸方向延伸的长条状。
[项目5]
如项目4所述的杂质检测辅助装置(100)，其中，
第1电极(114)被设置于配管(102)；
第2电极(116)被设置于棒状体(118)，该棒状体(118)被插通于配管(102)内，且被与配管(102)隔开间隔地配置。
[项目6]
如项目5所述的杂质检测辅助装置，其中，
棒状体(118)相对于配管(102)的轴心平行地延伸。
[项目7]
如项目5或6所述的杂质检测辅助装置(100)，其中，
棒状体(118)为中空体、实心体或筒状网。
[项目8]
如项目1～3的任意一项所述的杂质检测辅助装置(100)，其中，
第1电极(114)在第1位置(102a)处沿与延伸方向相交的方向扩展；
第2电极(116)在第2位置(102b)处沿与延伸方向相交的方向扩展。
[项目9]
如项目8所述的杂质检测辅助装置(100)，其中，
第1电极(114)及第2电极(116)为网片、狭缝片或多孔片。
[项目10]
如项目1～9的任意一项所述的杂质检测辅助装置(100)，其中，
被检查液为电极用浆料，该电极用浆料含有溶剂与电极活性物质及导电助剂中的至少一者。
[项目11]
如项目1～10的任意一项所述的杂质检测辅助装置(100)，其中，
配管(102)被设置于对被涂布体(16)涂布被检查液的涂布装置(1)、被检查液的循环装置、以及被检查液的输送装置中的至少1个。
[项目12]
一种杂质检测辅助方法，包含：
使被检查液流向配管(102)；
对在配管(102)的第1位置(102a)与第2位置(102b)之间扩展的空间内的被检查液施加交流电压或叠加交流电流，该第2位置(102b)在配管(102)的延伸方向上偏离第1位置(102a)；
对因交流电压的施加而产生的电流进行测定，或对因交流电流的叠加而产生的电压进行测定；
用测定的结果来算出被检查液的电阻，该被检查液的电阻为被检查液中是否包含导电性杂质的判定指标。
[项目13]
如项目12所述的杂质检测辅助方法，包含：
根据算出的电阻，对被检查液中是否包含导电性杂质进行判定。
[项目14]
如项目13所述的杂质检测辅助方法，其中，
在交流电压的施加或交流电流的叠加中，使交流电压或交流电流的频率连续地或阶段性地变化；
在测定中，对不同频率下的电流或电压进行测定；
在算出中，根据各频率下的电流或电压，算出多个电阻；
在判定中，根据多个电阻，对是否包含导电性杂质进行判定。
[工业可利用性]
本公开能够利用于杂质检测辅助装置及杂质检测辅助方法。
[附图标记说明]
1 涂布装置、2 涂布用模头、6 罐、16 被涂布体、100 杂质检测辅助装置、102 配管、102a 第1位置、102b 第2位置、106 电源部、108 测定部、110 算出部、112 判定部、114第1电极、116 第2电极、118 棒状体。

Claims (14)

1.一种杂质检测辅助装置，包括：
配管，其供被检查液流动，
上述第1电极及上述第2电极，其被配置在上述配管内，并被配置为能够对在上述配管的第1位置与第2位置之间扩展的空间内的上述被检查液施加交流电压，或能够对其叠加交流电流，该第2位置在上述配管的延伸方向上偏离上述第1位置，
电源部，其对上述第1电极及上述第2电极之间施加交流电压或叠加交流电流，
测定部，其对因上述交流电压的施加而在上述第1电极及上述第2电极之间产生的电流进行测定，或对因上述交流电流的叠加而在上述第1电极及上述第2电极之间产生的电压进行测定，以及
算出部，其用上述测定部的测定结果来算出上述被检查液的电阻，该上述被检查液的电阻为上述被检查液中是否包含导电性杂质的判定指标。
2.如权利要求1所述的杂质检测辅助装置，包括：
判定部，其根据上述算出部所算出的电阻，对上述被检查液中是否包含上述导电性杂质进行判定。
3.如权利要求2所述的杂质检测辅助装置，其中，
上述电源部使施加的交流电压或叠加的交流电流的频率连续地或阶段性地变化；
上述测定部对不同频率下的电流或电压进行测定；
上述算出部根据各频率下的电流或电压算出多个电阻；
上述判定部根据上述多个电阻，对是否包含上述导电性杂质进行判定。
4.如权利要求1～3的任意一项所述的杂质检测辅助装置，其中，
上述第1电极及上述第2电极为沿上述延伸方向延伸的长条状。
5.如权利要求4所述的杂质检测辅助装置，其中，
上述第1电极被设置于上述配管；
上述第2电极被设置于棒状体，该棒状体被插过上述配管内，且被与上述配管隔开间隔地配置。
6.如权利要求5所述的杂质检测辅助装置，其中，
上述棒状体相对于上述配管的轴心平行地延伸。
7.如权利要求5或6所述的杂质检测辅助装置，其中，
上述棒状体为中空体、实心体或筒状网。
8.如权利要求1～3的任意一项所述的杂质检测辅助装置，其中，
上述第1电极在上述第1位置处沿与上述延伸方向相交的方向扩展；
上述第2电极在上述第2位置处沿与上述延伸方向相交的方向扩展。
9.如权利要求8所述的杂质检测辅助装置，其中，
上述第1电极及上述第2电极为网片、狭缝片或多孔片。
10.如权利要求1～9的任意一项所述的杂质检测辅助装置，其中，
上述被检查液为电极用浆料，该电极用浆料含有溶剂与电极活性物质及导电助剂中的至少一者。
11.如权利要求1～10的任意一项所述的杂质检测辅助装置，其中，
上述配管被设置于对被涂布体涂布上述被检查液的涂布装置、上述被检查液的循环装置、以及上述被检查液的输送装置中的至少1个。
12.一种杂质检测辅助方法，包含：
使被检查液流向配管；
对在上述配管的第1位置与第2位置之间扩展的空间内的上述被检查液施加交流电压或叠加交流电流，该第2位置在上述配管的延伸方向上偏离上述第1位置；
对因上述交流电压的施加而产生的电流进行测定，或对因上述交流电流的叠加而产生的电压进行测定；
用上述测定的结果来算出上述被检查液的电阻，该上述被检查液的电阻为上述被检查液中是否包含导电性杂质的判定指标。
13.如权利要求12所述的杂质检测辅助方法，包含：
根据算出的上述电阻，对上述被检查液中是否包含上述导电性杂质进行判定。
14.如权利要求13所述的杂质检测辅助方法，其中，
在上述交流电压的施加或上述交流电流的叠加中，使上述交流电压或上述交流电流的频率连续地或阶段性地变化；
在上述测定中，对不同频率下的电流或电压进行测定；
在上述算出中，根据各频率下的电流或电压，算出多个电阻；
在上述判定中，根据上述多个电阻，对是否包含上述导电性杂质进行判定。
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