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CN115917300A - 线缺陷检查装置 - Google Patents

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CN115917300A
CN115917300A CN202180047089.5A CN202180047089A CN115917300A CN 115917300 A CN115917300 A CN 115917300A CN 202180047089 A CN202180047089 A CN 202180047089A CN 115917300 A CN115917300 A CN 115917300A
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frames
defect
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CN202180047089.5A
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朴宰贤
杨命坤
李庆焘
高永雨
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Shin Jin Mtec Co ltd
Original Assignee
Coss Co ltd
LG Chem Ltd
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Abstract

本发明涉及一种线缺陷检查装置，并且与根据本发明的一个示例有关的线缺陷检查装置，缺陷图像可以以低容量长时间储存，并且通过比较整个织物图像可以确定线状污渍缺陷。另外，根据与本发明的一个示例有关的线缺陷检查装置，由各个摄像机储存的图像被结合以便作为一个图像储存在图像映射服务器中，并且因此织物中的线状污渍缺陷可以被管理。

Description

线缺陷检查装置
技术领域
本发明涉及线缺陷检查装置，并且涉及例如一种特别地用于对在光学构件比如偏光板中沿着纵向方向存在的线状污渍进行检测的线缺陷检查装置，其中，缺陷检查装置的测试对象包括卷对卷工艺上的基材或卷料(web)。
背景技术
图1是用于说明常规线状污渍确定方法的示意图。
光学构件(或光学膜)、例如偏光板(10)由于在用于表面处理的涂覆过程中涂层内部的气泡/异物等而具有线缺陷(LD)(下文称为“线状污渍”)。线状污渍(LD)沿着偏光板(10)的行进方向(y轴方向)形成在预定的区域(11、12、13)上，并且线状污渍(LD)连续地产生。
通常，为了确定偏光板(10)的线状污渍(LD)，使用通过摄像机(20)捕获的原始图像。此外，摄像机(20)设置成用于对部分区域(11、12、13)进行拍摄，该部分区域(11、12、13)具有偏光板(10)的预定宽度(x轴方向)和预定长度(行进方向，y轴方向)。在本文献中，通过摄像机(20)捕捉的部分区域的图像称为帧(11、12、13)。此时，计算并比较这些帧的亮度值，以便检测偏光板(10)的线状污渍(LD)。
通常，通过比较一个帧内部的亮度值而可以检测到的缺陷是存在限制的。
特别地，帧图像是待检查对象的整个捕获的图像，其中，由于储存速度和容量的问题，难以实时储存所有帧图像，并且当难以确认原始图像时，确定缺陷的原因则变得困难。
发明内容
技术问题
本发明的技术问题是提供一种下述缺陷检查装置：该缺陷检查装置能够以低容量长期储存缺陷图像并通过比较整个织物图像来确定线状污渍性能缺陷。
技术解决方案
为了解决上述问题，根据本发明的一个方面，提供了一种缺陷检查装置，该缺陷检查装置包括：成像部分，该成像部分设置成拍摄具有第一尺寸的第一帧，该第一尺寸被确定为具有沿着测试对象的宽度方向和长度方向的预定宽度和预定长度；图像分割部分，该图像分割部分将测试对象的由成像部分捕获的第一帧的图像沿着测试对象的宽度方向分割成比第一帧小的多个第二帧的图像；亮度计算部分，该亮度计算部分设置成测量各个第二帧的亮度值，由此基于亮度值计算第一帧的缺陷确定值；和控制部分，该控制部分设置成基于第一帧的经计算的缺陷确定值来确定沿着测试对象的长度方向存在的线缺陷。
此外，亮度计算部分可以设置成在沿着测试对象的宽度方向的预定位置处对沿着第二帧的长度方向的多个像素的亮度值之和进行计算，由此基于所计算的亮度值之和来计算第一帧的缺陷确定值。
此外，图像分割部分可以将第一帧沿着测试对象的宽度方向分割为N个(N为大于1的自然数)第二帧，并且亮度计算部分可以基于用于N个第二帧的各个亮度值，根据沿着测试对象的宽度方向的预定K列(K为小于或等于N的自然数)中沿着第二帧的长度方向的多个像素的亮度值之和，来计算第一帧的缺陷确定值。
此外，亮度计算部分可以基于沿着测试对象的宽度方向的预定列中沿着第二帧的长度方向的多个像素的亮度值之和的最大值与平均值的差，来计算第一帧的缺陷确定值。
此外，成像部分可以设置成沿着测试对象的长度方向分别拍摄多个第一帧，并且缺陷检查装置还可以包括图像合并部分，该图像合并部分将在亮度计算部分中设置有缺陷确定值的第一帧沿着测试对象的长度方向依次定位，以生成测试对象的整个图像的至少一部分图像。
此外，控制部分还可以基于用于沿着测试对象的宽度方向布置的多个第一帧的各个缺陷确定值，根据沿着测试对象的宽度方向的预定列中沿着长度方向的多个第一帧的缺陷确定值之和，来确定线状污渍。
此外，控制部分可以基于沿着测试对象的宽度方向的预定列中沿着长度方向的多个第一帧的缺陷确定值之和的最大值与平均值之间的差，来计算第一帧的亮度参考值以用于确定线状污渍。
另外，控制部分可以基于下述值来计算第一帧的亮度参考值以用于确定线状污渍：该值通过将沿着测试对象的宽度方向的预定列中沿着长度方向的多个第一帧的缺陷确定值之和的最大值与平均值的差除以预定列中沿着长度方向布置的多个第一帧的数目而获得。
此外，控制部分可以确定线状污渍包括在测试对象的如下第一帧中，该第一帧的缺陷确定值比第一帧的亮度参考值大。
此外，当沿着测试对象的行进方向的两个或更多个第一帧分别具有比第一帧的亮度参考值大的缺陷确定值时，控制部分可以确定在测试对象的两个第一帧中包括线状污渍。
此外，缺陷检查装置可以包括显示部分，该显示部分用于显示由控制部分在测试对象上确定的线状污渍。
此外，成像部分可以包括多个摄像机，所述多个摄像机沿着测试对象的宽度方向布置并且布置成分别在不同位置处拍摄第一帧。
有利效果
如上所述，根据本发明的至少一个示例的缺陷检查装置具有以下效果。
可以以低容量长时间储存有缺陷的图像，并且可以通过比较织物的整个图像来确定线状污渍性能缺陷。
此外，各个摄像机储存的图像可以结合为一个图像并且储存在图像映射服务器中，借此织物的线状污渍缺陷可以被管理。
此外，该缺陷检查装置还可以对周期性/连续/以倾斜线的方式发生的线缺陷进行识别。
附图说明
图1是用于说明常规线状污渍确定方法的示意图。
图2是图示了与本发明的一个示例有关的缺陷检查装置的示意图。
图3是图示了与本发明的一个示例有关的缺陷检查装置的构型图。
图4至图7是用于对与本发明的一个示例有关的光学构件的缺陷检查装置的检查方法进行说明的示意图。
具体实施方式
以下，将参照附图详细描述根据本发明的一个示例的缺陷检查装置。
此外，无论附图标记如何，相同或对应的部件被给予相同或类似的附图标记，并将省略其重复说明，并且为了便于说明，所示的每个部件的尺寸和形状可以放大或缩小。
在本文献中，结合检查装置的测试对象可以包括卷对卷工艺上的卷料或基材，并且特别地，与本发明的一个示例有关的缺陷检查装置可以是光学构件的缺陷检查装置，该缺陷检查装置用于对光学构件比如偏光板中沿着长度方向存在的线状污渍进行检测。
在本文献中，测试对象可以称为光学构件或偏光板。
图2是图示了与本发明的一个示例有关的光学构件的缺陷检查装置(100)的示意图，以及图3是图示了与本发明的一个示例有关的光学构件的缺陷检查装置的构型图。
此外，图4至图7是用于对与本发明的一个示例有关的光学构件的缺陷检查装置的检查方法进行说明的示意图。
在本文献中，光学构件(或者也称为织物)可以是例如偏光板，并且包括光学膜，在图4至图7中偏光板将作为示例进行描述。此外，线缺陷(LD)是指在光学构件(200)被检查时在沿着行进方向(y轴方向)的预定长度上发生的缺陷。也就是说，在本文献中，可以检测到沿着行进方向发生的线缺陷的长度(沿着光学构件行进方向的长度)超过一帧。也就是说，在沿着行进方向依次由两帧或更多帧分别确定缺陷时，相关缺陷被确定为线缺陷。在该文献中，光学构件(或“测试对象”或“织物”)的行进方向(y轴方向)称为长度方向，并且与行进方向正交的方向称为织物的宽度方向(x轴方向)。
参照图2和图3，光学构件缺陷检查装置(100)(以下简称为检查装置)包括成像部分(101)、图像分割部分(130)、亮度计算部分(120)和控制部分(150)。
检查装置(100)包括成像部分101，该成像部分(101)设置成用于拍摄具有第一尺寸的第一帧(201)，第一尺寸由沿着光学构件(200)的宽度方向(x轴方向)和长度方向(y轴方向)的预定宽度和预定长度确定。第一帧(201)可以包括多个像素，并且例如，第一帧(201)可以包括在宽度方向上的A像素和在长度方向上的B像素(总计：A*B像素)。例如，A可以是4096并且B可以是2048。例如，第一帧201可以在长度方向上具有198mm的长度。
参照图2和图3，成像部分(101)可以包括多个摄像机(110)，这些摄像机沿着光学构件的宽度方向布置，并布置成分别在不同位置处拍摄第一帧。在图2中，未解释的附图标记111表示连接至相应摄像机(110)的编码器。
参照图3和图5，检查装置(100)包括图像分割部分(130)，该图像分割部分(130)将由成像部分(101)拍摄的光学构件(200)的第一帧(201)的图像沿着光学构件的宽度方向(x轴方向)分成多个小于第一帧的第二帧的图像。
此外，该检查装置(100)包括亮度计算部分(120)，该亮度计算部分设置成用于测量各个第二帧(202)的亮度值，由此计算第一帧(201)的缺陷确定值。
此外，检查装置(100)包括控制部分(150)，该控制部分(150)设置成用于基于第一帧(201)的计算的缺陷确定值来确定沿着光学构件的长度方向(y轴方向)存在的线缺陷。
参照图4至图7，亮度计算部分(120)可以设置成在沿着光学构件的宽度方向(x轴方向)的预定位置处对沿着第二帧(202)的长度方向的多个(例如，B个)像素的亮度值之和进行计算，由此基于计算的亮度值之和来计算第一帧(201)的缺陷确定值。
具体地，图像分割部分(130)可以将第一帧(201)沿着光学构件的宽度方向分割为N个(N是大于1的自然数，例如128)第二帧(202)。
此时，亮度计算部分(120)可以基于用于N个第二帧的各个亮度值，根据沿着光学构件的宽度方向的预定K列(K为小于或等于N的自然数)中沿着第二帧的长度方向的多个像素的亮度值之和，来计算第一帧的缺陷确定值。
此外，亮度计算部分(120)可以基于沿着光学构件的宽度方向的预定列中沿着第二帧(202)的长度方向的多个像素的亮度值之和的最大值与平均值之间的差，来计算第一帧的缺陷确定值。
此外，成像部分(101)设置成沿着光学构件的长度方向分别拍摄多个第一帧(201)。
此外，该检查装置(100)可以包括图像合并部分(140)，该图像合并部分(140)将在亮度计算部分(120)中设置有缺陷确定值的第一帧(201)的沿着光学构件的长度方向依次地定位和合并，以生成该光学构件的整个图像的至少部分图像。
此外，控制部分可以基于沿着光学构件的宽度方向布置的多个第一帧的各个缺陷确定值，根据沿着光学构件的宽度方向的预定列中沿着长度方向的多个第一帧的缺陷确定值之和来确定线状污渍。
此外，控制部分可以基于在沿着光学构件的宽度方向的预定列中用于沿着长度方向的多个第一帧的缺陷确定值之和的最大值与平均值之间的差，来计算第一帧的亮度参考值以用于确定线状污渍。
另外，控制部分可以基于下述值来计算第一帧的亮度参考值以用于确定线状污渍：该值通过将沿着测试对象的宽度方向的预定列中沿着长度方向的多个第一帧的缺陷确定值之和的最大值与平均值的差除以在预定列中沿着长度方向布置的多个第一帧的数目(例如70)而获得。
此外，控制部分(150)可以确定光学构件的如下第一帧为线状污渍，该第一帧的缺陷确定值比第一帧的亮度参考值大。
此外，该检查装置(100)还可以包括显示部分(160)，该显示部分(160)用于显示由控制部分在光学构件上确定的线状污渍。
参照图4，第一帧(201)可以包括在宽度方向上的4096像素(A)和在长度方向上的2048像素(B)。此时，第一帧(201)可沿着光学构件的宽度方向(x轴方向)分割为128(N)个第二帧(202)。同时，第二帧可以有A/N，即32条线(竖向线，y轴方向)。
此时，亮度计算部分(120)可以基于用于128个第二帧的各个亮度值，根据沿着光学构件的宽度方向上的预定K列(K为小于或等于N的自然数)中沿着第二帧的长度方向上的多个像素的亮度值之和，来计算第一帧的缺陷确定值，并且亮度计算部分(120)还可以基于沿着光学构件的宽度方向的预定列中沿着第二帧(202)的长度方向的多个(2048)像素的亮度值之和的最大值与平均值之间的差，来计算第一帧(201)的缺陷确定值。
成像部分设置成分别为光学构件的(不重叠)多个区域拍摄第一帧，所述多个区域沿着光学构件的行进方向连续。此时，各个区域不重叠，并且两个相邻区域之间不产生空间。也就是说，成像部分沿着光学构件的行进方向以第一帧为单位对光学构件的整个区域进行拍摄。
此外，参照图6和图7，沿着光学构件的长度方向分别拍摄多个第一帧(201)，其中，检查装置(100)可以将在亮度计算部分(120)中设定有缺陷确定值的第一帧(201)(分割图像)沿着光学构件的长度方向以预定数目(例如，C＝70，70帧)依次地定位并合并，从而生成该光学构件的整个图像的至少一些合并图像。
此外，控制部分还可以基于沿着光学构件的宽度方向布置的多个第一帧(202)的各个缺陷确定值，根据在沿着光学构件的宽度方向的预定列中沿着长度方向的多个第一帧的缺陷确定值之和来确定线状污渍。
此外，控制部分可以基于在沿着光学构件的宽度方向的预定列中沿着长度方向的多个第一帧的缺陷确定值之和的最大值与平均值之间的差，来计算第一帧的亮度参考值以用于确定线状污渍。
另外，控制部分可以基于下述值来计算第一帧的亮度参考值以用于确定线状污渍：该值通过将沿着测试对象的宽度方向的预定列中沿着长度方向的多个第一帧的缺陷确定值之和的最大值与平均值的差除以预定列中沿着长度方向布置的多个第一帧的数目而获得。
另外，控制部分可以确定光学构件的如下第一帧为线状污渍，该第一帧具有比第一帧的亮度参考值大的缺陷确定值。
出于说明目的，公开了上述本发明的优选示例，具有本发明普通知识的本领域的技术人员可以在本发明的精神和范围内进行各种改型、变化和增加，这些改型、变化和增加应被视为落入以下权利要求的范围。
工业适用性
根据与本发明的至少一个示例有关的缺陷检查装置，缺陷图像可以以低容量长时间储存，并且线状污渍性能缺陷可以通过比较织物的整个图像来确定。

Claims (11)

1.一种缺陷检查装置，包括：
成像部分，所述成像部分设置成拍摄具有第一尺寸的第一帧，所述第一尺寸被确定为具有沿着测试对象的宽度方向和长度方向的预定宽度和预定长度；
图像分割部分，所述图像分割部分将由所述成像部分捕获的所述测试对象的所述第一帧的图像沿着所述光学构件的宽度方向分割成多个比所述第一帧小的第二帧的图像；
亮度计算部分，所述亮度计算部分设置成对各个第二帧的亮度值进行测量，由此基于所述亮度值来计算所述第一帧的缺陷确定值；以及
控制部分，所述控制部分设置成基于所述第一帧的经计算的所述缺陷确定值来确定沿着所述测试对象的长度方向存在的线缺陷。
2.根据权利要求1所述的缺陷检查装置，其中，
所述亮度计算部分设置成在沿着所述测试对象的宽度方向的预定位置处对沿着所述第二帧的长度方向的多个像素的亮度值之和进行计算，由此基于所计算的所述亮度值之和来计算所述第一帧的缺陷确定值。
3.根据权利要求2所述的缺陷检查装置，其中，
所述图像分割部分将所述第一帧沿着所述测试对象的宽度方向分割为N个(N为大于1的自然数)第二帧，并且
所述亮度计算部分基于用于所述N个第二帧的各个亮度值，根据沿着所述测试对象的宽度方向的预定K列(K为小于或等于N的自然数)中沿着所述第二帧的长度方向的多个像素的亮度值之和，来计算所述第一帧的所述缺陷确定值。
4.根据权利要求3所述的缺陷检查装置，其中，
所述亮度计算部分基于沿着所述测试对象的宽度方向的预定列中沿着所述第二帧的长度方向的多个像素的亮度值之和的最大值与平均值的差，来计算所述第一帧的所述缺陷确定值。
5.根据权利要求3所述的缺陷检查装置，其中，
所述成像部分设置成沿着所述测试对象的长度方向分别对多个第一帧进行拍摄，并且
所述缺陷检查装置还包括图像合并部分，所述图像合并部分将在所述亮度计算部分中设置有所述缺陷确定值的第一帧沿着所述测试对象的长度方向依次定位，以生成所述测试对象的整个图像的至少部分图像。
6.根据权利要求5所述的缺陷检查装置，其中，
所述控制部分基于用于沿着所述测试对象的宽度方向布置的多个第一帧的各个缺陷确定值，根据在沿着所述测试对象的宽度方向的预定列中沿着长度方向的多个第一帧的缺陷确定值之和，来确定线状污渍。
7.根据权利要求6所述的缺陷检查装置，其中，
所述控制部分基于沿着所述测试对象的宽度方向的预定列中沿着长度方向的多个第一帧的缺陷确定值之和的最大值与平均值之间的差，来计算所述第一帧的亮度参考值以用于确定所述线状污渍。
8.根据权利要求7所述的缺陷检查装置，其中，
所述控制部分基于下述值来计算所述第一帧的所述亮度参考值以用于确定所述线状污渍：所述值通过将沿着所述测试对象的宽度方向的预定列中沿着长度方向的多个第一帧的缺陷确定值之和的最大值与平均值的差除以所述预定列中沿着长度方向布置的多个第一帧的数目而获得。
9.根据权利要求8所述的缺陷检查装置，其中，
所述控制部分确定所述线状污渍包括在所述测试对象的如下第一帧中，所述第一帧的缺陷确定值比所述第一帧的所述亮度参考值大。
10.根据权利要求9所述的光学构件缺陷检查装置，还包括：
显示部分，所述显示部分用于显示由所述控制部分在所述测试对象上确定的所述线状污渍。
11.根据权利要求1所述的缺陷检查装置，其中，
所述成像部分包括多个摄像机，所述多个摄像机沿着所述测试对象的宽度方向布置并且布置成分别在不同位置处拍摄所述第一帧。
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