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CN115165608A - 薄膜挺度测试方法及薄膜挺度测试装置 - Google Patents

薄膜挺度测试方法及薄膜挺度测试装置 Download PDF

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CN115165608A
CN115165608A CN202210856884.5A CN202210856884A CN115165608A CN 115165608 A CN115165608 A CN 115165608A CN 202210856884 A CN202210856884 A CN 202210856884A CN 115165608 A CN115165608 A CN 115165608A
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China
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film
tested
ring
stiffness
film ring
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CN202210856884.5A
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定发
王树平
文勇
张联华
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Shenzhen Changsong Technology Co ltd
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Shenzhen Changsong Technology Co ltd
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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N3/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
    • G01N3/20—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress by applying steady bending forces

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Abstract

本发明公开了一种薄膜挺度测试方法及薄膜挺度测试装置，其中，薄膜挺度测试方法包括以下步骤：将一片薄膜卷成圆环状，并将其对接处接合，形成待测薄膜环；将待测薄膜环竖直放置于测试台的测试平面上，其中，测试平面水平设置；从上方对待测薄膜环施压，将待测薄膜环下压至预设位置；获取测试台感测到的压力值，以获得薄膜的挺度。在本发明通过将薄膜卷成圆环状，将其连接处结合，再将待测薄膜环竖直放置在测试平面上，对待测薄膜环施压，将待测薄膜环下压至预设位置，通过测试平面检测待测薄膜环给测试平面的反作用力，从而判断薄膜的挺度，通过此设计测试薄膜的挺度，不会受到风和静电等外界因素的影响，提高了检测结果的准确性。

Description

薄膜挺度测试方法及薄膜挺度测试装置
技术领域
本发明涉及薄膜性能测试技术领域，尤其涉及一种薄膜挺度测试方法及薄膜挺度测试装置。
背景技术
薄膜的挺度是表示薄膜性能的重要指标之一，相同厚度的薄膜，其挺度越大，即薄膜越硬。人工目视薄膜的挺度存在误差较大的情况。现有技术的薄膜挺度检测装置有着薄膜挺度易受外界因素，如静电，风等影响造成检测结果不准确的问题。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种薄膜挺度测试方法及薄膜挺度测试装置，旨在解决现有的薄膜检测易受外界因素影响导致检测结果不准确的问题。
为实现上述目的，本发明提供一种薄膜挺度测试方法，包括以下步骤：
将一片薄膜卷成圆环状，并将其对接处接合，形成待测薄膜环；
将所述待测薄膜环竖直放置于测试台的测试平面上，其中，所述测试平面水平设置；
从上方对所述待测薄膜环施压，将所述待测薄膜环下压至预设位置；
获取所述测试台感测到的压力值，以获得所述薄膜的挺度。
优选地，所述从上方对所述待测薄膜环施压，将所述待测薄膜环下压至预设位置的步骤之前，还包括：
提供一平板，将所述平板水平设置在所述待测薄膜环的顶部并与所述待测薄膜环抵接；
从上方对所述待测薄膜环施压，将所述待测薄膜环下压至预设位置包括：
推动所述平板垂直向下移动，以将待测薄膜环下压至预设位置所述预设位置。
优选地，所述将所述待测薄膜环竖直放置于测试台的测试平面上的步骤包括：
以所述待测薄膜环的连接处朝上的方式将所述待测薄膜环竖直放置在所述测试平面上；
所述提供一平板，将所述平板水平设置在所述待测薄膜环的顶部并与所述待测薄膜环抵接的步骤包括：
提供一所述平板，将所述平板水平设置在所述待测薄膜环的顶部并与所述待测薄膜环的连接处抵接。
优选地，所述将所述待测薄膜环竖直放置于测试台的测试平面上的步骤包括：
以所述待测薄膜环的连接处朝下的方式将所述待测薄膜环竖直放置在所述测试平面上，以使所述待测薄膜环的连接处与所述测试平面抵接；
所述提供一平板，将所述平板水平设置在所述待测薄膜环的顶部并与所述待测薄膜环抵接的步骤包括：
提供一所述平板，将所述平板水平设置在所述待测薄膜环的顶部并与所述待测薄膜环的连接处的正上方抵接。
优选地，所述测试台放置在一放置平面上；
所述从上方对所述待测薄膜环施压，将所述待测薄膜环压至预设位置的步骤包括：
提供一种压力罩，所述压力罩包括水平段和分别连接在所述水平段两端的竖直段，将所述压力罩从所述待测薄膜环的上方向下移动，使所述水平段与所述待测薄膜环抵接；
继续移动所述压力罩至所述竖直段与所述放置平面抵接，以将所述待测薄膜环抵至所述预设位置。
优选地，所述水平段的宽度大于所述待测薄膜环的宽度。
优选地，所述将所述薄膜卷成圆环状，并将其连接处接合，获得待测薄膜环的步骤包括：
提供一圆环状模具；
将所述薄膜置入所述圆环状模具中，围成圆环状的所述薄膜；
将所述薄膜的对接处粘接，获得待测薄膜环。
优选地，所述测试台包括与所述测试平面电连接的显示屏；所述获取所述测试台感测到的压力值，以获得所述薄膜的挺度的步骤包括：
通过所述显示屏读取所述测试台感测到的压力值，以获得所述薄膜的挺度。
优选地，所述测试台为精密电子秤。
本发明还提供一种薄膜挺度测试装置，所述薄膜挺度测试装置应用于上述的薄膜挺度测试方法。
在本发明的技术方案中，通过将薄膜卷成圆环状，将其连接处结合，再将待测薄膜环竖直放置在测试平面上，对待测薄膜环施压，将待测薄膜环下压至预设位置，通过测试平面检测待测薄膜环给测试平面的反作用力，从而判断薄膜的挺度，不同薄膜的挺度不同，因此将其下压至预设位置时的反作用力也不一样大，通过此设计测试薄膜的挺度，不会受到风和静电的影响，提高了检测结果的准确性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
图1为本发明第一实施例薄膜挺度测试方法的流程示意图；
图2为本发明第二实施例薄膜挺度测试方法的流程示意图；
图3为本发明第三实施例薄膜挺度测试方法的流程示意图；
图4为本发明第四实施例薄膜挺度测试方法的流程示意图；
图5为本发明第五实施例薄膜挺度测试方法的流程示意图；
图6为本发明第六实施例薄膜挺度测试方法的流程示意图；
图7为本发明第七实施例薄膜挺度测试方法的流程示意图；
图8为本发明一实施例薄膜挺度测试装置在一状态下的结构示意图；
图9为本发明一实施例薄膜挺度测试装置在另一状态下的结构示意图。
附图标号说明：
标号 名称 标号 名称
1 薄膜挺度测试装置 20 压力罩
10 测试台 21 水平段
11 测试平面 22 竖直段
12 显示屏 30 待测薄膜环
本发明目的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
下面将结合本实施例中的附图，对本实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
需要说明，本实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
另外，在本发明中如涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。
在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“连接”、“固定”等应做广义理解，例如，“固定”可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
另外，本发明各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
请结合图1和图9，为本发明第一实施例薄膜挺度测试方法的流程示意图，包括以下步骤：
S100，将一片薄膜卷成圆环状，并将其对接处接合，形成待测薄膜环；
可以理解地，将薄膜制成矩形长条状薄片，将薄膜沿长度方向弯折，卷成圆环状，再将连接处接合，形成待测薄膜环30；
S200，将待测薄膜环竖直放置于测试台的测试平面上，其中，测试平面水平设置；
将待测薄膜环30的外周壁与测试平面11抵接，使得待测薄膜环30竖直放置于测试台10的测试平面11上，测试平面11水平设置，保持待测薄膜环30的稳定；
S300，从上方对待测薄膜环施压，将待测薄膜环下压至预设位置；
将待测薄膜环30下压至预设位置后，待测薄膜环30本身的挺度会对测试平面11造成一个反作用力，预设位置相同，薄膜挺度不同时，该反作用力不同，因此可以通过该反作用力的大小判断薄膜的挺度。
S400，获取测试台感测到的压力值，以获得薄膜的挺度。
在本发明的技术方案中，通过将薄膜卷成圆环状，将其连接处结合，再将待测薄膜环30竖直放置在测试平面11上，对待测薄膜环30施压，将待测薄膜环30下压至预设位置，通过测试平面11检测待测薄膜环30给测试平面11的反作用力，从而判断薄膜的挺度，不同薄膜的挺度不同，因此将其下压至预设位置时的反作用力也不一样大，通过此设计测试薄膜的挺度，不会受到风和静电的影响，提高了检测结果的准确性。
请参阅图2，为本发明第二实施例薄膜挺度测试方法的流程示意图，基于上述第一实施例，步骤S300之前，还包括：
S290，提供一平板，将平板水平设置在待测薄膜环的顶部并与待测薄膜环抵接；通过提供平板与待测薄膜环30的顶部抵接，平板水平设置，使得待测薄膜环30受力均匀，提高检测准确性；
步骤S300包括：
S310，推动平板垂直向下移动，以将待测薄膜环下压至预设位置预设位置。平板与待测薄膜环30水平抵接，再将平板垂直向下移动，使得待测薄膜环30受力均匀，防止待测薄膜环30偏移，提高了检测准确性。
请参阅图3，为本发明第三实施例薄膜挺度测试方法的流程示意图，基于上述第二实施例，步骤S200包括：
S210，以待测薄膜环的连接处朝上的方式将待测薄膜环竖直放置在测试平面上；
步骤S290包括：
S291，提供一平板，将平板水平设置在待测薄膜环的顶部并与待测薄膜环的连接处抵接。可以理解地，待测薄膜环30的连接处朝上放置在测试平面11上，平板向下移动时，连接处与平板抵接，可以防止连接处产生的作用力对挺度测试准确性产生影响，同时可以防止连接处受力不均匀导致连接处崩开，影响测试过程。
请参阅图4，为本发明第四实施例薄膜挺度测试方法的流程示意图，基于上述第二实施例，步骤S200包括：
S220，以待测薄膜环的连接处朝下的方式将待测薄膜环竖直放置在测试平面上，以使待测薄膜环的连接处与测试平面抵接；
步骤S290包括：
S292，提供一平板，将平板水平设置在待测薄膜环的顶部并与待测薄膜环的连接处的正上方抵接。可以理解地，待测薄膜环30的连接处朝下放置在测试平面11上，平板向下移动时，连接处与测试平面11抵接，可以防止连接处产生的作用力对挺度测试准确性产生影响，同时可以防止连接处受力不均匀导致连接处崩开，影响测试过程。
请参阅图5，为本发明第五实施例薄膜挺度测试方法的流程示意图，基于上述第一实施例，测试台放置在一放置平面上；
步骤S300包括：
S320，提供一种压力罩，压力罩包括水平段和分别连接在水平段两端的竖直段，将压力罩从待测薄膜环的上方向下移动，使水平段与待测薄膜环抵接；压力罩20包括用于与待测薄膜环30抵接的水平段21和用于与放置平面抵接的竖直段22，使用时，将压力罩20从待测薄膜环30的上方向下移动压力罩20，水平段21与待测薄膜环30抵接，用于将待测薄膜环30下压；
S330，继续移动压力罩至竖直段与放置平面抵接，以将待测薄膜环抵至预设位置。将压力罩20的竖直段22与放置平面抵接时，即可将待测薄膜环30抵至预设位置，通过竖直段22和水平段21的设计，使得只需将压力罩20从待测薄膜环30的上方下压即可保证每个待测薄膜环30的受压距离相同，结构稳定简单，成本低廉，效率高。
在一实施例中，水平段21的宽度大于待测薄膜环30的宽度。水平段21的宽度大于待测薄膜环30的宽度时，可以防止待测薄膜环30在受压过程中发生位移导致脱出水平段21的位置，影响测试的过程。进一步地，待测薄膜环30位于水平段21的宽度中心位置，可以使得待测薄膜环30的受力更加均匀。
请参阅图6，为本发明第六实施例薄膜挺度测试方法的流程示意图，基于上述第一实施例，步骤S100包括：
S110，提供一圆环状模具；
S120，将薄膜置入圆环状模具中，围成圆环状的薄膜；
S130，将薄膜的对接处粘接，获得待测薄膜环。
通过提供圆环状模具来对薄膜进行卷装，简化了将薄膜制成待测薄膜环30的步骤，提高了装配效率。
请参阅图7，为本发明第七实施例薄膜挺度测试方法的流程示意图，基于上述第一实施例，步骤S400包括：
S410，通过显示屏读取测试台感测到的压力值，以获得薄膜的挺度。
通过设置有与测试平台点连接的显示屏12，可以将测试台10感测到的压力数据化，可视化，增加了获取薄膜挺度的便捷性，提高了检测效率。
在一实施例中，测试台10为精密电子秤。可以理解地，薄膜的挺度造成的反作用力值较小，因此采用精密电子秤可以提高检测精度，增加检测准确性。
本发明还提供一种薄膜挺度测试装置1，薄膜挺度测试装置1应用于上述的薄膜挺度测试方法。由于本薄膜挺度测试装置1采用了上述所有实施例的全部技术方案，因此至少具有上述实施例的技术方案所带来的所有有益效果，在此不再一一赘述。
请结合图8和图9，在一具体实施例中，薄膜挺度测试装置1包括测试台10和压力罩20，其中测试台10上设置有显示屏12，测试台10的上表面为测试平面11，压力罩20由水平段21和分别设置在水平段21两端的竖直段22组成。
以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种薄膜挺度测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
将一片薄膜卷成圆环状，并将其对接处接合，形成待测薄膜环；
将所述待测薄膜环竖直放置于测试台的测试平面上，其中，所述测试平面水平设置；
从上方对所述待测薄膜环施压，将所述待测薄膜环下压至预设位置；
获取所述测试台感测到的压力值，以获得所述薄膜的挺度。
2.如权利要求1所述的薄膜挺度测试方法，其特征在于，所述从上方对所述待测薄膜环施压，将所述待测薄膜环下压至预设位置的步骤之前，还包括：
提供一平板，将所述平板水平设置在所述待测薄膜环的顶部并与所述待测薄膜环抵接；
从上方对所述待测薄膜环施压，将所述待测薄膜环下压至预设位置包括：
推动所述平板垂直向下移动，以将待测薄膜环下压至所述预设位置。
3.如权利要求2所述的薄膜挺度测试方法，其特征在于，所述将所述待测薄膜环竖直放置于测试台的测试平面上的步骤包括：
以所述待测薄膜环的连接处朝上的方式将所述待测薄膜环竖直放置在所述测试平面上；
所述提供一平板，将所述平板水平设置在所述待测薄膜环的顶部并与所述待测薄膜环抵接的步骤包括：
提供一所述平板，将所述平板水平设置在所述待测薄膜环的顶部并与所述待测薄膜环的连接处抵接。
4.如权利要求2所述的薄膜挺度测试方法，其特征在于，所述将所述待测薄膜环竖直放置于测试台的测试平面上的步骤包括：
以所述待测薄膜环的连接处朝下的方式将所述待测薄膜环竖直放置在所述测试平面上，以使所述待测薄膜环的连接处与所述测试平面抵接；
所述提供一平板，将所述平板水平设置在所述待测薄膜环的顶部并与所述待测薄膜环抵接的步骤包括：
提供一所述平板，将所述平板水平设置在所述待测薄膜环的顶部并与所述待测薄膜环的连接处的正上方抵接。
5.如权利要求1所述的薄膜挺度测试方法，其特征在于，所述测试台放置在一放置平面上；
所述从上方对所述待测薄膜环施压，将所述待测薄膜环压至预设位置的步骤包括：
提供一种压力罩，所述压力罩包括水平段和分别连接在所述水平段两端的竖直段，将所述压力罩从所述待测薄膜环的上方向下移动，使所述水平段与所述待测薄膜环抵接；
继续移动所述压力罩至所述竖直段与所述放置平面抵接，以将所述待测薄膜环抵至所述预设位置。
6.如权利要求5所述的薄膜挺度测试方法，其特征在于，所述水平段的宽度大于所述待测薄膜环的宽度。
7.如权利要求1-6中任一项所述的薄膜挺度测试方法，其特征在于，所述将所述薄膜卷成圆环状，并将其连接处接合，获得待测薄膜环的步骤包括：
提供一圆环状模具；
将所述薄膜置入所述圆环状模具中，围成圆环状的所述薄膜；
将所述薄膜的对接处粘接，获得待测薄膜环。
8.如权利要求1-6中任一项所述的薄膜挺度测试方法，其特征在于，所述测试台包括与所述测试平面电连接的显示屏；
所述获取所述测试台感测到的压力值，以获得所述薄膜的挺度的步骤包括：
通过所述显示屏读取所述测试台感测到的压力值，以获得所述薄膜的挺度。
9.如权利要求1-6中任一项所述的薄膜挺度测试方法，其特征在于，所述测试台为精密电子秤。
10.一种薄膜挺度测试装置，其特征在于，所述薄膜挺度测试装置应用于如权利要求1-9中任一项所述的薄膜挺度测试方法。
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