CN114814675B - 标定磁力矩器磁矩的方法、系统、存储介质和电子设备 - Google Patents

Abstract

本发明涉及磁矩标定技术领域，尤其涉及一种标定磁力矩器磁矩的方法、系统、存储介质和电子设备，方法包括：获取第一预设位置的且沿待标定磁力矩器的绕组的轴向的磁感应强度，根据第一公式得到待标定磁力矩器的磁矩；只需要获取第一预设位置的且沿待标定磁力矩器的绕组的轴向的磁感应强度，就能够对待标定磁力矩器的磁矩进行标定，即得到待标定磁力矩器的磁矩，不需要多次测量，过程简单，且结合目标修正系数，进一步提高所得到的待标定磁力矩器的磁矩的准确度。

Description

标定磁力矩器磁矩的方法、系统、存储介质和电子设备

技术领域

本发明涉及磁矩标定技术领域，尤其涉及一种标定磁力矩器磁矩的方法、系统、存储介质和电子设备。

背景技术

磁力矩器是卫星姿态控制的执行组件之一，包括绕组和磁芯，绕组绕制在磁芯上，通过控制通入磁力矩器的电流，具体控制通入绕组内的电流，可以控制磁力矩器所产生的磁矩的大小和方向，如图1所示，在轨运行中与地磁场相互作用，产生所需的控制力矩，实施姿态控制，包括入轨后星体初始转动的阻尼、动量轮卸载和三轴方向上的进动控制和章动阻尼。

每个磁力矩器出厂之前都必须进行磁矩标定，给出其磁矩与电流的关系。传统的标定磁力矩器磁矩的方法是赤道作图法，过程如下：

将被测磁力矩器放置在转动平台的中心，在试件的赤道平面内，放置三台或四台三分量磁强计，且距离转动平台中心一定的距离，被测磁力矩器水平旋转360°，每隔一定角度比如10°，测量一次磁场值，这样得到一组角度和磁场的测量值，再通过公司反演出磁矩。此方法测试过程较为复杂，效率低下，且容易收到环境磁场波动的干扰。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是针对现有技术的不足，提供了一种标定磁力矩器磁矩的方法、系统、存储介质和电子设备。

本发明的一种标定磁力矩器磁矩的方法的技术方案如下：

获取第一预设位置的且沿待标定磁力矩器的轴向的磁感应强度

其中，所述待标定磁力矩器包括磁芯和绕组，所述绕组绕制在所述磁芯上；

根据第一公式得到所述待标定磁力矩器的磁矩M，所述第一公式为：

其中，μ₀表示真空磁导率，x₁表示：所述第一预设位置与所述待标定磁力矩器的中心点位置之间的距离，L表示所述磁芯的长度，

表示目标修正系数。

本发明的一种标定磁力矩器磁矩的方法的有益效果如下：

只需要获取第一预设位置的且沿待标定磁力矩器的绕组的轴向的磁感应强度，就能够对待标定磁力矩器的磁矩进行快速标定，即快速得到待标定磁力矩器的磁矩，不需要多次测量，过程简单，且结合目标修正系数，进一步提高所得到的待标定磁力矩器的磁矩的准确度。

在上述方案的基础上，本发明的一种标定磁力矩器磁矩的方法还可以做如下改进。

进一步，还包括：

当所述待标定磁力矩器的磁芯为圆柱形磁芯时，利用第二公式获取所述目标修正系数

所述第二公式为：

其中，k_c＝L/r_c1，γ₁＝x₁/L，k_c表示所述圆柱形磁芯的特征尺寸，r_c1表示所述圆柱形磁芯的半径，γ₁表示目标距离因子。

进一步，所述第二公式的获取过程，包括：

获取第二预设位置的且沿第一磁力矩器的轴向的磁感应强度

以及获取第三预设位置的且沿第二磁力矩器的轴向的磁感应强度

其中，所述第一磁力矩器的磁矩与所述第二磁力矩器的磁矩相同，所述第一磁力矩器的磁矩沿所述第一磁力矩器的轴向均匀分布，当x₂＝x₃时，通过第三公式获取当前修正系数β，并利用第四公式计算当前距离因子γ，以及利用第五公式计算所述第二磁力矩器的圆柱形磁芯的特征尺寸k，得到一个包括β、γ和k的数据组，直至得到多个数据组，并基于所述多个数据组得到β关于γ和k的函数关系：β＝f(k,γ)，其中，所述第三公式为：

所述第四公式为γ＝x₃/L₁，所述第五公式为k＝L₁/r_c2，x₂表示所述第二预设位置与所述第一磁力矩器的中心点位置之间的距离，x₃表示所述第三预设位置与所述第二磁力矩器的中心点位置之间的距离，L₁表示所述第二磁力矩器的圆柱形磁芯的长度，r_c2表示所述第二磁力矩器的圆柱形磁芯的半径；

将所述圆柱形磁芯的特征尺寸k_c和所述圆柱形磁芯的半径r_c1带入所述函数关系，得到所述第二公式。

进一步，所述获取第一预设位置的且沿待标定磁力矩器的绕组的轴向的磁感应强度

包括：

通过一维的磁场传感器，测量得到所述第一预设位置的且沿所述待标定磁力矩器的绕组的轴向的磁感应强度

本发明的一种标定磁力矩器磁矩的系统的技术方案如下：

包括第一获取模块和确定模块；

所述第一获取模块用于：获取第一预设位置的且沿待标定磁力矩器的轴向的磁感应强度

其中，所述待标定磁力矩器包括磁芯和绕组，所述绕组绕制在所述磁芯上；

所述确定模块用于：根据第一公式得到所述待标定磁力矩器的磁矩M，所述第一公式为：

其中，μ₀表示真空磁导率，x₁表示：所述第一预设位置与所述待标定磁力矩器的中心点位置之间的距离，L表示所述磁芯的长度，

表示目标修正系数。

本发明的一种标定磁力矩器磁矩的系统的有益效果如下：

只需要获取第一预设位置的且沿待标定磁力矩器的绕组的轴向的磁感应强度，就能够对待标定磁力矩器的磁矩进行快速标定，即快速得到待标定磁力矩器的磁矩，不需要多次测量，过程简单，且结合目标修正系数，进一步提高所得到的待标定磁力矩器的磁矩的准确度。

在上述方案的基础上，本发明的一种标定磁力矩器磁矩的系统还可以做如下改进。

进一步，还包括第二获取模块，所述第二获取模块用于：

当所述待标定磁力矩器的磁芯为圆柱形磁芯时，利用第二公式获取所述目标修正系数

所述第二公式为：

其中，k_c＝L/r_c1，γ₁＝x₁/L，k_c表示所述圆柱形磁芯的特征尺寸，r_c1表示所述圆柱形磁芯的半径，γ₁表示目标距离因子。

进一步，还包括第三获取模块，所述第三获取模块用于：

获取第二预设位置的且沿第一磁力矩器的轴向的磁感应强度

以及获取第三预设位置的且沿第二磁力矩器的轴向的磁感应强度

其中，所述第一磁力矩器的磁矩与所述第二磁力矩器的磁矩相同，所述第一磁力矩器的磁矩沿所述第一磁力矩器的轴向均匀分布，当x₂＝x₃时，通过第三公式获取当前修正系数β，并利用第四公式计算当前距离因子γ，以及利用第五公式计算所述第二磁力矩器的圆柱形磁芯的特征尺寸k，得到一个包括β、γ和k的数据组，直至得到多个数据组，并基于所述多个数据组得到β关于γ和k的函数关系：β＝f(k,γ)，其中，所述第三公式为：

所述第四公式为γ＝x₃/L₁，所述第五公式为k＝L₁/r_c2，x₂表示所述第二预设位置与所述第一磁力矩器的中心点位置之间的距离，x₃表示所述第三预设位置与所述第二磁力矩器的中心点位置之间的距离，L₁表示所述第二磁力矩器的圆柱形磁芯的长度，r_c2表示所述第二磁力矩器的圆柱形磁芯的半径；

将所述圆柱形磁芯的特征尺寸k_c和所述圆柱形磁芯的半径r_c1带入所述函数关系，得到所述第二公式。

进一步，所述第一获取模块具体用于：

通过一维的磁场传感器，测量得到所述第一预设位置的且沿所述待标定磁力矩器的绕组的轴向的磁感应强度

本发明的一种存储介质，所述存储介质中存储有指令，当计算机读取所述指令时，使所述计算机执行上述任一项所述的一种标定磁力矩器磁矩的方法。

本发明的一种电子设备，包括处理器和上述的存储介质，所述处理器执行所述存储介质中的指令。

附图说明

图1为定磁力矩器的工作原理示意图；

图2为本发明实施例的一种标定磁力矩器磁矩的方法的流程示意图；

图3为螺线管的磁矩的示意图；

图4为放大系数与特征尺寸的关系示意图；

图5为本发明实施例的一种标定磁力矩器磁矩的系统的结构示意图；

具体实施方式

如图2所示，本发明实施例的一种标定磁力矩器磁矩的方法，包括如下步骤：

S1、获取第一预设位置的且沿待标定磁力矩器的绕组的轴向的磁感应强度，具体地：获取第一预设位置的且沿待标定磁力矩器的轴向的磁感应强度

其中，所述待标定磁力矩器包括磁芯和绕组，所述绕组绕制在所述磁芯上；

S2、获取待标定磁力矩器的磁矩M：具体地：

根据第一公式得到所述待标定磁力矩器的磁矩M，所述第一公式为：

其中，μ₀表示真空磁导率，x₁表示：所述第一预设位置与所述待标定磁力矩器的中心点位置之间的距离，L表示所述磁芯的长度，

表示目标修正系数。

其中，待标定磁力矩器的中心点位置指：待标定磁力矩器的磁芯的几何中心点的位置，由于绕组多以对称结构绕制在在磁芯上，则待标定磁力矩器的绕组的中心点位置也可理解为待标定磁力矩器的磁芯的几何中心点的位置，即待标定磁力矩器的磁芯的几何中心点的位置与待标定磁力矩器的绕组的几何中心点的位置重合。

其中，第一预设位置位于待标定磁力矩器的绕组的轴向上。

其中，可通过如下方式确定目标修正系数

具体地：

1)当所述待标定磁力矩器的磁芯为圆柱形磁芯时，利用第二公式获取所述目标修正系数

所述第二公式为：

其中，k_c＝L/r_c1，γ₁＝x₁/L，k_c表示所述圆柱形磁芯的特征尺寸，r_c1表示所述圆柱形磁芯的半径，γ₁表示目标距离因子。此时第一公式具体为：

其中，第二公式的获取过程，包括：

S30、获取第二预设位置的且沿第一磁力矩器的轴向的磁感应强度

以及获取第三预设位置的且沿第二磁力矩器的轴向的磁感应强度

其中，所述第一磁力矩器的磁矩与所述第二磁力矩器的磁矩相同，所述第一磁力矩器的磁矩沿所述第一磁力矩器的轴向均匀分布，当x₂＝x₃时，通过第三公式获取当前修正系数β，并利用第四公式计算当前距离因子γ，以及利用第五公式计算所述第二磁力矩器的圆柱形磁芯的特征尺寸k，得到一个包括β、γ和k的数据组，直至得到多个数据组，并基于所述多个数据组得到β关于γ和k的函数关系：β＝f(k,γ)，其中，所述第三公式为：

所述第四公式为γ＝x₃/L₁，所述第五公式为k＝L₁/r_c2，x₂表示所述第二预设位置与所述第一磁力矩器的中心点位置之间的距离，x₃表示所述第三预设位置与所述第二磁力矩器的中心点位置之间的距离，L₁表示所述第二磁力矩器的圆柱形磁芯的长度，r_c2表示所述第二磁力矩器的圆柱形磁芯的半径；

S31、将圆柱形磁芯的特征尺寸k_c和圆柱形磁芯的半径r_c1带入函数关系，得到第二公式。

其中，可利用ANSYS、MAXWELL等电磁仿真软件，通过设置条件，使所述第一磁力矩器的磁矩与所述第二磁力矩器的磁矩相同，并使所述第一磁力矩器的磁矩沿所述第一磁力矩器的轴向均匀分布，然后仿真计算

计算第二预设位置的且沿预设空心螺线管的轴向的磁感应强度

以及第三预设位置的且沿插入预设圆柱形磁芯的螺线管的磁感应强度

当得到多个数据组后，通过数据拟合得到β＝f(k,γ)。

其中，第二预设位置位于第一磁力矩器的轴向上，第三预设位置位于第二磁力矩器的轴向上。

其中，也可采用空心螺线管作为第一磁力矩器。

3)根据经验人为确定目标修正系数

只需要获取第一预设位置的且沿待标定磁力矩器的绕组的轴向的磁感应强度，就能够对待标定磁力矩器的磁矩进行快速标定，即快速得到待标定磁力矩器的磁矩，不需要多次测量，过程简单，且结合目标修正系数，进一步提高所得到的待标定磁力矩器的磁矩的准确度。

可选地，在上述技术方案中，获取第一预设位置的且沿待标定磁力矩器的绕组的轴向的磁感应强度

包括：

通过一维的磁场传感器，测量得到第一预设位置的且沿待标定磁力矩器的绕组的轴向的磁感应强度

磁场传感器可为霍尔传感器或磁通门磁强计等，一维的磁场传感器指：只能测一个方向上的磁感应强度的磁场传感器，相比于三维的磁场传感器，一维的磁场传感器成本低，三维的磁场传感器指能够测三个方向的磁感应强度，三个方向一般指x轴方向、y轴方向和z轴方向。

本申请的一种标定磁力矩器磁矩的方法的原理如下：

如图3所示，通过公式

能够计算密绕螺线管的磁矩M₁，其中，i表示电流，r_w是密绕螺线管的线圈的平均半径，N是密绕螺线管的线圈匝数，密绕螺线管的磁矩平均分布在轴线长度L₂方向上，在其轴线上某一点P处的磁感应强度B_x的方向和轴线平行，B_x可以根据

计算得到，其中，x是点P距离的螺线管的中心点位置O的距离，那么：反过来，通过测量点P处的磁感应强度大小，也可以反推出螺线管的磁矩M₁：

磁力矩器的核心部分是磁芯和绕组，绕组绕制在磁芯上，绕组相当于一个螺线管，通上电流产生磁矩，磁芯采用细长型的高磁导率软磁材料，对空心线圈即绕组产生的磁矩M₀进行放大得到磁力矩器的磁矩M₂：M₂＝aM₀，a是放大系数，放大系数a与磁芯的相对磁导率和特征尺寸有关，在相对磁导率较大时，比如5000(常用磁芯的相对磁导率均远大于5000)时，放大系数a主要取决于磁芯的特征尺寸，特征尺寸越大，放大系数a越大，如图4所示，但特征尺寸越大，磁芯越是细长，基频越低，不利于振动指标要求，且磁芯容易饱和，工程上，特征尺寸的取值范围通常是30～80。

由于磁芯退磁因子的存在，在磁力矩器的线性工作范围内，磁芯内部的磁化强度沿轴线方向分布不同，有三个特点：

1)磁化强度在磁芯的轴线的中心点最大，距离中心点越远，磁化强度越小，且以中心点中心对称分布，导致磁力矩器的磁矩在其轴线上分布不均，因此，不能直接使用

对磁力矩器的磁矩进行标定；

2)磁芯的轴线上各个位置的磁化强度相对比值不变，比如线圈电流增加一倍，磁芯内部各个位置的磁化强度也整体增加一倍，但磁化强度和电流的比值不变；

3)磁芯内部各个位置的磁化强度和电流的比值只取决于磁芯的特征尺寸。

基于上述第二点和第三点可知，对于一个给定的磁力矩器，磁芯的特征尺寸已固定，那么磁力矩器的磁矩在磁芯的轴线上的分布也是确定的，因此可以通过数值计算或者有限元分析的方法得到一个相对于公式的修正系数，具体地：

获取第二预设位置的且沿第一磁力矩器的轴向的磁感应强度

以及获取第三预设位置的且沿第二磁力矩器的轴向的磁感应强度

其中，所述第一磁力矩器的磁矩与所述第二磁力矩器的磁矩相同，所述第一磁力矩器的磁矩沿所述第一磁力矩器的轴向均匀分布，当x₂＝x₃时，通过第三公式获取当前修正系数β，并利用第四公式计算当前距离因子γ，以及利用第五公式计算所述第二磁力矩器的圆柱形磁芯的特征尺寸k，得到一个包括β、γ和k的数据组，直至得到多个数据组，并基于所述多个数据组得到β关于γ和k的函数关系：β＝f(k,γ)，其中，所述第三公式为：

所述第四公式为γ＝x₃/L₁，所述第五公式为k＝L₁/r_c2，x₂表示所述第二预设位置与所述第一磁力矩器的中心点位置之间的距离，x₃表示所述第三预设位置与所述第二磁力矩器的中心点位置之间的距离，L₁表示所述第二磁力矩器的圆柱形磁芯的长度，r_c2表示所述第二磁力矩器的圆柱形磁芯的半径；

可提前计算得到常用的特征尺寸和距离因子所对应的修正系数，形成表格，然后根据k_c和γ₁，从表格中查询得到目标修正系数

也可将k_c和γ₁直接带入f(k,γ)，计算得到目标修正系数

在上述各实施例中，虽然对步骤进行了编号S1、S2等，但只是本申请给出的具体实施例，本领域的技术人员可根据实际情况调整S1、S2等的执行顺序，此也在本发明的保护范围内，可以理解，在一些实施例中，可以包含如上述各实施方式中的部分或全部。

如图5所示，本发明实施例的一种标定磁力矩器磁矩的系统200，包括第一获取模块210和确定模块220；

所述第一获取模块用于：获取第一预设位置的且沿待标定磁力矩器的轴向的磁感应强度B_x1，其中，所述待标定磁力矩器包括磁芯和绕组，所述绕组绕制在所述磁芯上；

所述确定模块用于：根据第一公式得到所述待标定磁力矩器的磁矩M，所述第一公式为：

其中，μ₀表示真空磁导率，x₁表示：所述第一预设位置与所述待标定磁力矩器的中心点位置之间的距离，L表示所述磁芯的长度，

表示目标修正系数。

只需要获取第一预设位置的且沿待标定磁力矩器的绕组的轴向的磁感应强度，就能够对待标定磁力矩器的磁矩进行快速标定，即快速得到待标定磁力矩器的磁矩，不需要多次测量，过程简单，且结合目标修正系数，进一步提高所得到的待标定磁力矩器的磁矩的准确度。

可选地，在上述技术方案中，还包括第二获取模块，第二获取模块用于：

当所述待标定磁力矩器的磁芯为圆柱形磁芯时，利用第二公式获取所述目标修正系数

所述第二公式为：

其中，k_c＝L/r_c1，γ₁＝x₁/L，k_c表示所述圆柱形磁芯的特征尺寸，r_c1表示所述圆柱形磁芯的半径，γ₁表示目标距离因子。

可选地，在上述技术方案中，还包括第三获取模块，第三获取模块用于：

获取第二预设位置的且沿第一磁力矩器的轴向的磁感应强度

以及获取第三预设位置的且沿第二磁力矩器的轴向的磁感应强度

其中，所述第一磁力矩器的磁矩与所述第二磁力矩器的磁矩相同，所述第一磁力矩器的磁矩沿所述第一磁力矩器的轴向均匀分布，当x₂＝x₃时，通过第三公式获取当前修正系数β，并利用第四公式计算当前距离因子γ，以及利用第五公式计算所述第二磁力矩器的圆柱形磁芯的特征尺寸k，得到一个包括β、γ和k的数据组，直至得到多个数据组，并基于所述多个数据组得到β关于γ和k的函数关系：β＝f(k,γ)，其中，所述第三公式为：

所述第四公式为γ＝x₃/L₁，所述第五公式为k＝L₁/r_c2，x₂表示所述第二预设位置与所述第一磁力矩器的中心点位置之间的距离，x₃表示所述第三预设位置与所述第二磁力矩器的中心点位置之间的距离，L₁表示所述第二磁力矩器的圆柱形磁芯的长度，r_c2表示所述第二磁力矩器的圆柱形磁芯的半径；

将圆柱形磁芯的特征尺寸k_c和圆柱形磁芯的半径r_c1带入函数关系，得到第二公式。

可选地，在上述技术方案中，第一获取模块具体用于：

通过一维的磁场传感器，测量得到第一预设位置的且沿待标定磁力矩器的绕组的轴向的磁感应强度

上述关于本发明的一种标定磁力矩器磁矩的系统200中的各参数和各个单元模块实现相应功能的步骤，可参考上文中关于一种标定磁力矩器磁矩的方法的实施例中的各参数和步骤，在此不做赘述。

本发明实施例的一种存储介质，存储介质中存储有指令，当计算机读取指令时，使计算机执行上述任一项的一种标定磁力矩器磁矩的方法。

本发明实施例的一种电子设备，包括处理器和上述的存储介质，处理器执行存储介质中的指令，其中，电子设备可以选用电脑、手机等。

所属技术领域的技术人员知道，本发明可以实现为系统、方法或计算机程序产品。

因此，本公开可以具体实现为以下形式，即：可以是完全的硬件、也可以是完全的软件(包括固件、驻留软件、微代码等)，还可以是硬件和软件结合的形式，本文一般称为“电路”、“模块”或“系统”。此外，在一些实施例中，本发明还可以实现为在一个或多个计算机可读介质中的计算机程序产品的形式，该计算机可读介质中包含计算机可读的程序代码。

可以采用一个或多个计算机可读的介质的任意组合。计算机可读介质可以是计算机可读信号介质或者计算机可读存储介质。计算机可读存储介质例如可以是一一但不限于——电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件，或者任意以上的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括:具有一个或多个导线的电连接、便携式计算机磁盘、硬盘、随机存取存储器(RAM),只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、光纤、便携式紧凑磁盘只读存储器(CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。在本文件中，计算机可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质，该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。

尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本发明的限制，本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。

Claims (6)

1.一种标定磁力矩器磁矩的方法，其特征在于，包括：

获取第一预设位置的且沿待标定磁力矩器的轴向的磁感应强度

其中，所述待标定磁力矩器包括磁芯和绕组，所述绕组绕制在所述磁芯上；

根据第一公式得到所述待标定磁力矩器的磁矩M，所述第一公式为：

其中，μ₀表示真空磁导率，x₁表示：所述第一预设位置与所述待标定磁力矩器的中心点位置之间的距离，L表示所述磁芯的长度，

表示目标修正系数；

还包括：

当所述待标定磁力矩器的磁芯为圆柱形磁芯时，利用第二公式获取所述目标修正系数

所述第二公式为：

其中，k_c＝L/r_c1，γ₁＝x₁/L，k_c表示所述圆柱形磁芯的特征尺寸，r_c1表示所述圆柱形磁芯的半径，γ₁表示目标距离因子；

所述第二公式的获取过程，包括：

获取第二预设位置的且沿第一磁力矩器的轴向的磁感应强度

以及获取第三预设位置的且沿第二磁力矩器的轴向的磁感应强度

其中，所述第一磁力矩器的磁矩与所述第二磁力矩器的磁矩相同，所述第一磁力矩器的磁矩沿所述第一磁力矩器的轴向均匀分布，当x₂＝x₃时，通过第三公式获取当前修正系数β，并利用第四公式计算当前距离因子γ，以及利用第五公式计算所述第二磁力矩器的圆柱形磁芯的特征尺寸k，得到一个包括β、γ和k的数据组，直至得到多个数据组，并基于所述多个数据组得到β关于γ和k的函数关系：β＝f(k,γ)，其中，所述第三公式为：

所述第四公式为γ＝x₃/L₁，所述第五公式为k＝L₁/r_c2，x₂表示所述第二预设位置与所述第一磁力矩器的中心点位置之间的距离，x₃表示所述第三预设位置与所述第二磁力矩器的中心点位置之间的距离，L₁表示所述第二磁力矩器的圆柱形磁芯的长度，r_c2表示所述第二磁力矩器的圆柱形磁芯的半径；

将所述圆柱形磁芯的特征尺寸k_c和所述圆柱形磁芯的半径r_c1带入所述函数关系，得到所述第二公式。

2.根据权利要求1所述的一种标定磁力矩器磁矩的方法，其特征在于，所述获取第一预设位置的且沿待标定磁力矩器的绕组的轴向的磁感应强度

包括：

通过一维的磁场传感器，测量得到所述第一预设位置的且沿所述待标定磁力矩器的绕组的轴向的磁感应强度

3.一种标定磁力矩器磁矩的系统，其特征在于，包括第一获取模块和确定模块；

所述第一获取模块用于：获取第一预设位置的且沿待标定磁力矩器的轴向的磁感应强度

其中，所述待标定磁力矩器包括磁芯和绕组，所述绕组绕制在所述磁芯上；

所述确定模块用于：根据第一公式得到所述待标定磁力矩器的磁矩M，所述第一公式为：

其中，μ₀表示真空磁导率，x₁表示：所述第一预设位置与所述待标定磁力矩器的中心点位置之间的距离，L表示所述磁芯的长度，

表示目标修正系数；

还包括第二获取模块，所述第二获取模块用于：

当所述待标定磁力矩器的磁芯为圆柱形磁芯时，利用第二公式获取所述目标修正系数

所述第二公式为：

其中，k_c＝L/r_c1，γ₁＝x₁/L，k_c表示所述圆柱形磁芯的特征尺寸，r_c1表示所述圆柱形磁芯的半径，γ₁表示目标距离因子；

还包括第三获取模块，所述第三获取模块用于：

获取第二预设位置的且沿第一磁力矩器的轴向的磁感应强度

以及获取第三预设位置的且沿第二磁力矩器的轴向的磁感应强度

其中，所述第一磁力矩器的磁矩与所述第二磁力矩器的磁矩相同，所述第一磁力矩器的磁矩沿所述第一磁力矩器的轴向均匀分布，当x₂＝x₃时，通过第三公式获取当前修正系数β，并利用第四公式计算当前距离因子γ，以及利用第五公式计算所述第二磁力矩器的圆柱形磁芯的特征尺寸k，得到一个包括β、γ和k的数据组，直至得到多个数据组，并基于所述多个数据组得到β关于γ和k的函数关系：β＝f(k,γ)，其中，所述第三公式为：

所述第四公式为γ＝x₃/L₁，所述第五公式为k＝L₁/r_c2，x₂表示所述第二预设位置与所述第一磁力矩器的中心点位置之间的距离，x₃表示所述第三预设位置与所述第二磁力矩器的中心点位置之间的距离，L₁表示所述第二磁力矩器的圆柱形磁芯的长度，r_c2表示所述第二磁力矩器的圆柱形磁芯的半径；

将所述圆柱形磁芯的特征尺寸k_c和所述圆柱形磁芯的半径r_c1带入所述函数关系，得到所述第二公式。

4.根据权利要求3所述的一种标定磁力矩器磁矩的系统，其特征在于，所述第一获取模块具体用于：

通过一维的磁场传感器，测量得到所述第一预设位置的且沿所述待标定磁力矩器的绕组的轴向的磁感应强度

5.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质中存储有指令，当计算机读取所述指令时，使所述计算机执行如权利要求1或2所述的一种标定磁力矩器磁矩的方法。

6.一种电子设备，其特征在于，包括处理器和权利要求5所述的存储介质，所述处理器执行所述存储介质中的指令。

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