CN114814563B - 直流接触器的累计损伤的计算方法、装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种直流接触器的累计损伤的计算方法、装置。其中，该方法包括：在第一测试条件下对上述输出接触器进行开断测试，得到上述输出接触器的触头单次侵蚀量；在第二测试条件下对上述输出接触器进行开断测试得到二元函数数学模型；采用上述二元函数数学模型根据上述输出接触器在每次开断测试时的上述断口电压、上述分断电流和上述触头单次侵蚀量，计算得到上述输出接触器的单次损伤，并将多个上述单次损伤累加计算得到上述输出接触器的累积损伤。本发明解决了现有技术中难以实现在线计算直流充电桩的输出接触器的累计损伤的技术问题。

Description

直流接触器的累计损伤的计算方法、装置

技术领域

本发明涉及电动汽车充电桩领域，具体而言，涉及一种直流接触器的累计损伤的计算方法、装置。

背景技术

近年来全球范围内电动汽车数量高速增长，以充电桩为主的相关配套设施不断发展和完善，城市中充电桩数量日益增加，对电动汽车充电桩的可靠性和安全性提出较高要求。省级车联网应用平台的直流充电桩故障统计数据显示输出接触器的故障率在直流充电桩所有元件中处第二(第一是充电模块，电力电子器件)。直流充电桩现场检修结果显示输出接触器产生故障的原因多是因为分断大电流。

直流充电桩输出接触器属于直流接触器，目前对直流接触器的研究多集中于电寿命预测，侧重于直流电弧对直流接触器触头的侵蚀作用，选取的表征直流接触器累积损伤的状态参量多为累积燃弧能量、释放时间、释放电压等需要在特定设备或是高采样频率下才能采集到参量，难以现场应用，更难以实现在线监测。

针对上述的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本发明实施例提供了一种直流接触器的累计损伤的计算方法、装置，以至少解决现有技术中难以实现在线计算直流充电桩的输出接触器的累计损伤的技术问题。

根据本发明实施例的一个方面，提供了一种直流接触器的累计损伤的计算方法，该直流接触器为直流充电桩的输出接触器，包括：在第一测试条件下对上述输出接触器进行开断测试，得到上述输出接触器的触头单次侵蚀量，其中，上述第一测试条件下的断口电压和分断电流额定，上述开断测试的终点为上述输出接触器的电寿命终点；在第二测试条件下对上述输出接触器进行开断测试得到二元函数数学模型，其中，上述第二测试条件下的断口电压和分断电流不同，上述二元函数数学模型用于反映上述输出接触器的电寿命与上述断口电压及上述分断电流之间的二元函数关系；采用上述二元函数数学模型根据上述输出接触器在每次开断测试时的上述断口电压、上述分断电流和所述触头单次侵蚀量，计算得到上述输出接触器的单次损伤，并将多个上述单次损伤累加计算得到上述输出接触器的累积损伤。

可选的，在第一测试条件下对上述输出接触器进行开断测试，得到上述输出接触器的触头单次侵蚀量，包括：在上述第一测试条件下对上述输出接触器进行多次上述开断测试，其中，上述开断测试用于采用精密天平测量上述输出接触器的触头质量，并以上述触头质量表征上述触头单次侵蚀量；记录每N次的上述开断测试后的上述触头质量的变化量；如果上述变化量符合正态分布且预定百分比的置信区间在置信平均值附近，则确定上述开断测试的直流电弧对上述输出接触器的触头单次侵蚀量为预定侵蚀量。

可选的，在第二测试条件下对上述输出接触器进行开断测试得到二元函数数学模型，包括：在上述第二测试条件下对上述输出接触器进行开断测试，其中，单次的上述开断测试的时间固定，直至上述输出接触器丧失分断能力，则确定上述输出接触器到达电寿命终点，记录电压上升沿个数作为上述输出接触器的电寿命；通过数学拟合工具拟合上述电寿命与上述断口电压及上述分断电流，得到上述二元函数数学模型。

可选的，在上述第二测试条件下对上述输出接触器进行开断测试之前，上述方法还包括：设置上述输出接触器的分断测试电路以及上述第二测试条件，其中，上述分断测试电路包括：任意一个或多个负载、控制单元、电压电流采集系统，上述第二测试条件包括：设置多组上述断口电压和上述分断电流。

根据本发明实施例的另一方面，还提供了一种直流接触器的累计损伤的计算装置，该直流接触器为直流充电桩的输出接触器，包括：第一测试单元，用于在第一测试条件下对上述输出接触器进行开断测试，得到上述输出接触器的触头单次侵蚀量，其中，上述第一测试条件下的断口电压和分断电流额定，上述开断测试的终点为上述输出接触器的电寿命终点；第二测试单元，用于在第二测试条件下对上述输出接触器进行开断测试得到二元函数数学模型，其中，上述第二测试条件下的断口电压和分断电流不同，上述二元函数数学模型用于反映上述输出接触器的电寿命与上述断口电压及上述分断电流之间的二元函数关系；计算单元，用于采用上述二元函数数学模型根据上述输出接触器在每次开断测试时的上述断口电压、上述分断电流和所述触头单次侵蚀量，计算得到上述输出接触器的单次损伤，并将多个上述单次损伤累加计算得到上述输出接触器的累积损伤。

可选的，上述第一测试单元，包括：第一测试子单元，用于在上述第一测试条件下对上述输出接触器进行多次上述开断测试，其中，上述开断测试用于采用精密天平测量上述输出接触器的触头质量，并以上述触头质量表征上述触头单次侵蚀量；记录单元，用于记录每N次的上述开断测试后的上述触头质量的变化量；确定单元，用于如果上述变化量符合正态分布且预定百分比的置信区间在置信平均值附近，则确定上述开断测试的直流电弧对上述输出接触器的触头单次侵蚀量为预定侵蚀量。

可选的，上述第二测试单元，包括：第二测试子单元，用于在上述第二测试条件下对上述输出接触器进行开断测试，其中，单次的上述开断测试的时间固定，直至上述输出接触器丧失分断能力，则确定上述输出接触器到达电寿命终点，记录电压上升沿个数作为上述输出接触器的电寿命；拟合单元，用于通过数学拟合工具拟合上述电寿命与上述断口电压及上述分断电流，得到上述二元函数数学模型。

可选的，上述装置还包括：设置单元，用于设置上述输出接触器的分断测试电路以及上述第二测试条件，其中，上述分断测试电路包括：任意一个或多个负载、控制单元、电压电流采集系统，上述第二测试条件包括：设置多组上述断口电压和上述分断电流。

根据本发明实施例的另一方面，还提供了一种计算机可读存储介质，上述计算机可读存储介质存储有多条指令，上述指令适于由处理器加载并执行任意一项上述的直流接触器的累计损伤的计算方法。

根据本发明实施例的另一方面，还提供了一种电子设备，包括存储器和处理器，上述存储器中存储有计算机程序，上述处理器被设置为运行上述计算机程序以执行任意一项上述的直流接触器的累计损伤的计算方法。

在本发明实施例中，采用在线计算直流充电桩的输出接触器的累计损伤的方式，通过在第一测试条件下对上述输出接触器进行开断测试，得到上述输出接触器的触头单次侵蚀量，其中，上述第一测试条件下的断口电压和分断电流额定，上述开断测试的终点为上述输出接触器的电寿命终点；在第二测试条件下对上述输出接触器进行开断测试得到二元函数数学模型，其中，上述第二测试条件下的断口电压和分断电流不同，上述二元函数数学模型用于反映上述输出接触器的电寿命与上述断口电压及上述分断电流之间的二元函数关系；采用上述二元函数数学模型根据上述输出接触器在每次开断测试时的上述断口电压、上述分断电流和所述触头单次侵蚀量，计算得到上述输出接触器的单次损伤，并将多个上述单次损伤累加计算得到上述输出接触器的累积损伤，达到了在线计算直流充电桩的输出接触器的累计损伤的目的，从而实现了提升电动汽车充电桩的可靠性和安全性的技术效果，进而解决了现有技术中难以实现在线计算直流充电桩的输出接触器的累计损伤的技术问题。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1是根据本发明实施例的一种直流接触器的累计损伤的计算方法的流程图；

图2是根据本发明实施例的一种可选的直流接触器的累计损伤的计算方法的流程图；

图3是根据本发明实施例的一种直流接触器的累计损伤的计算装置的结构示意图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。

需要说明的是，本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本发明的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

目前的研究未考虑现场检修结果反馈的信息，未考虑高断口电压、大分断电流对直流充电桩输出接触器累积损伤的影响。因此，本发明实施例的目的至少在于，提供一种基于断口电压和分断电流的直流充电桩输出接触器累积损伤评估方法，解决目前现有技术中的直流充电桩的输出接触器健康状态难以实现在线评估问题。

实施例1

根据本发明实施例，提供了一种直流接触器的累计损伤的计算方法实施例，需要说明的是，在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行，并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。

图1是根据本发明实施例的一种直流接触器的累计损伤的计算方法的流程图，如图1所示，该方法包括如下步骤：

步骤S102，在第一测试条件下对上述输出接触器进行开断测试，得到上述输出接触器的触头单次侵蚀量，其中，上述第一测试条件下的断口电压和分断电流额定，上述开断测试的终点为上述输出接触器的电寿命终点；

步骤S104，在第二测试条件下，对上述输出接触器进行开断测试得到二元函数数学模型，其中，上述第二测试条件下的断口电压和分断电流不同，上述二元函数数学模型用于反映上述输出接触器的电寿命与上述断口电压及上述分断电流之间的二元函数关系；

步骤S106，采用上述二元函数数学模型根据上述输出接触器在每次开断测试时的上述断口电压、上述分断电流和所述触头单次侵蚀量，计算得到上述输出接触器的单次损伤，并将多个上述单次损伤累加计算得到上述输出接触器的累积损伤。

在本申请实施例中，该直流接触器为直流充电桩的输出接触器，通过将输出接触器在额定电压电流条件下进行开断测试至电寿命终点，得到触头单次侵蚀量的分布特性；通过将输出接触器在不同断口电压和分断电流下进行开断测试至电寿命终点，得到输出接触器电寿命L(次数)与断口电压U和分断电流I的二元函数数学模型，得到此断口电压和分断电流下单次损伤1/L(量纲为1/次)。另外，通过记录输出接触器每次分断时的断口电压和分断电流，计算单次损伤，将单次损伤累加即可得到输出接触器寿命周期累积损伤。

需要说明的是，本发明实施例中所采集的断口电压和分断电流十分容易采集，直流充电桩TCU单元即可进行采集计算，能够实现输出接触器累积损伤的在线评估。

本发明提供的基于断口电压和分断电流的直流充电桩输出接触器累计损伤评估方法，通过将理论累积损伤评估问题抽象成数学中的多元函数拟合问题，将单次开断断口电压和分断电流视为自变量，将单次损伤视为因变量，再利用多元函数拟合工具拟合出自变量与因变量之间的函数关系，累加单次损伤得到累积损伤；这样对于不知道累计损伤状态的输出接触器只需要输入其对应的自变量，就可以得到该输出接触器的累积损伤，又因为自变量相对容易测量，因此本发明提出的直流充电桩输出接触器累积损伤评估方法具有运算速度快、可靠性高等优点。

在本发明实施例中，采用在线计算直流充电桩的输出接触器的累计损伤的方式，可以达到在线计算直流充电桩的输出接触器的累计损伤的目的，从而实现了提升电动汽车充电桩的可靠性和安全性的技术效果，进而解决了现有技术中难以实现在线计算直流充电桩的输出接触器的累计损伤的技术问题。

作为一种可选的实施例，图2是根据本发明实施例的一种可选的直流接触器的累计损伤的计算方法的流程图，如图2所示，在第一测试条件下对上述输出接触器进行开断测试，得到上述输出接触器的触头单次侵蚀量，包括：

步骤S202，在上述第一测试条件下对上述输出接触器进行多次上述开断测试，其中，上述开断测试用于采用精密天平测量上述输出接触器的触头质量，并以上述触头质量表征上述触头单次侵蚀量；

步骤S204，记录每N次的上述开断测试后的上述触头质量的变化量；

步骤S206，如果上述变化量符合正态分布且预定百分比的置信区间在置信平均值附近，则确定上述开断测试的直流电弧对上述输出接触器的触头单次侵蚀量为预定侵蚀量。

作为一种可选的实施例，将输出接触器在额定电压电流条件下进行开断测试至电寿命终点，得到触头单次侵蚀量的分布特性。例如，采用EVQ100型号的输出接触器说明具体实施方式，具体包括下列步骤：将输出接触器在额定电压电流条件下进行开断测试，额定电压为12-1000V，例如，可以选用750V，额定电流为100A。每进行80次开断测试，利用精密天平测量输出接触器的触头质量，以触头质量表征触头单次侵蚀量。通过记录每80次开断测试后触头质量的变化量Δm，得到结论：每80次开断测试后触头质量的变化量Δm符合正态分布且95％的置信区间在平均值附近，单次开断直流电弧对输出接触器的侵蚀可认为是预定侵蚀量，即一个定值。

另外，在本申请实施例中，通过记录输出接触器在额定电压电流条件下的电寿命为100000次，记录输出接触器在进行第1-第80次和第99921-第100000次开断测试后触头质量的变化量Δm，则可以通过验证二者几乎没有差别来确定上述结论正确。

作为一种可选的实施例，在上述第二测试条件下对上述输出接触器进行开断测试之前，上述方法还包括：设置上述输出接触器的分断测试电路以及上述第二测试条件，其中，上述分断测试电路包括：任意一个或多个负载、控制单元、电压电流采集系统，上述第二测试条件包括：设置多组上述断口电压和上述分断电流。

在本申请实施例中，通过设置输出接触器分断测试电路，包括负载、控制单元、电压电流采集系统等；以及设置多组断口电压和分断电流等级；其中，负载采用纯阻性负载箱，以避免电感电容对输出接触器开断速度的影响；控制单元采用STM32，开断周期为1s，开断周期内的开断时刻为0.5s；电压电流采集系统采用任意一种适配的DAQ采集卡。可选的，预设20组断口电压和分断电流等级，U＝450V，I＝5A，30A，80A，120A，150A；U＝550V，I＝5A，30A，80A，120A，150A；U＝650V，I＝5A，30A，80A，120A，150A；U＝750V，I＝5A，30A，80A，120A，150A。设置20组断口电压和分断电流等级时考虑输出接触器的额定电压电流和直流充电桩的实际运行情况。

作为一种可选的实施例，在第二测试条件下对上述输出接触器进行开断测试得到二元函数数学模型，包括：

步骤S302，在上述第二测试条件下对上述输出接触器进行开断测试，其中，单次的上述开断测试的时间固定，直至上述输出接触器丧失分断能力，则确定上述输出接触器到达电寿命终点，记录电压上升沿个数作为上述输出接触器的电寿命；

步骤S304，通过数学拟合工具拟合上述电寿命与上述断口电压及上述分断电流，得到上述二元函数数学模型。

可选的，开断测试的单次开断时间固定(控制周期固定)，例如固定为1s，开端周期内开断时刻为0.5s，直至输出接触器到达电寿命终点100000次，设计电压采集卡的采样频率为1kHz，记录电压波形上升沿个数作为输出接触器实际电寿命L。

通过将输出接触器在不同断口电压和分断电流等级下反复进行开断测试，直至输出接触器丧失分断能力，可认为到达电寿命终点，记录电压上升沿个数作为输出接触器的电寿命L；通过数学拟合工具得到输出接触器电寿命L(次数)与断口电压U和分断电流I的二元函数数学模型，根据上述触头单次侵蚀量，可以得到此断口电压和分断电流下单次损伤1/L(量纲为1/次)；通过数学拟合工具得到输出接触器电寿命L(次数)与断口电压U和分断电流I的二元函数数学模型，根据触头单次侵蚀量，可以得到此断口电压和分断电流下单次损伤1/L(量纲为1/次)。将得到的电寿命L与断口电压U和分断电流I数据通过数学方法进行拟合，又称曲线拟合，是一种把现有数据透过数学方法来代入一条数式的表示方式。将以上步骤中获得的若干离散的数据，根据这些数据，通过最小二乘法拟合，多项式拟合，或是自定义函数拟合的方法，在MATLAB上得到一个连续的函数或是曲面或者更加密集的离散方程，得到电寿命L与断口电压U和分断电流I的模型。

在上述可选的实施例中，通过记录输出接触器每次分断时的断口电压和分断电流，计算单次损伤，将单次损伤累加即可得到输出接触器寿命周期累积损伤，具体包括下列步骤：步骤31：记录输出接触器每次分断时的断口电压和分断电流，计算单次损伤；将不同断口电压和分断电流下的单次损伤累加即可得到累计损伤，累积损伤表征了接触器目前的健康状态，当累积损伤接近1时认为接触器临近失效。

实施例2

根据本发明实施例，还提供了一种用于实施上述直流接触器的累计损伤的计算方法的装置实施例，该直流接触器为直流充电桩的输出接触器，图3是根据本发明实施例的一种直流接触器的累计损伤的计算装置的结构示意图，如图3所示，上述直流接触器的累计损伤的计算装置，包括：第一测试单元300，第二测试单元302和计算单元304，其中：

第一测试单元300，用于在第一测试条件下对上述输出接触器进行开断测试，得到上述输出接触器的触头单次侵蚀量，其中，上述第一测试条件下的断口电压和分断电流额定，上述开断测试的终点为上述输出接触器的电寿命终点；第二测试单元302，用于在第二测试条件下对上述输出接触器进行开断测试得到二元函数数学模型，其中，上述第二测试条件下的断口电压和分断电流不同，上述二元函数数学模型用于反映上述输出接触器的电寿命与上述断口电压及上述分断电流之间的二元函数关系；计算单元304，用于采用上述二元函数数学模型根据上述输出接触器在每次开断测试时的上述断口电压、上述分断电流和所述触头单次侵蚀量，计算得到上述输出接触器的单次损伤，并将多个上述单次损伤累加计算得到上述输出接触器的累积损伤。

作为一种可选的实施例，上述第一测试单元，包括：第一测试子单元，用于在上述第一测试条件下对上述输出接触器进行多次上述开断测试，其中，上述开断测试用于采用精密天平测量上述输出接触器的触头质量，并以上述触头质量表征上述触头单次侵蚀量；记录单元，用于记录每N次的上述开断测试后的上述触头质量的变化量；确定单元，用于如果上述变化量符合正态分布且预定百分比的置信区间在置信平均值附近，则确定上述开断测试的直流电弧对上述输出接触器的触头单次侵蚀量为预定侵蚀量。

作为一种可选的实施例，上述第二测试单元，包括：第二测试子单元，用于在上述第二测试条件下对上述输出接触器进行开断测试，其中，单次的上述开断测试的时间固定，直至上述输出接触器丧失分断能力，则确定上述输出接触器到达电寿命终点，记录电压上升沿个数作为上述输出接触器的电寿命；拟合单元，用于通过数学拟合工具拟合上述电寿命与上述断口电压及上述分断电流，得到上述二元函数数学模型。

作为一种可选的实施例，上述装置还包括：设置单元，用于设置上述输出接触器的分断测试电路以及上述第二测试条件，其中，上述分断测试电路包括：任意一个或多个负载、控制单元、电压电流采集系统，上述第二测试条件包括：设置多组上述断口电压和上述分断电流。

需要说明的是，上述各个模块是可以通过软件或硬件来实现的，例如，对于后者，可以通过以下方式实现：上述各个模块可以位于同一处理器中；或者，上述各个模块以任意组合的方式位于不同的处理器中。

此处需要说明的是，上述第一测试单元300，第二测试单元302和计算单元304对应于实施例1中的步骤S102至步骤S106，上述模块与对应的步骤所实现的实例和应用场景相同，但不限于上述实施例1所公开的内容。需要说明的是，上述模块作为装置的一部分可以运行在计算机终端中。

需要说明的是，本实施例的可选或优选实施方式可以参见实施例1中的相关描述，此处不再赘述。

上述的直流接触器的累计损伤的计算装置还可以包括处理器和存储器，上述第一测试单元300，第二测试单元302和计算单元304等均作为程序单元存储在存储器中，由处理器执行存储在存储器中的上述程序单元来实现相应的功能。

处理器中包含内核，由内核去存储器中调取相应的程序单元，上述内核可以设置一个或以上。存储器可能包括计算机可读介质中的非永久性存储器，随机存取存储器(RAM)和/或非易失性内存等形式，如只读存储器(ROM)或闪存(flash RAM)，存储器包括至少一个存储芯片。

根据本申请实施例，还提供了一种计算机可读存储介质的实施例。可选地，在本实施例中，上述计算机可读存储介质包括存储的程序，其中，在上述程序运行时控制上述计算机可读存储介质所在设备执行上述任意一种直流接触器的累计损伤的计算方法。

可选地，在本实施例中，上述计算机可读存储介质可以位于计算机网络中计算机终端群中的任意一个计算机终端中，或者位于移动终端群中的任意一个移动终端中，上述计算机可读存储介质包括存储的程序。

可选地，在程序运行时控制计算机可读存储介质所在设备执行以下功能：在第一测试条件下对上述输出接触器进行开断测试，得到上述输出接触器的触头单次侵蚀量，其中，上述第一测试条件下的断口电压和分断电流额定，上述开断测试的终点为上述输出接触器的电寿命终点；在第二测试条件下对上述输出接触器进行开断测试得到二元函数数学模型，其中，上述第二测试条件下的断口电压和分断电流不同，上述二元函数数学模型用于反映上述输出接触器的电寿命与上述断口电压及上述分断电流之间的二元函数关系；采用上述二元函数数学模型根据上述输出接触器在每次开断测试时的上述断口电压、上述分断电流和所述触头单次侵蚀量，计算得到上述输出接触器的单次损伤，并将多个上述单次损伤累加计算得到上述输出接触器的累积损伤。

可选地，在程序运行时控制计算机可读存储介质所在设备执行以下功能：在上述第一测试条件下对上述输出接触器进行多次上述开断测试，其中，上述开断测试用于采用精密天平测量上述输出接触器的触头质量，并以上述触头质量表征上述触头单次侵蚀量；记录每N次的上述开断测试后的上述触头质量的变化量；如果上述变化量符合正态分布且预定百分比的置信区间在置信平均值附近，则确定上述开断测试的直流电弧对上述输出接触器的触头单次侵蚀量为预定侵蚀量。

可选地，在程序运行时控制计算机可读存储介质所在设备执行以下功能：在上述第二测试条件下对上述输出接触器进行开断测试，其中，单次的上述开断测试的时间固定，直至上述输出接触器丧失分断能力，则确定上述输出接触器到达电寿命终点，记录电压上升沿个数作为上述输出接触器的电寿命；通过数学拟合工具拟合上述电寿命与上述断口电压及上述分断电流，得到上述二元函数数学模型。

可选地，在程序运行时控制计算机可读存储介质所在设备执行以下功能：设置上述输出接触器的分断测试电路以及上述第二测试条件，其中，上述分断测试电路包括：任意一个或多个负载、控制单元、电压电流采集系统，上述第二测试条件包括：设置多组上述断口电压和上述分断电流。

根据本申请实施例，还提供了一种处理器的实施例。可选地，在本实施例中，上述处理器用于运行程序，其中，上述程序运行时执行上述任意一种直流接触器的累计损伤的计算方法。

根据本申请实施例，还提供了一种电子设备的实施例，包括存储器和处理器，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器被设置为运行所述计算机程序以执行上述任意一种的直流接触器的累计损伤的计算方法。

根据本申请实施例，还提供了一种计算机程序产品的实施例，当在数据处理设备上执行时，适于执行初始化有上述任意一种的直流接触器的累计损伤的计算方法步骤的程序。

上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。

在本发明的上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的技术内容，可通过其它的方式实现。其中，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如所述单元的划分，可以为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，单元或模块的间接耦合或通信连接，可以是电性或其它的形式。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。

所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取计算机可读存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个计算机可读存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可为个人计算机、服务器或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的计算机可读存储介质包括：U盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、移动硬盘、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (8)

1.一种直流接触器的累计损伤的计算方法，其特征在于，该直流接触器为直流充电桩的输出接触器，包括：

在第一测试条件下对所述输出接触器进行开断测试，得到所述输出接触器的触头单次侵蚀量，其中，所述第一测试条件下的断口电压和分断电流额定，所述开断测试的终点为所述输出接触器的电寿命终点；

在第二测试条件下对所述输出接触器进行开断测试得到二元函数数学模型，其中，所述第二测试条件下的断口电压和分断电流不同，所述二元函数数学模型用于反映所述输出接触器的电寿命与所述断口电压及所述分断电流之间的二元函数关系；

采用所述二元函数数学模型根据所述输出接触器在每次开断测试时的所述断口电压、所述分断电流和所述触头单次侵蚀量计算得到所述输出接触器的单次损伤，并将多个所述单次损伤累加计算得到所述输出接触器的累积损伤；

其中，在第一测试条件下对所述输出接触器进行开断测试，得到所述输出接触器的触头单次侵蚀量，包括：在所述第一测试条件下对所述输出接触器进行多次所述开断测试，其中，所述开断测试用于采用精密天平测量所述输出接触器的触头质量，并以所述触头质量表征所述触头单次侵蚀量；记录每N次的所述开断测试后的所述触头质量的变化量；如果所述变化量符合正态分布且预定百分比的置信区间在置信平均值附近，则确定所述开断测试的直流电弧对所述输出接触器的触头单次侵蚀量为预定侵蚀量。

2.根据权利要求1所述的计算方法，其特征在于，在第二测试条件下对所述输出接触器进行开断测试得到二元函数数学模型，包括：

在所述第二测试条件下对所述输出接触器进行开断测试，其中，单次的所述开断测试的时间固定，直至所述输出接触器丧失分断能力，则确定所述输出接触器到达电寿命终点，记录电压上升沿个数作为所述输出接触器的电寿命；

通过数学拟合工具拟合所述电寿命与所述断口电压及所述分断电流，得到所述二元函数数学模型。

3.根据权利要求1所述的计算方法，其特征在于，在所述第二测试条件下对所述输出接触器进行开断测试之前，所述方法还包括：

设置所述输出接触器的分断测试电路以及所述第二测试条件，其中，所述分断测试电路包括：任意一个或多个负载、控制单元、电压电流采集系统，所述第二测试条件包括：设置多组所述断口电压和所述分断电流。

4.一种直流接触器的累计损伤的计算装置，其特征在于，该直流接触器为直流充电桩的输出接触器，包括：

第一测试单元，用于在第一测试条件下对所述输出接触器进行开断测试，得到所述输出接触器的触头单次侵蚀量，其中，所述第一测试条件下的断口电压和分断电流额定，所述开断测试的终点为所述输出接触器的电寿命终点；

第二测试单元，用于在第二测试条件下对所述输出接触器进行开断测试得到二元函数数学模型，其中，所述第二测试条件下的断口电压和分断电流不同，所述二元函数数学模型用于反映所述输出接触器的电寿命与所述断口电压及所述分断电流之间的二元函数关系；

计算单元，用于采用所述二元函数数学模型根据所述输出接触器在每次开断测试时的所述断口电压、所述分断电流和所述触头单次侵蚀量，计算得到所述输出接触器的单次损伤，并将多个所述单次损伤累加计算得到所述输出接触器的累积损伤；

其中，所述第一测试单元，包括：第一测试子单元，用于在所述第一测试条件下对所述输出接触器进行多次所述开断测试，其中，所述开断测试用于采用精密天平测量所述输出接触器的触头质量，并以所述触头质量表征所述触头单次侵蚀量；记录单元，用于记录每N次的所述开断测试后的所述触头质量的变化量；确定单元，用于如果所述变化量符合正态分布且预定百分比的置信区间在置信平均值附近，则确定所述开断测试的直流电弧对所述输出接触器的触头单次侵蚀量为预定侵蚀量。

5.根据权利要求4所述的计算装置，其特征在于，所述第二测试单元，包括：

第二测试子单元，用于在所述第二测试条件下对所述输出接触器进行开断测试，其中，单次的所述开断测试的时间固定，直至所述输出接触器丧失分断能力，则确定所述输出接触器到达电寿命终点，记录电压上升沿个数作为所述输出接触器的电寿命；

拟合单元，用于通过数学拟合工具拟合所述电寿命与所述断口电压及所述分断电流，得到所述二元函数数学模型。

6.根据权利要求4所述的计算装置，其特征在于，所述装置还包括：

设置单元，用于设置所述输出接触器的分断测试电路以及所述第二测试条件，其中，所述分断测试电路包括：任意一个或多个负载、控制单元、电压电流采集系统，所述第二测试条件包括：设置多组所述断口电压和所述分断电流。

7.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有多条指令，所述指令适于由处理器加载并执行权利要求1至3中任意一项所述的直流接触器的累计损伤的计算方法。

8.一种电子设备，包括存储器和处理器，其特征在于，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器被设置为运行所述计算机程序以执行权利要求1至3中任意一项所述的直流接触器的累计损伤的计算方法。