CN103278127A - 计算待测元件的轮廓数据的方法 - Google Patents

Abstract

一种计算待测元件的轮廓数据的方法，通过一测量装置对一待测元件的实体进行测量与计算。本发明的方法包括：测量装置取得待测元件上的一第一元件与一第二元件的质心；规划一条质心线，其中质心线通过二质心；规划一条垂直于质心线，并且通过第一元件的质心的第一基准线；规划一条垂直于质心线，并且通过第二元件的质心的第二基准线；规划至少一条垂直线，其中垂直线是垂直于基准线，并且与第一元件的轮廓周缘产生至少二交点；经计算得出所述至少二交点的坐标位置；以及记录所述至少二交点的坐标位置。本发明可以通过测量装置测量交点的坐标位置，与计算交点之间的长度，得出待测元件的轮廓数据，藉此利于组装。

Description

计算待测元件的轮廓数据的方法

技术领域

本发明有关于一种待测元件的计算方法，并且更有关于一种用来计算待测元件的实体的轮廓数据的方法。

背景技术

一般来说，生产线上的组装人员是依照既定的程序，将一个产品所需的多个待组装元件进行组装，藉以组合成一个完整的产品，例如一个产品可能由待组装元件A、B、C等三个元件来组成。而上述的每一个待组装元件通常是经由机器来大量制造，例如由机器A来大量制造相同的元件A、由机器B来大量制造相同的元件B、由机器C来大量制造相同的元件C。因此在组装时，组装人员只需要在仓储的多个相同的待组装元件中，随意选取一个来进行组装即可。

然而，于大量生产上述的待组装元件时，可能会因为使用了不同批的材料、机器本身所产生的误差、或是由不同的操作人员来控制生产线、甚至是仓储环境的温度不同等因素，使得同一条产线或同一台机器所产出的同一个待组装元件(例如元件A)，其在轮廓上可能会产生些许的误差。如此一来，使用不同的待组装元件来进行组装(例如元件A-1、元件A-2等)，将可能使得产品具有不同的组装问题(例如二待组装元件之间的间隙过大，或者组装表面不平整等)，导致产品的组装品质下降。

发明内容

本发明的主要目的，在于提供一种计算待测元件的轮廓数据的方法，可以通过测量装置对待测元件的实体进行测量与计算，以得出待测元件的轮廓数据并加以储存，藉此利于待测元件与其他元件的组装。

为了达到上述目的，本发明提供一种计算待测元件的轮廓数据的方法，通过一测量装置所运算，该待测元件由一第一元件及一第二元件所组成，该方法包括：

a)该测量装置分别测量取得该第一元件的质心以及该第二元件的质心；

b)该测量装置规划一质心线，其连接该第一元件的质心与该第二元件的质心；

c)该测量装置规划一第一基准线，其中该第一基准线垂直于该质心线，并且该第一基准线通过该第一元件的质心；

d)该测量装置规划至少一垂直线，其中该垂直线垂直于该第一基准线，并且该垂直线不与垂直于该第一基准线的任何一条线相重叠，其中该垂直线与该第一元件的轮廓周缘产生至少二交点，该测量装置经计算得出该至少二交点的坐标数据；

e)记录该至少二交点的坐标数据；及

f)该测量装置依据所记录的所有点位的坐标数据，定义该待测元件的轮廓。

如上所述，其中该第一元件与该第二元件凸出于该待测元件的表面，为该待测元件上的两个分开的凸出物，该第一元件及该第二元件的底部相连，并且具有固定的相对位置。

如上所述，其中该测量装置具有一影像撷取单元及一微处理单元，并且该步骤a更包括下列步骤：

a1)通过该影像撷取单元分别为该第一元件与该第二元件的实体撷取对应的元件影像；及

a2)通过该微处理单元对该二元件影像进行计算，藉以由该二元件影像中找出该第一元件的该质心以及该第二元件的该质心。

如上所述，其中该影像撷取单元为一电荷耦合元件，该微处理单元通过Labview软件对该二元件影像进行演算法的计算。

如上所述，其中该步骤b中，该质心线与该第一元件的轮廓周缘相交至少一交点，并且该质心线与该第二元件的轮廓周缘相交至少二交点，该测量装置经计算得出该至少三交点的坐标数据，并且同时记录该三交点的坐标数据。

如上所述，其中该步骤c中，该第一基准线与该第一元件的轮廓左侧产生一左交点，并且该第一基准线与该第一元件的轮廓右侧产生一右交点，该测量装置经计算得出该左交点及该右交点的坐标数据，并且该测量装置同时记录该左交点及该右交点的坐标数据。

如上所述，其中该步骤c之后包括下列步骤：

c1)该测量装置寻找该第一元件的轮廓右侧的一缺陷弧线的中点；

c2)将该第一基准线进行向上平移，令该第一基准线通过该缺陷弧线的中点，并保持与该质心线垂直；

c3)该平移后的第一基准线与该第一元件的轮廓左侧产生一左交点，并且与该第一元件的轮廓右侧产生一右交点，该测量装置经计算得出该左交点及该右交点的坐标数据，并且该测量装置同时记录该左交点及该右交点的坐标数据，其中该右交点为该缺陷弧线的中点。

如上所述，其中该步骤d更包括下列步骤：

d1)计算该第一元件的质心与该左交点之间的一第一中心点；

d2)规划一第一垂直线，其中该第一垂直线垂直于该第一基准线并且通过该第一中心点，并且该第一垂直线与该第一元件的轮廓周缘相交至少二交点；

d3)计算该第一元件的质心与该右交点之间的一第二中心点；及

d4)规划一第二垂直线，其中该第二垂直线垂直于该第一基准线并且通过该第二中心点，并且该第二垂直线与该第一元件的轮廓周缘相交至少二交点。

如上所述，其中该步骤f之前更包括下列步骤：

g)该测量装置规划一第二基准线，其中该第二基准线垂直于该质心线，并且该第二基准线通过该第二元件的质心；

h)计算得出该第二基准线与该第二元件的轮廓左侧相交的一左交点，以及与该第二元件的轮廓右侧相交的一右交点；及

i)该测量装置记录该左交点及该右交点的坐标数据。

如上所述，其中该步骤f之前更包括下列步骤：

j)计算该第一元件的该质心至该第一元件的轮廓周缘上的所有点位的长度；

k)计算该第二元件的该质心至该第二元件的轮廓周缘上的所有点位的长度；

l)计算该第一元件的该质心至该第二元件的轮廓周缘上的该左交点和该右交点的长度；及

m)该测量装置记录这些长度；

其中，该步骤f中，该测量装置是依据所记录的所有点位的坐标数据，以及所记录的所有长度，定义该待测元件的轮廓。

本发明对照现有技术所能达到的技术功效为：事先对该待测元件的实体进行测量与计算，以得出待测元件周缘上的多个点位的坐标位置，以及点位之间的长度，并且通过这些坐标位置及长度来定义出该待测元件的实体的轮廓。当该待测元件要与其他元件进行组装时，可以通过与该待测元件的轮廓的比对，选择一个最佳的组装件来组装。如此一来，可以让组装生产线产出组装品质最好之组装物(例如组装件之间的公差最小、接合处最为紧密等)。

附图说明

图1为本发明的第一具体实施例的测量系统示意图；

图2为本发明的第一具体实施例的测量系统方块图；

图3为本发明的第一具体实施例的第一测量流程图；

图4为本发明的第一具体实施例的第二测量流程图；

图5为本发明的第一具体实施例的第三测量流程图；

图6为本发明的第一具体实施例的第一轮廓示意图；

图7为本发明的第一具体实施例的第二轮廓示意图；

图8为本发明的第一具体实施例的第三轮廓示意图；

图9为本发明的第一具体实施例的第四轮廓示意图；

图10为本发明的第一具体实施例的第四测量流程图；

图11为本发明的第一具体实施例的第五轮廓示意图；

图12为本发明的第二具体实施例的轮廓示意图；

图13为本发明的第三具体实施例的轮廓示意图。

其中，附图标记：

1、8、9…待测元件；           11、81、91…第一元件；

110…缺陷弧度

111、811、911…质心；         12、82、92…第二元件；

121、821、921…质心；         2…质心线；

21、22、23…交点；            3…第一基准线；

301…第一中心点；             302…第二中心点；

31…左交点；                  32…右交点；

4…垂直线；                   41…第一垂直线；

42…第二垂直线；

401、4011、4012、402、4021、4022…交点；

5…第二线；                   51…左交点；

52…右交点；                  6…测量装置；

61…影像撷取单元；            62…微处理单元；

7…数据库；                   71…元件影像；

72…坐标数据；                S10～S36…步骤；

S38～S42…步骤；              S50～S54…步骤；

S60～S66…步骤                L1～L13…长度

具体实施方式

首请参阅图1及图2，分别为本发明的第一具体实施例的测量系统示意图及方块图。本案所揭露的计算待测元件的轮廓数据的方法，主要是运行在一个测量装置6之中，如图所示，该测量装置6可设置在一生产线上，用以对一待测元件1的实体进行测量与计算，藉此，定义出该待测元件1的实体的轮廓，并且储存在与该测量装置6连接的一数据库7中。

如图1所示，生产线上可持续提供多个相同外观，但大小、尺寸可能有些许误差的该待测元件1的实体，并且交由该测量装置6来进行测量与计算，再由该数据库7来储存测量与计算所得的轮廓相关数据。当组装生产线要将该待测元件1的实体与其他元件(例如一待组装物)进行组装时，可以由该数据库7中读取所有已生产并测量完成的该待测元件1的轮廓数据，并与该待组装物的轮廓进行比对，进而在多个该待测元件1中取出最适合与该待组装物组装的一个该待测元件1，并与该待组装物进行组装。通过此技术手段，可以确保让组装生产线产出组装品质最好的组装物(例如该待测元件1与该待组装物之间的接合处最为平整而没有断差)。

如图2所示，该测量装置6中主要具有一影像撷取单元61及一微处理单元62。该测量装置6主要是通过该影像撷取单元61来撷取该待测元件1的元件影像71，并储存至该数据库7中。并且，该测量装置6通过该微处理单元62对该元件影像71进行演算法的运算，藉以通过运算来定义出该待测元件1的实体的轮廓，并且加以储存到该数据库7中(容下详述)。

请参阅图3、图4及图5，图3为本发明的第一具体实施例的第一测量流程图，图4为本发明的第一具体实施例的第二测量流程图，图5为本发明的第一具体实施例的第三测量流程图。并且请同时参阅图6、图7、图8及图9，图6为本发明的第一具体实施例的第一轮廓示意图，图7为本发明的第一具体实施例的第二轮廓示意图，图8为本发明的第一具体实施例的第三轮廓示意图，图9为本发明的第一具体实施例的第四轮廓示意图。如图6所示，本实施例中，该待测元件1主要是以苹果公司(Apple Inc.)的苹果Logo来举例，以利说明，但并不加以限定。其中，本实施例所提及的该待测元件1的实体，即例如为该苹果Logo的标签或贴纸等物，而上述的待组装物则可例如为要安装在该苹果Logo外的外壳(例如电脑的机壳)。然而，以上所述仅为本发明的较佳具体实例，不应以此为限。

如图6中所示，该待测元件1主要可由一第一元件11及一第二元件12所组成。本实施例中，该待测元件1为以上述该苹果Logo为例，该第一元件11即可例如为该苹果Logo上的果肉部分，而该第二元件12即可例如为该苹果Logo上的叶子部分，并且该第一元件11及该第二元件12可为实体分开的二元件。更具体而言，如图中所示，该第一元件11及该第二元件12凸出于该待测元件1的表面，并且该第一元件11及该第二元件12的底部为相连。换句话说，该第一元件11及该第二元件12因为底部相连而具有固定的相对位置，故该微处理单元62可以通过固定的演算法来对多个不同的该待测元件1的实体进行运算。然而，上述仅为本发明的其中之一具体实施例，并不以此为限。

参阅图3，并请同时配合图6及图7来审阅。当要进行测量时，首先需由该测量装置6来分别撷取该第一元件11与该第二元件12的该元件影像71(步骤S10)，更具体而言，该测量装置6是通过该影像撷取单元61来撷取该第一元件11与该第二元件12的该元件影像71。接着，由该微处理单元62通过安装的软件来对该二元件影像71进行演算法的运算，以分别计算取得该第一元件11上的一质量中心(center of mass，以下简称为质心)111，以及该第二元件12上的一质心121(步骤S12)。值得一提的是，本实施例中，该影像撷取单元61主要可以用一电荷耦合元件(Charge-Coupled Device,CCD)来实现，而该微处理单元62则可安装一Labview软件，并通过该Labview软件对该二元件影像71进行运算。然而，以上所述皆仅为本发明的较佳具体实例，不应以此为限。

当该微处理单元62取出该二质心111、121后，即规划一条通过该二质心111、121的质心线2。更具体而言，该微处理单元62是连接该二质心111、121，以形成该质心线2(步骤S14)。接着如图6中所示，该测量装置6(通过内部的该微处理单元62)经由计算得出该质心线2与该第一元件11的轮廓周缘相交的至少一交点23(步骤S16)，并且该测量装置6将该质心线2与该第一元件11的轮廓周缘相交的该至少一交点23的坐标数据72记录于该数据库7中(步骤S18)。

同时，该测量装置6还通过计算得出该质心线2与该第二元件12的轮廓周缘相交的至少二交点21、22(步骤S20)，并且该测量装置6将该质心线2与该第二元件12的轮廓周缘相交的该至少二交点21、22的坐标数据72记录于该数据库7中(步骤S22)。

值得一提的是，前文中提及的该数据库7中所储存的该待测元件1的轮廓数据，即指该第一元件11与该第二元件12的轮廓周缘上的点位的坐标数据72。当该测量装置6测量并计算取得预设数量的点位的坐标数据72后，该测量装置6就可以通过这些坐标数据72来定义出该待测元件1的轮廓，并且将该待测元件1的轮廓与要进行组装的待组装物(图未标示)进行比对。更具体而言，当该测量装置6测量并计算取得预设数量的点位的坐标数据72后，还可以计算这些点位到一特定的定位点之间的长度，并且，通过这些坐标数据72以及长度，共同定义出该待测元件1的轮廓(容后详述)。

只要经过产线人员的测试，就可以统计出至少要取得多少个点位的坐标数据72后，才足够让该测量装置6定义出该待测元件1的轮廓。本实施例中系预设取得11个点位，并且通过该11个点位来定义出该待测元件1的轮廓，但是不加以限定。

回到图3，该步骤S22后，该测量装置6进一步规划一条第一基准线3，更具体而言，该测量装置6是规划一条垂直于该质心线2，并且通过该第一元件11的该质心111的第一基准线3(步骤S24)。接着，该测量装置6计算得出该第一基准线3与该第一元件11的轮廓周缘相交的至少二交点(步骤S26)，其中该至少二交点包括一左交点和一右交点，并且该测量装置6可将该至少二交点的坐标数据72记录于该数据库7中。接着，该测量装置6计算得出该左交点和该第一元件11的该质心111之间的一第一中心点301，以及该右交点和该第一元件11的该质心111之间的一第二中心点302(步骤S28)。该第一中心点301和该第二中心点302可以该让测量装置6较佳的定义出该待测元件1的轮廓(容后详述)。

本实施例中，该待测元件1是以苹果公司的苹果Logo为例，所以如图7中所示，该第一元件11的右侧具有一缺陷弧线110，该缺陷弧线110令该待测元件1的右侧形成一缺口。为了较佳的定义该待测元件1的轮廓，该测量装置6在上述步骤S28后，先接着寻找该缺陷弧线110的中点(步骤S30)，并且，将该第一基准线3向上平移，使该第一基准线3通过该缺陷弧线110的中点(步骤S32)，并且和该质心线2保持垂直。

接着，该测量装置6计算得出平移后的该第一基准线3与该第一元件11的轮廓左侧相交的一左交点31，以及该第一基准线3与该第一元件11的轮廓右侧相交的一右交点32(步骤S34)。并且，该测量装置6将该左交点31及该右交点32的坐标数据72记录于该数据库7中(步骤S36)。值得一提的是，本实施例中的该右交点32，即为该缺陷弧线110的中点。

接着，该测量装置6进一步规划至少一条与该第一基准线3垂直的垂直线4(步骤S38)，其中，该垂直线4主要是垂直于该第一基准线3，但是不与垂直该第一基准线3的任何一条线(例如该质心线2，或是其他的基准线)相重叠。接着，该测量装置6计算得出该垂直线4与该第一元件11的轮廓周缘相交的至少二交点401、402(步骤S40)，并且该测量装置6将该垂直线4与该第一元件11的轮廓周缘相交的该至少二交点401、402的坐标数据72记录于该数据库7中(步骤S42)。

值得一提的是，为了取得较佳点位的坐标数据72，该垂直线4主要可以该第一基准线3上的“中心线”来实现。举例来说，该测量装置6可以规划一条该垂直线4(如图8中的第一垂直线41)，并且令该第一垂直线41垂直于该第一基准线3，并同时通过上述的该第一中心点301。接着，该测量装置6就可以取得该第一垂直线41与该第一元件11的轮廓周缘相交的至少二交点4011、4021的坐标位置。

同时，该测量装置6还可以规划另一条该垂直线4(如图8中的第二垂直线42)，令该第二垂直线42垂直于该第一基准线3，并同时通过上述的该第二中心点302。藉此，该测量装置6就可以同时取得该第二垂直线42与该第一元件11的轮廓周缘相交的另外二交点4012、4022的坐标位置。最后，该测量装置6再将这些点位4011、4021、4012、4022的坐标数据72记录于该数据库7中。

参阅图5，并请同时配合图9来审阅。为了取得预设数量的点位，该测量装置6进一步规划一条第二基准线5，更具体而言，该测量装置6是规划一条垂直于该质心线2，并且通过该第二元件12的该质心121的第二基准线5(步骤S50)。接着，该测量装置6计算得出该第二基准线5与该第二元件12的轮廓周缘相交的至少二交点。本实施例中，该测量装置6是经过计算，取得该第二基准线5和该第二元件12的轮廓左侧相交的一左交点51，并且取得该第二基准线5和该第二元件12的轮廓右侧相交的一右交点52(步骤S52)。并且，再记录该左交点51和该右交点52的坐标数据72于该数据库7中(步骤S54)。

值得一提的是，只要取得了预设数量的点位(本实施例中为11个点位)，就足以定义出该待测元件1的轮廓，但是这些点位的取得顺序，并没有一定的限制。换言之，该测量装置6可以先执行图3中的步骤S24至图4中的步骤S42，以先取得交点31、32、401、402，也可以先执行图5中的步骤S50至步骤S54，以先取得交点51、52，并不以上述的说明顺序为限。

如图6-图9所示，该测量装置6主要经过计算，取出该质心线2和该待测元件1的轮廓相交的交点21、22、23；取出该第一基准线3和该待测元件1的轮廓相交的交点31、32；取出该第一垂直线41和该待测元件1的轮廓相交的交点4011、4021；取出该第二垂直线42和该待测元件1的轮廓相交的交点4012、4022；取出该第二基准线5和该待测元件1的轮廓相交的交点51、52。该测量装置6主要可以通过上述11个点位，定义该待测元件1的轮廓。

请同时参阅图10和图11，图10为本发明的第一具体实施例的第四测量流程图，图11为本发明的第一具体实施例的第五轮廓示意图。为了可以准确地计算出该待测元件1的轮廓，因此除了上述11个点位之外，本实施例中该测量装置6还进一步测量这些点位到一特定的定位点之间的长度。如图11中所示，首先，该测量装置6计算该第一元件11的该质心111至该第一元件11的轮廓周缘上的所有点位23、31、32、4011、4012、4021、4022的长度(步骤S60)。其中，包括计算取得该质心111到点位23的长度L1；该质心111到点位31的长度L2；该质心111到点位32的长度L3；该质心111到点位4011的长度L4；该质心111到点位4012的长度L5；该质心111到点位4021的长度L6；该质心111到点位4022的长度L7。

接着，该测量装置6计算该第二元件12的该质心121至该第二元件12的轮廓周缘上的所有点位21、22、51、52的长度(步骤S62)。其中，包括计算取得该质心121到点位21的长度L8；该质心121到点位22的长度L9；该质心121到点位51的长度L10；该质心121到点位52的长度L11。最后，该测量装置6还计算该第一元件11的该质心111至该第二元件12的轮廓左右两侧的交点51、52的长度(步骤S64)。其中，包括计算该质心111至该第二元件12的轮廓左侧的该左交点51的长度L12；及该质心111至该第二元件12的轮廓右侧的该右交点52的长度L13。

值得一提的是，上述这些长度L1至L13，并不具有计算上的顺序关系，该测量装置6实可依据设定，以特定的顺序来计算并取得这些长度L1-L13，并不以上述的说明顺序为限。当这些长度L1-L13计算并取得完成这，该测量装置6将这些长度L1-L13储存至该数据库7中(步骤S66)。藉此，该测量装置6可以依据该11个点位及该13个长度，定义出该待测元件1的轮廓，以利于组装。

参阅图12，为本发明的第二具体实施例的轮廓示意图，本实施例中揭露了另一个待测元件8，该待测元件8和上述的该待测元件1不同，不是苹果公司的Logo。该待测元件8具有一第一元件81和一第二元件82，该第一元件81和该第二元件82分别具有质心811、821。为了要取得轮廓周缘上的点位，该测量装置6同样于该待测元件8上规划通过两个质心811、821的质心线2、垂直该质心线2并且通过该质心811的第一基准线3、垂直该质心线2并且通过该质心821的第二基准线5、及垂直第一基准线3并且和该第一元件81产生至少二交点的至少一垂直线4。

然而，由于图12实施例中的该待测元件8不是苹果公司的Logo，故如图12所示，该第一元件81的右侧可以不具有缺口。所以，于本实施例中，该测量装置6不需要寻找缺陷弧度的中点，也不需要对该第一基准线3进行向上平移的动作，而是在规划出该第一基准线3后，直接计算得出该第一基准线3和该第一元件81的轮廓周缘相交的左交点31和右交点32。

参阅图13，为本发明的本发明的第三具体实施例的轮廓示意图。本实施例揭露了又一待测元件9，该待测元件9与前述实施例中的该待测元件1、8的差异在于，该待测元件9由连接在一起的一第一元件91及一第二元件92所构成。

于一实施例中，该测量装置6可先撷取对该待测元件9的该元件影像71，并且再通过对该元件影像71的运算，自行将该待测元件9定义成该第一元件91与该第二元件92。值得一提的是，如前文中所述，该第一元件91与该第二元件92是凸出于该待测元件9的表面，并且底部相连，因此具有固定的相对位置。

接着，该测量装置6同样经过计算，以分别取得该第一元件91上的一质心911，以及该第二元件922上的一质心921。最后，该测量装置6再依照上述流程，于该第一元件91与该第二元件92上规划该质心线2、该基准线3、以及至少一条的该垂直线4。

换句话说，通过本发明的方法，该待测元件1、、8、9可以是实体分开的两个元件，也可以是单一个元件，并由该测量装置6经计算后自动切割成两个元件，藉以套用本发明的计算方法。由此可看出，任何具有测量及组装需求的元件，皆可运用本发明的计算方法，而达到精确组装的目的。

例如，当上述的待组装物(如该苹果Logo的外壳)要与一个该待测元件1、8、9组装前，主要是在产线中，先通过上述本发明的计算方法来测量并定义出该待组装物的轮廓。接着，依据该待组装物的轮廓上的多个点位，计算出该待组装物在各个点位上的厚度，以及特定两个点位之间的长度等数据，并与该数据库7储存的多个该待测元件1、8、9的数据进行比对，并且使用与该待组装物的厚度、长度最为匹配的一个该待测元件1、8、9，与该待组装物进行组装。如此一来，便可达到让产品精密组合之目的。

以上所述仅为本发明之较佳具体实例，并非用以局限本发明的专利范围，因此本发明所要求保护的范围以权利要求书为准。

Claims (11)

1.一种计算待测元件的轮廓数据的方法，通过一测量装置所运算，其特征在于，该待测元件由一第一元件及一第二元件所组成，该方法包括：

a)该测量装置分别测量取得该第一元件的质心以及该第二元件的质心；

b)该测量装置规划一质心线，其连接该第一元件的质心与该第二元件的质心；

c)该测量装置规划一第一基准线，其中该第一基准线垂直于该质心线，并且该第一基准线通过该第一元件的质心；

d)该测量装置规划至少一垂直线，其中该垂直线垂直于该第一基准线，并且该垂直线不与垂直于该第一基准线的任何一条线相重叠，其中该垂直线与该第一元件的轮廓周缘产生至少二交点，该测量装置经计算得出该至少二交点的坐标数据；

e)记录该至少二交点的坐标数据；及

f)该测量装置依据所记录的所有点位的坐标数据，定义该待测元件的轮廓。

2.根据权利要求1所述的计算待测元件的轮廓数据的方法，其特征在于，该第一元件与该第二元件凸出于该待测元件的表面，为该待测元件上的两个分开的凸出物，该第一元件及该第二元件的底部相连，并且具有固定的相对位置。

3.根据权利要求1所述的计算待测元件的轮廓数据的方法，其特征在于，该测量装置具有一影像撷取单元及一微处理单元，并且该步骤a更包括下列步骤：

a1)通过该影像撷取单元分别为该第一元件与该第二元件的实体撷取对应的元件影像；及

a2)通过该微处理单元对该二元件影像进行计算，藉以由该二元件影像中找出该第一元件的该质心以及该第二元件的该质心。

4.如权利要求3所述的计算待测元件的轮廓数据的方法，其特征在于，该影像撷取单元为一电荷耦合元件，该微处理单元通过Labview软件对该二元件影像进行演算法的计算。

5.根据权利要求3所述的计算待测元件的轮廓数据的方法，其特征在于，该步骤b中，该质心线与该第一元件的轮廓周缘相交至少一交点，并且该质心线与该第二元件的轮廓周缘相交至少二交点，该测量装置经计算得出该至少三交点的坐标数据，并且同时记录该三交点的坐标数据。

6.根据权利要求5所述的计算待测元件的轮廓数据的方法，其特征在于，该步骤c中，该第一基准线与该第一元件的轮廓左侧产生一左交点，并且该第一基准线与该第一元件的轮廓右侧产生一右交点，该测量装置经计算得出该左交点及该右交点的坐标数据，并且该测量装置同时记录该左交点及该右交点的坐标数据。

7.根据权利要求6所述的计算待测元件的轮廓数据的方法，其特征在于，该步骤c之后更包括下列步骤：

c1)计算该第一元件的质心与该左交点之间的一第一中心点；及

c2)计算该第一元件的质心与该右交点之间的一第二中心点。

8.根据权利要求7所述的计算待测元件的轮廓数据的方法，其特征在于，该步骤c之后包括下列步骤：

c3)该测量装置寻找该第一元件的轮廓右侧的一缺陷弧线的中点；

c4)将该第一基准线进行向上平移，令该第一基准线通过该缺陷弧线的中点，并保持与该质心线垂直；

c5)该平移后的第一基准线与该第一元件的轮廓左侧产生一左交点，并且与该第一元件的轮廓右侧产生一右交点，该测量装置经计算得出该左交点及该右交点的坐标数据，并且该测量装置同时记录该左交点及该右交点的坐标数据，其中该右交点为该缺陷弧线的中点。

9.根据权利要求7所述的计算待测元件的轮廓数据的方法，其特征在于，该步骤d更包括下列步骤：

d1)规划一第一垂直线，其中该第一垂直线垂直于该第一基准线并且通过该第一中心点，该第一垂直线与该第一元件的轮廓周缘相交至少二交点,该测量装置经计算得出该二交点的坐标数据，并且该测量装置记录该二交点的坐标数据；及

d2)规划一第二垂直线，其中该第二垂直线垂直于该第一基准线并且通过该第二中心点，该第二垂直线与该第一元件的轮廓周缘相交至少二交点,该测量装置经计算得出该二交点的坐标数据，并且该测量装置记录该二交点的坐标数据。

10.根据权利要求6所述的计算待测元件的轮廓数据的方法，其特征在于，该步骤f之前更包括下列步骤：

g)该测量装置规划一第二基准线，其中该第二基准线垂直于该质心线，并且该第二基准线通过该第二元件的质心；

h)计算得出该第二基准线与该第二元件的轮廓左侧相交的一左交点，以及与该第二元件的轮廓右侧相交的一右交点；及

i)该测量装置记录该左交点及该右交点的坐标数据。

11.根据权利要求10所述的计算待测元件的轮廓数据的方法，其特征在于，该步骤f之前更包括下列步骤：

j)计算该第一元件的该质心至该第一元件的轮廓周缘上的所有点位的长度；

k)计算该第二元件的该质心至该第二元件的轮廓周缘上的所有点位的长度；

l)计算该第一元件的该质心至该第二元件的轮廓周缘上的该左交点和该右交点的长度；及

m)该测量装置记录这些长度；

其中，该步骤f中，该测量装置是依据所记录的所有点位的坐标数据，以及所记录的所有长度，定义该待测元件的轮廓。

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