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CN102819126B - 测试装置及测试方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种测试装置及测试方法。测试方法包括：提供一测试装置；接合测试装置的连接端子于显示面板的信号线上；以及由测试装置的测试点来输入测试信号至显示面板的信号线。本发明可不需设置测试线于显示面板上。

Description

测试装置及测试方法
【技术领域】
本发明涉及一种显示面板的检测领域，特别是涉及一种用于显示面板的测试装置及测试方法。
【背景技术】
液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)已被广泛应用于各种电子产品中，液晶显示面板是液晶显示器的重要组成组件。
液晶显示面板制造商在液晶显示面板制成后，一般都要对液晶显示面板进行测试以尽早发现问题产品以减少后续制程的浪费。目前，在液晶显示面板的检测中，通常在液晶显示面板的阵列基板上设置测试线(Shorting Bar)来连接液晶显示面板的信号线。由测试线输入测试信号至信号线，以检测信号线是有断路或缺陷，在完成测试后，利用激光将切断所述测试线与信号线的连接。
由于通过上述液晶显示面板的测试线路在检测液晶显示面板之后，需利用激光来切断测试线，因而增加一道激光切割的制程，而不利于液晶显示面板的产能和良率。再者，测试线的设置会占用面板的设置空间。此外，在切断测试线之后，则无法再对显示面板进行测试。
故，有必要提供一种显示面板的测试装置及测试方法，以解决现有技术所存在的问题。
【发明内容】
本发明提供一种显示面板的测试装置及测试方法，以解决现有显示面板的检测问题。
本发明的主要目的在于提供一种测试装置，用于测试显示面板，所述测试装置包括：
测试基板；
至少一连接端子，设置于所述测试基板的一侧，用于连接于所述显示面板的信号线；
测试点，设置于所述测试基板上；以及
连接线，连接于所述连接端子及所述测试点之间。
在本发明的一实施例中，所述测试基板为印刷电路板或软性印刷电路板。
在本发明的一实施例中，所述至少一连接端子为多个连接端子，所述连接端子之间的间距相同于所述信号线之间的间距。
在本发明的一实施例中，每一所述连接端子的宽度大于每一所述信号线的输入端子的宽度。
在本发明的一实施例中，每一所述连接端子的宽度小于300微米。
在本发明的一实施例中，所述测试点包括第一测试点、第二测试点及第三测试点，所述第一测试点是用于测试所述显示面板的红色子像素，所述第二测试点是用于测试所述显示面板的绿色子像素，所述第三测试点是用于测试所述显示面板的蓝色子像素。
在本发明的一实施例中，所述至少一连接端子为一个长条形连接端子，所述连接端子的长度大于所述信号线的排列长度。
在本发明的一实施例中，所述测试基板是用于测试所述显示面板的数据线，所述测试装置还包括另一测试基板，用于测试所述显示面板的栅极线。
本发明的另一目的在于提供一种测试方法，用于测试显示面板，所述测试方法包括：
提供一测试装置，其中所述测试装置包括测试基板、至少一连接端子、测试点及连接线，所述连接端子是设置于所述测试基板的一侧，所述测试点设置于所述测试基板上，所述连接线连接于所述连接端子及所述测试点之间；
接合所述测试装置的所述连接端子于所述显示面板的信号线上；以及
由所述测试装置的所述测试点来输入测试信号至所述显示面板的所述信号线。
在本发明的一实施例中，所述测试装置的所述连接端子是通过异方性导电膜来接合于所述显示面板的信号线。
本发明的测试装置及测试方法可用于测试显示面板的信号线或像素是否正常。通过本发明的测试装置，可不需设置测试线于显示面板的基板上，因而提升基板的利用率。且不需通过激光来切断基板上的测试线，以避免额外的激光切断步骤，而可避免激光切断步骤对液晶显示面板的影响，以确保液晶显示面板的产品良率。再者，通过本发明的测试装置，可对个别的显示面板进行抽样测试或多次测试，以符合显示面板的检测需求或改善显示面板的检测质量。
为让本发明的上述内容能更明显易懂，下文特举优选实施例，并配合所附图式，作详细说明如下：
【附图说明】
图1为本发明测试装置与显示面板的一实施例的示意图；
图2为本发明测试装置的连接端子与显示面板的信号线的一实施例的示意图；
图3为本发明测试装置的连接端子与显示面板的信号线的一实施例的示意图；以及
图4为本发明测试装置的连接端子与显示面板的信号线的另一实施例的示意图。
【具体实施方式】
以下各实施例的说明是参考附加的图式，用以例示本发明可用以实施的特定实施例。本发明所提到的方向用语，例如「上」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「内」、「外」、「侧面」等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用以说明及理解本发明，而非用以限制本发明。
附图和说明被认为在本质上是示出性的，而不是限制性的。在图中，结构相似的单元是以相同标号表示。另外，为了理解和便于描述，附图中示出的每个组件的尺寸和厚度是任意示出的，但是本发明不限于此。
在附图中，为了清晰起见，夸大了层、膜、面板、区域等的厚度。在附图中，为了理解和便于描述，夸大了一些层和区域的厚度。将理解的是，当例如层、膜、区域或基底的组件被称作“在”另一组件“上”时，所述组件可以直接在所述另一组件上，或者也可以存在中间组件。
另外，在说明书中，除非明确地描述为相反的，否则词语“包括”将被理解为意指包括所述组件，但是不排除任何其它组件。此外，在说明书中，“在......上”意指位于目标组件上方或者下方，而不意指必须位于基于重力方向的顶部上。
请参照图1，其为本发明测试装置与显示面板的一实施例的示意图。本实施例的测试装置100可用于测试显示面板101的信号线，此显示面板101可例如为液晶显示(Liquid Crystal Display，LCD)面板、有机电致发光显示(Organic Electro　Luminescence Display，OEL)面板、有机发光二极管显示 (Organic Light　Emission Diode Display，OLED) 面板或等离子显示面板(Plasma Display Panel，PDP)。当显示面板101为液晶显示面板时，显示面板101可组合背光模块(未显示)，而形成液晶显示装置。如图1所示，本实施例的显示面板101包含基板102，基板102可例如为玻璃基板或可挠性塑料基板。所述基板102上设置多条信号线103，信号线103例如为数据线或栅极线，信号线103可具有外露的输入端子103a，输入端子103a是设置于信号线103的一侧，用于接收输入的信号，例如：扫描信号、数据信号或测试信号。
如图1所示，本实施例的测试装置100包括测试基板110、至少一连接端子120、至少一测试点130及连接线140，连接端子120、测试点130及连接线140是形成于基板110的表面上，连接端子120例如为电性连接用的金手指(golden finger)，其是位于基板110的一侧，用于连接于显示面板101的信号线103的输入端子103a，连接线140是连接于连接端子120及测试点130之间。
请参照图1及图2，图2为本发明测试装置的连接端子与显示面板的信号线的一实施例的示意图。测试基板110可为印刷电路板(Printed circuit board，PCB)或软性印刷电路板(Flexible Printed Circuits，FPC)。在本实施例中，测试基板110可用于测试显示面板101的资料线，此时，测试装置100设有多个连接端子120，其排列于测试基板110的一侧，且连接端子120之间的间距(pitch)可相同于信号线103(数据线)之间的间距，使得连接端子120可分别对应于显示面板101的信号线103的输入端子103a。每一连接端子120的宽度W1可等于或大于每一输入端子103a的宽度W2，当连接端子120的宽度W1大于输入端子103a的宽度W2时，可确保连接端子120与输入端子103a之间的连接，避免因对位误差而无法连接的情形。此时，连接端子120的宽度W1可小于300微米(μm)，例如120μm ~250μm。
如图1所示，当测试基板110可用于测试显示面板101的数据线时，测试点130可包括第一测试点131、第二测试点132、第三测试点133及共通电极测试点134。第一测试点131可用于测试显示面板101的红色子像素(未显示)，第二测试点132可用于测试显示面板101的绿色子像素(未显示)，第三测试点133可用于测试显示面板101的蓝色子像素(未显示)，共通电极测试点134可用于测试显示面板101的共通电极(VCOM)。测试点130的尺寸可大于1毫米(mm)，例如1 mm~5 mm，以方便外部的测试机台或测试系统来进行接触。对应于测试点131、132、133及134，4条相互隔离的连接线140分别连接于连接端子120与测试点131、132、133及134之间。
请参照图1及图3，图3为本发明测试装置的连接端子与显示面板的信号线的一实施例的示意图。本实施例的测试装置100还可包括另一测试基板150，用于测试显示面板101的栅极线。此时，一个连接端子121、测试点135及连接线140可形成于测试基板150，且测试基板150上的连接端子121可为长条形，用于同时连接于显示面板101的信号线103(栅极线)的输入端子103b。此时，连接端子121的长度L可大于信号线103(栅极线)的排列长度，以确保连接端子121与输入端子103b之间的连接。
如图1所示，当检测显示面板101的信号线103或像素是否正常时，首先，提供测试装置100，接着，可例如通过异方性导电膜(AnisotropicConductive Film，ACF)来接合测试装置100的连接端子120于显示面板101的信号线103上，使得连接端子120分别对应地接合于信号线103输入端子103a，因而形成显示面板101的信号线103与测试装置100的测试点130之间的电性连接。此时，测试基板110及/或150的部分表面可通过异方性导电膜来接合于显示面板101的基板102上。接着，由测试装置100的测试点130来输入测试信号至显示面板101的信号线103(数据线及/或栅极线)，以测试液晶显示面板101是否正常。当输入测试信号至显示面板101的信号线103时，外部的测试机台或测试系统可分别通过测试装置100的测试点130(131、132、133、134或135)来输入不同的测试信号至显示面板101，以测试显示面板101的不同信号线或像素是否正常。
在完成显示面板101的测试后，可由显示面板101上移除测试装置100。因此，通过测试装置100，可直接进行显示面板101的测试，而不需设置测试线(Shorting Bar)于显示面板101的基板上，因而提升基板的利用率。且不需通过激光来切断基板上的测试线，以避免额外的激光切断步骤。再者，通过测试装置100，可对个别的显示面板101进行抽样测试(spot test)或多次测试，以符合显示面板101的检测需求或改善检测质量。
请参照图4，其为本发明测试装置的连接端子与显示面板的信号线的另一实施例的示意图。在另一实施例中，用于检测显示面板101的数据线的测试装置100的连接端子220可为一个长条形端子，用于同时同时连接于显示面板101的信号线103(数据线)的输入端子103a。此时，连接端子220的长度L＇可大于信号线103(数据线)的排列长度，以确保连接端子121与输入端子103a之间的连接。
由上述可知，本发明的测试装置可用于测试显示面板的信号线或像素是否正常。通过本发明的测试装置，可不需设置测试线于显示面板的基板上，因而提升基板的利用率。且不需通过激光来切断基板上的测试线，以避免额外的激光切断步骤。再者，通过本发明的测试装置，可对个别的显示面板进行抽样测试或多次测试，以符合显示面板的检测需求或改善检测质量。
综上所述，虽然本发明已以优选实施例揭露如上，但上述优选实施例并非用于限制本发明，本领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动与润饰，因此本发明的保护范围以权利要求界定的范围为准。

Claims (8)

1.一种测试装置，用于测试显示面板，其特征在于：所述测试装置包括：
测试基板；
至少一连接端子，设置于所述测试基板的一侧，用于连接于所述显示面板的信号线；
测试点，设置于所述测试基板上；其中，所述测试点的尺寸大于1毫米；所述测试点包括第一测试点、第二测试点及第三测试点，所述第一测试点是用于测试所述显示面板的红色子像素，所述第二测试点是用于测试所述显示面板的绿色子像素，所述第三测试点是用于测试所述显示面板的蓝色子像素；以及
连接线，连接于所述连接端子及所述测试点之间；
通过异方性导电膜来接合所述测试装置的所述连接端子于所述显示面板的信号线上，使得所述连接端子分别对应地接合于所述信号线输入端子，因而形成所述显示面板的信号线与所述测试装置的测试点之间的电性连接。
2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于：所述测试基板为印刷电路板或软性印刷电路板。
3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于：所述至少一连接端子为多个连接端子，所述连接端子之间的间距相同于所述信号线之间的间距。
4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于：每一所述连接端子的宽度大于每一所述信号线的输入端子的宽度。
5.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于：每一所述连接端子的宽度小于300微米。
6.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于：所述至少一连接端子为一个长条形连接端子，所述连接端子的长度大于所述信号线的排列长度。
7.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于：所述测试基板是用于测试所述显示面板的数据线，所述测试装置还包括另一测试基板，用于测试所述显示面板的栅极线。
8.一种测试方法，用于测试显示面板，其特征在于：所述测试方法包括：
提供一测试装置，其中所述测试装置包括测试基板、至少一连接端子、测试点及连接线，所述连接端子是设置于所述测试基板的一侧，所述测试点设置于所述测试基板上，所述连接线连接于所述连接端子及所述测试点之间；其中，所述测试点的尺寸大于1毫米；所述测试点包括第一测试点、第二测试点及第三测试点，所述第一测试点是用于测试所述显示面板的红色子像素，所述第二测试点是用于测试所述显示面板的绿色子像素，所述第三测试点是用于测试所述显示面板的蓝色子像素；
接合所述测试装置的所述连接端子于所述显示面板的信号线上；以及
由所述测试装置的所述测试点来输入测试信号至所述显示面板的所述信号线；
通过异方性导电膜来接合所述测试装置的所述连接端子于所述显示面板的信号线上，使得所述连接端子分别对应地接合于所述信号线输入端子，因而形成所述显示面板的信号线与所述测试装置的测试点之间的电性连接。
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