[go: up one dir, main page]

CN102564576B - 光强度测试装置 - Google Patents

光强度测试装置 Download PDF

Info

Publication number
CN102564576B
CN102564576B CN201010593931.9A CN201010593931A CN102564576B CN 102564576 B CN102564576 B CN 102564576B CN 201010593931 A CN201010593931 A CN 201010593931A CN 102564576 B CN102564576 B CN 102564576B
Authority
CN
China
Prior art keywords
light intensity
microcontroller
pin
usb interface
voltage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CN201010593931.9A
Other languages
English (en)
Other versions
CN102564576A (zh
Inventor
朱鸿儒
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Beijing Zhongcai Wyse Education Technology Co ltd
Kaifeng Power Supply Co of State Grid Henan Electric Power Co Ltd
State Grid Corp of China SGCC
Original Assignee
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd, Hon Hai Precision Industry Co Ltd filed Critical Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Priority to CN201010593931.9A priority Critical patent/CN102564576B/zh
Priority to US12/980,344 priority patent/US20120158302A1/en
Publication of CN102564576A publication Critical patent/CN102564576A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN102564576B publication Critical patent/CN102564576B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/4228Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors arrangements with two or more detectors, e.g. for sensitivity compensation
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02Details
    • G01J1/0219Electrical interface; User interface

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Abstract

一种光强度测试装置,包括一用于连接外部电脑主机的USB接口、一微控制器及若干光强度传感器,该USB接口通过该微控制器分别与该光强度传感器连接,该光强度传感器用于将感测到的光信号转化成对应电信号传输给该微控制器,该微控制器将接收到的电信号转换成USB数据形式并通过该USB接口传输给该电脑主机。该光强度测试装置可借助电脑方便的对发光元件进行光强度测试。

Description

光强度测试装置
技术领域
本发明涉及一种光强度测试装置。
背景技术
在电子测试领域,常常需要测定某些发光元件如发光二极管等的光强度,目前大都使用专用的光强度测试仪来对发光元件进行光强度的测试,但专用的光强度测试仪通常都很昂贵,需要专门购买,如此会提高测试成本。
发明内容
鉴于上述内容,本发明提供一种结构简单、成本低廉的光强度测试装置,该光强度测试装置借助电脑即可方便的对光源进行光强度的测试。
一种光强度测试装置,包括一用于连接外部电脑主机的USB接口、一微控制器及若干光强度传感器,该USB接口的电压端连接至该微控制器的第一及第二电压引脚及该光强度传感器的电源引脚,该USB接口的两数据端分别连接至该微控制器的两数据输出引脚,该微控制器的第一电压引脚通过一第一电阻连接至该微控制器的第一数据输入引脚及该光强度传感器的时钟引脚,该微控制器的第二电压引脚通过一第二电阻连接至该微控制器的第二数据输入引脚及该光强度传感器的数据引脚,该微控制器的若干数据输入引脚分别连接至该光强度传感器的中断引脚,该光强度传感器用于将感测到的光信号转化成对应电信号传输给该微控制器,该微控制器将接收到的电信号转换成USB数据形式并通过该USB接口传输给该电脑主机。
相较于现有技术,根据需要将该光强度传感器放置在待测的发光元件的附近,如此该光强度传感器则将感测到的光信号转化成对应电信号传输给该微控制器,该微控制器将接收到的电信号转换成USB数据形式并通过该USB接口传输给该电脑主机,该电脑主机再根据相应的光强度计算软件对应计算出该光强度传感器感测到的光信号的光强度,如此无需使用专用的光强度测试仪即可对发光元件进行测试,由于电脑已越来越广泛的被应用,一般测试时均会用到电脑,并且本发明光强度测试装置结构简单、成本较低,故可大大节省测试成本。
附图说明
下面参照附图结合较佳实施方式对本发明作进一步详细描述:
图1为本发明光强度测试装置较佳实施方式的示意图。
图2为本发明光强度测试装置较佳实施方式与一电脑主机相连的框图。
图3及图4为本发明光强度测试装置较佳实施方式的电路图。
主要元件符号说明
光强度测试装置                 100
USB接口                        10、210
微控制器                       20
第一光强度传感器               31
第二光强度传感器               32
第三光强度传感器               33
壳体                           40
电压转换器                     50
电容                           C1-C5
电阻                           R1、R2
保险丝                         FS1
电脑主机                       200
具体实施方式
请参考图1,本发明光强度测试装置100的较佳实施方式包括一壳体40及设置在该壳体40上的一USB接口10及第一至第三光强度传感器31-33。
请继续参考图2,本发明光强度测试装置100的较佳实施方式还包括一设置于该壳体40内部的微控制器20,其他实施方式中,该USB接口10、第一至第三光强度传感器31-33及该微控制器20也可以设置在一电路板上,具体根据实际需要进行设计。其他实施方式中,光强度传感器的数量可以根据需要进行增减,不局限于三个。
该USB接口10通过该微控制器20分别与该第一至第三光强度传感器31-33相连,该USB接口10用于与一电脑主机200上的USB接口210相连。应用时,将该USB接口10连接至该电脑主机200的USB接口210上,该微控制器20及该第一至第三光强度传感器31-33接收到该USB接口210传输的电压信号而工作,根据需要将该第一至第三光强度传感器31-33放置在待测的发光元件(未示出)的附近,如此该第一至第三光强度传感器31-33则将感测到的光信号转化成对应电信号传输给该微控制器20,该微控制器20将接收到的电信号转换成USB数据形式并通过该USB接口10传输给该电脑主机200,该电脑主机200再根据相应的光强度计算软件对应计算出该第一至第三光强度传感器31-33感测到的光信号的光强度,如此无需使用专用的光强度测试仪即可对发光元件进行测试,由于电脑已越来越广泛的被应用,一般测试时均会用到电脑,并且本发明光强度测试装置100结构简单、成本较低,故可大大节省测试成本。
请参考图3及图4,本实施方式中选用型号为CY7C64215-28PVXC的微控制器20,及选用型号为TSL2563CS的第一至第三光强度传感器31-33。另外,由于型号为TSL2563CS的光强度传感器的电压为3.3V,而USB接口10提供的电压为5V,故本实施方式还包括一电压转换器50,如型号为LD1117AS33TR的电压转换器。
该USB接口10包括一电压端VCC、两数据端D-及D+、一接地端GND,该电压端VCC通过一保险丝FS1连接至该微控制器20的电压引脚VDD_1、VDD_2及该电压转换器50的电压输入端IN。该USB接口10的数据端D-及D+分别连接至该微控制器20的两数据输出引脚D-及D+,该USB接口10的接地端GND接地,电压端VCC还通过一电容C3接地。
该微控制器20的电压引脚VDD_1、VDD_2分别通过电容C1及C2接地,另两个电压引脚VSS_1、VSS_2接地。该微控制器20的电压引脚VDD_1通过一电阻R1连接至该微控制器20的数据输入引脚P1-1及该第一至第三光强度传感器31-33的时钟引脚SCL。该微控制器20的电压引脚VDD_2通过一电阻R2连接至该微控制器20的数据输入引脚P1-0及该第一至第三光强度传感器31-33的数据引脚SDA。该微控制器20的数据输入引脚P2-0、P2-1、P2-2分别连接至该第一至第三光强度传感器31-33的中断引脚INT。
该电压转换器50的电压输出端OUT连接至该第一至第三光强度传感器31-33的电源引脚VDD,该电压转换器50的接地端GND接地,该电压转换器50的电压输出端OUT及电压输入端IN分别通过电容C4及C5接地。其他实施方式中,若该第一至第三光强度传感器31-33所需的电压刚好为5V,则无需设置该电压转换器50,直接将该USB接口10的电压端VCC连接至该第一至第三光强度传感器31-33的电源引脚VDD即可。
该第一至第三光强度传感器31-33的接地端GND接地,该第一光强度传感器31的地址引脚ADDR连接至电源引脚VDD(即地址为高电平),该第二光强度传感器32的地址引脚ADDR接地(即地址为地电平),该第三光强度传感器33的地址引脚ADDR空置(即地址为空),如此该第一至第三光强度传感器31-33具有不同的地址,以使该微控制器20可根据地址来区别接收的数据是该第一至第三光强度传感器31-33中的哪一个传输过来的,并对应传输给该电脑主机200。

Claims (4)

1.一种光强度测试装置,包括一用于连接外部电脑主机的USB接口、一微控制器及若干光强度传感器,该USB接口的电压端连接至该微控制器的第一及第二电压引脚及该光强度传感器的电源引脚,该USB接口的两数据端分别连接至该微控制器的两数据输出引脚,该微控制器的第一电压引脚通过一第一电阻连接至该微控制器的第一数据输入引脚及该光强度传感器的时钟引脚,该微控制器的第二电压引脚通过一第二电阻连接至该微控制器的第二数据输入引脚及该光强度传感器的数据引脚,该微控制器的若干数据输入引脚分别连接至该光强度传感器的中断引脚,该光强度传感器用于将感测到的光信号转化成对应电信号传输给该微控制器,该微控制器将接收到的电信号转换成USB数据形式并通过该USB接口传输给该电脑主机。
2.如权利要求1所述的光强度测试装置,其特征在于:该光强度传感器的数量为三个,分别为第一至第三光强度传感器,该第一光强度传感器的地址引脚连接至电源引脚,该第二光强度传感器的地址引脚接地,该第三光强度传感器的地址引脚空置。
3.如权利要求1所述的光强度测试装置,其特征在于:该USB接口的电压端与该光强度传感器的电源引脚之间通过一电压转换器相连。
4.如权利要求1所述的光强度测试装置,其特征在于:该USB接口的电压端与该微控制器的第一及第二电压引脚之间还串联一个保险丝。
CN201010593931.9A 2010-12-17 2010-12-17 光强度测试装置 Expired - Fee Related CN102564576B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201010593931.9A CN102564576B (zh) 2010-12-17 2010-12-17 光强度测试装置
US12/980,344 US20120158302A1 (en) 2010-12-17 2010-12-29 Light intensity measurement apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201010593931.9A CN102564576B (zh) 2010-12-17 2010-12-17 光强度测试装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN102564576A CN102564576A (zh) 2012-07-11
CN102564576B true CN102564576B (zh) 2013-11-06

Family

ID=46235488

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201010593931.9A Expired - Fee Related CN102564576B (zh) 2010-12-17 2010-12-17 光强度测试装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US20120158302A1 (zh)
CN (1) CN102564576B (zh)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102345964B1 (ko) * 2016-04-08 2022-01-03 한국전자통신연구원 Usb 기반 조명기기 시험 장치 및 방법
DE102019114537A1 (de) * 2019-05-29 2020-12-03 OSRAM Opto Semiconductors Gesellschaft mit beschränkter Haftung Optoelektronisches sensorbauelement zur lichtmessung mit eingebauter redundanz

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0684611A1 (en) * 1994-05-27 1995-11-29 Doryokuro Kakunenryo Kaihatsu Jigyodan Method for detecting failure of nuclear reactor fuel
CN200986467Y (zh) * 2006-11-28 2007-12-05 李彩珍 光强传感器
CN201188192Y (zh) * 2008-04-30 2009-01-28 杭州电子科技大学 二维光强方位传感器
CN101464190A (zh) * 2009-01-14 2009-06-24 北京航空航天大学 变焦距全偏振光谱成像探测系统

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW555085U (en) * 2002-05-27 2003-09-21 Tatung Co Circuit apparatus attached to computer peripheral apparatus with function of detecting physiological signal function and sensing environment brightness
US20040233429A1 (en) * 2003-02-27 2004-11-25 Taylor Lawrence D. Method and spectrophotometer for exchanging color measurement and diagnostic information over a network
US7797469B2 (en) * 2003-05-30 2010-09-14 Honeywell International Inc. Portable receiver and memory for remotely controlled presentations
US7190126B1 (en) * 2004-08-24 2007-03-13 Watt Stopper, Inc. Daylight control system device and method
KR100998538B1 (ko) * 2009-01-05 2010-12-07 국방과학연구소 다중 분리 레이더 탐지 장치 및 표적 탐지 방법
CN101957802B (zh) * 2009-07-17 2014-12-10 南通明芯微电子有限公司 具有驱动程序的usb设备
US8760631B2 (en) * 2010-01-27 2014-06-24 Intersil Americas Inc. Distance sensing by IQ domain differentiation of time of flight (TOF) measurements
US20110312651A1 (en) * 2010-06-17 2011-12-22 Geneasys Pty Ltd Microfluidic device with low mass probe spots

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0684611A1 (en) * 1994-05-27 1995-11-29 Doryokuro Kakunenryo Kaihatsu Jigyodan Method for detecting failure of nuclear reactor fuel
CN200986467Y (zh) * 2006-11-28 2007-12-05 李彩珍 光强传感器
CN201188192Y (zh) * 2008-04-30 2009-01-28 杭州电子科技大学 二维光强方位传感器
CN101464190A (zh) * 2009-01-14 2009-06-24 北京航空航天大学 变焦距全偏振光谱成像探测系统

Also Published As

Publication number Publication date
US20120158302A1 (en) 2012-06-21
CN102564576A (zh) 2012-07-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8081004B2 (en) Testing card for peripheral component interconnect interfaces
US20090158093A1 (en) Motherboard tester
CN102207899B (zh) 通用序列总线端口测试装置
CN104239169A (zh) 信号测试卡及方法
US8441273B2 (en) Testing card and testing system for USB port
CN102540104A (zh) 测试装置
CN103678077A (zh) Usb信号测试治具
CN102564576B (zh) 光强度测试装置
CN102692525A (zh) Pci卡辅助测试装置
CN102193064A (zh) 电路板的信号测试装置
CN103969492A (zh) 处理器电压的检测装置及方法
TWI413905B (zh) 通用序列匯流排埠測試裝置
CN103901249A (zh) 接口信号测试装置
CN201134093Y (zh) 负载测具
CN101162254B (zh) Cpu插槽测试装置
US9360524B2 (en) Testing system for serial interface
CN104750583A (zh) 主板上电时序诊断电路
TWI452311B (zh) 貼裝記憶體連接器測試裝置
CN204439280U (zh) 压力传感器试验装置
TW201321762A (zh) 測試治具
CN102692526A (zh) 辅助测试装置
CN102446128A (zh) I2c接口器件测试系统及测试方法
CN105467163B (zh) 一种连接i2c卡与pmbus接口的设备
TWI351521B (en) Cpu socket tester
CN103514067A (zh) 内存条

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
ASS Succession or assignment of patent right

Owner name: STATE GRID CORPORATION OF CHINA

Free format text: FORMER OWNER: BEIJING ZHONGCAI WYSE EDUCATION TECHNOLOGY CO., LTD.

Effective date: 20141203

Owner name: KAIFENG POWER SUPPLY COMPANY STATE GRID HENAN ELE

Effective date: 20141203

Owner name: BEIJING ZHONGCAI WYSE EDUCATION TECHNOLOGY CO., LT

Free format text: FORMER OWNER: HONGFUJIN PRECISE INDUSTRY (SHENZHEN) CO., LTD.

Effective date: 20141203

Free format text: FORMER OWNER: HONGFUJIN PRECISE INDUSTRY CO., LTD.

Effective date: 20141203

C41 Transfer of patent application or patent right or utility model
COR Change of bibliographic data

Free format text: CORRECT: ADDRESS; FROM: 100083 HAIDIAN, BEIJING TO: 100031 XICHENG, BEIJING

Free format text: CORRECT: ADDRESS; FROM: 518109 SHENZHEN, GUANGDONG PROVINCE TO: 100083 HAIDIAN, BEIJING

TR01 Transfer of patent right

Effective date of registration: 20141203

Address after: 100031 Xicheng District West Chang'an Avenue, No. 86, Beijing

Patentee after: State Grid Corporation of China

Patentee after: KAIFENG POWER SUPPLY COMPANY, STATE GRID HENAN ELECTRIC POWER Co.,Ltd.

Address before: 100083 Beijing Haidian District Zhongguancun Road No. 18 smartfortune International Building B706

Patentee before: Beijing Zhongcai Wyse Education Technology Co.,Ltd.

Effective date of registration: 20141203

Address after: 100083 Beijing Haidian District Zhongguancun Road No. 18 smartfortune International Building B706

Patentee after: Beijing Zhongcai Wyse Education Technology Co.,Ltd.

Address before: 518109 Guangdong city of Shenzhen province Baoan District Longhua Town Industrial Zone tabulaeformis tenth East Ring Road No. 2 two

Patentee before: HONG FU JIN PRECISION INDUSTRY (SHENZHEN) Co.,Ltd.

Patentee before: HON HAI PRECISION INDUSTRY Co.,Ltd.

CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20131106

Termination date: 20161217

CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee