CN102411236B - 液晶显示面板的测试方法 - Google Patents

Abstract

一种液晶显示面板的测试方法，其中显示面板包括多个像素与一测试垫，这些像素设置在第一至第三数据配线与多条扫描配线的交错处，且所述液晶显示面板的测试方法包括下列步骤：驱动每一扫描配线，以将这些像素的液晶电容导通至第一至第三数据配线；分别提供第一测试电压与第二测试电压至第一数据配线与第二数据配线，其中第一测试电压不等于第二测试电压；将第一数据配线浮接；以及，通过测试垫测量浮接的第一数据配线，以判定电性连接至第一数据配线与第二数据配线的像素中的液晶电容是否电性相连。

Description

液晶显示面板的测试方法

技术领域

本发明涉及一种测试方法，且特别涉及一种液晶显示面板的测试方法。

背景技术

硅基液晶(Liquid Crystal on Silicon panel，LCOS)面板是一种架构在硅晶圆(silicon wafer)上的液晶面板。此外，LCOS面板不仅具备体积小的优势，还具有不错的解析度，因此广泛地应用在各类型的液晶投影机中。

在整体架构上，LCOS面板是以金属氧化物半导体晶体管(MOStransistor)取代传统液晶显示器的薄膜晶体管，且像素电极(pixel electrode)是以金属材质为主，因此LCOS面板是属于一种反射型的液晶面板。对于反射型的液晶面板来说，高反射率将有助于提升面板的光效率。因此，在实际布局上，LCOS面板中像素的间距势必越小越好，以提升LCOS面板的反射率。

然而，随着像素之间距的变小，将伴随着像素电极短路的风险。针对此种情况，制造厂商往往是在LCOS面板组装完成后，通过点亮的画面才发现LCOS面板的异常。如此一来，不仅增加了面板的生产时间，更加重了面板的生产成本。因此，如何在硅晶圆出厂时，立即检测出像素电极短路的问题，已是LCOS面板在测试上所面临了一大课题。

发明内容

本发明提供一种液晶显示面板的测试方法，适用于具有彩色滤光片的硅基液晶面板，并用以降低面板的生产成本。

本发明提供一种液晶显示面板的测试方法，适用于采用色序法的硅基液晶面板，并用以降低面板的生产时间。

本发明提供一种液晶显示面板的测试方法，适用于采用色序法的硅基液晶面板，并用以在硅晶圆出厂时即可检测出液晶电容错误连接的问题。

本发明提出一种液晶显示面板的测试方法，其中硅基液晶面板包括多个像素与一测试垫，这些像素设置在第一至第三数据配线与多条扫描配线的交错处，且所述液晶显示面板的测试方法包括下列步骤：驱动每一扫描配线，以将这些像素的液晶电容导通至第一至第三数据配线；分别提供第一测试电压与第二测试电压至第一数据配线与第二数据配线，其中第一测试电压不等于第二测试电压；将第一数据配线浮接；以及，通过测试垫测量浮接的第一数据配线，以判定电性连接至第一数据配线与第二数据配线的像素中的液晶电容是否电性相连。

在本发明的一实施例中，上述的液晶显示面板的测试方法，还包括：提供第一测试电压至第三数据配线；将第三数据配线浮接；以及，通过测试垫测量浮接的第三数据配线，以判定电性连接至第三数据配线与第二数据配线的像素中的液晶电容是否电性相连。

本发明提出另一种液晶显示面板的测试方法，其中硅基液晶面板包括多个像素与多个测试垫，每一像素各自包括一预充电容、一缓冲器与一液晶电容，这些像素电性连接一扫描配线、一显示配线与多条数据配线，且液晶显示面板的测试方法包括下列步骤：禁能每一像素的缓冲器；驱动扫描配线与显示配线，以将这些像素的液晶电容与预充电容导通至数据配线；传送第一测试电压至这些数据配线中的奇数条数据配线，并传送第二测试电压至这些数据配线中的偶数条数据配线，其中第二测试电压不等于第一测试电压；将所述奇数条数据配线或是所述偶数条数据配线浮接；以及，通过部分测试垫测量浮接的奇数条数据配线或是偶数条数据配线，以判定这些像素中的液晶电容是否电性相连。

本发明提出又一种液晶显示面板的测试方法，其中硅基液晶面板包括M个像素与一测试垫，每一像素各自包括一预充电容、一缓冲器与一液晶电容，这些像素电性连接M条扫描配线、M条显示配线与一数据配线，M为不小于2的整数，且液晶显示面板的测试方法包括下列步骤：禁能每一像素的缓冲器；将第j个像素内的液晶电容与预充电容充电至第一测试电压，j为小于M的正整数；将第(j+1)个像素内的液晶电容与预充电容充电至第二测试电压，其中第一测试电压不等于第二测试电压；在驱动第(j+1)条扫描配线与第(j+1)条显示配线的期间，致能第j个像素内的缓冲器，并浮接数据配线；以及，在驱动第(j+1)条扫描配线与第(j+1)条显示配线的期间，通过测试垫测量浮接的数据配线，以判定第j个像素与第(j+1)个像素内的液晶电容是否电性相连。

基于上述，本发明是将像素分别充电至不同的测试电压，并将部分数据配线切换至浮接状态。藉此，通过测量浮接的数据配线而取得的测量电压，将可用以判别像素中的液晶电容是否因应像素电极的短路而形成错误的连接。此外，本发明的测试方法可在面板尚未组装前即可检测出液晶电容错误连接的问题，因此可降低面板的生产时间以及生产成本。

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明如下。

附图说明

图1为依据本发明的一实施例的液晶显示面板的测试方法流程图。。

图2为依据本发明的一实施例的具有彩色滤光片的硅基液晶面板的结构示意图。。

图3为用以说明图2的液晶电容的上电极板的布局示意图。

图4为依据本发明的另一实施例的液晶显示面板的测试方法流程图。

图5为依据本发明的一实施例的采用色序法的硅基液晶面板的结构示意图。

图6为依据本发明的另一实施例的采用色序法的硅基液晶面板的结构示意图。

图7为依据本发明的又一实施例的液晶显示面板的测试方法流程图。

【主要元件符号说明】

S111～S116、S121～S124：用以说明图1的实施例的各步骤流程

200、500：硅基液晶面板

210、511～512：切换单元

220、521～522：测试垫

SW21～SW23、SW51～SW52：开关

P21～P26、P51～P54：像素

DL21～DL23：数据配线

SL21～SL22：扫描配线

CDL：共用配线

CL21～CL26、CL51～CL54：液晶电容

M21～M26、M511～M513、M521～M523、M531～M533、M541～M543：像素开关

R11、R12、R21、R22、R31、R32、G11、G12、G21、G22、B11、B12、B21、B22：金属电极

R3、R51、R52：寄生电阻

S410～S450：用以说明图4的实施例的各步骤流程

CP51～CP54：预充电容

501～504：缓冲器

530、540：电流路径

S710～S750：用以说明图7的实施例的各步骤流程

具体实施方式

图1为依据本发明的一实施例的液晶显示面板的测试方法流程图。其中，图1所述的测试方法是以具有彩色滤光片(color filter)的硅基液晶面板为例，因此在说明图1实施例之前，以下将先就具有彩色滤光片的硅基液晶面板的结构进行说明。

图2为依据本发明的一实施例的具有彩色滤光片的硅基液晶面板的结构示意图。参照图2，硅基液晶面板200包括多个像素P21～P26、多个开关SW21～SW23、一切换单元210与一测试垫220。像素P21～P26的上方各自设有一彩色滤光片(未绘示出)，例如：像素P21～P23分别对应红色、绿色与蓝色三个彩色滤光片。此外，像素P21～P26设置在第一至第三数据配线DL21～DL23与多条扫描配线SL21～SL22的交错处。开关SW21～SW23电性连接至第一至第三数据配线DL21～DL23，故开关SW21～SW23的导通与否将决定第一至第三数据配线DL21～DL23是否浮接(floating)。切换单元210会将第一至第三数据配线DL21～DL23的其中一个导通至测试垫220，以对像素P21～P26进行测量。

此外，像素P21～P26各自包括一液晶电容与一像素开关。例如，像素P21包括液晶电容CL21与像素开关M21。在实际布局上，液晶电容CL21～CL26的上电极板皆设置在同一电路层。举例来说，图3为用以说明图2的液晶电容的上电极板的布局示意图。参照图3，金属电极R11、G11、B11分别为液晶电容CL21～CL23的上电极板，而金属电极R12、G12、B12则分别为液晶电容CL24～CL26的上电极板。此外，随着像素P21～P26之间距的缩减，相邻的两金属电极可能会短路而电性相连。例如，短路的像素电极所造成的错误连接可能在金属电极G11与B11之间形成一寄生电阻R3，进而导致金属电极G11与B11电性相连。

为了在硅晶圆出厂时立即检测出像素电极短路的问题，也就是液晶电容错误连接的问题，以下将以图1的流程图来说明如何对图2所示的硅基液晶面板200进行测试。请同时参照图1与图2，一开始，如步骤S111所示，将驱动每一扫描配线。例如，此时将提供高电压给扫描配线SL21～SL22，以导通像素P21～P26中的像素开关M21～M26。相对地，像素P21～P26中的液晶电容CL21～CL26将分别电性连接至相应的数据配线。

接着，如步骤S112所示，将这些像素的液晶电容充电至一共同电压。举例来说，此时共用配线CDL将用以传送共同电压，且通过开关SW21～SW23的同时或依序导通，第一至第三数据配线DL21～DL23将同时或依序接收到共同电压。藉此，像素P21～P26中的液晶电容CL21～CL26将可先重置到共同电压。之后，如步骤S113与步骤S114所示，将提供一第一测试电压至第一数据配线与第三数据配线，并提供一第二测试电压至第二数据配线，其中第一测试电压不等于第二测试电压。

举例来说，此时面板驱动器(未绘示出)将参照一测试图样(pattern)，例如：FF/00/FF，而依序输出第一测试电压(例如：5V)、第二测试电压(例如：10V)、第一测试电压(例如：5V)至共用配线CDL。藉此，随着开关SW21～SW23的依序导通，电性连接至第一数据配线DL21的液晶电容CL21将充电至第一测试电压(例如：5V)，电性连接至第二数据配线DL22的液晶电容CL22将充电至第二测试电压(例如：10V)，且电性连接至第三数据配线DL23的液晶电容CL23将充电至第一测试电压(例如：5V)。

再者，如步骤S115与步骤S116所示，将第一数据配线与第三数据配线浮接，并通过测试垫测量浮接的第一数据配线与第三数据配线，以藉此判定这些像素中的液晶电容是否电性相连。举例来说，此时将不导通开关SW21与SW23，以将第一数据配线DL21与第三数据配线DL23维持在浮接的状态。当金属电极G11与B11错误连接(如图3所示)时，液晶电容CL22将通过寄生电阻R3电性连接至液晶电容CL23。且知，此时位于第二行的液晶电容CL22与位于第三行的液晶电容CL23具有不同的电压电平，因此液晶电容CL22与CL23将因应的电荷分享效应而导致其电压电平产生变化。

相对地，当切换单元210将测试垫220电性连接至浮接的第三数据配线DL23时，将可测量出一测量电压。通过测量电压与第一测试电压的比较，将可判别位于第二行的液晶电容CL22与位于第三行的液晶电容CL23是否电性相连。其中，当测量电压与第一测试电压不相等时，则代表液晶电容CL22与/或CL23的电压电平产生变化，故可判定位于第二行的液晶电容CL22与位于第三行的液晶电容CL23电性相连。相对地，当测量电压与第一测试电压相等时，则代表液晶电容CL22与CL23的电压电平没有产生变化，故可判定位于第二行的液晶电容CL22与位于第三行的液晶电容CL23没有电性相连。

相似地，通过切换单元210的切换，测试垫220将可电性连接至浮接的第一数据配线DL21，进而测量出另一测量电压。此时，由于位于第一行的液晶电容CL21与位于第二行的液晶电容CL22具有不同的电压电平，因此通过另一测量电压与第一测试电压的比较，也可判别位于第一行的液晶电容CL21与位于第二行的液晶电容CL22是否电性相连。其中，位于第一行的液晶电容CL21即是电性相连至第一数据配线DL21的液晶电容，以此类推液晶电容与数据配线的相应关系。

更进一步来看，如图3所示的，基于金属电极的排列方式，金属电极错误连接的情形包括：R11连接G11、G11连接B11、以及R11连接B11。也就是说，液晶电容错误连接的情形包括：第一行与第二行的液晶电容的错误连接、第二行与第三行的液晶电容的错误连接、以及第一行与第三行的液晶电容的错误连接。其中，步骤S111～S116已检测出第一行与第二行的液晶电容的错误连接、以及第二行与第三行的液晶电容的错误连接。因此，以下将通过步骤S121～S124来说明关于第一行与第三行的液晶电容的错误连接的测试。

请继续参照图1与图2，如步骤S121所示，在进行另一错误连接的测试时，会将这些像素的液晶电容重新充电至共同电压。举例来说，此时共用配线CDL将再次传送共同电压，且通过开关SW21～SW23的切换，像素P21～P26中的液晶电容CL21～CL26将重置到共同电压。接着，如步骤S122所示，将分别提供第一测试电压与第二测试电压至第三数据配线与第一数据配线。

举例来说，此时面板驱动器(未绘示出)将参照另一测试图样，例如：FF/FF/00，而依序输出第一测试电压(例如：5V)、第一测试电压(例如：5V)、与第二测试电压(例如：10V)至共用配线CDL。藉此，随着开关SW21～SW23的依序导通，电性连接至第一数据配线DL21与第二数据配线DL22的液晶电容CL21、CL22将充电至第一测试电压(例如：5V)，且电性连接至第三数据配线DL23的液晶电容CL23将充电至第二测试电压(例如：10V)。

再者，如步骤S123与步骤S124所示，将第一数据配线浮接，并通过测试垫测量浮接的第一数据配线，以藉此判定位于第一行与第三行的液晶电容是否电性相连。举例来说，通过切换单元210的切换，测试垫220将可电性连接至浮接的第一数据配线DL21，进而测量出又一测量电压。此时，由于位于第一行的液晶电容CL21与位于第三行的液晶电容CL23具有不同的电压电平，因此通过又一测量电压与第一测试电压的比较，将可判别位于第一行的液晶电容CL21与位于第三行的液晶电容CL23是否电性相连。

图4为依据本发明的另一实施例的液晶显示面板的测试方法流程图。其中，图4所述的测试方法是以采用色序法(color sequential)的硅基液晶面板为例，也就是本实施例的显示面板是利用发光二极管(light-emitting diodes)来产生背光源。因此，在说明图4实施例之前，以下将先就采用色序法的硅基液晶面板的结构进行说明。

图5为依据本发明的一实施例的采用色序法的硅基液晶面板的结构示意图。参照图5，硅基液晶面板500包括多个像素P51～P54、多个开关SW51～SW52、多个切换单元511～512与多个测试垫521～522。像素P51～P54采用预充电的机制，因此每一像素包括一预充电容、一液晶电容、一缓冲器与两个像素开关。举例来说，像素P51包括预充电容CP51、液晶电容CL51、缓冲器501与两个像素开关M512与M513。此外，为了分别控制预充电机制下的两像素开关，每一像素分别电性连接至一扫描配线、一显示配线与一数据配线。例如，像素P51电性连接至扫描配线SL51、显示配线PL51与数据配线DL51。

此外，为了能够在测试像素时直接测量到液晶电容的电压变化，每一像素还包括电性连接在数据配线与缓冲器的输出端之间的像素开关。举例来说，像素P51除了包括两个像素开关M512与M513以外，还包括另一像素开关M511，其中像素开关M511电性连接在数据配线DL51与缓冲器501的输出端之间。再者，为了测试像素，每一数据配线的一端会电性连接至一开关，且其另一端会通过一切换单元电性连接至一测试垫。例如，数据配线DL51的一端电性连接至开关SW51，且其另一端通过切换单元511电性连接至测试垫521。

在实际布局上，液晶电容CL51～CL54的上电极板皆设置在同一布局层，且其上电极板呈现田字型的排列。因此，液晶电容错误连接的组合例如包括：左右相邻的像素中的液晶电容的错误连接、以及上下相邻的像素中的液晶电容的错误连接。举例来说，如图5所示，短路的像素电极所造成的错误连接可能在液晶电容CL53与CL54之间形成一寄生电阻R51，进而造成左右相邻的两像素P53与P54中的液晶电容CL53与CL54的错误连接。图6为依据本发明的另一实施例的采用色序法的硅基液晶面板的结构示意图，如图6所示，短路的像素电极所造成的错误连接也可能在液晶电容CL51与CL53之间形成一寄生电阻R52，进而造成上下相邻的两像素P51与P53中的液晶电容CL51与CL53的错误连接。

以下请同时参照图4与图5来看，关于左右相邻的像素中的液晶电容的测试。如步骤S410所示，在测试液晶电容的错误连接的过程中，每一像素的缓冲器将被禁能。举例来说，此时像素P51～P54中的缓冲器501～504将不会被启动。此外，如步骤S420所示，扫描配线与显示配线将被驱动。举例来说，此时将提供高电压给扫描配线SL51～SL52与显示配线PL1～PL52，以导通像素P51～P54中的每一像素开关。藉此，像素P51～P54中的液晶电容CL51～CL54与预充电容CP51～CP54将分别电性连接至相应的数据配线。

接着，如步骤S430所示，传送第一测试电压至多条数据配线中的奇数条数据配线，并传送第二测试电压至所述多条数据配线中的偶数条数据配线，其中第二测试电压不等于第一测试电压。举例来说，此时开关SW51与SW52将导通，以致使面板驱动器(未绘示出)分别传送第一测试电压(例如：0V)与第二测试电压(例如：6V)给数据配线DL51与DL52。藉此，电性连接至数据配线DL51的液晶电容CL53将充电至第一测试电压(例如：0V)，且电性连接至数据配线DL52的液晶电容CL54将充电至第二测试电压(例如：6V)。

再者，如步骤S440与步骤S450所示，将奇数条数据配线或是偶数条数据配线浮接，并通过部分测试垫测量浮接的奇数条数据配线或是偶数条数据配线，以判定左右相邻的像素中的液晶电容是否错误连接。举例来说，倘若数据配线DL51被维持在浮接的状态，则通过切换单元511的切换，测试垫521将可通过切换单元511电性连接至浮接的数据配线DL51，进而测量出一测量电压。

且知，位于第一行的液晶电容CL53与位于第二行的液晶电容CL54具有不同的电压电平。因此，当像素电极短路而形成寄生电阻R51时，如电流路径530所示，液晶电容CL53与CL54之间将通过寄生电阻R51产生电荷分享，进而导致液晶电容CL53的电压电平产生变化。藉此，当数据配线DL51被维持在浮接的状态时，通过测量电压与第一测试电压的比较，将可判别左右相邻的像素中的液晶电容是否电性相连。

其中，当测量电压与第一测试电压不相等时，则可判定位于第一行的液晶电容CL53与位于第二行的液晶电容CL54电性相连。相对地，当测量电压与第一测试电压相等时，则可判定位于第一行的液晶电容CL53与位于第二行的液晶电容CL54没有电性相连。相对地，当数据配线DL52被维持在浮接的状态时，将可通过测量浮接的数据配线DL52来取得测量电压，并可通过测量电压与第二测试电压的比较，来判别左右相邻的像素中的液晶电容是否电性相连。

图7为依据本发明的又一实施例的液晶显示面板的测试方法流程图。其中，图7所述的测试方法是以采用色序法的硅基液晶面板为例，并用以测试上下相邻的像素中的液晶电容的错误连接。因此，以下请同时参照图6与图7来看，关于上下相邻的像素中的液晶电容的测试，且以下将以电性连接至数据配线DL51的M个像素P51与P53为例进行说明，其中M等于2。

如步骤S710所示，在测试液晶电容的错误连接的过程中，一开始，每一像素的缓冲器将被禁能。举例来说，在测试液晶电容的初期，像素P51～P54中的缓冲器501～504将不会被启动。此外，如步骤S720所示，将第j个像素内的液晶电容与预充电容充电至第一测试电压，j为小于M的正整数。

举例来说，以第1个像素P51为例来看，此时将提供高电压给扫描配线SL51与显示配线PL1，以导通像素P51中的像素开关M511～M513。此外，开关SW51将导通，以致使面板驱动器(未绘示出)传送第一测试电压(例如：6V)至数据配线DL51。藉此，导通的像素开关M511～M513会将来自数据配线DL51的第一测试电压(例如：6V)传送至液晶电容CL51与预充电容CP51，进而致使液晶电容CL51与预充电容CP51充电至第一测试电压(例如：6V)。换句话说，步骤S720的细部流程包括：驱动第j条扫描配线与第j条显示配线；以及，传送第一测试电压至数据配线。

接着，如步骤S730所示，将第(j+1)个像素内的液晶电容与预充电容充电至第二测试电压，其中第一测试电压不等于第二测试电压。

举例来说，当第1个像素P51充电完之后，将对下一像素P53进行充电。此时，将驱动扫描配线SL52与显示配线PL52，而其余的扫描配线与显示配线则不被驱动。藉此，像素P53中的像素开关M531～M533将被导通。此外，面板驱动会通过导通的开关SW51传送第二测试电压(例如：0V)至数据配线DL51。藉此，来自数据配线DL51的第二测试电压(例如：0V)将传送至液晶电容CL53与预充电容CP53，进而致使液晶电容CL53与预充电容CP53充电至第二测试电压(例如：0V)。换句话说，步骤S730的细部流程包括：驱动第(j+1)条扫描配线与第(j+1)条显示配线；以及，传送第二测试电压至数据配线。

再者，如步骤S740所示，在驱动第(j+1)条扫描配线与第(j+1)条显示配线的期间，致能第j个像素内的缓冲器，并浮接数据配线。举例来说，在驱动扫描配线SL52与显示配线PL52的期间，上一像素P51中的缓冲器501会被致能，且通过开关SW51的不导通，数据配线DL51将被切换至浮接状态。也就是说，在驱动扫描配线SL52与显示配线PL52的期间，像素P53会进行充电，之后将驱动上一像素P51中的缓冲器501，并浮接数据配线DL51。

此外，如步骤S750所示，在驱动第(j+1)条扫描配线与第(j+1)条显示配线的期间，通过测试垫测量浮接的数据配线，以判定第j个像素与第(j+1)个像素内的液晶电容是否电性相连。举例来说，通过切换单元511的切换，测试垫521将可通过切换单元511电性连接至浮接的数据配线DL51，进而测量出一测量电压。且知，位于第一列的液晶电容CL51与位于第二列的液晶电容CL53具有不同的电压电平。因此，如图6所示，当像素电极短路而形成寄生电阻R52时，如电流路径540所示，被驱动的缓冲器501将通过寄生电阻R52导致液晶电容CL51与CL53之间的电荷分享，进而导致液晶电容CL53的电压电平产生变化。藉此，通过测量电压与第二测试电压的比较，将可判别是上下相邻的像素中的液晶电容是否电性相连。

其中，当测量电压与第二测试电压不相等时，则代表液晶电容CL53的电压电平产生变化，故可判定位于第一列的液晶电容CL51与位于第二列的液晶电容CL53电性相连。相对地，当测量电压与第二测试电压相等时，则代表液晶电容CL53的电压电平没有产生变化，故可判定位于第一列的液晶电容CL51与位于第二列的液晶电容CL53没有电性相连。

综上所述，本发明是将像素分别充电至不同的测试电压，并将部分数据配线切换至浮接状态。藉此，通过测量浮接的数据配线而取得的测量电压，将可用以判别像素中的液晶电容是否因应像素电极的短路而形成错误的连接。此外，本发明的测试方法可在硅晶圆出厂时立即检测出液晶电容错误连接的问题，因此可降低面板的生产时间以及生产成本。

虽然本发明已以实施例公开如上，然其并非用以限定本发明，本领域技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许的更动与润饰，故本发明的保护范围当视所附权利要求书所界定者为准。

Claims (8)

1.一种液晶显示面板的测试方法，其中该液晶显示面板包括多个像素与一测试垫，这些像素设置在一第一至一第三数据配线与多条扫描配线的交错处，且该液晶显示面板的测试方法包括：

驱动每一这些扫描配线，以将这些像素的液晶电容导通至该第一至该第三数据配线；

分别提供一第一测试电压与一第二测试电压至该第一数据配线与该第二数据配线，其中该第一测试电压不等于该第二测试电压；

将该第一数据配线浮接；以及

通过该测试垫测量浮接的该第一数据配线，以判定电性连接至该第一数据配线与该第二数据配线的这些像素中的液晶电容是否电性相连；

其中通过该测试垫测量浮接的该第一数据配线，以判定电性连接至该第一数据配线与该第二数据配线的这些像素中的液晶电容是否电性相连的步骤包括：

将该测试垫电性连接至浮接的该第一数据配线，以测量出一测量电压；

将该测量电压与该第一测试电压进行比较，以判别该测量电压与该第一测试电压是否相等；

当该测量电压与该第一测试电压不相等时，则判定电性连接至该第一数据配线与该第二数据配线的这些像素中的液晶电容电性相连；以及

当该测量电压与该第一测试电压相等时，则判定电性连接至该第一数据配线与该第二数据配线的这些像素中的液晶电容电性不相连。

2.如权利要求1所述的液晶显示面板的测试方法，还包括：

提供该第一测试电压至该第三数据配线；

将该第三数据配线浮接；以及

通过该测试垫测量浮接的该第三数据配线，以判定电性连接至该第三数据配线与该第二数据配线的这些像素中的液晶电容是否电性相连。

3.如权利要求1所述的液晶显示面板的测试方法，还包括：

将这些像素的液晶电容充电至一共同电压。

4.如权利要求3所述的液晶显示面板的测试方法，还包括：

将这些像素的液晶电容重新充电至该共同电压；

分别提供该第一测试电压与该第二测试电压至该第一数据配线与该第三数据配线；

将该第一数据配线浮接；以及

通过该测试垫测量浮接的该第一数据配线，以判定电性连接至该第一数据配线与该第三数据配线的这些像素中的液晶电容是否电性相连。

5.一种液晶显示面板的测试方法，其中该液晶显示面板包括多个像素与多个测试垫，每一这些像素各自包括一预充电容、一缓冲器与一液晶电容，这些像素电性连接一扫描配线、一显示配线与多条数据配线，且该液晶显示面板的测试方法包括：

禁能每一这些像素的该缓冲器；

驱动该扫描配线与该显示配线，以将这些像素的这些液晶电容与这些预充电容导通至这些数据配线；

传送一第一测试电压至这些数据配线中的奇数条数据配线，并传送一第二测试电压至这些数据配线中的偶数条数据配线，其中该第二测试电压不等于该第一测试电压；

将所述奇数条数据配线或是所述偶数条数据配线浮接；以及

通过部分这些测试垫测量浮接的所述奇数条数据配线或是所述偶数条数据配线，以判定这些像素中的这些液晶电容是否电性相连；

其中通过部分这些测试垫测量浮接的所述奇数条数据配线或是所述偶数条数据配线，以判定这些像素中的这些液晶电容是否电性相连的步骤包括：

将部分这些测试垫电性连接至所述奇数条数据配线或是所述偶数条数据配线，以测量出多个测量电压；

逐一将这些测量电压与该第一测试电压或是该第二测试电压进行比较，以判别这些测量电压的其中一个是否与该第一测试电压相等；

当这些测量电压的其中一个与该第一测试电压或是该第二测试电压不相等时，则判定部分这些像素中的这些液晶电容电性相连；以及

当这些测量电压皆相等于该第一测试电压或是该第二测试电压时，则判定这些像素中的这些液晶电容电性不相连。

6.一种液晶显示面板的测试方法，其中该液晶显示面板包括M个像素与一测试垫，每一这些像素各自包括一预充电容、一缓冲器与一液晶电容，这些像素电性连接M条扫描配线、M条显示配线与一数据配线，M为不小于2的整数，且该液晶显示面板的测试方法包括：

禁能每一这些像素的该缓冲器；

将第j个像素内的该液晶电容与该预充电容充电至一第一测试电压，j为小于M的正整数；

将第j+1个像素内的该液晶电容与该预充电容充电至一第二测试电压，其中该第一测试电压不等于该第二测试电压；

在驱动第j+1条扫描配线与第j+1条显示配线的期间，致能第j个像素内的该缓冲器，并浮接该数据配线；以及

在驱动第j+1条扫描配线与第j+1条显示配线的期间，通过该测试垫测量浮接的该数据配线，以判定第j个像素与第j+1个像素内的这些液晶电容是否电性相连；

其中通过该测试垫测量浮接的该数据配线，以判定第j个像素与第j+1像素内的这些液晶电容是否电性相连的步骤包括：

将该测试垫电性连接至浮接的该数据配线，以测量出一测量电压；

将该测量电压与该第二测试电压进行比较，以判别该测量电压与该第二测试电压是否相等；

当该测量电压与该第二测试电压不相等时，判定第j个像素与第j+1个像素内的这些液晶电容电性相连；以及

当该测量电压与该第二测试电压相等时，判定第j个像素与第j+1个像素内的这些液晶电容电性不相连。

7.如权利要求6所述的液晶显示面板的测试方法，其中将第j个像素内的该液晶电容与该预充电容充电至该第一测试电压的步骤包括：

驱动第j条扫描配线与第j条显示配线；以及

传送该第一测试电压至该数据配线。

8.如权利要求6所述的液晶显示面板的测试方法，其中将第j+1个像素内的该液晶电容与该预充电容充电至该第二测试电压的步骤包括：

驱动第j+1条扫描配线与第j+1条显示配线；以及

传送该第二测试电压至该数据配线。